| 【発明の名称】 |
放電ランプの光軸調整装置および光軸調整方法 |
| 【発明者】 |
【氏名】幡手 伸太郎
【住所又は居所】福岡県北九州市小倉北区中島２丁目１番１号 東陶機器株式会社内
【氏名】松原 信次
【住所又は居所】福岡県北九州市小倉北区中島２丁目１番１号 東陶機器株式会社内
【氏名】梅本 歩
【住所又は居所】福岡県北九州市小倉北区中島２丁目１番１号 東陶機器株式会社内
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| 【要約】 |
【課題】リフレクタと放電ランプとの光軸調整を正確、短時間且つ低コストで行える装置と方法を提供する。
【解決手段】リフレクタに対し放電ランプを相対的に位置調整可能とした状態で点灯し、複数のスリット穴を通過した光を照度計にて、照度が最大になるように放電ランプを光軸に直交するＸ軸及びＹ軸方向に位置調整した後、Ｚ軸方向に放電ランプを移動させることにより得られる２つの照度のピーク間の中心に放電ランプが位置されるようＺ軸の調整を行うことを特徴とする放電ランプの光軸調整方法とする。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 リフレクタの焦点位置に放電ランプの発光点を位置せしめる光軸調整装置において、この光軸調整装置は放電ランプの反射光と平行なＺ軸、このＺ軸に直交するＸ軸およびＹ軸に沿って位置調整するランプホルダを移動自在に配置し、前記リフレクタの前面側に、リフレクタの所定の反射点からの平行な反射光を通過させる複数のスリット穴を形成したスリット板と、このスリット穴を通過した光の照度を測定する照度計を配置したことを特徴とする放電ランプの光軸調整装置。
【請求項２】 請求項１に記載の放電ランプの光軸調整装置において、スリット板に形成されるスリット穴は、光軸を中心にした円上にＸ軸方向及びＹ軸方向にそれぞれ少なくとも２ケの計４ケ設けることを特徴とする放電ランプの光軸調整装置。
【請求項３】 請求項１又は２に記載の放電ランプの光軸調整装置において、前記リフレクタの鏡面形状をｙ＝Ｐ×ｘ２で表すと光軸を中心とする円上に形成されるスリット板上のスリット穴の中心からの距離は、（２×Ｐ）−１とすることを特徴とする放電ランプの光軸調整装置。
【請求項４】 請求項１に記載の放電ランプの光軸調整装置において、前記スリット穴を通過する光に他のスリット穴からの光が入射しないよう遮蔽手段を設けたことを特徴とする放電ランプの光軸調整装置。
【請求項５】 請求項４に記載の放電ランプの光軸調整装置において、前記遮蔽手段は、複数配置されるスリット板によることを特徴とする放電ランプの光軸調整装置。
【請求項６】 リフレクタに対し放電ランプを相対的に位置調整可能とした状態で点灯し、複数のスリット穴を通過した光を照度計にて、照度が最大になるように放電ランプを光軸に直交するＸ軸及びＹ軸方向に位置調整した後、Ｚ軸方向に放電ランプを移動させることにより得られる２つの照度のピーク間の中心に放電ランプが位置されるようＺ軸の調整を行うことを特徴とする放電ランプの光軸調整方法。
【請求項７】 リフレクタに対し放電ランプを相対的に位置調整可能とした状態で点灯し、複数のスリット穴を通過した光を照度計にて、照度が最大になるように放電ランプを光軸に直交するＸ軸及びＹ軸方向に位置調整した後、Ｚ軸方向に放電ランプを移動させることにより得られる２つの照度のピーク間の照度の極小の位置に放電ランプが位置されるようＺ軸の調整を行うことを特徴とする放電ランプの光軸調整方法。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は平行光を必要とする各種プロジェクタ装置に用いられる超高圧水銀ランプなどの放電ランプの光軸調整装置と光軸調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】放電ランプを組み込んだ光源装置の構造は、特開２０００−２６０２１４号公報に開示されるようにリフレクタの焦点位置に放電ランプの発光点が位置するように固定されている。
