Ｘ線測定装置

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【発明の名称】	Ｘ線測定装置
【発明者】	【氏名】小林　正樹【住所又は居所】東京都青梅市今井三丁目７番地の１９　アロカシステムエンジニアリング株式会社内【氏名】田部井　俊明【住所又は居所】東京都三鷹市牟礼６丁目２２番１号　アロカ株式会社内
【要約】	【課題】Ｘ線測定装置において、被検体に対するＸ線照射量をより低減することである。【解決手段】発生Ｘ線が十分に安定し（ｔ＝ｔ２）、Ｘ線ビームの走査がスタートし、第１走査ラインの加速区間６２ａが終わるまでＸ線シャッタは閉のままである。走査速度が一定になる（ｔ＝ｔ３）とＸ線シャッタは開となり、定速区間６２ｂ、すなわち測定区間８０の間は開のままである。測定区間８０が終わる（ｔ＝ｔ４）とＸ線シャッタは再び閉となり、減速区間６２ｃ、ピッチ送りライン６４、第２走査ラインの加速区間６６ａの非測定区間８２においてＸ線シャッタは一時的に閉の状態を続ける。第２走査ラインの定速区間６６ｂ、すなわち次の測定区間８０に入ったとき（ｔ＝ｔ５）にＸ線シャッタは開に戻る。このように、Ｘ線シャッタは、測定区間８０において開となり、非測定区間８２において一時的に閉となる。

【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線ビームを連続的に形成するＸ線発生器と、
前記Ｘ線発生器に対して被検体が載置されるベッドを介して対向配置され、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線ビームを前記被検体に対して走査させる機構であって、前記被検体に対してＸ線測定が必要な複数の測定区間と、それらの間に設定されたＸ線測定が不要な少なくとも１つの非測定区間とを含む走査経路に沿って前記Ｘ線ビームを走査させる走査機構と、
前記Ｘ線発生器と前記被検体との間に設けられ、遮蔽動作時に前記Ｘ線を遮蔽するＸ線シャッタと、
前記Ｘ線ビームの連続的形成の下で、前記非測定区間において前記Ｘ線シャッタに一時的な遮蔽動作を行わせるシャッタ制御部と、
を備えることを特徴とするＸ線測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載のＸ線測定装置において、
前記走査経路は、
前記被検体における被測定対象を含んで前記被検体内に設定された測定領域について、前記測定領域の外を通って前記測定領域の内部に入るまでの部分と、前記測定領域の内部を通る部分と、前記測定領域の内部から出て再び前記測定領域の外を通る部分とを有し、
前記非測定区間は、前記走査経路のうち、前記測定領域の外の部分を含むことを特徴とするＸ線測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載のＸ線測定装置において、
前記走査経路は、
前記測定領域を横切る複数の走査ラインを有し、
前記非測定区間は、前記各走査ラインにおいて前記測定領域からはみ出した部分を含むことを特徴とするＸ線測定装置。
【請求項４】
請求項３に記載のＸ線測定装置において、
前記走査経路は、
前記走査ラインと、前記走査ラインの走査方向に直交するピッチ送り方向のピッチ送りラインとを有し、前記ピッチ送り方向における各ピッチ送り位置ごとに前記走査ラインが設定されるパラレルスキャン走査経路であって、
前記非測定区間は、前記各走査ラインにおいて前記測定区間からはみ出した部分と前記ピッチ送りラインの部分とを含むことを特徴とするＸ線測定装置。
【請求項５】
請求項１ないし３のいずれか１に記載のＸ線測定装置において、
前記走査機構は、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とを一体として前記走査経路に沿って走査させ、
