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【発明の名称】 固体撮像装置及び欠陥画素補正方法
【発明者】 【氏名】山口 利朗
【要約】 【課題】解像度、解像感の低下、偽色の発生などが起きる頻度を抑えることができるようにするとともに、欠陥画素補正が過度に行われるのを防止することができるようにする。

【構成】撮像素子における欠陥画素の欠陥レベルを検出するとともに、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルを算出し、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルと欠陥画素の欠陥画素レベルとから、視覚的に欠陥画素が目立ちやすい画素についてのみ欠陥画素補正を行うようにすることにより、解像度、解像感の低下、偽色の発生などを最小限に抑えた良好な画像が得られるようにして、欠陥画素補正が過度に行われるのを防止するようにする。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体からの入射光を固体撮像素子で光電変換することによって得られるアナログ信号をデジタル信号に変換し、前記デジタル信号に信号処理を施して前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行う固体撮像装置であって、
前記アナログ信号または前記デジタル信号の出力レベルを検出する映像信号レベル検出手段と、
前記映像信号レベル検出手段によって検出された出力レベルに応じて、前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行うか否かを判定する欠陥画素補正動作判定手段とを有することを特徴とする固体撮像装置。
【請求項２】
前記映像信号レベル検出手段は、前記アナログ信号または前記デジタル信号の出力レベルから、輝度信号の情報を生成することを特徴とする請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項３】
前記固体撮像素子における欠陥画素の欠陥レベルを検出する欠陥レベル検出手段を有し、
前記欠陥画素補正動作判定手段は、前記欠陥レベル検出手段によって検出された欠陥レベルと、前記映像信号レベル検出手段によって生成された輝度信号の情報とから前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行うか否かを判定することを特徴とする請求項２に記載の固体撮像装置。
【請求項４】
被写体からの入射光を固体撮像素子で光電変換することによって得られるアナログ信号をデジタル信号に変換し、前記デジタル信号に信号処理を施して前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行う固体撮像装置の欠陥画素補正方法であって、
前記アナログ信号または前記デジタル信号の出力レベルを検出する映像信号レベル検出工程と、
前記映像信号レベル検出工程において検出された出力レベルに応じて、前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行うか否かを判定する欠陥画素補正動作判定工程とを有することを特徴とする欠陥画素補正方法。
【請求項５】
前記映像信号レベル検出工程においては、前記アナログ信号または前記デジタル信号の出力レベルから、輝度信号の情報を生成することを特徴とする請求項４に記載の欠陥画素補正方法。
【請求項６】
前記固体撮像素子における欠陥画素の欠陥レベルを検出する欠陥レベル検出工程を有し、
前記欠陥画素補正動作判定工程においては、前記欠陥レベル検出工程において検出された欠陥レベルと、前記映像信号レベル検出工程において生成された輝度信号の情報とから前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行うか否かを判定することを特徴とする請求項５に記載の欠陥画素補正方法。
【発明の詳細な説明】【技術分野】
【０００１】
本発明は固体撮像装置及び欠陥画素補正方法に関し、特に、欠陥画素補正を効率的に行うために用いて好適な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
