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【発明の名称】 部品検査装置
【発明者】 【氏名】林 浩一

【要約】 【課題】部品の複数の方向からの外観検査が可能な部品検査装置の配置スペースを小さくする。

【解決手段】部品検査装置1は、第1ディスク17と、第2ディスク57と、移載機構5と、検査ユニット(13,53)と、選別ユニット(14,54)とを備えている。第1ディスク17は、ワークWを載置して回転方向に搬送可能である。第2ディスク57は、ワークWを載置して回転方向に搬送可能であり、第1ディスク17の軸方向下側に配置されている。移載機構5は、第1ディスク17から第2ディスク57に対してワークWを上下反転させて移載させる。検査ユニット(13,53)は、第1及び第2ディスク17,57に載置されて搬送されるワークWを検査する。選別ユニット(14,54)は、検査ユニット(13,53)の検査結果に応じてワークWを良品と不良品を選別する。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
被検査部品を載置して回転方向に搬送可能な第1円盤と、
前記被検査部品を載置して回転方向に搬送可能であり、前記第1円盤の軸方向下側に配置された第2円盤と、
前記第1円盤から前記第2円盤に対して前記被検査部品を上下反転させて移載させる移載機構と、
前記第1及び第2円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する検査ユニットと、
前記検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品を良品と不良品を選別する選別ユニットとを備えている、
部品検査装置。
【請求項2】
前記第1円盤及び前記第2円盤は同軸に配置されており、
前記第2円盤は前記第1円盤より外径が大きい、請求項1に記載の部品検査装置。
【請求項3】
前記第1円盤及び前記第2円盤を駆動する単独の駆動部をさらに備える、請求項2に記載の部品検査装置。
【請求項4】
前記移載機構は、前記第2円盤に対して、前記第2円盤の回転方向と同じ方向に前記被検査部品を供給する、請求項1〜3のいずれかに記載の部品検査装置。
【請求項5】
前記移載機構は、反転シュートを有している、請求項4に記載の部品検査装置。
【請求項6】
前記移載機構は、前記第1円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を前記反転シュートの入り口に誘導するための誘導部材をさらに有している、請求項5に記載の部品検査装置。
【請求項7】
前記検査ユニットは、前記第1円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第1検査ユニットを有しており、
前記選別ユニットは、前記第1検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記移載機構に到達する前に前記第1円盤から取り除く第1選別ユニットを有している、請求項1〜6のいずれかに記載の部品検査装置。
【請求項8】
前記検査ユニットは、前記第2円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第2検査ユニットをさらに有しており、
前記選別ユニットは、前記第2検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記第2円盤から取り除く第2選別ユニットをさらに有している、請求項7に記載の部品検査装置。
【発明の詳細な説明】【技術分野】
【0001】
本発明は、各種部品の検査を行う部品検査装置に関し、特に、ナットのような平型の部品を検査する部品検査装置に関する。
【背景技術】
【0002】
ねじやリベット等の機械部品を検査するための従来の部品検査装置は、例えば、被検査部品を搬送する搬送ユニットと、搬送過程において被検査部品の外観検査(傷、寸法計測、形状確認等)を行って良否を判断する検査ユニットとを有している。搬送ユニットとしては、例えば直進フィーダやベルトコンベアが用いられる。検査ユニットとしては、エリアセンサやラインセンサ等のCCDカメラが用いられる。
【0003】
部品検査装置は、さらには、検査ユニットの検査結果に応じて披検査品を良品と不良品とを選別する選別ユニットを備えている。選別ユニットは、例えば、不良品を搬送ユニットから排除する。