前記Ｘ線シャッタは、前記走査機構により前記Ｘ線発生器とともに移動することを特徴とするＸ線測定装置。
【請求項６】
請求項１ないし３のいずれか１に記載のＸ線測定装置において、
前記シャッタ制御部は、前記Ｘ線発生器が安定してＸ線ビームを連続的に形成できるまでの立上り時期において、前記Ｘ線シャッタに遮蔽動作を行わせることを特徴とするＸ線測定装置。

【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はＸ線測定装置に係り、特にＸ線ビームを被検体に対し走査経路に沿って走査するＸ線測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線測定装置例えば骨塩量測定装置等においては、Ｘ線発生器からＸ線ビームを被検体に対し走査経路に沿って走査し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器で検出し、その結果を解析して診断、測定等を行う。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１０－１９２２６５号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
Ｘ線測定に必要な所定のＸ線は、Ｘ線管に高電圧を印加して得られるが、立上りの数秒間は動作が不安定のため、測定の都度一々高電圧をオンオフすると測定に時間がかかるので、一旦Ｘ線管に高電圧を印加したのちはそのまま印加が継続保持される。したがって、一旦Ｘ線管に高電圧が印加されると、Ｘ線発生器からＸ線ビームは出っぱなしである。この出っぱなしのＸ線ビームが走査経路に沿って走査されて被検体に対してＸ線測定が行われる。
【０００５】
しかし、被検体に対し、Ｘ線ビームの走査経路は、必ずしもＸ線測定が必要な測定領域内のみに設定されるとは限られない。例えば、人を被検体として、骨塩量を測定する場合、Ｘ線測定が必要な測定領域は、被測定対象である腰椎を含む領域に設定され、Ｘ線ビームの走査経路としては、例えばいわゆるパラレルスキャン走査経路が用いられる。ここでパラレルスキャン走査経路は、測定領域を横切る平行な複数の走査ラインと、走査ラインの走査方向に直交するピッチ送り方向のピッチ送りラインとを有し、前記ピッチ送り方向における各ピッチ送り位置ごとに前記走査ラインが設定される。このような走査経路においては、走査ラインとピッチ送りラインとは走査の方向が直交するため、走査ラインからピッチ送りラインに移るときには走査速度が減速され、ピッチ送りラインから走査ラインに移るときには走査速度が加速される。
【０００６】
したがってピッチ送りラインを含めその前後に加減速領域が必要となる。骨塩量測定を正確に行うには、Ｘ線測定を行う測定区間におけるＸ線ビームの走査は一定速度が望ましい。このことから、Ｘ線ビームの加減速区間は、測定領域の外に設定され、非測定区間とされる。この非測定区間においても、測定領域内の測定区間と同様に、Ｘ線ビームは出っぱなしであり、その区間において被検体に対して測定に必要のないＸ線照射が行われている。
【０００７】
このように、Ｘ線管に一旦高電圧が印加されると、Ｘ線ビームが連続的に形成されることが要請されている一方で、被検体に対し、Ｘ線ビームの走査経路は、必ずしもＸ線測定が必要な測定領域内のみに設定されるとは限られない。したがって、従来技術によれば、測定には必要とされないＸ線の照射が被検体に対して行われている。
【０００８】