【０００３】リフレクタの焦点位置に放電ランプの発光点Ｐを位置せしめる従来の光軸調整を図１９及び図２０に基づいて説明する。尚、図１９は従来の光軸調整装置の作用を説明した図、図２０は図１９のＣ方向から見た図である。従来にあっては、リフレクタ１００に対し放電ランプ１０１を相対的に位置調整可能とした状態で保持し、この状態で放電ランプ１０１を点灯し、反射光をインテグレータレンズ１０２を介してスクリーン１０３に投影し、スクリーン１０３上の照度が最大になるようにＸ軸（光軸と直交する軸）、Ｙ軸（光軸及びＸ軸と直交する軸）及びＺ軸（光軸と平行な軸）に沿って位置調整している。尚、スクリーン１０３は、実際１ｍ2程度の大きなものであるが、図では、説明のため模式的に記載している。また、同様に、インテグレータレンズ１０２を通過した光は、通常、投影レンズ等の光学系を介して、スクリーン１０３に投影されるが、省略している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光軸調整方法では、リフレクタの形状及びサイズに応じてインテグレータレンズ１０２を用意しなければならず、コストがかかるとともに汎用性に劣る。
【０００５】さらに、従来の光軸調整方法では、１ｍ2程度の大きさのスクリーンに実際に光を照射する必要が有り大きな場所を必要としていた。
【０００６】また、リフレクタ、放電ランプ及びインテグレータレンズの光軸がずれた状態でも、その状態でスクリーン上の照度が最大となるポイントが存在するので、実際にリフレクタ及び放電ランプの光軸が一致しているかの確認ができない。
【０００７】同様に、ランプの熱によってインテグレータレンズが変形、変質し、光の屈折率が変化する場合がある。この場合でもスクリーン上の照度が最大となるポイントが存在するので、前記同様の問題がある。
【０００８】さらに、従来の光軸調整装置ではインテグレータレンズの熱による変形、変質が経時的に起こるので、リフレクタ及び放電ランプの光軸も経時的にずれていく。このため、従来の光軸調整装置では定期的なメンテナンスや補正を行わなければならず、不便であった。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本発明に係る放電ランプの光軸調整装置は、リフレクタの焦点位置に放電ランプの発光点を位置せしめる光軸調整装置において、この光軸調整装置は放電ランプの反射光と平行なＺ軸、このＺ軸に直交するＸ軸およびＹ軸に沿って位置調整するランプホルダを移動自在に配置し、前記リフレクタの前面側に、リフレクタの所定の反射点からの平行な反射光を通過させる複数のスリット穴を形成したスリット板と、このスリット穴を通過した光の照度を測定する照度計を配置したことを特徴とする放電ランプの光軸調整装置とした。
【００１０】スリット板に形成されるスリット穴は光軸を中心にした円上にＸ軸方向及びＹ軸方向にそれぞれ少なくとも２ケの計４ケ設けることを特徴とする。リフレクタの反射点からの平行な反射光の照度の変化を各軸の位置の情報として把握できるため、ランプの発光点位置を光軸位置に調整可能となる。
【００１１】平行光を得るためのリフレクタの鏡面形状は一般的に放物線であり、その式をｙ＝Ｐ×ｘ２で表すと、光軸を中心にした円上に形成されるスリット板上のスリット穴の中心からの距離を（２×Ｐ）−１とすることを特徴とする。スリット板上のスリット穴の中心からの距離が（２×Ｐ）−１であれば、Z軸の調整も可能となる。