固体撮像素子（例えば、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等）においては、結晶欠陥やダストなどにより欠陥画素が生じることが従来から知られている。欠陥画素は主に２種類に層別される。１つ目は黒キズと呼ばれるもので、本来出力すべき値に対して、出力値が低下する欠陥画素を指す。実使用上現れる現象としては、白一面の被写体を撮影した際に、本来輝度が均一の画像が得られるはずだが、黒キズにより白一面の中に黒い点が存在する画像になる。原因としては、程度の悪いものはダスト、程度の軽いものは開口むら等が考えられる。
【０００３】
２つ目は白キズと呼ばれるもので、本来出力すべき値に対して出力値が高くなる欠陥画素を指す。実使用上現れる現象としては、黒一面の被写体を撮影した際に、本来黒一面の画像が得られるはずだが、白キズにより黒一面の中に白い点が存在する画像になる。原因としては、主に結晶欠陥による暗信号の増加が考えられる。
【０００４】
昨今の高画素化、超微細化の流れの中で、前述した欠陥画素の個数は増加傾向にあり、画像への影響、カメラシステムへの影響が懸念されている。欠陥画素の個数が増加すると全ての欠陥画素に対して対応することが困難になってくるため、それらの対策として、様々な欠陥画素補正方法が提案されている。
【０００５】
例えば、特許文献１に記載の欠陥画素補正方法では、撮像面が映像として出力される有効画素領域とそれ以外の無効画素領域とからなる固体撮像素子において、その欠陥画素を検出する際に、有効画素領域の欠陥画素の検出を無効画素領域の欠陥画素の検出よりも優先して行う。これにより、欠陥画素についてのデータを記憶しておくデータバンク数を増やすことなく、欠陥補正を効果的に行うという方法が提案されている。
【０００６】
また、特許文献２記載の欠陥画素補正方法では、画像格納手段に画像データを一時格納し、読み出した画像データに含まれる欠陥画素の検出を欠陥画素検出手段で行い、第１の記憶手段に欠陥画素をすべて格納する。一方、補正対象選択手段では、第１の記憶手段から読み出した画像データのうち、画面中央近傍領域の欠陥を優先させて、補正数を考慮して補正対象の撮像素子を選択する。すなわち、補正数の制約を満たしながら、欠陥画像が目立ってしまう領域を重点的にかつ的確に選ぶことにより、簡便な構成で負担を軽減し、欠陥画素のない画像を容易に提供する方法が提案されている。
【０００７】
【特許文献１】特開平８−３１７２９２号公報
【特許文献２】特開２００２−８４４６３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１及び特許文献２に記載の欠陥画素補正方法は、欠陥画素補正が優先的に必要な領域において優先的に欠陥画素補正を行い、優先的に必要でない領域においては欠陥画素補正を必要最小限とする方法である。しかし、欠陥画素補正が優先的に必要な領域において、補正対象画素が非常に多くなった場合、または画面内のある一部分に補正対象画素が集中する場合に補間エラーが発生する可能性が高かった。このため、実使用上としては、解像度、解像感の低下、偽色の発生などが起きる頻度が高くなるという問題点があった。
【０００９】
これらの現象が発生する理由は、欠陥画素補正は通常同色隣接画素から補間を行うが、同色隣接画素にも複数欠陥画素が存在した場合、さらに周囲の同色隣接画素から補間を行うからである。それゆえに欠陥画素と補間の際使用する同色隣接画素との位置関係が遠くなるため、欠陥画素補正を行った際に正しい補正値と異なる補正値を用いて欠陥画素補正を行う可能性が高くなってしまった。
【００１０】
また、特許文献１及び特許文献２に記載の欠陥画素補正方法では、被写体の輝度に係わらず検出した欠陥画素に対して補正を行っていた。このため、この欠陥画素補正方法の場合には、欠陥画素が視覚的に目立ちやすい低輝度時、欠陥画素が視覚的に目立ちにくい高輝度時に係わらず常に同様に補正を行っていた。このように、欠陥画素の目立ち具合に係わりなく欠陥画素補正を行うことは、前述したように、補正対象画素が非常に多くなった場合に、またはある一部分に補正対象画素が集中する場合に、補間エラーが発生する可能性が高くなってしまう問題点があった。
【００１１】
本発明は前述の問題点に鑑み、解像度、解像感の低下、偽色の発生などが起きる頻度を抑えることができるようにするとともに、固体撮像素子の欠陥画素補正が過度に行われるのを防止できるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の固体撮像装置は、被写体からの入射光を固体撮像素子で光電変換することによって得られるアナログ信号をデジタル信号に変換し、前記デジタル信号に信号処理を施して前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行う固体撮像装置であって、前記アナログ信号または前記デジタル信号の出力レベルを検出する映像信号レベル検出手段と、前記映像信号レベル検出手段によって検出された出力レベルに応じて、前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行うか否かを判定する欠陥画素補正動作判定手段とを有することを特徴とする。