本発明の目的は、かかる従来技術の課題を解決し、被検体に対するＸ線照射量をより低減することを可能とするＸ線測定装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明に係るＸ線測定装置は、Ｘ線ビームを連続的に形成するＸ線発生器と、前記Ｘ線発生器に対して被検体が載置されるベッドを介して対向配置され、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線ビームを前記被検体に対して走査させる機構であって、前記被検体に対してＸ線測定が必要な複数の測定区間と、それらの間に設定されたＸ線測定が不要な少なくとも１つの非測定区間とを含む走査経路に沿って前記Ｘ線ビームを走査させる走査機構と、前記Ｘ線発生器と前記被検体との間に設けられ、遮蔽動作時に前記Ｘ線を遮蔽するＸ線シャッタと、前記Ｘ線ビームの連続的形成の下で、前記非測定区間において前記Ｘ線シャッタに一時的な遮蔽動作を行わせるシャッタ制御部と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
上記構成により、Ｘ線測定装置はＸ線シャッタを備え、Ｘ線ビームの走査経路のうち非測定区間において一時的なＸ線ビームの遮蔽動作を行う。そのようにすれば、測定の迅速化のためのＸ線ビームの連続的形成を維持しつつ、非測定区間では被検体へのＸ線照射を抑制し、測定区間において所望のＸ線測定を行うことができる。
【００１１】
また、前記走査経路は、前記被検体における被測定対象を含んで前記被検体内に設定された測定領域について、前記測定領域の外を通って前記測定領域の内部に入るまでの部分と、前記測定領域の内部を通る部分と、前記測定領域の内部から出て再び前記測定領域の外を通る部分とを有し、前記非測定区間は、前記走査経路のうち、前記測定領域の外の部分を含むことを特徴とする。上記構成により、Ｘ線ビームの走査経路が、測定領域に関し出入りがある走査経路であるとき、測定領域の外の部分の走査経路についてＸ線ビームの遮蔽を行う。そのようにすれば、被検体へのＸ線照射を従来に比しより低減することができる。
【００１２】
また、前記走査経路は、前記測定領域を横切る複数の走査ラインを有し、前記非測定区間は、前記各走査ラインにおいて前記測定領域からはみ出した部分を含むことを特徴とする。また、前記走査経路は、前記走査ラインと、前記走査ラインの走査方向に直交するピッチ送り方向のピッチ送りラインとを有し、前記ピッチ送り方向における各ピッチ送り位置ごとに前記走査ラインが設定されるパラレルスキャン走査経路であって、前記非測定区間は、前記各走査ラインにおいて前記測定区間からはみ出した部分と前記ピッチ送りラインの部分とを含むことを特徴とする。
【００１３】
また、前記走査機構は、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とを一体として前記走査経路に沿って走査させ、前記Ｘ線シャッタは、前記走査機構により前記Ｘ線発生器とともに移動することが好ましい。上記構成により、Ｘ線ビームの走査に従ってＸ線シャッタに遮蔽動作を行わせることが容易となる。
【００１４】
また、前記シャッタ制御部は、前記Ｘ線発生器が安定してＸ線ビームを連続的に形成できるまでの立上り時期において、前記Ｘ線シャッタに遮蔽動作を行わせることが好ましい。上記構成により、Ｘ線管に高電圧を印加し安定するまでの例えば数秒間の立上り時期において、被検体に対するＸ線の照射を遮蔽する。そのようにすれば、被検体へのＸ線照射を従来に比しより低減することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて、本発明に係る実施の形態につき詳細に説明する。以下において、Ｘ線測定装置の例として、Ｘ線ビームを被検体の腰椎に対しパラレルスキャンして、骨塩量を測定する骨塩量測定装置を説明するが、走査経路に沿ってＸ線を走査するＸ線測定装置であれば、パラレルスキャン以外の走査経路、例えばジグザグスキャン等であってもよく、また、Ｘ線測定の目的は骨塩量に限られない。
【００１６】