【0004】
部品検査装置には、搬送ユニットとして回転円盤を用いたものが知られている。その装置では、部品は円盤上に拘束されない状態で載置される。検査ユニットとしてのCCDカメラは、例えば、部品の側面と上面を撮影可能な位置にそれぞれ配置されている。選別ユニットは、間欠回転可能な羽根車を有している(例えば、特許文献1を参照。)。
【特許文献1】特開平2001−246520号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
前記従来の部品検査装置では、ナットのような平型の被検査部品は、ボウルフィーダによって検査面が上側を向くように整列させられ、回転円盤上に搬送される。部品は、回転円盤上に移載された状態で、上面及び側面を検査される。一方、この被検査部品は、移載状態での底面を検査することも要請されている。
【0006】
この要請に対しては、第一に、ボウルフィーダからのワークWの排出姿勢を変更して再度検査を行うことが考えられる。しかし、上記検査方法では、部品の検査装置への再投入の作業、部品の姿勢制御機構の変更等があるため、作業効率が悪く、その結果検査費用が高くなってしまう。また、第二に、回転円盤から良品として取り出された部品を再度ボウルフィーダで受けて別のディスク検査ユニットに供給し、ここで部品の異なる面を上側に向けて検査する方法も考えられる。しかし、この場合は2つの検査装置が必要となって、機器の数が増えると共に、配置スペースが大きくなる。
【0007】
本発明の課題は、部品の複数の方向からの外観検査が可能な部品検査装置の配置スペースを小さくすることにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
請求項1に記載の部品検査装置は、第1円盤と、第2円盤と、移載機構と、検査ユニットと、選別ユニットとを備えている。第1円盤は、被検査部品を載置して回転方向に搬送可能である。第2円盤は、被検査部品を載置して回転方向に搬送可能であり、第1円盤の軸方向下側に配置されている。移載機構は、第1円盤から第2円盤に対して被検査部品を上下反転させて移載させる。検査ユニットは、第1及び第2円盤に載置されて搬送される被検査部品を検査する。選別ユニットは、検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品を良品と不良品を選別する。ここで、「円盤」とは、いわゆるディスクのことをいい、円状や環状を含み、少なくとも回転方向に延びる部品搭載面を有するものをいう。
【0009】
この部品検査装置では、第1円盤に載置されて回転する被検査部品は上面を検査ユニットによって検査され、選別ユニットによって良品と不良品とに選別される。さらに被検査部品は移載機構によって上下反転されて第2円盤に移載される。この結果、第2円盤に載置されて回転する被検査部品は上面(第1円盤上での底面)を検査ユニットによって検査され、選別ユニットによって良品と不良品を選別される。このように、同軸上に並んだ2つの円盤によって被検査部品の両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。
【0010】
請求項2に記載の部品検査装置では、請求項1において、第1円盤及び第2円盤は同軸に配置されており、第2円盤は第1円盤より外径が大きい。
【0011】
この部品検査装置では、第2円盤は第1円盤と同軸ではあるが第1円盤より外径が大きいため、例えば検査ユニットのカメラを第2円盤の外周部の鉛直方向上側に配置して真下への撮影が可能である。
【0012】
請求項3に記載の部品検査装置は、請求項2において、第1円盤及び第2円盤を駆動する単独の駆動部をさらに備えている。
【0013】
この部品検査装置では、単独の駆動部によって第1円盤と第2円盤を駆動しているため、簡単な構造で被検査部品の両面を検査できる。
【0014】
請求項4に記載の部品検査装置では、請求項1〜3のいずれかにおいて、移載機構は、第2円盤に対して、第2円盤の回転方向と同じ方向に被検査部品を供給する。
【0015】
この部品検査装置では、被検査部品が第2円盤に対して回転方向と同じ方向に供給されるため、被検査部品は第2円盤にスムーズに移行する。このため、第2円盤における被検査部品の動きや供給位置が安定する。
【0016】
請求項5に記載の部品検査装置では、請求項4において、移載機構は、反転シュートを有している。
【0017】