【００１３】
本発明の欠陥画素補正方法は、被写体からの入射光を固体撮像素子で光電変換することによって得られるアナログ信号をデジタル信号に変換し、前記デジタル信号に信号処理を施して前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行う固体撮像装置の欠陥画素補正方法であって、前記アナログ信号または前記デジタル信号の出力レベルを検出する映像信号レベル検出工程と、前記映像信号レベル検出工程において検出された出力レベルに応じて、前記固体撮像素子の欠陥画素補正を行うか否かを判定する欠陥画素補正動作判定工程とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、出力レベルに応じて、欠陥画素補正を行うか否かを判定して固体撮像素子の欠陥画素補正を行うようにした。これにより、解像度、解像感低下偽色の発生などが起きる頻度を抑えることができるとともに、固体撮像素子の欠陥画素補正が過度に行われるのを防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
（第１の実施形態）
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。図１は、本実施形態に係る固体撮像装置（ここではデジタルスチルカメラ）の機能構成例を示すブロック図である。
まず、図１の各部の機能を説明する。１０は固体撮像装置であり、本実施形態ではデジタルスチルカメラである。
【００１６】
内部の機能を詳述すると、１２は光を電気信号へ変換する固体撮像素子であり、本実施形態ではＣＣＤとする。１１は被写体からの光をＣＣＤ１２へ集光するレンズである。１３は、ＣＣＤ１２を駆動するタイミングを生成するタイミングジェネレータ（ＴＧ）である。
【００１７】
１４はＣＣＤ１２から出力される電気信号、すなわちアナログ映像信号をデジタル映像信号へ変換するＡ／Ｄ変換回路である。Ａ／Ｄ変換回路１４でデジタル映像信号に変換後、ＲＡＷ画像データとして一旦、記憶部１５の画像用メモリ１６（ここではＤＲＡＭとする。）に記録される。
【００１８】
また、記憶部１５中の欠陥画素アドレスメモリ１７（ここではＲＯＭとする。）には、事前に工場調整時またはカメラ起動時等に、欠陥画素検出によって得られた欠陥画素の座標、Ｘアドレス、Ｙアドレスが記録されている。さらに、欠陥画素レベルメモリ１８（ここではＲＯＭとする。）には、事前に工場調整時またはカメラ起動時等に、欠陥画素検出によって得られた、欠陥レベルが記録されている。
【００１９】
１９は欠陥画素周辺画素の輝度レベルを判定する輝度レベル判定回路であり、２０は画像用メモリ１６に記録されているＲＡＷデータを最終的な出力画像フォーマットに変換する画像処理回路である。画像処理回路２０で画像処理された後、記録媒体２１（ここではコンパクトフラッシュ（登録商標）カードとする。）に撮影画像が最終フォーマットで記録される。
【００２０】
また、２２は制御部（ここではＣＰＵとする。）であり、タイミングジェネレータ１３、Ａ／Ｄ変換回路１４、記憶部１５、輝度レベル判定回路１９、画像処理回路２０及び記録媒体２１を統括的に制御する。
【００２１】
次に、本実施形態における欠陥画素の検出処理手順を図２に示すフローチャートを用いて説明する。前述した通り、欠陥画素のＸアドレス、Ｙアドレスと、欠陥画素の欠陥レベルを事前に検出し、カメラ内メモリに記憶しておく必要がある。本実施形態では製品出荷前に工場で欠陥画素検出を行う例を示す。
【００２２】
まず、ステップＳ１０１において、欠陥画素検出を開始する。ここで、欠陥画素は当然のことながら搭載されるＣＣＤによって、存在する個数、アドレス、欠陥レベルが異なるため、製品個々に検出する必要がある。
【００２３】
次に、ステップＳ１０２において、欠陥画素検出のために、明るさが一様な被写体、例えば輝度箱のような被写体を撮影する。撮影条件は、撮影した画像の全面が一様になるようなシェーディングを持たない条件、例えばＦ値の場合より絞った条件が好ましい。そして、ステップＳ１０３において、撮影した画像を、Ａ／Ｄ変換回路１４でアナログ映像信号からデジタル信号に変換し、ＲＡＷ画像として画像用メモリ１６に記録する。
