| 【発明の名称】 |
回路部品内蔵モジュール及びその製造方法 |
| 【発明者】 |
【氏名】祐伯 聖 【住所又は居所】大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器産業株式会社内
【氏名】谷口 泰士 【住所又は居所】大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器産業株式会社内
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| 【要約】 |
【課題】高密度で接続信頼性の高い部品内蔵モジュールの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも2層の配線パターンとビアとを有する配線板(5,5)を作成し、これに回路部品を実装し、別に電気絶縁層(1)にビアを形成したものを準備し、電気絶縁層(1)の上下に配線板(5,5)を載置した後、その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスにより加熱、加圧処理して回路部品(7)を電気絶縁層(1)に埋設するとともに硬化させ、前記プレス用冶具に面した配線板(5,5)表面に絶縁性樹脂(6,6)を形成し、その上にプレス用冶具を載置し、熱プレスする。回路部品内蔵モジュールは、内層にビアが形成された電気絶縁層(1)が配置され、その両側に回路部品(7)が実装された配線板(5,5)が配置され、回路部品(7)は電気絶縁層(1)に埋設されており、配線板(5,5)の両外側表面には、絶縁性樹脂層(6,6)又は配線パターンの無い部位にダミーパターンが形成されている。 |
【特許請求の範囲】
【請求項1】 少なくとも2層の配線パターンとビアとを有する配線板を作成し、前記配線板に回路部品を実装し、 別に電気絶縁層にビアを形成したものを準備し、 前記電気絶縁層の上下に前記配線板を載置した後、その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスにより加熱、加圧処理して前記回路部品を前記電気絶縁層に埋設するとともに前記電気絶縁層を硬化させ、 前記プレス用冶具に面した前記配線板表面に絶縁性樹脂を形成し、その上にプレス用冶具を載置し、熱プレスすることを特徴とする回路部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項2】 前記絶縁性樹脂は、表面実装部品の電極パターンを残し、熱硬化性エポキシ樹脂を主成分とする液状の絶縁樹脂を印刷により形成する請求項1に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項3】 前記絶縁性樹脂は、感光性エポキシ樹脂を主成分とする液状の絶縁樹脂を塗布後、ホトリソ法により形成する請求項1に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項4】 少なくとも2層の配線パターンとビアとを有する配線板を作成し、前記配線板に回路部品を実装し、 別に電気絶縁層にビアを形成したものを準備し、 前記電気絶縁層の上下に前記配線板を載置した後、その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスにより加熱、加圧処理して前記回路部品を前記電気絶縁層に埋設するとともに前記電気絶縁層を硬化させ、 前記プレス用冶具に面した前記配線板表面の配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)を形成し、その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスすることを特徴とする回路部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項5】 少なくとも前記電気絶縁層に形成したビアと接続される前記配線板の配線パターン内ビアランド直上の前記プレス用治具に面した配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)を形成する請求項4に記載の回路部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項6】 前記配線板の配線パターン形成時にダミーパターン(捨てパターン)を形成する請求項4又は5に記載の回路部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項7】 前記回路部品は、半導体ベアチップを含み、前記配線パターンにフリップチップ実装されている請求項1又は4に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項8】 前記回路部品は、チップ状の抵抗、コンデンサー及びインダクタから選ばれた少なくとも1つを含んでいる請求項1又は4に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項9】 前記電気絶縁層は、無機質フィラー70重量%以上〜95重量%以下と熱硬化樹脂5重量%以上〜30重量%以下と少なくとも含んでいる請求項1又は4に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項10】 前記無機質フィラーは、アルミナ、マグネシア、シリカ、窒化アルミナ及び窒化珪素から選ばれた少なくとも一つを含んでいる請求項9に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項11】 前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂及びシアネート樹脂から選ばれた少なくとも一つを含んでいる請求項9に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項12】 前記ビアは、銀、銅、金及びニッケルから選ばれる少なくとも1種類の導電性金属粉体と、エポキシ樹脂からなる樹脂成分を含んでいる、請求項1又は4に記載の部品内蔵モジュールの製造方法。 