この部品検査装置では、簡単な構造で被検査部品の上下を反転できる。
【0018】
請求項6に記載の部品検査装置では、請求項5において、移載機構は、第1円盤に載置されて搬送される被検査部品を反転シュートの入口に誘導するための誘導部材をさらに有している。
【0019】
この部品供給装置では、誘導部材によって被検査部品は確実に反転シュートの入口に誘導される。
【0020】
請求項7に記載の部品検査装置では、請求項1〜6のいずれかにおいて、検査ユニットは、第1円盤に載置されて搬送される被検査部品を検査する第1検査ユニットを有している。選別ユニットは、第1検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品の不良品を移載機構に到達する前に第1円盤から取り除く第1選別ユニットを有している。
【0021】
この部品検査装置では、第1検査ユニットが第1円盤上の被検査部品を検査して、第1選別ユニットが不良品を第1円盤から取り除く。したがって、第1円盤上で不良品と判定された被検査部品は第2円盤には移行しない。つまり、第2円盤での検査は、第1円盤で良品と判定された被検査部品にのみ実施される。
【0022】
請求項8に記載の部品検査装置では、請求項7において、検査ユニットは、第2円盤上の被検査部品を検査する第2検査ユニットをさらに有している。選別ユニットは、第2検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品の不良品を第2円盤から取り除く第2選別ユニットをさらに有している。
【0023】
この部品検査装置では、第2検査ユニットが第2円盤上の被検査部品を検査して、第2選別ユニットが不良品を第2円盤から取り除く。したがって、第1円盤及び第2円盤の両方で良品と判定された被検査部品のみが最終的に良品として残る。
【発明の効果】
【0024】
本発明に係る部品検査装置では、同軸上に並んだ2つの円盤によって被検査部品の両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0025】
図1に、本発明の一実施形態としての部品検査装置1を示す。部品検査装置1は、例えばボルト、ねじ、リベット等のワークWの外観検査を行うための装置である。より具体的には、この実施形態ではワークWはナットのような平形の部材であり、部品検査装置1はワークWの軸方向両端面を検査するための装置である。
【0026】
部品検査装置1は、主に、ボウルフィーダ2と、第1直進フィーダ3と、第1ディスク検査装置4と、移載機構5と、第2ディスク検査装置6とを備えている。なお、これらの機構は機台8上に搭載されている。
【0027】
ボウルフィーダ2は、ワークWを整列供給するための装置である。ボウルフィーダ2は、複数のワークWを貯留可能な円筒形状の貯留部を有しており、ナットのような平形のワークWが多数投入される。なお、この実施例では、ワークWは、座面側に薄いフランジが形成されたナット(フランジナット)であり、ボウルフィーダ2からフランジが上側を向いた姿勢で第1直進フィーダ3に整送される。
【0028】
第1直進フィーダ3は、ボウルフィーダ2から第1ディスク検査装置4にワークWを給送するための装置である。図2に示すように、第1直進フィーダ3は、一方向に長く延びる部品搬送面11を有しており、ワークWは部品搬送面11の長手方向(図の矢印Y1方向)に移動可能となっている。部品搬送面11は、ワークWの搬送方向を後述する第1ディスク17の回転方向に合わせるように、第1ディスク17の接線方向に一致するように延びている。
【0029】
第1ディスク検査装置4は、ワークWの端面を検査するための装置である。第1ディスク検査装置4は、ワークWを搬送する第1搬送ユニット12と、ワークWを検査するための第1検査ユニット13と、ワークWの良品と不良品を選別するための第1選別ユニット14とを備えている。
【0030】
第1搬送ユニット12は、主に、第1ディスク17と、それを回転駆動するためのサーボモータ(図示せず)とから構成されている。第1ディスク17は、ワークWを回転方向に搬送するための部材である。第1ディスク17は、円板状部材であり、環状の部品載置面19を有している。部品載置面19は平面となっている。なお、サーボモータ(図示せず)にはロータリエンコーダ(図示せず)が設けられており、第1ディスク17の回転はロータリエンコーダによって検出される。
【0031】
