| 【発明の名称】 |
プリント配線基板用金属材料 |
| 【発明者】 |
【氏名】村田 正輝 【住所又は居所】茨城県日立市白銀町1−1−2 日鉱金属株式会社技術開発センター内
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| 【要約】 |
【課題】本発明の目的は、表面が平滑でかつ耐熱性を有する銅合金箔にNiめっきを施したプリント配線基板用金属材料を提供することにある。
【解決手段】300℃で1時間加熱しても軟化しない圧延銅合金箔の少なくとも一方の面を光沢面に仕上げ、その面に0.3μm以上のNiめっきを施すことを特徴とするプリント配線基板用材料であり、耐熱性銅合金箔としてSn入り銅箔やCrおよびZr入り銅箔が好ましい。また、めっきには光沢Niめっきが好ましい。 |
【特許請求の範囲】
【請求項1】 300℃で1時間加熱しても軟化しない圧延銅合金箔において、少なくとも一方の面を光沢面に仕上げ、その面に0.3μm以上のNiめっきを施すことを特徴とするプリント配線基板用金属材料。 【請求項2】 光沢面に施したNiめっきの表面粗さがRaで0.15μm以下である特徴とする請求項1に記載のプリント配線基板用金属材料。 【請求項3】 光沢面に施したNiめっきが光沢Niめっきであることを特徴とする請求項1〜2に記載のプリント配線基板用金属材料。 【請求項4】 銅合金箔の化学組成が、0.05〜0.25質量%のSn残部Cuおよび不可避的不純物であることを特徴とする請求項1〜3に記載のプリント配線基板用金属材料。 【請求項5】 銅合金箔の化学組成が、0.02〜0.4質量%のCrおよび0.01〜0.25質量%のZr、残部がCuおよび不可避的不純物であることを特徴とする請求項1〜3に記載のプリント配線基板用金属材料。
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【発明の詳細な説明】【技術分野】 【0001】 プリント配線基板に用いられる耐熱用銅合金箔及びその表面に関する。 【背景技術】 【0002】 携帯電話等の各種の電気・電子機器の軽薄短小化が急速に進んでいる。その発展は、各種半導体部品の微小製造技術、半導体部品を搭載するプリント配線基板の多層化技術、更にはプリント配線基板への受動部品の高密度実装技術などで裏付けられている。 そして、半導体材料の著しい発達に伴って電気・電子部品は、より一層の小型化・高密度実装化が要求されるようになり、前記受動部品の小型化等ではその要求を満足することが出来なくなっていた。 【0003】 このような要求に応える試みの1つとして、大きな実装面積を占める受動部品(例えば、インダクタ、キャパシタ、抵抗器など)をプリント配線基板の内層に内蔵して、実質的な高密度実装とコスト低減、および性能向上を実現するための努力がなされている。 この部品内蔵化の技術に関しては、例えば、プリント配線基板にキャパシタを設ける方法として、チップコンデンサ等の外部キャパシタをプリント配線基板に取り付ける方法の他、高誘電率材料をプリント配線板の内層に用いてプリント配線基板自体にキャパシタの機能を持たせる方法が知られている。近年の電子製品の小型化を考慮すると、高誘電率材料を内層に用いてキャパシタにする後者の方法が望ましい。 誘電体層をプリント配線基板に内蔵する方法が種々検討されているが、誘電体樹脂を予め電極を形成したフィルム上に塗布後半硬化させて、更にその上に電極を形成した後、基板へ転写する方法が特許文献1に開示されている。 しかしながら、電極を形成する際に銅箔の平滑性がそのまま、キャパシタの品質に影響するので、銅箔の平滑性が問題となる。 【特許文献1】特開平11−26943号公報 【0004】 また、導体回路形成用の銅箔の片面または両面に、抵抗回路を形成するための材料層(抵抗層という)を形成して成る抵抗層付き銅箔を樹脂基材にラミネートして製造する抵抗回路内蔵型のプリント配線基板が知られている。このプリント配線基板は、概ね、次のようにして製造される。