図１は、骨塩量測定装置１０の全体を示す図である。図において、骨塩量測定装置１０は、被検体が載置されるベッド１２と、下部ユニット１４、上部ユニット２０及び連結ユニット２１によって構成される。下部ユニット１４と上部ユニット２０とは連結ユニットを介して一体として移動可能に構成される。そして、下部ユニット１４と上部ユニット２０との間にベッドが配置されるように、ベッド１２が組みつけられる。
【００１７】
ベッド１２は、フレームと脚で構成されるテーブルと、テーブルの上部のフレームに支持されるアクリル板とで構成される。アクリル板はＸ線を透過する。被検体は、アクリル板の上に載置される。ここで、図において示した方向は、ベッド１２の短手方向がＸ方向、長手方向がＹ方向、垂直方向がＺ方向である。
【００１８】
下部ユニット１４は内部にＸ線発生器とＸ線シャッタが設けられ、上部ユニット２０にはＸ線検出器が設けられる。Ｘ線発生器とＸ線検出器は一体として、図示されていない移動機構により、図に示すＸＹ平面内で走査可能に構成され、被検体に対しＸ線ビームを走査することができる。Ｘ線ビームの走査経路としては、必要な測定領域に対し、等間隔のピッチごとに平行する走査ラインを複数配置して構成するいわゆるパラレルスキャン走査経路を用いることができる。パラレルスキャン走査経路の詳細は後述する。
【００１９】
図２は、骨塩量測定装置１０の断面図を用いて、被検体２４に対するＸ線ビーム１８の走査の様子を示す図である。上記のように、上部ユニット２０にはＸ線検出器２２が設けられ、また、下部ユニット１４の内部には、Ｘ線発生器１６が設けられるほか、Ｘ線シャッタ２８、シャッタ開閉機構３０、シャッタ制御部３２が設けられる。ベッド１２の上には被検体２４が載置され、骨塩量を測定するため、複数の腰椎２６に対し、Ｘ線ビーム１８がパラレルスキャンにより走査される。被検体２４を透過したＸ線は、Ｘ線検出器２２により検出され、複数の腰椎についての撮像データが得られる。
【００２０】
図においてＸ線発生器１６は、Ｘ線管に高電圧を印加することで必要なエネルギのＸ線を発生する装置である。一旦Ｘ線管に高電圧を印加すると、その印加状態が維持され、数秒間の立上り時期のあと、Ｘ線が連続的に形成される。Ｘ線発生器１６には必要に応じビームコリメータが設けられ、Ｘ線ビーム１８の指向性を設定できる。ここでは、Ｘ線発生器１６から上方に向けて照射され、図１におけるＹＺ平面内で扇状に広がったＸ線ビーム１８が示されている。かかるＸ線ビームとしてはいわゆるファンビームを用いることができる。また、ペンシルビームを用いることもできる。
【００２１】
Ｘ線検出器２２は、Ｘ線に感応する検出素子をアレイ状に並べ、被検体２４を透過したＸ線を検出する装置である。例えば、Ｙ方向に複数の検出素子を一列に並べたアレイ素子等が用いられる。パラレルスキャンを実行することでＸ線検出器から検出されたＸ線検出データは、複数の腰椎にわたる二次元撮像データにデータ処理される。また、図示されていないデータ解析部により、各測定点ごとに骨塩量に換算する演算を行い、全体を積算して被検体の骨塩量を算出し、二次元の骨塩量分布として出力される。
【００２２】
Ｘ線シャッタ２８は、Ｘ線ビーム１８を遮蔽するのに十分な厚みを備えた、例えば鉛製等のシャッタで、被検体２４とＸ線発生器１６との間に設けられる。Ｘ線シャッタ２８は、シャッタ開閉機構３０に取り付けられる。
【００２３】
シャッタ開閉機構３０は、シャッタ制御部３２の制御の下で、Ｘ線シャッタ２８を、Ｘ線ビームの照射経路から待避した位置と、Ｘ線ビームの照射経路を遮断する位置との間で移動させる機構である。開閉のための機構は、Ｘ線シャッタ２８をＺ方向の回転軸のまわりに任意の回転角で回転させる機構でもよく、また、水平面内でスライドする機構でもよく、あるいは両側に開閉する機構でもよい。いずれの場合でも、遮蔽動作のときは、Ｘ線シャッタ２８がＸ線ビーム１８の直上に移動して、被検体２４に対しＸ線ビーム１８を遮蔽する。Ｘ線ビーム１８を走査する際、Ｘ線発生器１６は被検体２４に対し相対的に移動するので、Ｘ線シャッタ２８およびＸ線シャッタ開閉機構３０もＸ線発生器１６の移動とともに移動することが望ましい。
