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【発明の名称】 電子機器
【発明者】 【氏名】流田 武

【氏名】北野 泰久

【氏名】服部 定良

【要約】 【課題】

【構成】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
回路基板、当該回路基板上に取り付けられる電子回路部品、当該電子回路部品で発生する熱を放熱するために当該電子回路部品上に配置される金属性の放熱部材を備える電子機器であって、
前記回路基板に接地され、かつ前記放熱部材の近傍に少なくともその一面が位置するように配置される当該回路基板を覆うシールド、
前記放熱部材を前記回路基板に接地する接地部材、および
前記接地部材の周面近傍に配置される磁性部材を備える、電子機器。
【請求項2】
前記シールドにはスリットが形成され、前記放熱部材の少なくとも一部が当該スリットから当該シールドの外部に露出している、請求項1記載の電子機器。
【請求項3】
前記放熱部材は放熱板および当該放熱板を支えるベースとで構成され、
前記ベースは前記シールドと前記電子回路部品との間隙に配置され、前記放熱板はその一部が前記スリットから当該シールドの外部に露出している、請求項2記載の電子機器。
【請求項4】
その上面および下面が前記ベースの下面および前記電子回路部品の上面とそれぞれ密着される熱伝導シートをさらに備える、請求項3記載の電子機器。
【請求項5】
前記磁性部材はリング状のフェライトである、請求項1ないし4のいずれかに記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】【技術分野】
【0001】
この発明は、電子機器に関し、特にたとえば、電子部品およびこの電子部品の発する熱を放熱する放熱板を備える、電子機器に関する。
【背景技術】
【0002】
従来のこの種の機器としては、特許文献1に開示されたものが知られている。この従来技術では、電子部品は、裏面側に接地層が形成された2層基板の表面側に実装された状態で、金属製の電子機器筺体内に収納されている。放熱板は、電子機器筺体および2層基板の裏面側(つまり接地層)の各々と接続される。電子部品が発した熱は、2層基板特にそのスルーホールを通して放熱板へと伝わり、放熱板から放熱される。
【0003】
あるいは、放熱板は、2層基板の電子部品が実装される側に、電子部品と接して設けられる。
【特許文献1】特開2004−303860号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかし、従来技術では、放熱板を裏面側に設けた場合、電子部品と放熱板との間に基板が介在するため、電子部品の熱が必ずしも効率よく放熱板に伝わらず、放熱効果が不十分である。一方、放熱板を表面側に設けた場合には、放熱効果は高いものの、静電気放電(Electro-Static Discharge:ESD)が起こったとき、電子部品が深刻なダメージを受ける。なぜなら、電子部品と接して設けられた放熱板は、ESDによるパルス状の電荷の経路となるからである。
【0005】
このように、従来技術では、放熱効果およびESD耐性のいずれか一方しか高めることができない。
【0006】
それゆえに、この発明の主たる目的は、効果的な放熱が行え、しかも静電気放電に強い、電子機器を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
請求項1の発明に従う電子機器(10:実施例で相当する参照符号。以下同じ)は、回路基板(36)、当該回路基板上に取り付けられる電子回路部品(38,40)、および当該電子回路部品で発生する熱を放熱するために当該電子回路部品上に配置される金属性の放熱部材(48)を備える電子機器である。そしてこの電子機器は、回路基板に接地され、かつ放熱部材の近傍に少なくともその一面が位置するように配置される当該回路基板を覆うシールド(44Aa)、放熱部材を回路基板に接地する接地部材(48c)、および接地部材の周面近傍に配置される磁性部材(52)を備える。
【0008】
