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【発明の名称】 ナイフ軸の研削処理を実行する制御装置
【発明者】 【氏名】オリヴィエ・リュック・ベルヌ

【氏名】フレデリク・ジョゼフ・ゴディレ
【要約】 【課題】ナイフ軸の２つの連続するナイフ間のピッチの正確な均一性を維持しつつ、切断幅の寸法の可変性を制御できる制御装置を提供する。

【解決手段】ナイフ軸１の周囲に設置されたナイフ３０の、理論上の位置に対する実際の位置の差の測定を可能にする電気機械制御装置５で、研削装置の往復台６に固定された主要支持部２６と、主要支持部に固定されたアーム２７と、アームに固定された測定アセンブリ６０とを備える。測定アセンブリは、ナイフ軸の軸の方向に実質的に平行に動く第１の往復台４１と、第１の往復台に実質的に直交する第２の往復台２８と、第２の往復台に固定された第１のセンサ４３と、第１の往復台に固定され、かつ、その第１の往復台とともに動く、第１のダイアモンド点８の固定支持部７０と、固定支持部に固定され、第２のダイアモンド点１６の可動支持部４５を備える測定サブアセンブリと固定支持部に固定された第２のセンサ４７とを備える。
【特許請求の範囲】
【請求項１】 ナイフ軸の周囲に設置されたナイフの、理論上の位置に対する実際の位置の差の測定を可能にする電気機械制御装置であって、研削装置の往復台に固定された主要支持部と、前記主要支持部に固定されたアームと、前記アームに固定された測定アセンブリとを備え、前記測定アセンブリは、前記ナイフ軸の軸の方向に実質的に平行に動く第１の往復台と、前記第１の往復台に実質的に直交する第２の往復台と、前記第２の往復台に固定された第１のセンサと、前記第１の往復台に固定され、かつ、その第１の往復台とともに動く、第１のダイアモンド点の固定支持部と、前記固定支持部に固定され、第２のダイアモンド点の可動支持部を備える測定サブアセンブリと、前記固定支持部に固定された第２のセンサとを備え、前記第１の往復台は、前記アームおよび前記第２の往復台に垂直に移動し、前記第１のセンサは、前記ナイフ軸のナイフに対する前記第１の往復台の相対位置を測定し、前記第２のセンサは、前記ナイフ軸の軸に従って、前記第１のダイアモンド点に対する前記第２のダイアモンド点の相対移動の測定を可能にし、前記可動支持部の相対位置を測定する制御装置。
【請求項２】 前記第２の往復台が前記アームに固定され、前記アームは、前記測定アセンブリが前記ナイフ軸の軸に垂直な方向に動くことを可能にする上部部材を備える請求項１に記載の電気機械制御装置。
【請求項３】 前記第１の往復台の一方向の動きがアクチュエータによって生成され、その反対方向の動きがばねによって生成される請求項１に記載の電気機械制御装置。
【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ナイフ軸を研削する方法、および、その方法の実行に関連する制御装置に関する。ナイフ軸は、複数の平面材料、例えば、紙、プラスチック、感光性フィルムプレート、または、薄い平面の形態をもつ他の任意の材料を複数のストリップに切断する機械で使用される。
【０００２】
【従来の技術】写真産業において、幅が広い１枚の初期ストリップから複数の感光フィルムのストリップを得るために、スリッタが使用される。スリッタは、多数の回転ナイフと、その回転ナイフに対向する多数の対向ナイフを備える。多数の回転ナイフは、第１のナイフ軸に空間的に離れて取り付けられ、多数の対向ナイフは、第２のナイフ軸に取り付けられる。ストリップは、回転ナイフの列と対向ナイフの列との間を通り、切断される。ナイフ軸の代わりに、回転ナイフまたは対向ナイフを備える独立ユニットが使用されてもよい。切断されるストリップの縁における高品質な切断を持続させるために、回転ナイフおよび対向ナイフを定期的に研ぐ必要がある。