【００２４】
次に、ステップＳ１０４に進み、ＲＡＷ画像各画素において、同色周囲画素との差分値を計算する。差分値の計算方法の詳細について、図４を参照しながら後で説明する。なお、本実施形態ではＣＣＤ１２について原色ベイヤー配列を前提に説明するが、その他の色フィルタ構成でもよい。
【００２５】
例えば、検査対象画素を図４の中心に位置するＲ３３とした場合、検査対象画素の同色周囲画素（本実施形態ではＲ１１、Ｒ１３、Ｒ１５、Ｒ３１、Ｒ３５、Ｒ５１、Ｒ５３、Ｒ５５）の平均値をＡＶＥＲ３３とする。ＡＶＥＲ３３は、以下の式（１）により求められる。
ＡＶＥＲ３３＝（Ｒ１１＋Ｒ１３＋Ｒ１５＋Ｒ３１＋Ｒ３５＋Ｒ５１＋Ｒ５３＋Ｒ５５）／８ ・・・（１）
【００２６】
さらに、加算平均値ＡＶＥＲ３３とＲ３３との差分値をＤＲ３３とすると、ＤＲ３３は、以下の式（２）により求められる。
ＤＲ３３＝｜Ｒ３３−ＡＶＥＲ３３｜ ・・・（２）
【００２７】
図２のフローチャートの説明に戻る。ステップＳ１０４において、差分値の計算を行った後、ステップＳ１０５において、さらに欠陥画素の判定レベルをＫとして、ＫとＤＲ３３との大小の比較を行う。この比較の結果、Ｋ＜ＤＲ３３である場合は、ステップＳ１０６に進み、Ｒ３３は欠陥画素と判断し、デジタルスチルカメラ１０内の記憶部１５の欠陥画素アドレスメモリ１７に、Ｘアドレス及びＹアドレス（図４に示す例ではＸ＝３、Ｙ＝３）を記録する。
【００２８】
さらに、以下の式（３）、（４）により欠陥画素の欠陥のレベルを算出する。Ｒ３３の欠陥レベルをＬＥＶＲ３３とすると、
Ｒ３３≧ＡＶＥＲ３３の場合、ＬＥＶＲ３３＝Ｒ３３／ＡＶＥＲ３３ ・・・（３）
Ｒ３３＜ＡＶＥＲ３３の場合、ＬＥＶＲ３３＝ＡＶＥＲ３３／Ｒ３３ ・・・（４）
とする。そして、デジタルスチルカメラ１０内の記憶部１５の欠陥画素レベルメモリ１８に、Ｒ３３の欠陥レベル（ＬＥＶＲ３３）を記録する。
【００２９】
一方、ステップＳ１０５の比較の結果、Ｋ≧ＤＲ３３である場合は、ステップＳ１０７に進み、Ｒ３３は本来の値が出力されているため、欠陥画素ではないと判断する。次に、ステップＳ１０８において、ＲＡＷ画像の最終画素まで欠陥画素の判定が終了したか否かを判定する。この判定の結果、欠陥画素の判定が終了していない場合は、ステップＳ１０４に戻り、ステップＳ１０４〜Ｓ１０８まで、各画素の欠陥画素検出作業を全画素終了するまで同様に行う。
【００３０】
一方、ステップＳ１０８の判定の結果、欠陥画素の判定が終了した場合は、ステップＳ１０９に進み、欠陥画素補正テーブルを作成する。図５は、欠陥画素補正テーブルの一例を示す図である。図５に示すように、欠陥画素の同色周辺画素の輝度レベル（１２ビット）と欠陥画素レベルとで５段階に分類されており、○及び×の２つのパラメータで作成されている。作成方法と使用方法の詳細については、図３に示すフローチャートで後述する。ステップＳ１０９において欠陥画素補正テーブルを作成したら、製品出荷前の工場での欠陥画素検出を終了する（ステップＳ１１０）。
【００３１】
次に、図３に示すフローチャートを参照しながら本実施形態の欠陥画素補正方法の一例を説明する。
まず、ステップＳ２０１において、撮影者の操作により撮影を開始する。次に、ステップＳ２０２において、撮影されたＲＡＷ画像をデジタルスチルカメラ１０内の記憶部１５の画像用メモリ（ＤＲＡＭ）１６に一旦記録する。
【００３２】
次に、ステップＳ２０３において、図２のステップＳ１０６で検出した欠陥画素のアドレスを欠陥画素アドレスメモリ１７より取得する。さらに、ステップＳ２０４において、図２のステップＳ１０６で検出した欠陥画素の欠陥画素レベルを欠陥画素レベルメモリ１８より取得する。
【００３３】
次に、ステップＳ２０５において、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルを算出する。欠陥画素周辺の周辺輝度レベル算出方法は、図４に示すＲ３３が、欠陥画素であった場合、周辺輝度レベルをＹＲ３３とすると、本実施形態では、以下の式（５）を用いて欠陥画素の周辺輝度レベルを算出する。
ＹＲ３３＝（（Ｒ１３＋Ｒ３１＋Ｒ３５＋Ｒ５３）／４＋（Ｂ２２＋Ｂ２４＋Ｂ４２＋Ｂ４４）／４＋（Ｇｒ２３＋Ｇｂ３２＋Ｇｂ３４＋Ｇｒ４３）／４×２）／４ ・・・（５）
【００３４】