請求項1の発明では、電子回路部品は、回路基板に取り付けられる。電子回路部品上には、この電子回路部品で発生する熱を放熱するために、金属性の放熱部材が配置される。回路基板を覆うシールドは、回路基板に接地され、かつ放熱部材の近傍に少なくともその一面が位置するように配置される。放熱部材は、接地部材によって回路基板に接地される。そして接地部材の周面近傍には、磁性部材が配置される。磁性部材は、接地部材と協働してインダクタを構成する。
【0009】
請求項1の発明によれば、接地部材および磁性部材によってインダクタが構成されたため、接地部材のインピーダンスは高周波側で上昇する。この結果、高周波帯域において、シールドのインピーダンスは接地部材のそれよりも相対的に低くなる。なお、ここでいう高周波帯域は、電子回路部品の動作を阻害するような電磁波の属する周波数帯域(例えば200MHz〜500MHz)を含む。このため、静電気放電(ESD)によって放熱部材ないしはその近傍に与えられたパルス状の電荷は、シールドを通って回路基板に流れることとなる。
【0010】
シールドは接地部材よりも電子回路部品から離れているので、ESDに起因する電子回路部品の破損ないしは誤動作の危険が低減される。
【0011】
また、電子回路部品はシールドによって電磁的に遮蔽され、電磁干渉(Electro-Magnetic Interference:EMI)も抑制される。そして、このようなシールドの遮蔽効果は、ESDに起因する電子回路部品の破損ないしは誤動作の危険を一層低減させる作用をも有する。
【0012】
請求項2の発明に従う電子機器は、請求項1に従属し、シールドにはスリット(44Ab)が形成され、放熱部材の少なくとも一部が当該スリットから当該シールドの外部に露出している。
【0013】
請求項2の発明によれば、シールドにスリットを形成したことで、放熱部材の少なくとも一部をスリットからシールドの外部に露出させることができ、高い放熱効果が得られる。
【0014】
請求項3の発明に従う電子機器は、請求項2に従属し、放熱部材は放熱板(48a)および当該放熱板を支えるベース(48b)とで構成され、ベースはシールドと電子回路部品との間隙に配置され、放熱板はその一部がスリットから当該シールドの外部に露出している。
【0015】
請求項3の発明では、シールドと電子回路部品との間にベースが介在することでスリットでの電磁リークが抑制され、放熱板の一部が露出することで放熱効果が高まる。
【0016】
請求項4の発明に従う電子機器は、請求項3に従属し、熱伝導シート(50)をさらに備える。熱伝導シートは、その上面および下面がベースの下面および電子回路部品の上面とそれぞれ密着される。
【0017】
請求項4の発明によれば、電子回路部品の熱は、熱伝導シートを通して効率よく放熱部材のベースへと伝えられ、シールド外に露出した放熱板から放熱されるので、放熱効果が一層高まる。なお、磁性粉末を混合した熱伝導シートを用いれば、EMI抑制効果も得られる。
【0018】
請求項5の発明に従う電子機器は、請求項1ないし4のいずれかに従属し、磁性部材はリング状のフェライトである。
【0019】
ところで、シールドにスリットを形成した結果、スリットで電磁リークが生じ、EMIが増加する恐れがある。さらには、スリットから露出した放熱部材がアンテナのような作用をし、EMIがさらに増加する可能性もある。
【0020】
しかし、請求項5の発明では、磁性部材としてリング状のフェライトを用いたので、接地部材が高周波帯域で高損失となり、高周波数帯域の電磁波が軽減される。これにより、スリット形成に伴うEMIの増加は抑制される。
【0021】
そして、このようなフェライトの高周波ノイズ吸収作用は、ESDによる高周波電流がシールドを流れる際に発生する電磁波にも及ぶため、ESD耐性がより一層高まる。
【発明の効果】
【0022】
この発明によれば、効果的な放熱が行え、かつ静電気放電に対する耐性が向上する。加えて、電磁干渉も抑制できる。
【0023】
この発明の上述の目的,その他の目的,特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【0024】