【００１２】また、前記スリット穴を通過する光に他のスリット穴からの光が入射しないよう遮蔽手段を設けることで、他のスリット穴から斜め方向に入ってくる可能性のある光を遮蔽し、リフレクタから反射される平行光のみの照度を計測できる。
【００１３】遮蔽手段としては、複数配置されるスリット板によることを特徴とする。平行光を得るために、少なくとも２枚のスリット板を用いる場合、２枚の場合、平行光以外の斜めの光成分もスリット穴を通過してしまう可能性がある。この斜めの光成分をカットするため、もう１枚のスリット板が必要となる。４枚以上のスリット板を使用しても構わないが、スリット板を増やした効果は特に得られない。最も効果的に斜めの光成分をカットするためには３枚のスリット板を等間隔に並べることが望ましい。
【００１４】本発明に係る放電ランプの光軸調整方法は、リフレクタに対し放電ランプを相対的に位置調整可能とした状態で点灯し、複数のスリット穴を通過した光の照度が最大になるように放電ランプを光軸に直交するＸ軸およびＹ軸方向に位置調整した後、Ｚ軸方向に放電ランプを移動させることにより得られる２つの照度のピーク間の中心もしくはピーク間の照度の極小の位置に放電ランプが位置されるようＺ軸の調整を行うことを特徴とする。
【００１５】リフレクタに対し放電ランプを相対的に位置調整可能とした状態で点灯し、複数のスリット穴を通過した光を照度計にて、照度が最大になるように放電ランプを光軸に直交するＸ軸及びＹ軸方向に位置調整した後、Ｚ軸方向に放電ランプを移動させることにより得られる２つの照度のピーク間の照度の極小の位置に放電ランプが位置されるようＺ軸の調整を行うことを特徴とする放電ランプの光軸調整方法とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。ここで、図１は本発明に係る光軸調整装置の正面図、図２は同光軸調整装置の側面図、図３はスリット板Ｓを示す図である。
【００１７】光軸調整装置は、垂直に設置されたベースＢに保持具1〜７を係合している。ベースＢは垂直に設置されているが、これは放電ランプとリフレクタを固定用接着剤で固定するのに便利なため垂直に設置したものであり、光軸を調整する上においては垂直である必要は無く、場合によっては水平であっても良い。また保持具1〜７は全て同一の形状でも良く、あるいは全て異ならせてもよい。放電ランプＡを点灯させると、光はリフレクタＲにより反射される。この反射光の方向をＺ軸とし、Ｚ軸に直交し且つベースＢと放電ランプＡを結ぶ方向をＹ軸、Ｚ軸及びＹ軸と直交する方向をＸ軸とする。
【００１８】保持具１にはランプホルダ１０を固定している。このランプホルダ１０はＸ方向移動ステージ１１、Ｙ方向移動ステージ１２、Ｚ方向移動ステージ１３、Ｘ方向回転ステージ１４、Ｙ方向回転ステージ１５及びチャック１６を備え、チャック１６で放電ランプＡを保持し、リフレクタＲ内に保持される。
【００１９】保持具２にはリフレクタＲを固定している。リフレクタＲは焦点位置から発せられた光の反射光が平行になるように設計されており、その反射面はｙ＝Ｐ×ｘ２で表せる放物線となっている。この場合焦点位置すなわちリフレクタ底面から焦点までの距離は（４×Ｐ）−１となる。
【００２０】保持具３〜５にはスリット板Ｓを固定している。使用するスリット板は３枚であり、それぞれのスリット板Ｓの間隔及びリフレクタＲからスリット板Ｓまでの距離は任意であるが、間隔及び距離が近すぎると光軸調整の精度が低くなり、間隔及び距離が長すぎるとリフレクタＲと３枚のスリット板ＳのＺ軸を合わせることが困難になる。本実施例では、リフレクタＲからスリット板Ｓまでの距離を７０ｍｍとし、それぞれのスリット板Ｓの間隔を２００ｍｍとした。またスリット板Ｓに設けられるスリット穴３１の径は、大きくなると光軸調整の精度が低くなり、小さくなるとスリット板Ｓを通過する光の量が少なくなり、誤差を生じ易くなる。本実施例ではスリット板Ｓに設けられるスリット穴３１の径をφ２ｍｍとした。