次に、ステップＳ２０６において、図２のステップＳ１０９で作成した欠陥画素補正テーブルを参照し、ステップＳ２０３で取得した欠陥画素に対して欠陥画素補正を行うか否かを判定する。本実施形態では欠陥画素補正テーブルを、図２のステップＳ１０９で算出した欠陥画素周辺の周辺輝度レベルを５段階（１２ビットで記載）と、欠陥画素の欠陥画素レベルをレベル１〜５（レベル１の方が程度が悪い）に５段階に分類した２つのパラメータによって作成している。
【００３５】
この２つのパラメータによって欠陥画素補正を行うか否かを判定するが、本実施形態では欠陥画素周辺が高輝度である場合に欠陥画素が目立ちにくいという特性を生かし、低輝度時かつ欠陥画素レベルが低い時のみ欠陥画素補正を行う。
【００３６】
欠陥画素周辺が高輝度である場合は欠陥画素が目立ちにくいという特性について、図６を参照しながら説明する。図６は、輝度値の入出力特性、すなわち、輝度ガンマ特性を示す図である。Ｘ軸は入力ＲＡＷ画像の輝度値（１２ビット）を表現し、Ｙ軸は最終出力画像フォーマットの輝度値（８ビット）を表現している。
【００３７】
例えば、本来出力すべき値に対して−２０％の出力値となる欠陥画素が、高輝度部と低輝度部それぞれに存在したと仮定した場合を説明する。高輝度部の欠陥画素は、図６中の（１）に示すように、−２０％出力が低下してもガンマ特性の傾きが小さいため、出力値としての低下は僅かとなる。一方、低輝度部の欠陥画素は、図６中の（２）に示すように、同じ−２０％の低下でもガンマ特性の傾きが大きいため、出力値の低下は大きくなる。
【００３８】
このような特性を生かして、ステップＳ２０６では低輝度時かつ欠陥画素レベルが低い図５中の○に該当する欠陥画素である場合に欠陥画素補正を行うと判定し、×部に該当する欠陥画素である場合は欠陥画素補正を行わない判定する。
【００３９】
ステップＳ２０６の判定の結果、欠陥画素補正を行う場合は、ステップＳ２０７に進み、同色周囲画素から補間して欠陥画素の値を置き換える。具体的には、例えば図４中のＲ３３が欠陥画素補正必要画素であった場合は、以下の式（６）を用いてＲ３３を同色周囲画素平均値ＡＶＥＲ３３と置き換える。
Ｒ３３＝ＡＶＥＲ３３＝（Ｒ１１＋Ｒ１３＋Ｒ１５＋Ｒ３１＋Ｒ３５＋Ｒ５１＋Ｒ５３＋Ｒ５５）／８ ・・・（６）
【００４０】
一方、ステップＳ２０６の判定の結果、欠陥画素補正を行わない場合は、ステップＳ２０８に進み、欠陥画素補正を行わずに放置する。次に、ステップＳ２０９において、最終欠陥画素まで欠陥画素補正の判定が終了したか否かを判定する。この判定の結果、最終欠陥画素まで欠陥画素補正の判定が終了していない場合は、ステップＳ２０３に戻り、図２のステップＳ１０６で検出した欠陥画素アドレスメモリに記録されている全欠陥画素に対して欠陥画素補正の判定を行うまで繰り返す。一方、ステップＳ２０９の判定の結果、最終欠陥画素まで欠陥画素補正の判定が終了した場合は、ステップＳ２１０に進み、欠陥画素補正を完了する。
【００４１】
以上のように、本実施形態においては、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルと欠陥画素の欠陥画素レベルとから、視覚的に欠陥画素が目立ちやすい画素のみ欠陥画素補正を行うようにした。これにより、解像感低下を最低限に抑えた良好な画像を提供することが可能となる。
【００４２】
（本発明に係る他の実施形態）
前述した本発明の実施形態における固体撮像装置を構成する各手段、並びに欠陥画素補正方法の各工程は、コンピュータのＲＡＭやＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び前記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体は本発明に含まれる。
【００４３】
また、本発明は、例えば、システム、装置、方法、プログラムもしくは記録媒体等としての実施形態も可能であり、具体的には、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、また、一つの機器からなる装置に適用してもよい。
【００４４】
なお、本発明は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラム（実施形態では図２、３に示すフローチャートに対応したプログラム）を、システムまたは装置に直接、または遠隔から供給する。そして、そのシステムまたは装置のコンピュータが前記供給されたプログラムコードを読み出して実行することによっても達成される場合を含む。
【００４５】