以上の構成によって、第1ディスク17は、サーボモータの駆動を受けて図2の矢印Y2方向に等速回転するようになっている。なお、第1ディスク17は、ボウルフィーダ2及び第1直進フィーダ3の供給速度や第1ディスク検査装置4における検査速度に適した速度で回転させることが可能である。また、ワークWは第1ディスク17の回転に従って第1直進フィーダ3から速やかに分離可能である。以上より、ワークWの検査を高速に行うことができる。
【0032】
図2に、第1検査ユニット13の概要を示す。第1検査ユニット13は、主に、ワークWを斜め上方から撮影するための第1カメラ31と、ワークWを真上から撮影するための第2カメラ32と、各カメラからの画像情報に基づいてワークWの良否を判断するための判断ユニット(図示せず)を備えている。第1カメラ31は、ワークWの内周面を検査するための装置である。なお、第1カメラ31と第1ディスク17との間にはリングライト34が配置されている。第2カメラ32は、ワークWのフランジ側端面を検査するための装置であり、第1ディスク17の第1カメラ31の撮像ポイントより搬送方向下流側を撮影可能なように配置されている。なお、第2カメラ32と第1ディスク17との間にはリングライト35が配置されている。判断ユニット(図示せず)は、第1カメラ31と第2カメラ32からの画像に基づいてワークWの良否を判断するための装置であり、CPU、RAM、ROMからなるコンピュータを含んでいる。
【0033】
第1選別ユニット14は、第1検査ユニット13の判断結果に基づいて、ワークWを良品と不良品を選別するための装置であり、具体的には、不良品を第1ディスク17の部品載置面19から排除するための機構である。図2に示すように、第1選別ユニット14は、第1ディスク17の第2カメラ32の撮像ポイントから搬送方向下流側に配置されている。第1選別ユニット14は、ワークWをはじき出すための羽根車(図示せず)と、この羽根車よりワークWの搬送方向下流側に配置された排出板37と、この排出板37を所定角度回転させるためのサーボモータ38とから構成されている。排出板37は、第1ディスク17の上方に第1ディスク17の回転とは独立して配置されている。この排出板37は、常時は、ワークWの搬送を妨げない位置に待機しており、サーボモータ38の駆動を受けてワークWの搬送軌道と斜めに交差する位置に回動する。
【0034】
不良と判定されたワークWの具体的な排出動作について、判断ユニットによる判定が「不良」である場合は、該当するワークWが羽根車の回動移動路上に達すると、羽根車が回転して当該不良判定を受けたワークWを第1ディスク17の外周側へはじき飛ばす。これにより、当該ワークWは、不良品排出路40を通って不良品回収ボックス(図示せず)に収容される。また、羽根車で不良品が排出できなかった場合には、サーボモータ38が駆動して、排出板37がワークWの搬送軌道上に回動する。これにより不良判定を受けたワークWは、排出板37に沿って第1ディスク17外周方向に移動し、第1ディスク17外周縁からこぼれ落ちて排除される。このようにして、第1選別ユニット14においては、不良判定を受けたワークWを第1ディスク17から取り除く。
【0035】
第1ディスク検査装置4は、さらに、軌道修正部36を有している。軌道修正部36は、第1直進フィーダ3からの整送後にワークWを第1ディスク17上の所定半径方向位置に導くための部材である。軌道修正部36は、第1ディスク17の上方に第1ディスク17の回転から独立して設けられた円板からなる。軌道修正部36は、第1直進フィーダ3からの供給位置からディスク搬送方向下流側に配置されており、第1ディスク17の第1カメラ撮像ポイントよりディスク搬送方向上流側に配置されている。
【0036】
第2ディスク検査装置6は、ワークWのフランジ側と反対側の面を検査するための装置である。第2ディスク検査装置6は、ワークWを搬送する第2搬送ユニット52と、ワークWを検査するための第2検査ユニット53と、ワークWの良品と不良品を選別するための第2選別ユニット54とを備えている。
【0037】
第2搬送ユニット52は、主に、第2ディスク57と、それを回転駆動するためのモータ(図示せず)とから構成されている。なお、このモータは第1ディスク17を駆動するモータと同一である。つまり、第1ディスク17と第2ディスク57とは単独のモータによって駆動されている。以上の構成によって、第2ディスク57は、サーボモータ(図示せず)の駆動を受けて第1ディスク17と同じく図の矢印Y2方向に等速回転するようになっている。