【請求項13】 前記請求項1〜12のいずれか1項に記載の製造方法で得られた部品内蔵モジュールであって、 内層に、ビアが形成された電気絶縁層が配置され、 前記電気絶縁層の両側に回路部品が実装された配線板が配置され、前記回路部品は前記電気絶縁層に埋設されており、 前記配線板の両外側表面には、絶縁性樹脂層又は配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)が形成されていることを特徴とする回路部品内蔵モジュール。
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【発明の詳細な説明】【技術分野】 【0001】 本発明は、半導体などの能動部品やコンデンサーなどの受動部品を内蔵した回路部品内蔵モジュール及びその製造方法に関するものである。 【背景技術】 【0002】 近年、電子機器に対する高性能化及び小型化の要求に伴って、電子機器に用いられる回路基板もまた小型高密度のものが望まれている。このような要求に対して、従来のスルホール構造を有するガラス・エポキシ基板では高密度実装化への対応ができなくなりつつある。このため、高密度実装を実現する手段として、LSI間や部品間を最短距離で接続できるインナービア接続法を採用した高密度実装基板の開発が進められている。 【0003】 このようなインナービア接続法を採用した高密度実装基板として、樹脂基板及びセラミック基板が一般的である。樹脂基板は、樹脂系材料によって構成されるため、熱伝導性が低い。このため、回路部品実装がより高密度になればなるほど部品からの発生する熱を放熱させることは困難となる。一方、セラミック基板は、熱伝導性が高いため放熱性には優れているがコスト高となる。 【0004】 こうしたことから、最近、注目されているのが、無機質フィラーと熱硬化性樹脂の混合物を基板材料にした高密度実装基板である(例えば特許文献1参照)。この高密度実装基板は、前述した樹脂基板及びセラミック基板と同様にインナービア接続ができ、高密度配線が可能である。また、基板材料に熱伝導性の高い無機質フィラーが含まれているので、樹脂基板よりも放熱性に優れている。また、セラミック基板のように1000℃以上の高温における製造プロセスが不要であるため、設備コストがかからない。さらに、半導体などの能動部品やコンデンサーなどの受動部品を基板に内蔵することができるので、耐ノイズ性にも優れ、より高密度、高性能化が期待できる。 【0005】 このような無機質フィラーと熱硬化性樹脂を基板材料にした高密度実装基板の構成及び製造方法を図面を参照しながら説明する。図14は従来の部品内蔵モジュールの構成を示す断面図である。部品内蔵モジュールは、電気絶縁層1の両面に配線板5を備えている。配線板5に形成された配線パターン4上には、電気絶縁層1に埋設されるように回路部品7と配線板5表面に回路部品7が実装されている。電気絶縁層1にはビア2が形成されていて、配線板5に形成された配線パターン4内のビアランド4aを介して上下配線板5と電気的に接続されている。 【0006】 このように構成された部品内蔵モジュールは、以下のようにして製造される。図10から図13は、従来の部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図である。まず、図10を参照すると、ビア2を形成した電気絶縁層1を準備する。電気絶縁層1の材料としては、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂とアルミナなどの無機質フィラーとを混合したシート状の材料が用いられる。ビア2を形成するためには、レーザ又はパンチャーなどの装置によって電気絶縁層1に貫通穴を形成し、この貫通穴に銀などの導電性金属粉を含む導電性ペーストを充填して形成する。次いで図11に示す配線パターン4を形成した配線板5を2枚作製し、その内の1枚に回路部品7を実装する。配線板5の材料としては、前述した電気絶縁層1と同等の熱硬化性樹脂と無機質フィラーとの混合材料、又は既存の基板であるガラス・エポキシ基板やセラミック基板が用いられる。次いで図12及び図13に示すようにプレス用治具を用い、下金型8a、配線板5、電気絶縁層1、配線板5、上金型8bの順にプレス用治具にセットした後、熱プレス装置を用いて、加熱、加圧して電気絶縁層1内に回路部品7を埋設すると同時に電気絶縁層1を硬化する。電気絶縁層1を硬化するための加熱温度は、電気絶縁層1の樹脂成分が軟化して回路部品7を埋設し、電気絶縁層1が充分に硬化する温度として150〜260℃の範囲で選ばれる。そしてプレス用治具から取り出した後、配線板5表面に回路部品7を実装することによって、前述した図14に示す構成を有する部品内蔵モジュールが得られる。17は外付けされた回路部品である。 