したがって、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、前記コンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明は、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も含まれる。
【００４６】
その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、ＯＳに供給するスクリプトデータ等の形態であってもよい。
【００４７】
プログラムを供給するための記録媒体としては、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスクなどがある。さらに、ＭＯ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ、ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ）などもある。
【００４８】
その他、プログラムの供給方法としては、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続する方法がある。そして、前記ホームページから本発明のコンピュータプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記録媒体にダウンロードすることによっても供給できる。
【００４９】
また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるＷＷＷサーバも、本発明に含まれるものである。
【００５０】
また、その他の方法として、本発明のプログラムを暗号化してＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に格納してユーザに配布し、所定の条件をクリアしたユーザに対し、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせる。そして、その鍵情報を使用することにより暗号化されたプログラムを実行してコンピュータにインストールさせて実現することも可能である。
【００５１】
また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施形態の機能が実現される。さらに、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが、実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現され得る。
【００５２】
さらに、その他の方法として、まず記録媒体から読み出されたプログラムが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれる。そして、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現される。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明の実施形態に係るデジタルスチルカメラの機能構成例を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態における欠陥画素の検出処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施形態における欠陥画素補正手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施形態に係る画素配列の一例を示す図である。
【図５】本発明の実施形態に係る欠陥画素補正テーブルの一例を示す図である。
【図６】本発明の実施形態に係る入出力特性を示す図である。
【符号の説明】
【００５４】
１０ デジタルスチルカメラ
１１ レンズ
１２ ＣＣＤ
１３ タイミングジェネレータ
１４ Ａ／Ｄ変換回路
１５ 記憶部
１６ 画像用メモリ
１７ 欠陥画素アドレスメモリ
１８ 欠陥画素レベルメモリ
１９ 輝度レベル判定回路
２０ 画像処理回路
２１ 記録媒体
２２ 制御部
【出願人】 【識別番号】０００００１００７
【氏名又は名称】キヤノン株式会社
【出願日】 平成１８年７月４日（２００６．７．４）
【代理人】 【識別番号】１０００９０２７３
【弁理士】
【氏名又は名称】國分 孝悦
【公開番号】 特開２００８−１７０３７（Ｐ２００８−１７０３７Ａ）
【公開日】 平成２０年１月２４日（２００８．１．２４）
【出願番号】 特願２００６−１８４６３１（Ｐ２００６−１８４６３１）