【0038】
第2ディスク57は、第1ディスク17から移載機構5(後述)によって供給されたワークWを回転方向に搬送するための部材である。第2ディスク57は、円板状部材であり、環状の部品載置面59を有している。部品載置面59は平面形状となっている。第2ディスク57は、第1ディスク17の鉛直方向下側に配置されている。第2ディスク57は、第1ディスク17と同軸ではあるが第1ディスク17より外径の大きな部材であるため、第2ディスク57の部品載置面59の全体又は外周側の一部の鉛直方向上側は第1ディスク17に覆われない。
【0039】
第2検査ユニット53は、主に、ワークWのフランジと反対側の面を撮影するための第3カメラ61と、第3カメラ61からの画像情報に基づいてワークWの良否を判断するための判断ユニット(図示せず)を備えている。第3カメラ61は、第2ディスク57の上方、すなわち第1ディスク17に覆われていない第2ディスク57の外周部分上方に配置されている。第3カメラ61と第2ディスク57との間にはリングライト64が配置されている。なお、第1ディスク検査装置4のコントロールユニット(判断ユニットを含む)と第2ディスク検査装置6のコントロールユニット(判断ユニットを含む)は共通であっても良いし、別個独立であっても良い。
【0040】
第2選別ユニット54は、第2検査ユニット53の判断結果に基づいて、ワークWを良品と不良品を選別するための装置であり、具体的には、不良品を第2ディスク57の載置面から排除するための装置である。第2選別ユニット54は、第2ディスク57の第3カメラ61の撮像ポイントより搬送方向下流側に配置されている。第2選別ユニット54は、ワークWをはじき出すための排除板(図示せず)と、排除板を所定角度回転させるためのサーボモータ68とから構成されている。第2選別ユニット54の構成と動作は前述の第1選別ユニット14と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【0041】
第2ディスク検査装置6は、さらに、第2選別ユニット54より搬送方向下流側に、排出プレート77及び良品排出路78を有している。排出プレート77は、ワークWを良品排出路78に案内するための案内面を有している。良品排出路78は、良品回収ボックス(図示せず)につながっており、良品のワークWは良品回収ボックスに収容される。
【0042】
図3に移載機構5の詳細を示す。移載機構5は、ワークWを第1ディスク検査装置4から第2ディスク検査装置6に反転供給するための装置である。移載機構5は、主に、反転シュート70と、回転円板72と、誘導板73と、外周板74とから構成されている。
【0043】
反転シュート70は、第2ディスク57の部品載置面59外周部上側に配置されており、入口70aが第1ディスク17の外周側近傍に配置されており、出口70bが第2ディスク57の部品載置面59外周部上面に沿うように配置されている。反転シュート70は、第1ディスク17および第2ディスク57の回転からは独立して設けられている。反転シュート70の入口70aと出口70bは矢印Y2方向を向いて開口している。
【0044】
回転円板72は、ワークWを第1ディスク17から反転シュート70の入口70aに搬送するための部材である。回転円板72は、第1ディスク17の外周側で反転シュート70の入口70a近傍に配置されている。回転円板72は回転自在に支持されており、外周面が第1ディスク17の外周面に当接している。したがって、第1ディスク17が矢印Y2方向に回転すると、当接部分の摩擦によって回転円板72は矢印Y3方向に回転する。
【0045】
誘導板73は、ワークWを第1ディスク17から回転円板72側に誘導するための部材であり、第1ディスク17上に第1ディスク17の回転から独立して配置されている。誘導板73は、ワークWを第1ディスク17の外周側に移動させるために第1ディスク17の回転方向に対して斜めに交差して配置されている。
【0046】
外周板74は、ワークWが回転円板72から脱落するのを防止するための部材である。外周板74は、回転円板72の外周縁に沿って設けられた弧状の部材であり、両端が誘導板73と反転シュート70の入口70aにそれぞれ連続している。
【0047】