【００２１】保持具６にはレンズＬを固定している。スリット板ＳからレンズＬまでの距離は任意であり、本実施例では７０ｍｍとした。
【００２２】保持具７には照度計Ｍを固定している。保持具７はＺ軸方向に３０ｍｍ程度可変になっており、レンズＬにより集光された光の集光点に、照度計Ｍを設置している。尚、レンズは、複数のスリット穴を通過した光を集光させて一つの照度計で計測できるので、望ましい形態とあるが、複数のスリット穴に対向する照度計を複数設けることで、レンズを利用しないことも可能である。
【００２３】本発明に係る光軸調整方法は放電ランプの電極間の照度分布を測定することにより光軸を調整する。まず以上の構成からなる光軸調整装置を用いることにより、電極間の照度分布を測定することが可能であることを図面を用い説明する。
【００２４】図４は発光点の位置によりリフレクタＲによる反射光がどのような角度を持つか示したものである。発光点４１がリフレクタＲの焦点位置Ｆより底面側に在る場合（ａ）は、反射光は光軸より外側に広がる。また発光点４１がリフレクタＲの焦点位置Ｆに在る場合（ｂ）は、反射光は光軸に平行となる。さらに発光点４１がリフレクタＲの焦点位置Ｆより開口側に在る場合（ｃ）は、反射光は光軸の内側に集光される。
【００２５】図４は理想的な点光源の場合の説明であるが、実際の放電ランプは図５に示すように一対の電極５１の間に形成される長さを持ったアークから光が発せられている。電極間距離は放電ランプの種類によって様々であり、１ｍｍ程度のものから数ｍｍになるものもある。このように理想上の点光源では無く長さを持った光源すなわちアーク６１の場合、リフレクタＲによる反射光がどのような角度を持つのかを図６に示す。図６には光軸に平行な位置にスリット穴３１を持つ２枚のスリット板Ｓを反射光がどのように通過するのかも合わせて示した。
【００２６】アーク６１の両端がいずれもリフレクタＲの焦点位置Ｆより底面側に在る場合（ａ）はすべての光は光軸より外側に広がり、２枚のスリット板Ｓを通過する光は得られない。アーク６１の片側端がリフレクタＲの焦点位置Ｆより底面側に在り他端がリフレクタＲの焦点位置Ｆより開口側に在る場合（ｂ）は光軸より外側に広がる光と集光される光が混在し、その一部は２枚のスリット板Ｓを通過する。アーク６１の両端がいずれもリフレクタＲの焦点位置Ｆより開口側に在る場合（ｃ）はすべての光は集光され、２枚のスリット板Ｓを通過する光は得られない。以上のようにアーク６１をリフレクタＲの底面側から開口側へ移動させながら、２枚のスリット板Ｓを通過する光の照度を測定することにより、アークの長さ方向の照度分布を見ることが可能である。
【００２７】スリット板Ｓが２枚の場合、図７（ａ）に示すように、光軸に平行でない成分の光もスリット板Ｓを通過してしまう場合がある。そこで図７（ｂ）に示すように２枚のスリット板Ｓの真ん中にもう１枚スリット板Ｓを設置することで光軸に平行でない成分の光をカットすることが可能となる。尚、カット手段として、光軸に平行な位置に配置した遮蔽板で構成することもできる。
【００２８】図３に示すスリット板Ｓのスリット穴３１の位置は、光軸を中心とした円上にＸ軸及びＹ軸方向にそれぞれ２ケの計４ケ設けている。光軸を中心とした円の半径は（２×Ｐ）−１とした。これはリフレクタＲの反射面がｙ＝Ｐ×ｘ２で表せる放物線の場合、焦点位置Ｆに存在する発光点４１から光軸に垂直に発せられた光がリフレクタにより反射され、光軸に平行になる場合、図８（ａ）に示すように焦点位置Ｆは（４×Ｐ）−１であり、光軸から反射面までの距離は（２×Ｐ）−１となる。スリット穴３１が光軸を中心とした半径（２×Ｐ）−１の円上にあれば、発光点４１から光軸に対し垂直に発せられた光がリフレクタにより直角に反射され、スリット穴３１を通過することになる。スリット穴３１が光軸を中心とした半径（２×Ｐ）−１の円からずれていれば、図８（ｂ）、（ｃ）のように、スリット穴３１を通過する光は発光点４１から光軸に対し垂直で無い角度を持った光が、リフレクタにより直角で無い角度に反射された光である。このような場合、電極間の照度分布を正しく測定することが困難となる。