【０００３】１以上のナイフを研ぐことによる材料の損失を適当な手段を用いて寸法的に補償することにより、種々のスリッタのナイフにおいてなされる研ぎを考慮できるようにする多くの手段がすでに存在する。これらの補償手段は、ナイフを連続的に研いだ後に、切断処理の非常に良好な制御が長期に渡って続くことを可能にする。この切断処理の制御は、非常に高品質な切断ストリップを生成し、寸法の可変性がほとんどない切断ストリップを生成する。しかし、この寸法の可変性は、依然として、写真産業において使用されるフィルムストリップの規格と比較して過剰である。
【０００４】米国特許第４５９２２５９号は、ストリップ切断装置のスリッタナイフの相対位置決めを調整する方法および手段を説明する。これは、ナイフ相互、および、これらのナイフを備える各々の切断ユニットの間の正確な相対位置を得るために行われる。このとき、切断ユニットは、スライド上で移動できる。電気機械手段が、時間が経つにつれて起こるナイフの厚さの寸法的なばらつきを自動的に補償することを可能にする。これらの補償は、スライド上の切断ユニットの相互の位置の調整を実現する。目的は、メモリに記録された比較基準値と比べることによって、２つの連続するナイフの刃先の間で、例えば、新しいブレードの厚さに相当する一定かつ特定の距離を得ることである。本発明は、ナイフの間に一定の距離が得られることを可能にする。しかし、これは、それぞれのスライド上における相対移動に関して互いに独立したスリッタまたは往復台（キャリッジ）に属するナイフに関する。言い換えると、その切断手段の全体構成は、切断ユニットの間、よって、ナイフの刃先の間の距離を一定に保つように、ナイフの寸法のばらつきに応じて修正される。
【０００５】米国特許第４６０７５５２号は、動くストリップを切断する多数のスリッタの位置の自動制御を可能にする装置を開示する。電気制御手段は、各々のスリッタの切断ブレードの磨耗の測定から、切断されるストリップ、および、対向ナイフとしてはたらく部分に対してそのブレードを正確に再位置決めするために寸法補償の計算を可能にする。従って、この装置は、各々のスリッタブレードの磨耗を別個に独立して補償することを可能にする。
【０００６】米国特許第５０９７７３２号に開示される発明の目的は、米国特許第４６０７５５２号の目的とある程度の類似点を有する。数値制御装置は、多数の切断ユニットを有するスリッタの切断ユニット間の間隔の測定および制御を可能にする。この発明の目的は、多数の切断ユニットを、同時に、前もって設定された位置に移動できることである。そして、この切断ユニットの移動後、上部および下部のナイフの各々の接触圧力の調整が実行される。
【０００７】米国特許第４０７２８８７号は、可動要素、特に、一対の円形切断ブレードの移動を可能にする装置を開示する。その一対の円形切断ブレードは、共に、円形切断ブレードの軸に沿った移動を通して、それらの軸を平行にしたままで新しい位置に移動する。その装置は、適切な測定手段を用いて、上記の移動させられた１番目のブレード対と比較して、平行に位置される連続したブレード対を独立ユニット上に再び位置決めすることを可能にする。
【０００８】欧州特許第６０２６５５号は、軸に装着された円形の切断ブレードを研ぐ方法を説明する。この発明は、特に、そのブレードを、それらを研ぐために、同じナイフ軸から取り外さないこと、故に、間違いの原因の誘発を避けることを目的とする。その間違いの原因とは、例えば、これらのブレードの、研いだ後の軸への再取り付け処理に関連した寸法のばらつきである。この発明に記載された研ぐ処理は、特に、研削ホイールの動作を数値制御プログラム装置で保証することによって、研削装置上に点間で取り付けられた、研がれるべきブレードを備えるナイフ軸から、１以上の回転研削ホイールを、ブレードの刃先に移動させることを可能にする。これは、ブレードを取り外すことなく、同じナイフ軸の切断ブレードを、連続的にまたは同時に研ぐためである。最終的な目的は、製品の切断ストリップの精密さを増すことによって、ブレードの刃先の横方向および半径方向の振れを改善することである。しかし、この方法によって研がれるナイフ軸で切断された製品のストリップ幅に関して得られる結果は、依然として満足のいくものではない。