図1〜図5に示すように、この発明の一実施例であるゲーム装置10は、略直方体のハウジング12を含む。ハウジング12は、複数の金属板およびこれらを互いに固着する複数の金属ネジ(図示せず)で構成される。
【0025】
ハウジング12の前面12fには、ディスクスロット14a、SDカードスロットカバー14b、電源ボタン16a、リセットボタン16b、およびディスクイジェクトボタン16cなどが設けられる。右側面12Rには、開閉可能なカバー18a,18b、および各種コントローラ(図示せず)用のコネクタ20a,メモリーカードスロット20bなどが設けられる。左側面12Lには、ゴム足22、および吸気孔24などが設けられる。背面12bには、USBコネクタ26、排気孔28、周辺機器用コネクタ30、AVコネクタ32,DCコネクタ34などが設けられる。底面12uには、ゴム足15などが設けられる。なお、前述の金属ネジはゴム足22,15などに隠れている。
【0026】
図4および図5を参照して、上記のように構成されたハウジング12の内部には、GPU38およびCPU40などの電子部品を実装した基板36が収納される。基板36は、金属製の下シールド材44Bを介して底板46(ハウジング12の底面12uに相当)に固着される。なお、基板36は、その内部に接地層を含む多層構造を有する。ここでは6層構造を有し、その第5層が接地層(36e:図8参照)である。
【0027】
前述のコネクタ類もまた、基板36上に配置される。具体的には、基板36の左手長辺に各種コントローラ用のコネクタ20a,20bが、奥手右寄りには周辺機器用コネクタ30およびAVコネクタ32が、それぞれ装着される。
【0028】
発熱性の電子部品であるGPU38およびCPU40は、概ね同一の厚みを有し、基板36の中央奥手寄りに配置される。そして、GPU38およびCPU40の上面に、金属(たとえばアルミ)製の放熱フィン48が配置される。放熱フィン48は、複数の放熱板48aとこれらが植設されるベース48bとを有する。そして、ベース48bの四隅の各々に、円柱形状を有する下向きの突起48cと、ベース自身およびこの突起48cを貫通するネジ孔48dとが形成される。突起48cの高さは、GPU38およびCPU40の厚みよりをわずかに上回る。つまり突起48cは、放熱フィン48をGPU38およびCPU40の上面位置に保持するための脚である。
【0029】
好ましくは、放熱フィン48とGPU38およびCPU40との間に熱伝導シート50が挿入される。熱伝導シート50は、柔軟性および熱伝導性に富む素材(シリコンなど)で形成されており、その上面は放熱フィン48の下面と密着し、その下面はGPU38およびCPU40の上面と密着する。GPU38およびCPU40の熱は、熱伝導シート50を通じて効率よく放熱フィン48に伝わり、放熱フィン48から放射される。このように、熱伝導シート50を設けたことで放熱フィン48の放熱効果が高まる。
【0030】
放熱フィン48の4つのネジ孔48dに対応して、基板36にはその接地層36eと接続された4つのスルーホール36aが形成され、下シールド材44Bには4つのネジ孔44Baが形成され、底板46には4つのネジ受け46aが形成され、そして放熱フィン48と基板36との間に4個のフェライトリング52が配される。フェライトリング52の長さ(厚み)は突起48cの高さと概ね等しく、その内径は突起48cの直径よりもわずかに大きい。このため、フェライトリング52は突起48cと嵌合し、突起48cの側面がフェライトリング52で覆われる結果となる。
【0031】
なお、フェライトリング52は硬く脆いため、フェライトリング52の上面および/または下面に弾力性を有する両面テープ(図示せず)等を添付することが好ましい。これによって、落下などの衝撃に対する耐性を高めることができる。
【0032】
以上の各部材すなわち放熱フィン48,フェライトリング52,基板36,下シールド材44Bおよび底板46を一体化するための4本の金属ネジ54は、それぞれ対応するネジ孔48dからフェライトリング52,スルーホール36aおよびネジ孔44Baを貫通してネジ受け46aへと繋合される。これによって、放熱フィン48は、図5に示すように、GPU38およびCPU40の上面と接触ないしは十分接近する位置に固定される。また、図8に示すように、基板36表面の突起48cが接する部分には接地面36fが形成され、基板内の配線を介して接地層36eに電気的に接続されることで、放熱フィン48が接地される。この状態で、放熱フィン48、基板36の接地層36eおよび下シールド材44Bは、電気的に接続されたため、互いに等しい電位(グランド電位)を有する。