【００２４】
シャッタ制御部３２は、Ｘ線シャッタ２８の遮蔽動作を制御する回路である。Ｘ線シャッタ２８の遮蔽動作の制御は、Ｘ線発生器１６における動作立上り時期における制御と、Ｘ線ビームのパラレルスキャン実行に連動した制御とが行われる。また、必要に応じＸ線発生器１６における動作立下り時期における制御を行うこともできる。動作立上り時期における制御は、Ｘ線発生器１６においてＸ線管に高電圧を印加し、測定用として安定したＸ線ビームが形成されるまでの立上り時間、例えば３－５秒の間において、Ｘ線シャッタ２８に遮蔽動作を行わせる。動作立上り期間の後は、以下に述べるように、測定のためにＸ線ビームのパラレルスキャンが実行され、それに連動してＸ線シャッタの遮蔽動作の制御が行われる。
【００２５】
図３は、被検体２４の骨塩量測定のためのＸ線ビームについて、その走査経路の様子を示す図である。図は、ベッド１２を上方から見た図、すなわち図１におけるＸＹ平面で示してある。ベッド１２には被検体２４が載置され、骨塩量測定の被測定対象としての複数の腰椎２６を含む領域が測定領域４０として設定される。測定領域のＸ方向の長さは約１８０ｍｍ、Ｙ方向の長さは約１８０－２００ｍｍである。なお、図においてはＸ方向とＹ方向の縮尺を異ならせてある。
【００２６】
この測定領域４０をカバーしてＸ線ビームを照射するため、Ｘ線ビームの走査経路は、等間隔のピッチＰごとに平行する走査ラインを複数配置して構成するいわゆるパラレルスキャン走査経路４２が用いられる。等間隔のピッチＰは、腰椎２６の測定のために仮想される測定基準面において、隣接するＸ線ビームの間の境界でＸ線通過領域が重複しないピッチＰに選ばれる。ピッチＰは、Ｘ線ビームの広がり角度や、測定基準面とＸ線発生器との間の距離等から最適に選ぶことができ、例えばＰ＝２０ｍｍとできる。
【００２７】
パラレルスキャン走査経路４２は、スタート部分６０と終了部分７２と、その間に配置される３個の走査ライン６２，６６，７０および２個のピッチ送りライン６４，６８から構成される。
【００２８】
走査のスタート部分６０は、測定領域４０の外側に置かれる。スタート部分６０において、Ｘ線ビームは走査速度ゼロから走査を始め、低速の走査速度で第１のピッチ送り位置に移る。
【００２９】
第１のピッチ送り位置において第１走査ライン６２の走査が行われる。第１走査ライン６２においては、まず測定領域４０の外側における加速区間６２ａにおいて低速から一定の測定速度まで加速が行われる。加速区間６２ａの長さは、例えば約２－３ｍｍである。そして、一定の測定速度に達したところで測定領域４０の内部に入り、定速区間６２ｂにおいて一定の測定速度、例えば３６ｍｍ／ｓｅｃの走査速度の下で、腰椎２６を含む領域にＸ線ビームが走査される。したがって、この例では、測定が行われる測定区間と、一定走査速度の定速区間６２ｂとは同じに設定される。定速区間６２ｂが終わると、再び測定領域４０の外側に出て、減速区間６２ｃにおいて走査速度が減速される。減速区間６２ｃの長さは、例えば約２－３ｍｍである。この加速区間６２ａ、定速区間６２ｂ、減速区間６２ｃの一組が第１走査ライン６２を構成する。
【００３０】
第１走査ライン６２の最後のところで走査方向が９０度変更され、第２のピッチ送り位置まで低速でピッチ送りライン６４に沿って走査が行われる。
【００３１】
このようにして、第１走査ライン６２の走査と、これに接続するピッチ送りライン６４の走査とで、パラレルスキャンにおける等間隔のピッチＰごとに平行する走査の１組の走査が行われる。あとは、測定領域のＹ方向の長さに応じ、この１組の走査を単位として繰り返せば、所定のパラレルスキャンを実行できる。
【００３２】