【０００９】仏国特許第９９１２１８１号は、第１のナイフ軸に取り付けられた多くのナイフを、同じストリップスプリッタの第２のナイフ軸に取り付けられた多くの対向ナイフに相対して位置決めする装置および方法に関する。これは、所定のスリッタにおけるピッチの寸法の不変性すなわち再現性を保証できない。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述された全ての手段は、複数のナイフを備える複数の切断ユニットまたはスリッタの、１つの他に対する位置決めまたは再位置決めが、例えば、切断処理の可変パラメータの補償を可能にする原理、および、制御または測定手段に基づく。この目的は、その方法の全体制御を保持することである。スリッタの場合、既知の方法の重要な可変パラメータは、これらの装置で使用されるナイフブレードの磨耗である。この現象は、スリッタの物理的構成要素に影響を与えることによって、例えば、ナイフの磨耗等を補償するために、それらの構成要素の１つを他の構成要素に相対的に動かすことによって制御できる。同じスリッタ上で、例えば、製品の種類を替えたり、第１の種類の製品に対応するナイフを取り外して、それらを、新しく計画された製品に対応する他のナイフによって置き換えることを進めることが可能である。その後、例えば、第１の種類の製品に対応する全部または一部のナイフが再利用されてもよい。この場合、適当な制御および測定手段は、必要に応じて、あるナイフを他のナイフに対して制御することおよび再位置決めすることを可能にする。しかし、研ぐ時に、ナイフの間の軸上ピッチの再現性が保証されない。結果として、例えば、材料の同じストリップを切断するために共に働く２つのナイフ軸の各々のナイフをうまく一致させるまたはうまく対に組み合せる（ｐａｉｒｉｎｇ）ことによって得られる切断の質が保証されない。言い換えると、上述の従来技術において使用される手段は、切断処理の制御を可能にするが、再現性またはナイフ軸の切断ピッチの可変性を制御しない。
【００１１】本発明の目的は、長期にわたって、および、連続して研ぐすなわち研削する間に、これらのナイフ軸が、特定の切断幅のために、各々のナイフの間に、研削中であっても完全に制御され、かつ、２つの軸の良好な対の組み合せを保証するピッチを有するように、同じスリッタのナイフ軸、より正確には、ナイフを装備した一対のナイフ軸の研ぎの均一性を制御することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明に係る制御装置は、ナイフ軸の周囲に設置されたナイフの、理論上の位置に対する実際の位置の差の測定を可能にする電気機械制御装置である。この制御装置は、研削装置の往復台に固定された主要支持部と、前記の主要支持部に固定されたアームと、前記のアームに固定された測定アセンブリとを備える。また、前記の測定アセンブリは、前記のナイフ軸の軸の方向に実質的に平行に動く第１の往復台と、前記の第１の往復台に実質的に直交する第２の往復台と、前記の第２の往復台に固定された第１のセンサと、前記の第１の往復台に固定され、かつ、その第１の往復台とともに動く、第１のダイアモンド点の固定支持部と、前記の固定支持部に固定され、第２のダイアモンド点の可動支持部を備える測定サブアセンブリと、前記の固定支持部に固定された第２のセンサとを備える。前記の第１の往復台は、前記のアームおよび前記の第２の往復台に垂直に移動する。前記の第１のセンサは、前記のナイフ軸のナイフに対する前記の第１の往復台の相対位置を測定する。前記の第２のセンサは、前記のナイフ軸の軸に従って、前記の第１のダイアモンド点に対する前記の第２のダイアモンド点の相対移動の測定を可能にし、前記の可動支持部の相対位置を測定する。
