トップ :: G 物理学 :: G01 測定;試験

【発明の名称】
温度測定方法及び当該方法を用いた温度測定装置
チャープ測定器、チャープ測定方法およびプログラム
光サンプリング波形観測装置
ストークスパラメータ測定装置及びストークスパラメータの測定方法
分光システム
光スリット
分光データ分類方法、分光データ分類装置、並びに分光データ分類プログラム
熱型赤外線検出装置およびその製造方法
色彩測定装置,色彩測定方法および条件等色誤差測定方法
温度分布表示装置
偏光分光器
樹脂フィルムの温度測定方法及び加熱成膜装置
光量測定装置、画像形成装置およびトナー濃度測定装置
光受信器の製造方法
赤外線センサおよび赤外線センサの製造方法
光検出装置
測色装置と測色方法
赤外線計測表示装置
光ファイバセンサーヘッド及びその製造方法
放射温度測定装置、光源温度制御装置、画像投影装置および放射温度測定方法
紫外線検出装置
分光蛍光光度計及びその補正方法
発光体の光放射パターン測定装置及び測定方法
分光光度計
配光特性測定装置
温度センサおよびその製造方法
掃引レーザ用波長校正装置及び方法
画像表示装置及び画像表示方法
車載用カラーセンサおよびその製造方法
測光装置及び測光方法
光量測定装置および光量測定方法
光検出装置、電気光学装置、および電子機器
赤外線検出器
赤外線センサ装置
赤外線センサ
赤外線センサ
赤外線センサアレイシステム
偏光センサ
カラーセンサー及びバックライト制御装置
測定領域設定装置、測定領域設定方法および分光測定装置
測定システム及びその動作プログラム
光パルス多重化ユニット及び時間分解計測装置
電子機器
鋼材の表面温度測定方法およびその装置
色材選択補助装置及びそれらの方法並びにプログラム
光源検出装置及びそれを用いた撮像装置
分光分析装置
光束の拡がり角測定装置
マルチスペクトル撮像装置、マルチスペクトル照明装置
半導体装置および光検出方法
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