【特許文献1】特開平11−220262号公報(第1−3図) 【発明の開示】 【発明が解決しようとする課題】 【0007】 しかし、前述した従来の部品内蔵モジュールの構成では、回路部品7を電気絶縁層1に埋設する際に生じるいくつかの解決すべき課題がある。以下にその理由を詳述する。 【0008】 図12及び図13を参照して前述したように、配線パターン4上に実装された回路部品7を電気絶縁層1内に埋設するために加熱、加圧がおこなわれる。これによって、電気絶縁層1に含有している樹脂が軟化して流動し易くなるので容易に回路部品7を埋設することができる。一方、電気絶縁層に形成されているビアは、上下配線板5に形成された配線パターン4内のビアランド4aと接触し、圧縮されることによって低抵抗なビア接続が得られる。 【0009】 しかし、配線板5の両面には配線パターン4が形成されているので、熱プレスの際、配線板のプレス冶具に面した配線パターン4部と配線パターン4の無い部位では、配線パターン4の厚み分の段差が生じる。そのため、配線パターン4部に圧力が集中し、配線パターン4の無い部位では圧力が十分にかからない状態となる。その結果、電気絶縁層1に含有している樹脂の流動によって、圧力が十分にかからない配線板5の配線パターン4の無い部位を内側から膨らませる内圧が発生し、配線板5を変形させる現象が生じる。それによって、配線パターン4の無い部位直下の電気絶縁層1に形成されているビア2の圧縮が不十分となるため、ビア2の接続抵抗が高くなり、また信頼性に悪影響を及ぼすなどの問題がある。 【0010】 本発明は、前記従来の問題を解決するため、高密度で接続信頼性の高い回路部品内蔵モジュール及びその製造方法を提供する。 【課題を解決するための手段】 【0011】 本発明に係る部品内蔵モジュールの製造方法は、少なくとも2層の配線パターンとビアとを有する配線板を作成し、前記配線板に回路部品を実装し、別に電気絶縁層にビアを形成したものを準備し、前記電気絶縁層の上下に前記配線板を載置した後、その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスにより加熱、加圧処理して前記回路部品を前記電気絶縁層に埋設するとともに前記電気絶縁層を硬化させ、前記プレス用冶具に面した前記配線板表面に絶縁性樹脂を形成し、その上にプレス用冶具を載置し、熱プレスすることを特徴とする。 【0012】 本発明の別の回路部品内蔵モジュールの製造方法は、少なくとも2層の配線パターンとビアとを有する配線板を作成し、前記配線板に回路部品を実装し、別に電気絶縁層にビアを形成したものを準備し、前記電気絶縁層の上下に前記配線板を載置した後、その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスにより加熱、加圧処理して前記回路部品を前記電気絶縁層に埋設するとともに前記電気絶縁層を硬化させ、前記プレス用冶具に面した前記配線板表面の配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)を形成し、その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスすることを特徴とする。 【0013】 本発明の回路部品内蔵モジュールは、前記いずれかに記載の製造方法で得られた部品内蔵モジュールであって、内層に、ビアが形成された電気絶縁層が配置され、前記電気絶縁層の両側に回路部品が実装された配線板が配置され、前記回路部品は前記電気絶縁層に埋設されており、前記配線板の両外側表面には、絶縁性樹脂層又は配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)が形成されていることを特徴とする。 【発明の効果】 【0014】 本発明は、プレス用冶具に面した配線板表面の配線パターン部と配線パターンの無い部位の段差を解消するために、絶縁性樹脂、又はダミーパターン(捨てパターン)を形成することによって、熱プレス時の圧力が配線パターン部と配線パターンの無い部位に均等にかかり、基板を変形させること無く電気絶縁層に形成したビアの圧縮が十分となり、低抵抗で接続信頼性の高い回路部品内蔵モジュール及びその製造方法を提供することができる。 【発明を実施するための最良の形態】 【0015】 本発明においては、プレス用冶具に面した配線板表面に絶縁性樹脂を形成し,その上にプレス用冶具を載置し、熱プレスすることによって、熱プレス時の圧力が配線パターン部と配線パターンの無い部位に均等にかかり、基板を変形させること無く電気絶縁層に形成したビアの圧縮が十分となる。その結果、低抵抗で接続信頼性の高い回路部品内蔵モジュール及びその製造方法を提供することができる。 【0016】 この実施の形態では、前記絶縁性樹脂の形成は、表面実装部品の電極パターンにマスキングし、熱硬化性エポキシ樹脂を主成分とする液状の絶縁樹脂を印刷により形成することが好ましい。 【0017】 前記絶縁樹脂の形成は、感光性エポキシ樹脂を主成分とする液状の絶縁樹脂を塗布後、ホトリソ法により表面実装部品の電極パターンを残し形成することが好ましい。 【0018】 本実施の形態に係る他の部品内蔵モジュールの製造方法においては、プレス用冶具に面した配線板表面の配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)を形成し,その上下部にプレス用冶具を載置し、熱プレスすることによって、熱プレス時の圧力が配線パターン部と配線パターンの無い部位に均等にかかり、基板を変形させること無く電気絶縁層に形成したビアの圧縮が十分となる。その結果、低抵抗で接続信頼性の高い部品内蔵モジュールの製造方法を提供することができる。 