【0033】
次に、図6〜図8に示すように、前述のような一体化工程の後、基板36の上面側から上シールド材44Aが複数の金属ネジ56で取り付けられる。この結果、図7に示すように、上シールド材44Aおよび下シールド材44Bでシールド44が構成され、その内部が電磁的に遮蔽される。すなわち、シールド内で発生した電磁波の外部への漏洩と、外部からの電磁波のシールド内への侵入とが防止され、EMIが低減される。
【0034】
上シールド材44Aには、放熱フィン48に対応する位置に凸部44Aaが形成される。凸部44Aaは、放熱フィン48のベース48bに相当する高さを有し、その上面に放熱板48a用のスリット44Abが形成されている。ベース48bはシールド内でCPU40等と直に(もしくは熱伝導シート50を介して)接触し、放熱板48aはスリット44Abからシールド外に露出する。このため、CPU40等が発する熱は、効率よくベース48bへと伝わり、放熱板48aからシールド外に放熱される。すなわち、シールド内に熱が篭らず、高い放熱効果が得られる。また、ベース48bは、スリット44Abにおける電磁リークを抑制する作用も有する。
【0035】
その一方、シールド44の外に露出した放熱板48aがアンテナのような作用をし、外部からの電磁波をシールド内に取込むと共に、シールド内で発生した電磁波を外部に放射する可能性がある。このため、ESD耐性を悪化させ、EMIが増大する恐れがある。
【0036】
しかし、図4および図8に示すように、放熱板48aを接地する突起48cにフェライトリング52を装着したため、放熱板48aから接地面36fに至る経路を流れる高周波電流は、削減される。換言すれば、放熱板48aのアンテナ作用は、高周波帯域において抑制されると考えられる。
【0037】
また、突起48cにフェライトリング52を装着したことでインダクタが構成され、突起48cや金属ネジ54の高周波帯域におけるインピーダンスが高まる。このような高周波帯域におけるインピーダンスの増大は、ESDに起因するCPU40等の破壊・誤動作の回避に寄与する。例えば、周辺機器用コネクタ30に向けて静電気放電が起こると、周辺機器用コネクタ30からの二次放電によって放熱板48aにパルス状の電荷が与えられ、これが放熱板48aから突起48cや金属ネジ54を経て基板36の接地面36f等(グランド)に流れる可能性がある。このような高周波電流によって生じる高い周波数(例えば200MHz〜500MHz)の強力な電磁波は、放熱板48aに隣接するCPU40等に深刻なダメージを与える可能性がある。
【0038】
しかし、フェライトリング52によって突起48cや金属ネジ54の高周波帯域におけるインピーダンスが増大したことで、ESDによる高周波電流は、高周波帯域におけるインピーダンスが低い他の接地経路、具体的にはシールド44を通ることとなる。こうしてシールド44を流れる高周波電流は高い周波数の電磁波を発生させるが、その発生源がCPU40等から遠いこと、およびシールド44自身の遮蔽効果のため、この電磁波によるCPU40等への直接的な影響は小さい。また、この電磁波によって放熱板48aなどに別の高周波電流が生じる可能性があるが、これもフェライトリング52の作用によって軽減されると考えられ、間接的な影響も小さい。
【0039】
なお、一般には、フェライトに限らず何らかの磁性リングで突起48cの軸周りを囲めば、突起48cのインピーダンスが高まるので、ESDによる高周波電流は相対的にインピーダンスの低いシールド44を流れるようになるが、単に高周波で高インピーダンスとなるだけでなく、高周波で高損失となる材料を用いることで、より顕著な効果を得ることができると考えられる。
【0040】