例えば第２ピッチ送り位置において、第２走査ライン６６の走査は、測定領域４０の外の加速区間６６ａで加速走査が、測定領域４０内の定速区間６６ｂで一定の測定速度の走査が、測定領域４０の外の減速区間６６ｃで減速走査が行われ、その最後のところで走査方向が９０度変更されて第３のピッチ送り位置までピッチ送りライン６８に沿って走査が行われる。同様に第３ピッチ送り位置において、第３走査ライン７０の走査は、測定領域４０の外の加速区間７０ａで加速走査が、測定領域４０内の定速区間７０ｂで一定の測定速度の走査が、測定領域４０の外の減速区間７０ｃで減速走査が行われ、その最後のところで走査方向が９０度変更されて走査速度をゼロに落とす終了部分７２の走査が行われる。
【００３３】
このように、パラレルスキャン走査経路４２においては、測定領域４０内の定速区間６２ｂ，６６ｂ，７０ｂにおいて一定の測定速度の走査が行われ、スタート部分６０、加速区間６２ａ，６６ａ，７０ａ、減速区間６２ｃ，６６ｃ，７０ｃ、ピッチ送りライン６４，６８、終了部分７２の走査は、測定領域４０の外で行われる。
【００３４】
図４は、パラレルスキャンに連動して行われるシャッタの遮蔽動作の様子を示す図である。図において横軸には時間ｔを取り、Ｘ線発生器においてＸ線管に高電圧がまだ印加されていない状態を時間軸の原点に取ってある。（ａ）は、Ｘ線発生器における発生Ｘ線の様子を示すもので、ｔ＝ｔ１においてＸ線管に高電圧が印加され、ｔ＝ｔ２において、測定用として十分に安定した状態になったことを示し、ｔ＝ｔ９においてＸ線管の高電圧が除かれたことを示すものである。（ｂ）の縦軸には、Ｘ線ビームの走査速度を取り、走査速度の変化に応じ、その状態が、図３の走査経路においてどの区間に対応するか、図３に用いた符号を付してその関係を示してある。また、（ｃ）は、Ｘ線シャッタの遮蔽動作の様子をシャッタの開または閉で示したものである。シャッタの閉が遮蔽動作に対応する。
【００３５】
図において、初期状態では、Ｘ線シャッタは閉のままである。ｔ＝ｔ１でＸ線管に高電圧が印加され、ｔ＝ｔ２で、十分に安定した状態になる。ｔ２－ｔ１は、上述のように３－５秒要する。ｔ＝ｔ２の後、Ｘ線測定のためのＸ線ビームの走査が開始する。（ｂ）において、走査のスタート部分６０から、第１走査ラインの加速区間６２ａが終わるまでは、まだＸ線シャッタは閉のままである。
【００３６】
次に、ｔ＝ｔ３は、走査速度が一定の測定速度となり、走査が測定領域内において第１走査ラインの定速区間６２ｂ、すなわち測定区間８０に入ったときである。ここでＸ線シャッタは開となる。そして、測定区間８０の間Ｘ線シャッタは開のままで、測定領域のうちで第１ピッチ送り位置における部分のＸ線測定が行われる。上記の例では、定速区間６２ｂの長さは約１８０ｍｍ、測定速度は３６ｍｍ／ｓｅｃであるので、定速区間すなわち測定区間８０を通過する時間（ｔ４－ｔ３）は、およそ５秒である。
【００３７】
ｔ＝ｔ４は、第１走査ラインの定速区間６２ｂが終わり、再び測定領域の外の減速区間６２ｃに走査が移ったときである。このときＸ線シャッタは再び閉となる。そして、減速区間６２ｃの走査、ピッチ送りライン６４の走査、第２走査ラインの加速区間６６ａの走査が終わるｔ＝ｔ５までは、測定領域の外、すなわち非測定区間８２における走査であって、Ｘ線シャッタは一時的に閉の状態を続ける。このＸ線シャッタが一時的に閉の状態である非測定区間８２を通過する時間（ｔ５－ｔ４）は、加減速の設定によるが、およそ１秒前後とすることができる。
【００３８】
ｔ＝ｔ５は、第２走査ラインの加速区間６６ａが終わり、走査速度が一定の測定速度となり、走査が測定領域内において第２走査ラインの定速区間６６ｂ、すなわち測定区間８０に入ったときである。ここでＸ線シャッタの一時的閉状態が終わり、開状態に戻る。そして、測定区間８０の間Ｘ線シャッタは開のままで、測定領域のうちで第２ピッチ送り位置における部分のＸ線測定が行われる。
【００３９】