【００２９】上記説明のように本光軸調整装置を用い、放電ランプの電極間の照度分布を測定することが可能であることを実際に放電ランプを点灯させて確認した。その結果を図を用い説明する。
【００３０】本光軸調整装置を用い交流放電ランプを点灯させると、真ん中のスリット板Ｓには図９に示すような電極とアークの投影像が映し出される。スリット穴３１の方向すなわちＸ方向及びＹ方向にそれぞれ電極とアークが放射状に見える。図９（ａ）はＸ方向、Ｙ方向ともに放電ランプがリフレクタの焦点位置からずれている例である。また（ｂ）はＺ方向に放電ランプがリフレクタの焦点位置からずれている例である。（ｃ）は放電ランプがリフレクタの焦点位置に位置する場合の図である。まず保持具１のＸ方向移動ステージにより、照度が最大になるようＸ方向に調整する。同様に保持具１のＹ方向移動ステージにより、照度が最大になるようＹ方向に調整する。Ｘ方向、Ｙ方向の操作の順序はどちらが先でも良く、繰り返し行えばさらに良い。この操作により、リフレクタに対する放電ランプのＸ及びＹ方向の位置が決定される。
【００３１】次に保持具１のＺ方向移動ステージにより、Ｚ方向に放電ランプを移動させる。Ｚ方向にランプを移動させながら照度を測定した結果を図１０に示す。
【００３２】この図より、Ｚ方向へ放電ランプを移動させると、２つのピークを持った照度分布が得られた。この結果について説明する。交流放電ランプの電極間のアークの様子は一般的に図１１に示すようになっていると考えられている。この図よりアーク６１は電極５１の近傍で最も細くなっている。このことは電極５１の近傍で光束が最も高く、単位面積当たりの照度すなわち輝度も最も高いと言える。一方電極間の中心ではアーク６１がもっとも広がっている。このことは電極間の中心で光束が最も低く、単位面積当たりの照度すなわち輝度も最も低いと言える。本発明に係る光軸調整装置は図１２に示すように電極間のアーク６１の微小面積部分をスリットにより通過させ照度を測定するものであるので、放電ランプをＺ方向に移動させた場合、電極間中心がリフレクタの焦点位置に来た時（A）に照度は極小となる。一方電極間中心がリフレクタの焦点位置からずれた場合照度は次第に高くなるが、ずれが大きい場合（B）はスリット穴に電極５１が映り込むようになり照度は低下する。このため図１０に示すように２つのピークを持ちその外側で照度は急速に低下する。
【００３３】交流放電ランプの場合、Ｚ方向に移動させた場合、照度が極小となる位置とピーク間の中心位置は一致している。すなわち、照度が極小となる位置もしくはピーク間の中心の位置に交流放電ランプのＺ方向の位置を調整させることにより、電極間の中心をリフレクタの焦点位置に合わせることが可能となる。
【００３４】次に直流放電ランプの場合について説明する。直流放電ランプも上記交流放電ランプの場合と同様にＸ方向及びＹ方向の調整を行い、Ｚ方向へ放電ランプを移動させ照度分布を測定した。その結果を図１３に示す。
【００３５】この結果直流放電ランプの照度分布から１つの大きなピークと１つの小さなピークが確認される。またピーク間の中心と、照度の極小位置はずれていることも判る。このことを図１４を用いて説明する。