以上のように構成されたゲーム装置10に対して行ったESD試験の結果の一部を図9に示す。これは、フェライトリング52を設けた場合と設けない場合とで、放熱フィン48の近くに位置する周辺機器用コネクタ30およびAVコネクタ32の各々に対し、6kV〜16kVの気中放電を行った結果である。気中放電での試験合格の基準は、8kVでCPU40に誤動作のないこと、および15kVで破壊のないこと、の2点とする。ここで誤動作は、典型的には出力画面のフリーズ等であり、電源をOFF/ONすれば解消される程度の障害である。なお、ゲーム機10は通常、周辺機器用コネクタ30やAVコネクタ32にケーブルを接続した状態で使用されるので、ここでは接触放電を行わないものとする。
【0041】
フェライトリング52は、本実施例の試験においては、Ni−Mn系でμ=550のもの(村田製作所,品番FSRB090031RNB00B)である。試験機としては、NoiseKen製の静電気試験機(品番ESS-2000)を用いた。
【0042】
図9からわかるように、フェライトリング52を設けない場合、AVコネクタ32では7kVで、センサバーコネクタ30では陽極側8kV,陰極側9kVで、それぞれ誤動作が生じており、基準に達していない。しかし、フェライトリング52を設けた場合には、16kVを印加しても誤動作すら生じておらず、余裕をもって基準をクリアしている。
【0043】
なお、この実施例ではフェライトリング52を用いたが、突起48cと協働してインダクタを構成し得る(すなわち突起48cのインピーダンスを高めることができる)リングであれば、フェライト以外の磁性材料でできたリングであっても、ESD耐性を向上させることができる(どの程度向上するかは材料に依存する)と考えられる。しかしながら、フェライトでできたリングを用いることで、導電部材が高周波で高損失となるので、EMIの低減効果がより顕著となり、ESD耐性も満足のいくものとなる。
【0044】
なお、フェライトリングの形状としては、軸方向の長さが図示されたフェライトリング52より短くても長くてもよい(すなわちドーナツ状でもシリンダ状でもよい)。上下面が楕円形でも、多角形でもよい。構成としては、フェライト自体をリング状に成形したものに限らず、フェライト以外の材料にフェライトを混合してこれをリング状に成形したものでもよく、フェライト以外の材料をリング状に成形してこれにフェライトの粉末を塗布したものでもよい。あるいは、フェライトリングを分割しておき、装着時に接合してもよい。形状や構成の相違によって程度は異なるが、一定のESD耐性は得られ、望ましいESD耐性を得ることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【0045】
【図1】この発明の一実施例を前方上側から見た斜視図である。
【図2】図1実施例を後方下側から見た斜視図である。
【図3】図1実施例の右側面のカバーに隠れた部分を示す図解図である。
【図4】図1実施例の組立工程の一部を示す図解図である。
【図5】図4工程の結果(シールド完成前)を示す斜視図である。
【図6】図4工程に続く工程を示す図解図である。
【図7】図6工程の結果(シールド完成後)を示す斜視図である。
【図8】図7の点線A−A’に沿った断面図である。
【図9】図1実施例に対するESD試験の結果の一部を示す図表である。
【符号の説明】
【0046】
10 …ゲーム装置
12 …ハウジング
30 …周辺機器用コネクタ
32 …AVコネクタ
36 …基板
36e …接地層
36f …接地面
38 …GPU
40 …CPU
44 …シールド
44Aa …凸部
44Ab …スリット
46(12u)…底板(ハウジング底面)
48 …放熱フィン
48a …放熱板
48b …ベース
50 …熱伝導シート
52 …フェライトリング
54,56 …金属ネジ
【出願人】 【識別番号】000233778
【氏名又は名称】任天堂株式会社
【出願日】 平成18年8月31日(2006.8.31)
【代理人】 【識別番号】100090181
【弁理士】
【氏名又は名称】山田 義人


【公開番号】 特開2008−60358(P2008−60358A)
【公開日】 平成20年3月13日(2008.3.13)
【出願番号】 特願2006−235940(P2006−235940)