【００１３】好ましくは、前記の電気機械制御装置において、前記の第２の往復台は、前記のアームに固定される。前記のアームは、前記の測定アセンブリが前記のナイフ軸の軸に垂直な方向に動くことを可能にする上部部材を備える。
【００１４】好ましくは、前記の電気機械制御装置において、前記の第１の往復台の一方向の動きはアクチュエータによって生成され、その反対方向の動きはばねによって生成される。
【００１５】本発明による制御装置は、ナイフ軸におけるナイフの位置の寸法差のドリフトを検査および制御することによって、および、ナイフの間のピッチの可変性を制御することによって、スリッタのナイフ軸のナイフの研削を可能にする。これにより、切断される写真フィルムストリップに必要とされる精密さおよび切断の質を得ることができる。この制御装置は、写真産業、特に、フィルムスリッタを備えるナイフ軸のナイフの研削装置において、その原理を適用できる。
【００１６】
【発明の効果】好ましくは、２つの軸を備えるスリッタ上において、１つの軸の他方の軸に対する特別な追加の調整が防止される。時間が経っても種々の切断ピッチの寸法的なドリフトまたは拡散を生成することが全くない。本発明は、特定の研削装置上で同時に複数のナイフ軸の研削がなされるとき、生産利得を上げる一方で、頑強な研削工程が得られ、かつ、維持されることを可能にする。同じスリッタの２つの対にされたナイフ軸が、連続的な研削の間に互いによく位置決めされたまま維持されるナイフを有するとき、所定の一対のナイフ軸について、スリッタの初期調整はもはや必要でない。従って、得られることは、特定の切断幅の精度の相当な克服だけでなく、とりわけ、より良好な切断である。その良好な切断は、少なくとも、種々のナイフの間の軸上ピッチの可変性を制御することによる。これは、ナイフ軸の寸法の均一性が、研削と同時に得られることを可能にする。本発明による方法で得られる精度レベルおよび寸法の低い可変性を考えると、複数の異なるナイフ軸の対のナイフ軸の間の互換性を補償することが一層見込まれる。
【００１７】本発明は、ナイフ軸の研削処理の実行を可能にする装置に関する。このピッチ測定装置は、研削されるナイフ軸のナイフに対して、研削装置の長さ方向の往復台に固定される。その電気機械部品から成る装置は、研削されるナイフ軸のナイフの実際の位置とそのナイフの理論上の位置との差の測定を可能にする。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下に、添付の図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。本明細書において、「ナイフ」という用語は、ナイフとその対向ナイフの両方を意味するものとする。図１は、平面材料をストリップに切断できるスリッタすなわち切断ユニット１０を示す。平面材料は、例えば、高い精度でストリップに切断しなければならない写真フィルムプレートである。そのようなスリッタは、それぞれ、回転ナイフ２０および対向ナイフ３０が取り付けられた２つの軸４０および軸５０を備える。２つの軸４０および軸５０は、それらの主軸が平行になるように取り付けられる。これらの部品２０および部品３０は、円形であるという特徴をもつ。また、これらの部品２０および部品３０は、連続切断を可能にするために、ナイフ軸４０，５０の外周に設けられる。そのとき、２つのナイフ軸４０，５０は、一緒に回転する。また、そのとき、それぞれの軸は平行なままである。１枚の材料を切断するために、切断は、図２の（１）および図２の（２）に示される原理に従ったはさみの原理に基づく。切断される平面材料１２は、例えば、方向１５および方向１６にそれぞれ回転する回転ナイフ２０および対向ナイフ３０の間で方向１４に動く。切断装置２０，３０の間を通りすぎた後、平面材料１２は切断され、ストリップ１８に変形される。一般的に、ナイフは、同じ幅１９のフィルムストリップを切断するために、スリッタ上に規則正しく間隔をあけて配置される（図３の（１））。または、そのナイフは、種々の幅のストリップを得るために、不規則に間隔をあけて配置されてもよい。しかし、全ての場合において、その目的は、設定されたストリップ幅１９のために、２つの連続するナイフ間のピッチの正確な均一性すなわち再現性を維持しつつ、これら切断幅の寸法の可変性を制御すること、スリッタ上の調整を制限し、ナイフ研削処理の複雑さを低減しようとすることである。