【００３６】直流放電ランプの場合、一般に対をなす電極の大きさが異なっている。小さい電極が陰極５２であり、大きい電極が陽極５３である。陰極５２の近傍と、陽極５３の近傍では陰極５２の近傍の方がアーク６１が細くなっているため、陰極５２の近傍で照度は大きなピークを持ち、陽極５３の近傍で照度は小さなピークとなる。またアーク６１の形状は電極間中心からの対称形状とならずに、アーク６１の最も広がっている場所は陽極５３の側にずれる。このため照度の極小は電極間中心から陽極５３の側にずれることになる。従って照度が極小となる位置に直流放電ランプをの位置を調整しても、電極間の中心がリフレクタの焦点には合っていないことになる。ところで、ピークの外側はスリット穴に電極が映り込むために照度が低下するものである。したがって、ピーク間の中心は電極間の中心と一致するはずである。直流放電ランプの場合、ピーク間の中心の位置にＺ方向の位置を調整させることにより、電極間の中心をリフレクタの焦点位置に合わせることが可能となる。
【００３７】本光軸調整装置は放電ランプの光軸を調整する目的以外に、アーク間の照度分布を測定する目的にも使用できる。アークの長さ方向（Ｚ方向）の照度分布については前述したとおりである。一方アークの幅方向（Ｘ方向及びＹ方向）についても同様に可能である。この場合のスリット板Ｓの形状は図１５に示すように、光軸を中心とした半径（２×Ｐ）−１の円上にＸ方向あるいはＹ方向に２ケのスリット穴３１を設けている。Ｘ方向の照度分布を見る時はＹ方向に２ケのスリット穴３１を設け、Ｙ方向の照度分布を見る時はＸ方向に２ケのスリット穴３１を設けている。照度分布を見る方法はＸ方向、Ｙ方向同様であるので、ここではＸ方向の照度分布を見る方法について説明する。
【００３８】光軸調整の場合と同様に、放電ランプを点灯させ、Ｚ方向にランプを移動させ、照度分布を見たいＺ位置に放電ランプ位置を調整する。このままＸ方向にランプを移動させるとＸ方向の照度分布が確認できる。
【００３９】実際に交流放電ランプを用い測定した結果を図によって説明する。図１６に測定したＺ位置を示す。Ｚ１はランプをＺ方向に移動させた時の照度のピーク間の中心である。またＺ３は照度のピーク位置である。Ｚ１〜Ｚ４までのＸ方向の照度分布を図１７に示す。同時にピーク高さすなわち最高照度および半値幅も示す。この結果、照度のピーク間の中心から照度のピークに向けて、最高照度が高くなり、半値幅が小さくなっていくことが判る。またこの間においてピークの面積（半値幅×最高照度）は略一定になっている。すなわち照度のピーク間においては、アークのどのＺ位置においても光束量は一定と考えられる。そしてアーク幅が小さくなるに従って、光束密度が高くなり輝度も高くなると考えられる。Ｚ４は照度のピーク位置（Ｚ３）よりも電極先端に近い位置である。ここではアーク幅はＺ３より小さくなっているが、照度もＺ３より小さくなっている。このことから、Ｚ４ではＺ３より輝度は高くなっているものの、電極先端がスリットに映り込むために、本装置で測定される照度が低下するものと考えられる。
【００４０】以上のことから、本光軸調整装置を用いて、Ｘ方向やＹ方向の照度分布も見ることができる。そして図１７の結果は、図１０〜図１２で説明した電極間のアークの様子を裏付けていると言える。
【００４１】Ｘ方向やＹ方向の照度分布を見るために、図１５に示すような、光軸を中心とした半径（２×Ｐ）−１の円上にＸ方向あるいはＹ方向に２ケのスリット穴３１を設けたスリット板Ｓを用いた。本光軸調整装置において光軸調整をする場合、Ｘ方向及びＹ方向の調整を行う際、図１５のスリット板Ｓを用いても行える。しかし、１種類のスリット板を用いＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向の調整を行うためには、図３に示すような光軸を中心とした半径（２×Ｐ）−１の円上にＸ方向及びＹ方向にそれぞれ２ケの計４ケのスリット穴３１を設けたスリット板Ｓが必要になる。