まず、上記した銅箔の抵抗層側の面と絶縁樹脂から成る基材とをラミネートして銅張り積層板にする。ついで、所定のエッチャントで1次エッチングを行って、銅箔と抵抗層が一体化した状態になっている所定の回路パターンを形成し、ついで、この回路パターンの表面側に位置する導体回路(銅箔)に対して2次エッチングを行って当該銅箔の必要箇所のみを選択的にエッチング除去し、その箇所の抵抗層は残置させる。その後、全体の上に更に絶縁基材を積層し、抵抗層を内蔵する。 【発明の開示】 【発明が解決しようとする課題】 【0005】 従来からこのような電気・電子部品のプリント配線基板に用いられている銅箔(基体銅箔)には、電解銅箔と圧延銅箔がある。電解銅箔は、一般に、表面がTiやステンレス鋼から成る回転ドラムの当該表面にCuを連続的に電着させて銅箔を成膜したのち、その銅箔を連続的に剥離して製造されている。製造された銅箔は、通常、回転ドラム側の表面は光沢面に、電解めっき液側の表面は粗面になっている。ただし、回転ドラムの表面は電解液の腐食等で筋状に凹凸が生成するため、それが転写する光沢面の表面粗さは、後述する圧延銅箔と比較すると非常に粗い。 最近では銅箔表面に平坦性を要求されるようになっており、電着粒を細かくする添加剤を電解めっき液中に添加して、平滑なめっきを成長させて電解めっき液側の表面を光沢面として使用する電解銅箔も使用されている。しかし、その表面粗さは通常の電解銅箔よりは平滑であるが圧延銅箔に比較するとまだ粗いのが一般的である。 【0006】 一方、圧延銅箔は、インゴットを溶製し、これを熱間圧延で板にした後、再結晶焼鈍と冷間圧延を繰り返し、最後に冷間圧延で所望の厚みの箔に仕上げる。このように、圧延ロールにより塑性加工して製造されるので、圧延ロールの表面形態が箔の表面に転写した平滑な表面が得られることが知られている。 ただし、電解銅箔とは異なりその軟化温度は150℃程度と比較的低い。フレキシブルプリント回路(FPC)のように屈曲性を必要とする場合には軟化温度が低く、接着や樹脂硬化処理時に軟化することは、有利な特性である。 【0007】 しかしながら、銅箔表面にキャパシタ機能を付与するために、誘電体を含有した樹脂等を硬化させるときや、誘電体をスパッタ等で形成させる時にその温度で軟化してしまうと、銅箔が変形することがあるため好ましくない。樹脂の硬化温度は樹脂種類で異なるが、使用時の耐熱性を考えた場合、高温で硬化する樹脂が望ましく、300℃〜400℃の高温で処理することが多くなっている。タフピッチ銅等の圧延銅箔では、この温度に耐えられずに変形してしまう。 【0008】 また、樹脂硬化は大気中で行うことも多い。その場合、銅表面が酸化することも問題である。例えばキャパシタの場合では樹脂を通じて酸素が供給される場合もあり、銅表面が酸化される。こうなるとキャパシタとしての性能が得られない。抵抗層の場合も同様であり、銅表面の酸化は好ましくない。 これを防止するためには、窒素やアルゴンといった不活性ガス中で加熱する必要があり、設備投資が大きくなる欠点があった。 【0009】 そこで、本発明の目的は、表面が平滑でかつ耐熱性を有する銅合金箔にNiめっきを施したプリント配線基板用金属材料を提供することにある。 【課題を解決するための手段】 【0010】 発明者は、鋭意研究の結果、表面が平滑でかつ耐熱性を有する銅合金箔、及びNiめっきを施し、プリント配線基板用として好適な金属材料を見出した。 【0011】 すなわち、本発明は、 (1)300℃で1時間加熱しても軟化しない圧延銅合金箔の少なくとも一方の面を光沢面に仕上げ、その面に0.3μm以上のNiめっきを施すことを特徴とするプリント配線基板用材料 (2)光沢面に施したNiめっきの表面粗さがRaで0.15μm以下である特徴とする上記(1)に記載のプリント配線基板用材料 (3)光沢面に施したNiめっきが光沢Niめっきであることを特徴とする上記(1)〜(2)に記載のプリント配線基板用金属材料 (4)銅合金箔の化学組成が、0.05〜0.25質量%のSn残部Cuおよび不可避的不純物であることを特徴とする上記(1)〜(3)に記載のプリント配線基板用金属材料。 (5)銅合金箔の化学組成が、0.02〜0.4質量%のCrおよび0.01〜0.25質量%のZr、残部がCuおよび不可避的不純物であることを特徴とする上記(1)〜(3)に記載のプリント配線基板用金属材料 である。 【発明の効果】 【0012】 本発明により、表面が平滑でかつ耐熱性を有する銅合金箔にNiめっきを施したプリント配線基板用金属材料を用いることで、プリント配線基板の内層に受動部品(例えば、インダクタ、キャパシタ、抵抗器など)の内蔵化が図れる。 【発明を実施するための最良の形態】 【0013】 限定理由を以下に示す。 (1)表面粗さについて プリント配線基板に用いられる合金箔は、一方の面に粗化めっきが施され、樹脂と密着させる。もう一方の面には、たとえば、受動部品内蔵基板の場合には、キャパシタやインダクタンス、抵抗等を実装される。 【0014】 特に、キャパシタを表面に実装するためには銅合金箔の面に平滑性を要求させる。箔の表面粗さが粗い場合には、キャパシタの電極を実装する際に表面の粗さの影響を受け、キャパシタの重要な特性である電極間の安定した間隔が確保できないからである。従って、銅合金箔にキャパシタ等を実装する銅合金箔の片面は、光沢面に仕上る必要がある。下記に示すNiめっきをこの光沢面に施した後のNiめっきの表面も平滑であるために、その表面粗さは、Raで0.15μm以下であることが好ましい。さらにはRaで0.10μm以下であることが好ましい。ここで、表面粗さ指標としてRaを選択したのは、表面の平均的な平滑性がキャパシタ等の実装への影響が最も大きいためである。ただし、Rz(10点平均粗さ)やRy(最大粗さ)でも擬似的に評価できる。これは特異的に粗い部分が存在する表面の場合、結果としてRa(算術平均粗さ)も大きくなること、および特異的に粗い部分も実装時に不利であるためである。したがってRaをRzやRyさらには他の粗さ指標に言い換えることも可能である。もちろん、発明の目的からはRaが指標として最も適していることは明らかである。 また、平滑性の観点からは、本発明においては、平滑な表面が得られる圧延銅合金箔に限定するものである。 【0015】 (2)Niめっき 合金箔にNiめっきを施すことで、高温での光沢面のCu酸化を防止することができる。 光沢面が酸化するとキャパシタや抵抗層の実装に悪影響を及ぼすためである。 さらに、実装に当たっては、表面の平滑性が要求されるため、Niめっきは光沢Niめっきを用いることがより好ましい。すなわち、圧延箔に光沢Niめっきを使うことで光沢面の表面粗さRaが0.12μm以下、Rzが0.7μm以下にでき、キャパシタや抵抗といった搭載部品の歩留が向上する。 【0016】 ここで、Ni合金めっき、例えばNi−PやNi−Coといった合金めっきを適用することも可能である。ただし、光沢を制御する方法や、組成を安定させる方法が単純なNiめっきに比較すると難しいため、ここではNiめっきおよび光沢Niめっきとした。 【0017】 (3)金属箔の耐熱性について 金属箔は、樹脂を硬化させるため、300℃〜400℃の高温の環境にさられるので、300℃で軟化しないことが条件となる。ここで軟化とは、加熱により加熱前の引張り強度の60%以下に低下することとする。 本発明では、300℃で1時間加熱しても軟化しない圧延銅合金箔を規定する。具体的には以下に示す。 【0018】 (a)Sn入り銅箔 Snを添加することによりCuの耐熱性が向上する。その効果として、300℃で1時間加熱した際の引張り強さの低下量が小さくなり、0.05質量%以上のSn添加で350MPa以上の引張り強さを保つことが可能となる。この引張り強さのレベルは、Agを添加する場合(特願平2001−216411)よりも50MPa以上も高い。上述した圧延上がりの強度の改善効果をも考慮すると、好ましいSn添加量は0.05質量%以上であり、Snの上限値は目標とする導電率より決定される。 