【0019】 この実施の形態では、前記ダミーパターン(捨てパターン)の形成は、少なくとも前記電気絶縁層に形成したビアと接続される前記配線板の配線パターン内ビアランド直上の前記プレス用治具に面した配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)を形成することが好ましい。 【0020】 前記ダミーパターン(捨てパターン)の形成は、前記配線板の配線パターン形成時に形成することことが好ましい。 【0021】 前記回路部品は、半導体ベアチップを含み、前記配線パターンにフリップチップ実装されていることが好ましい。 【0022】 前記回路部品は、チップ状の抵抗、コンデンサー及びインダクタから選ばれた少なくとも1つを含んでいることが好ましい。 【0023】 前記電気絶縁層は、無機質フィラー70重量%以上〜95重量%以下と熱硬化樹脂5重量%以上〜30重量%以下と少なくとも含んでいることが好ましい。 【0024】 前記無機質フィラーは、アルミナ、マグネシア、シリカ、窒化アルミナ及び窒化珪素から選ばれた少なくとも一つを含んでいることが好ましい。 【0025】 前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂及びシアネート樹脂から選ばれた少なくとも一つを含んでいることが好ましい。 【0026】 前記ビアは、銀、銅、金、ニッケルから選ばれる少なくとも1種類の導電性金属粉体と、エポキシ樹脂からなる樹脂成分を含んでいることが好ましい。 【0027】 本発明において、絶縁性樹脂層の好ましい厚さは5μm以上30μm以下である。また、配線パターンの無い部位にダミーパターン(捨てパターン)を形成する場合の好ましい厚さは5μm以上30μm以下である。前記の範囲であれば、加圧加熱の際に部品内蔵モジュール製品が傷むことはなく、かつ製品全体の厚さが大きくなることによる問題は発生しにくい。 【0028】 以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。 【0029】 (実施の形態1) 図1〜図5は本発明の実施の形態1に係る部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図である。図1を参照すると、まず未硬化の電気絶縁層1にビア2を形成して部材50を作成した。電気絶縁層1は、無機質フィラーと熱硬化性樹脂とを含む混合物によって構成されている。無機質フィラーは、アルミナ、マグネシア、シリカ、窒化アルミナ及び窒化珪素から選択される少なくとも1つを含んでいる。このような無機質フィラーを用いると、放熱性に優れた電気絶縁層1が得られる。この無機質フィラーがシリカを含んでいると、電気絶縁層1の誘電率を小さくすることができる。この無機質フィラーの混合物に対する重量比は、70重量%以上95重量%以下であることが好ましい。熱硬化樹脂は、耐熱性の高いエポキシ樹脂、フェノール樹脂及びシアネート樹脂から選択される少なくとも1つを含んでいる。 【0030】 ビア2の形成方法は、電気絶縁層1に貫通穴を形成し、その貫通穴に導電ペーストを充填する。貫通穴はレーザ加工又はパンチング加工によって形成することができる。 【0031】 導電性ペーストは、銀、銅、ニッケル及び金から選ばれる少なくとも1種類の導電性金属粉体とエポキシ樹脂からなる樹脂成分とを含んでいる。 【0032】 図2に示すように、その内部にビア3及び1層の配線パターン4と表層に2層の配線パターン4及び絶縁性樹脂6を形成した配線板5によって構成される部材60を2個作成した。表層の配線パターン4は、電気絶縁層1内のビア2と接続するビアランド4aと最終工程でおこなう表面実装部品の電極パターン4bを含む。配線パターン4は、エッチィング、印刷などの方法によって形成できる。特にエッチィングでは、フォトリスグラフイー工法など微細な配線パターン形成法を利用することができる。2個の部材60のそれぞれ片面に絶縁性樹脂層6,6を形成した。絶縁性樹脂層6,6は、熱硬化性エポキシ樹脂を主成分とする液状の絶縁性樹脂を用いることができ、表面実装部品の電極パターン4bをマスキングし、印刷によって形成することができる。絶縁性樹脂層6,6の最終的な厚さは22μmとした。 【0033】 2個の部材60の内、1個の配線板5の配線パターン上4には、回路部品7を実装した。回路部品7は、半導体、チップ状の抵抗、コンデンサー及びインダクタから選ばれたものであることが好ましい。半導体は、ベアチップによって高密度にフリップチップ実装ができるので特に好ましい。 【0034】 次に図3及び図4に示すように、プレス用冶具8を用いて、プレス用冶具8a、部材60、部材50、プレス用冶具8bの順番に互いに重ね合わせ、加熱、加圧することによって、回路部品7を電気絶縁層1内に埋設すると同時に配線板5と電気絶縁層1を接合した。プレス用治具8は、7mm厚のSUS板を使用した。このプレス用治具8の材質及び板厚みは、高温、高圧に耐えるものであれば、特に制約はない。加熱温度としては、150℃以上260℃以下の温度が好ましく、電気絶縁層1に含まれている樹脂が硬化する温度以上の温度で加熱する。加圧は、加熱の際に10kg/cm2以上〜200kg/cm2以下の圧力で加圧することが好ましい。 【0035】 電気絶縁層1が硬化した後にプレス用治具を取り外し、配線板5の表面に回路部品17を実装することによって、図5に示すように部品内蔵モジュールが得られる。 