【００４２】１種類のスリット板のみを用いて、Ｘ方向、Ｙ方向及びＺ方向の調整をすべて行うためには、スリット板の光軸を中心にしたＸ方向及びＹ方向に対称な位置にスリット穴を設けることが望ましい。すなわち最低でも４ケ必要となる。Ｘ方向及びＹ方向に対称な位置を考えると、スリット穴は８ケ、１２ケ、１６ケなど４の倍数にすることが考えられるが、スリット穴を多くすればするほど、Ｘ方向及びＹ方向の調整を行う際、照度の変化量が小さくなり調整を行うのが困難になる。
【００４３】本光軸調整装置及び光軸調整方法により光軸調整されたランプと、従来技術により光軸調整されたランプとの比較を行う。そこで同一ランプを用い、従来技術により光軸調整されたランプのスクリーン照度を１００とした場合、本光軸調整装置及び光軸調整方法により光軸調整されたランプのスクリーン照度がどのようになったか図１８に示す。この結果、本光軸調整装置及び光軸調整方法により光軸調整されたランプは、従来技術により光軸調整されたランプと、同等かやや上回るスクリーン照度となった。このことから、本光軸調整装置及び光軸調整方法により放電ランプとリフレクタの光軸を合わせることが可能であることが確認された。更に、スクリーン照度のバラツキは、本光軸調整装置及び光軸調整方法のものの方が少なく品質の安定したものを提供できた。
【００４４】
【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、リフレクタと放電ランプとの光軸調整を行うにあたり、インテグレータレンズアレイを用いる必要がないので、汎用性に優れ、コスト的に有利である。
【００４５】さらに、従来の光軸調整方法では、１ｍ2程度の大きさのスクリーンに実際に光を照射する必要が有り大きな場所を必要としていたが、本発明によりスクリーンや大きな場所を必要とせず非常に便利である。
【００４６】また、従来にあっては、リフレクタと放電ランプとの光軸がずれた状態でも、スクリーンの照度が最大となる個所があったので、光軸がずれたまま放電ランプをリフレクタに固定してしまうおそれがあったが、本発明によれば正確且つ簡単に光軸を一致させることができる。
【００４７】同様に、従来技術ではランプの熱によってインテグレータレンズが変形、変質し、光の屈折率が変化する場合があり、前記同様の問題があったが、本発明により熱による影響を無くし正確に放電ランプとリフレクタの光軸を一致させることができる。
【００４８】さらに、従来の光軸調整装置ではインテグレータレンズの熱による変形、変質が経時的に起こるので、リフレクタ及び放電ランプの光軸も経時的にずれていくことになり、装置の定期的なメンテナンスや補正が必要であったが、本発明によりこのような定期的なメンテナンスを必要とせずに放電ランプリフレクタの光軸を一致させることができる。
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| 【出願人】 |
【識別番号】００００１００８７
【氏名又は名称】東陶機器株式会社
【住所又は居所】福岡県北九州市小倉北区中島２丁目１番１号
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| 【出願日】 |
平成１４年３月１９日（２００２．３．１９） |
| 【代理人】 |
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| 【公開番号】 |
特開２００３−２７２４０８（Ｐ２００３−２７２４０８Ａ） |
| 【公開日】 |
平成１５年９月２６日（２００３．９．２６） |
| 【出願番号】 |
特願２００２−７６９８４（Ｐ２００２−７６９８４） |
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