この銅合金の不純物はOが60ppm以下、Sが10ppm以下、Bi、Pb、Sb、Se、As、FeおよびTeの合計濃度が10ppm以下であることが望ましい。 【0019】 (b)CrおよびZr入り銅箔 純銅に0.02%〜0.4質量%のCrおよび0.01〜0.25質量%のZrを添加した銅合金であり、残部が銅および不可避的不純物である合金の場合、さらに耐熱性が向上し、350℃で1時間加熱後でも引張強さの低下がほとんど無い。 更にZn、Ni、Ti、Sn、Si、Mn、P、Mg、Co、Te、Al、B、In、AgおよびHf等の元素を1種以上を総量で0.005質量%〜1.5質量%を含有させると、さらに強度を向上することが可能であり、強度を必要とする場合にはより有利である。また耐熱性にも悪影響が無いのでこれら第三元素の添加を除外するものではない。 【実施例】 【0020】 表1に示す組成のインゴットを溶製し、これを熱間圧延で板にした後、再結晶焼鈍と冷間圧延を繰り返し、最後に冷間圧延で35μmの厚みの素材に仕上げた。最終圧延工程の最終パスにおいて粗さの異なる圧延ロールを用いて表面粗さを調整した。 【0021】 【表1】
【0022】 さらに、表2に示す浴組成のワット浴を用い、電流密度5A/dm2、浴温55℃の条件において、表3に示す厚みのNiめっきを施した。また、表2に示す光沢ワット浴を用い、電流密度浴温、55℃の条件において、表3に示す厚みのNiめっきを施した。 この銅箔を用いてキャパシタ部品を組み込み、その性能を確認した。その結果を表3に示す。 【0023】 【表2】
【0024】 発明例No.6〜9は、請求項4を満たす組成の合金であり、請求項1に記載の300℃で1時間加熱しても軟化しないという条件を満たし、Niメッキ後の表面粗さ(Ra、Rz)が請求の範囲にあるため、良好な結果をえた。さらに、発明例No.8〜9は、Niめっきに光沢Niめっきを用いたことによりRaが0.1μm以下を満たすため、発明例No.5〜7よりも良好であった。 発明例No.10は請求項5を満たす組成の合金であり、さらに高温の処理にも耐えられるものであった。 【0025】 【表3】
【0026】 一方、比較例No.1〜2は、電解銅箔であり表面粗さRaが満たさない例であり、良好な結果が得られなかった。とくにNo.2は平滑電解銅箔であるが本発明例には及ばない性能であった。 【0027】 また、比較例No.3はタフピッチ銅による圧延銅箔であるが、表面粗さRaは請求の範囲にあるが300℃で1時間加熱した時、軟化し、本用途に適さない。 比較例No.4は請求項5を満たす組成の合金であるが、Niめっきを施していないため、部品搭載時に銅の酸化が発生し、部品性能を満たすことができなかった。 【0028】 比較例No.5は請求項5を満たす組成の合金であるが、Niめっき厚が請求項1を満たしていないため、銅の酸化防止が充分ではないため部品性能が充分ではなかった。
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| 【出願人】 |
【識別番号】303053758 【氏名又は名称】日鉱金属加工株式会社 【住所又は居所】神奈川県高座郡寒川町倉見三番地
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| 【出願日】 |
平成16年4月30日(2004.4.30) |
| 【代理人】 |
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| 【公開番号】 |
特開2005−317880(P2005−317880A) |
| 【公開日】 |
平成17年11月10日(2005.11.10) |
| 【出願番号】 |
特願2004−136767(P2004−136767) |
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