以下、ｔ＝ｔ６において第２走査ラインの定速区間６６ｂが終わり、再び測定領域の外の減速区間６６ｃに走査が移り、Ｘ線シャッタは再び閉となり、減速区間６６ｃ、ピッチ送りライン６８、第３走査ラインの加速区間７０ａの走査が終わるｔ＝ｔ７まで、非測定区間８２の走査として、Ｘ線シャッタは一時的に閉の状態を続ける。
【００４０】
ｔ＝ｔ７において、第３走査ラインの加速区間７０ａが終わって走査速度が一定の測定速度となり、走査が測定領域内において第３走査ラインの定速区間７０ｂ、すなわち測定区間８０に入り、ここでＸ線シャッタの一時的閉状態が終わって開状態に戻る。そして、測定区間８０の間Ｘ線シャッタは開のままで、測定領域のうちで第３ピッチ送り位置における部分のＸ線測定が行われる。
【００４１】
ｔ＝ｔ８において第３走査ラインの定速区間７０ｂが終わると、Ｘ線シャッタは再び閉となる。そして、減速区間７０ｃ、終了区間７２を経て、走査速度はゼロに戻り、所望のＸ線測定が終了し、Ｘ線管の高電圧が取除かれる（ｔ＝ｔ９）。
【００４２】
このように、Ｘ線ビームの走査において、Ｘ線シャッタ２８は、走査経路が測定領域の外側部分にあるときに遮蔽動作をおこなう。すなわち、走査ライン６２，６６，７０のうち測定領域の外側部分６２ａ，６２ｃ，６６ａ，６６ｃ，７０ａ，７０ｃ及びピッチ送りライン６４，６８について遮蔽動作を行い、被検体に対しＸ線ビームを遮蔽する。
【００４３】
すなわち、走査経路に沿って、Ｘ線シャッタ２８の遮蔽動作を制御し、被測定対象の腰椎の測定に必要な測定区間８０においてＸ線シャッタ２８を退避させて、腰椎に対しＸ線ビームを照射し、非測定区間８２においてはＸ線シャッタ２８を遮蔽動作させて、被検体に対するＸ線照射を防ぐことができる。
【００４４】
また、Ｘ線シャッタ２８は、Ｘ線発生器が安定してＸ線ビームを連続的に形成できるまでの立上り時期において、遮蔽動作を行う。また、必要に応じて、立下り時期においても遮蔽動作を行わせることができる。
【００４５】
【発明の効果】
本発明に係るＸ線測定装置によれば、被検体に対するＸ線照射量をより低減することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る実施の形態のＸ線測定装置である骨塩量測定装置の全体を示す図である。
【図２】本発明に係る実施の形態の骨塩量測定装置において、被検体に対するＸ線ビームの走査の様子を示す断面図である。
【図３】本発明に係る実施の形態の骨塩量測定装置において、Ｘ線ビームの走査経路の様子を示す図である。
【図４】本発明に係る実施の形態の骨塩量測定装置において、パラレルスキャンに連動して行われるシャッタの遮蔽動作の様子を示す図である。
【符号の説明】
１０　骨塩量測定装置、１２　ベッド、１６　Ｘ線発生器、１８　Ｘ線ビーム、２２　　　　　　Ｘ線検出器、２４　被検体、２６　腰椎、２８　Ｘ線シャッタ、３０　シャッタ開閉機構、３２　シャッタ制御部、４０　測定領域、４２　走査経路、６２，６６，７０　走査ライン、６４，６８　ピッチ送りライン、６２ａ，６６ａ，７０ａ　加速区間、６２ｂ，６６ｂ，７０ｂ　定速区間、６２ｃ，６６ｃ，７０ｃ　減速区間、８０　測定区間、８２　非測定区間。

【出願人】	【識別番号】３９００２９７９１【氏名又は名称】アロカ株式会社【住所又は居所】東京都三鷹市牟礼６丁目２２番１号【識別番号】５０２１８３２１２【氏名又は名称】アロカシステムエンジニアリング株式会社【住所又は居所】東京都青梅市今井三丁目７番地の１９
【出願日】	平成１４年９月２６日（２００２．９．２６）
【代理人】	【識別番号】１０００７５２５８【弁理士】【氏名又は名称】吉田　研二【識別番号】１０００９６９７６【弁理士】【氏名又は名称】石田　純
【公開番号】	特開２００４－１１３４０８（Ｐ２００４－１１３４０８Ａ）
【公開日】	平成１６年４月１５日（２００４．４．１５）
【出願番号】	特願２００２－２８０２２０（Ｐ２００２－２８０２２０）