【００１９】また、本発明による方法の目的は、最小限の調整で、または、調整なしに、スリッタ上のナイフ軸を対にできること、および、これを、最大限の精密さをもって、かつ、この精密さと関連する切断品質を得るように行うことである。例えば、フィルムがプロの映画のカートリッジにおいて使用されるか、アマチュア映画のカートリッジにおいて使用されるかにかかわらず、写真感光フィルムの製造において切断処理は重要である。その後の正確な穿孔は、この切断処理に直接左右される。単なるフィルム幅のばらつきが、不揃いで不正確な穿孔の原因となり、従って、顧客が、例えば、映写器やカメラにおいてフィルムストリップを使用するときに、その顧客を落胆させる低品質の製品の原因となる。今日、写真感光フィルムの切断の分野において、切断ストリップ幅の幾何学上のばらつきに関して必要とされる精度は、マイクロメートルのオーダである。この精度は、ストリップの切断幅の可変性、および、その切断品質の制御に対応する。これら切断幅の可変性、および、その切断品質は、スリッタ１０の２つの軸４０，５０におけるそれぞれのナイフ２０，３０の、前もって行う正確な相対位置決めの直接の結果である。図３の（１）によると、本発明による方法は、スリッタ１０のナイフ軸４０、５０のそれぞれのナイフ２０、３０の正確な対の組み合せを保証しつつ、このナイフの間の軸方向ピッチＰの均一性すなわち再現性の制御が実現され、かつ、それが２つの連続するナイフの間の実質的に２μｍ（０．０００２ｍｍ）未満のピッチ可変性Ｐを得ることを可能にする。図３の（１）および図３の（２）（図３の（１）の一部１００を拡大した図）によると、その対の組み合せは、スリッタ１０に位置されたナイフ２０の面とナイフ３０の面との間の軸方向の遊びＡに対応する。ナイフ軸４０，５０は、スペーサと共に、互いに関連してあらかじめ位置されるものであり、各々のナイフ軸４０，５０のそれぞれの１番目のナイフ２０，３０が、軸方向の遊びＡによって特徴付けられる正確な軸方向の相対位置に従って、互いに関連して位置される。また、本発明による方法は、高い精度、すなわち、最大でも０．０１ｍｍのオーダの可変性で、全てのナイフ２０，３０に対する軸方向の遊びの制御を可能にする。
【００２０】経験により、２つのナイフ軸から成るスリッタは、設定された時間だけ使用された後に、停止および分解される。その後、ナイフ軸は、例えば、研削型機器に設置される。数マイクロメートルのオーダで必要とされる研削精度は、従来の旋盤上で得られる加工よりもずっと精密な加工を要求する。研削を検査するために、その研削装置に適した電気機械制御装置が使用される。その制御装置の例は、図４および図５に示される。この電気機械制御装置５は、研削装置２５の往復台、すなわち、長手のサドル６に、固定手段７によって固定される。複数の固定手段７は、それらの軸に基づいて組織的に配列される。これらの手段７は、例えば、固定ネジであってもよい。電気機械制御装置５は、一対の位置測定センサ４３，４７、例えば、当業者に既知のＴＥＳＡ型のセンサを装備する。センサ４３は、第２の往復台２８に固定される。各々のセンサ４３，４７は、例えば、ダイアモンド点型機械フィーラ８，１６を備え、そのフィーラ８，１６は、その位置が定められるべきナイフに接触する。そのセンサ対４３，４７は、１組の制御機器９に電気的に連結され、一緒に機能する。