以上の構成により、第1ディスク17の回転に伴って移動してきたワークWは、誘導板73によって回転円板72に誘導される。この時、誘導板73は、ワークWが第1ディスク17と回転円板72との接点部分を通過するよう、ワークWを誘導する。続いて、ワークWは、回転円板72と共に回転して反転シュート70の入口70aまで運ばれる。そこから、ワークWは、反転シュート70の入口70aに入り、表裏を反転された姿勢で出口70bから排出される。なお、ワークWの排出方向は第2ディスク57の回転方向(矢印Y2方向)と同じである。
【0048】
ワークWは、回転円板72上では遠心力によって外周側に移動しており、外周板74に当接した状態で矢印Y3方向に移動する。したがって、ワークWは、反転シュート70の入口70a近傍に到達すると速やかに入口70a内に移動する。この実施例では、反転シュート70の入口70aの矢印Y3方向下流側に規制部75が設けられている。規制部75は、反転シュート70の入口70aから連続して形成されている。規制部75は、ワークWが万一反転シュート70の入口70aに入らずに回転円板72に載ったままさらに移送されそうになった場合に、これを規制してワークWを反転シュート70の入口70aに誘導するための部材である。なお、規制部75は必ずしも無くても良い。また、別の実施例として、ワークWを確実に回転円板72の外周部に移行させるための誘導部材や、ワークWの回転円板72上での軌道を規制する規制部材をさらに設けても良い。
【0049】
また、第2ディスク検査装置6は、さらに、軌道修正部76を有している。軌道修正部76は、ワークWを第2ディスク57上の所定検査軌道に導くための部材である。軌道修正部76は、第2ディスク57の上方に第2ディスク57から独立して設けられた円板からなり、移載機構5からの排出位置から搬送方向下流側近傍に配置されている。
(動作)
【0050】
部品検査装置1の動作について説明する。なお、各装置の詳細の構成及び動作についてはすでに説明しているため、ここでは概略についてのみ説明する。
【0051】
ワークWは、ボウルフィーダ2によってナット座面が上を向く姿勢に整列されて、次に第1直進フィーダ3によって第1ディスク検査装置4に供給される。ワークWは、第1ディスク17の部品載置面19に載置された状態で、第1ディスク17の回転に伴って移動する。ワークWは、第1検査ユニット13の第1カメラ31と第2カメラ32によってナット座面を撮影される。そして、ワークWは、不良品と判定されると、第1選別ユニット14によって第1ディスク17から排除される。
【0052】
ワークW(第1ディスク検査装置4で良品と判定された部品)は、移載機構5によって、上下反転されながら第2ディスク検査装置6に供給される。ワークWは、移載機構5から排出された後、第2ディスク57の部品載置面59に載置された状態で第2ディスク57と共に回転移動する。ワークWは、第2検査ユニット53の第3カメラ61によってナット座面と反対側の面を撮影される。そして、ワークWは、不良品と判定されると、第2選別ユニット54によって第2ディスク57から排除される。この結果、ワークW(第2ディスク検査装置6で良品と判定された部品)は、良品排出路78から良品回収部(図示せず)に回収される。
(発明の効果)
【0053】
部品検査装置1では、ワークWは第1ディスク17に載置されて回転する際に上面を第1検査ユニット13によって検査され、第1選別ユニット14によって良品と不良品とに選別される。さらにワークWは移載機構5によって上下反転されて第2ディスク57に移載される。この結果、ワークWは第2ディスク57に載置されて回転する際に上面(第1ディスク17上での底面)を第2検査ユニット53によって検査され、第2選別ユニット54によって良品と不良品とに選別される。このように、軸方向に並んだ2つのディスク17,57によってワークWの両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。
【0054】
部品検査装置1では、第1ディスク17及び第2ディスク57は同軸に配置されているが、第2ディスク57は第1ディスク17より外径が大きいため、第2検査ユニット53の第3カメラ61を第2ディスク57の外周部の鉛直方向上側に配置して真下に向けて撮影可能である。
【0055】
部品検査装置1では、単独の駆動モータ(図示せず)によって第1ディスク17と第2ディスク57を駆動しているため、簡単な構造でワークWの両面を検査できる。
【0056】
部品検査装置1では、ワークWが第2ディスク57に対して回転方向と同じ方向に供給されるため、ワークWは第2ディスク57にスムーズに移行する。このため、第2ディスク57におけるワークWの動きや供給位置が安定する。
