| 【発明の名称】
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非接触原子間力顕微鏡及び非接触原子間力顕微鏡の動作プログラム
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磁性粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子
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自動分析装置
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ＱＣＭセンサー
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マイクロチップ
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ディスク搬送機構、これを利用したディスク検査装置およびディスク検査方法
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エバネッセント励起蛍光観察における背景蛍光を減弱する方法及び部材
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腐食もしくは防食環境の数値解析方法
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塗膜劣化診断方法
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ＴＦＴ基板検査装置およびＴＦＴ基板検査方法
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基板検査装置
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発光寿命測定装置およびその測定方法
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熱分析装置及びその乾燥方法
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浮遊粒子測定システム
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圧電アクチュエータおよびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡
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自閉症の診断薬
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土壌検査方法
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基板検査装置及び基板検査装置に用いられるランプユニット
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水素ガスセンサ
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配管あるいは板の状態検知方法及びその装置
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発光プローブ及び発光体
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巨視的探査理論に基づいたコンクリート電柱地中部の広帯域超音波探査方法
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耐熱鋼の損傷評価方法及びその装置
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錠剤の崩壊試験方法及び崩壊試験装置
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外観検査装置
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非リン皮膜部品の検査方法
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自動分析装置、自動分析装置の異常原因解析支援方法、および異常原因解析支援プログラム
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測定方法及び測定用キット
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摺動部品の加工精度計測装置
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基板検査方法、および基板検査装置
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配管検査装置および配管検査方法
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医療検査用カセット
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示差屈折率検出器
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ボイラ伝熱管群内走行装置、ボイラ伝熱管の肉厚検査装置および方法
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グリコシル化異常症の検査方法
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複合センサ素子
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基板外観検査用の検査基準データの設定方法およびこの方法を用いた基板外観検査装置
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流路基板および流路基板を備えた流路デバイス
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焼入硬化層深さの測定方法
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二重鎖ＤＮＡ量の電気化学的測定方法
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細菌の共凝集能の評価方法
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欠陥検出装置、欠陥検出方法およびプログラム
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拭き取り検査具
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摩擦伝動ベルトの摩擦係数測定方法および測定装置
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光散乱検出装置
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静電容量型の検出装置
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エンジンオイルの状態検知方法
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空洞共振器、及びそれを用いた電子スピン共鳴測定装置
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βアミロイドオリゴマーを用いたバイオチップおよびアミロイドセンサーならびに生体試料中に存在するβアミロイドの検出方法
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実装部品検査装置
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