【0036】 以上のように、プレス用冶具8に面した配線板5表面の配線パターン4部と配線パターン4の無い部位の段差を解消するために、絶縁性樹脂6を形成することによって、熱プレス時の圧力が配線パターン4部と配線パターン4の無い部位に均等にかかり、配線板5を変形させること無く電気絶縁層1に形成したビア2の圧縮が十分となり、低抵抗で接続信頼性の高い部品内蔵モジュールを提供することができる。 【0037】 (実施の形態2) 図6〜図9は本発明の実施の形態2に係る部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図である。図1〜図6を参照して前述した部品内蔵モジュールの製造方法の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。従って、これらの構成要素の詳細な説明は省略する。図6を参照すると、未硬化の電気絶縁層1にビア2を形成した部材50を作成した。ビア2は、前述した実施の形態1と同様の方法によって形成することができる。 【0038】 図7に示すように、その内部にビア3及び1層の配線パターン4と表層に2層の配線パターン4及びダミーパターン4cとを形成した配線板5によって構成される部材70を2個作成した。ダミーパターン4cは、表層の配線パターン4の形成時に、同様の方法で配線パターン4の無い部位に形成した。ダミーパターン4cの材料は銅であり、その厚さは 15μmとした。 【0039】 次に図8に示すように、プレス用冶具8を用いて、プレス用冶具8a、部材70、部材50、プレス用冶具8bの順番に互いに重ね合わせ、加熱、加圧することによって、図9に示すように、回路部品7を電気絶縁層内1に埋設すると同時に配線板5と電気絶縁層1を接合した。 【0040】 次に図9に示すように、電気絶縁層1が硬化した後にプレス用治具を取り外し、配線板5の表面に回路部品17を実装することによって、部品内蔵モジュールを得た。 【0041】 以上のように、プレス用冶具8に面した配線板5表面の配線パターン4部と配線パターン4の無い部位の段差を解消するために、配線パターン4の無い部位にダミーパターン4cを形成することによって、熱プレス時の圧力が配線パターン4部と配線パターン4の無い部位に均等にかかり、配線板5を変形させること無く電気絶縁層1に形成したビア2の圧縮が十分となり、低抵抗で接続信頼性の高い部品内蔵モジュールを提供することができる。 【図面の簡単な説明】 【0042】 【図1】本発明の実施の形態1に係る部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図2】同、部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図3】同、部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図4】同、部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図5】同、部品内蔵モジュールの構成を示す断面図。 【図6】本発明の実施の形態2に係る部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図7】同、部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図8】同、部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図9】同、部品内蔵モジュールの構成を示す断面図。 【図10】従来の部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図11】従来の部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図12】従来の部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図13】従来の部品内蔵モジュールの製造方法を示す断面図。 【図14】従来の部品内蔵モジュールの構成を示す断面図。 【符号の説明】 【0043】 1 電気絶縁層 2 電気絶縁層内ビア 3 配線板内ビア 4 配線パターン 4a ビアランド 4b 表面実装部品電極 4c ダミーパターン 5 配線板 6 絶縁性樹脂 7 埋設された回路部品 8a,8b プレス治具 17 回路部品
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| 【出願人】 |
【識別番号】000005821 【氏名又は名称】松下電器産業株式会社 【住所又は居所】大阪府門真市大字門真1006番地
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| 【出願日】 |
平成16年2月4日(2004.2.4) |
| 【代理人】 |
【識別番号】110000040 【氏名又は名称】特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
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| 【公開番号】 |
特開2005−223096(P2005−223096A) |
| 【公開日】 |
平成17年8月18日(2005.8.18) |
| 【出願番号】 |
特願2004−28566(P2004−28566) |
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