【0057】
部品検査装置1では、第1検査ユニット13が第1ディスク17上のワークWを検査して、第1選別ユニット14が不良品を第1ディスク17から取り除く。したがって、第1ディスク17上で不良と判定されたワークWは第2ディスク57には移行しない。つまり、第2ディスク57での検査は、第1ディスク17で良品と判定されたワークWにのみ実施される。次に、第2検査ユニット53が第2ディスク57上のワークWを検査して、第2選別ユニット54が不良品を第2ディスク57から取り除く。したがって、第1ディスク17及び第2ディスク57の両方で良品と判定されたワークWのみが最終的に良品として残る。
(他の実施例)
【0058】
前記実施形態は本発明の一実施例にすぎず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。
【0059】
図4に反転シュートの他の実施形態を示す。この実施形態では、第2ディスク検査装置の第2ディスクは矢印Y4方向(Y2方向と反対向き)に回転するようになっている。この場合、前記実施形態と同様に単独のモータを用いるためには、動力の反転機構が必要になる。
【0060】
移載機構85は、ワークWを第1ディスク検査装置4から第2ディスク検査装置6に反転供給するための装置である。移載機構85は、第1ディスク17,57の回転からは独立して設けられている。移載機構85は、主に、反転シュート86と、誘導板87とから構成されている。
【0061】
反転シュート86は、第2ディスク57の部品載置面59外周部上側に配置されており、入口86aが第1ディスク17の外周側近傍に配置されており、出口86bが第2ディスク57の部品載置面59外周部上面に沿うように配置されている。反転シュート86の入口86aと出口86bは矢印Y4方向を向いて開口している。
【0062】
誘導板87は、ワークWを第1ディスク17から反転シュート86の入口86a側に誘導するための部材であり、第1ディスク17上に配置されている。誘導板87はワークWを外周側に移動させるために第1ディスク17の回転方向に対して斜めに交差して配置されている。
【0063】
以上の構成により、ワークWは、第1ディスク17から誘導板87によって反転シュート86の入口86aまで運ばれる。そこから、ワークWは反転シュート86の入口86aに入り、表裏を反転された姿勢で出口86bから排出される。なお、ワークWの排出方向は第2ディスク57の回転方向(矢印Y4方向)と同じである。
【0064】
この実施形態では、ワークWの反転シュート86への進入方向が第1ディスク17の回転方向(矢印Y2方向)と同じであるため、簡単な構造で確実にワークWが反転シュート86の入口86aに運ばれる。
【0065】
以上の結果、本実施形態でも前記実施形態と同様の効果が得られる。
【0066】
なお、本発明に係る部品検査装置に用いられるワークWの形状は、前記実施形態のナットに限定されない。
【産業上の利用可能性】
【0067】
本発明は、部品検査装置、特に、部品を連続して検査する検査装置に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【0068】
【図1】本発明の一実施形態としての部品検査装置の全体構成の斜視図。
【図2】図1の部分拡大図であり、第1ディスク検査装置と第2ディスク検査装置の斜視図。
【図3】(a)は移載機構の斜視図であり、(b)はその要部拡大図。
【図4】他の実施形態における移載機構の斜視図。
【符号の説明】
【0069】
1 部品検査装置
2 ボウルフィーダ
3 第1直進フィーダ
4 第1ディスク検査装置
5 移載機構
6 第2ディスク検査装置
13 第1検査ユニット
14 第1選別ユニット
17 第1ディスク(第1円盤)
53 第2検査ユニット
54 第2選別ユニット
57 第2ディスク(第2円盤)
70 反転シュート
73 誘導板(誘導部材)
86 反転シュート
87 誘導板(誘導部材)
W ワーク(被検査部品)
【出願人】 【識別番号】000227467
【氏名又は名称】日東精工株式会社
【出願日】 平成18年9月22日(2006.9.22)
【代理人】 【識別番号】100121120
【弁理士】
【氏名又は名称】渡辺 尚


【公開番号】 特開2008−73626(P2008−73626A)
【公開日】 平成20年4月3日(2008.4.3)
【出願番号】 特願2006−256589(P2006−256589)