その１組の制御機器９は、値のマイクロメートルオーダの直接読み取り、それらの記録、および、あらかじめ決められた計算プログラムに基づく計算の性能を可能にする電子装置、例えば、ガルバノメータから成る。その読み取り装置は、例えば、ＬＥＤ表示スクリーンである。その記録および計算装置は、プログラムおよび適切なメモリを装備したプログラム可能論理制御装置であってよい。研削装置の往復台６は、一般的に、電動化され、研削されるナイフ軸の軸１に平行に移動する。往復台６は、制御装置５の他に、ナイフ３０の研削ツール４を保持する装置３を備える。装置３も、往復台６に固定される。ナイフの研削ツール４は、例えば、回転研削ホイール４であってよい。このツール４の回転軸は、ツール保持装置３に固定される。研削されるナイフ軸は、例えば、研削装置２５上の点間または回転軸に固定される。電動化された往復台６は、ツール保持装置３を備える往復台の、例えば、０．１ｍｍ／ｍｉｎのオーダの低速運動を可能にする。この電気機械部品の組は、比較的単純な測定アドバンスシステムを構成する。それは、標準的な材料を用いて製造すること、および、非常に効率的に製造することが共に容易であり、研削されるナイフにおける数マイクロメートルの研削パスを可能にする。
【００２１】電気機械制御装置５は、例えば、２つの連続したナイフの間の距離に相当するピッチの選択された理論値Ｐ０に従って、ナイフの実際の位置の差を測定することを可能にする。図４および図５によると、装置５は、主要支持部２６を備える。その主要支持部２６は、固定手段７によって研削装置２５の長手方向の往復台６に固定される。また、主要支持部２６は、機械アーム２７に固定される。その機械アーム２７には、測定アセンブリ６０が固定される。測定アセンブリ６０は、第１の往復台４１と第２の往復台２８を備える。測定アセンブリ６０は、実質的に直交する２つの軸に沿って動くことができる。そのうち１つの軸はナイフ軸の主軸に平行である。
【００２２】好ましい実施の形態において、測定アセンブリ６０は、アーム２７に固定された第２の垂直往復台２８を備える。その第２の往復台２８は、ある素子すなわち上部部材５１によって、測定アセンブリ６０が、研削装置２５に固定されたナイフ軸４０，５０の軸１に実質的に垂直な方向に動くことを保証する。その装置５１は、例えば、アクチュエータであってよい。選択された実施の形態により、第１の往復台４１は、測定アセンブリ６０のナイフ軸４０，５０の軸１における移動を可能にする。第１の往復台４１の移動は、例えば、水平アクチュエータ４８およびバネ４２を備える装置によって保証される。第２の往復台２８を持たない別の実施の形態によると、第１の往復台４１は、アーム２７に直接固定される。第２の往復台２８は、検査されるナイフの面上に機械フィーラ８，１６を正確に位置するために、測定アセンブリ６０を上げ下げさせる。アーム２７に対する第１の往復台４１の移動は、ナイフ軸４０，５０の軸１に実質的に平行である。第１の往復台４１の移動の位置は、第１の高精度センサ４３によって測定される。アクチュエータ４８とバネ４２を備える好ましい実施の形態において、アクチュエータ４８は、バネ４２の戻り動作の下で、第１の往復台４１を軸１と平行に移動させる。この第１の往復台４１の水平移動は、支持部７０の第１の機械フィーラ８が、第１のナイフの面に接触することを可能にする。フィーラ８は、センサ４３に連結される。軸１における数ミリメートルのストロークを可能にするフィーラ８は、例えば、ガルバノメータに連結される。フィーラ８を１番目のナイフに接触させた後、そのフィーラ８は、電気的に０にされる。その後、制御機器９は、測定基準として、精密定規２２を用いて初期化される。その定規２２は、それ自体、制御機器９に電気的に接続され、その意味では、測定センサおよびフィーラ８，１６を備える制御装置５の軸１における平行移動は、常に、その定規２２を参照してなされる。精密定規２２は、研削装置２５に固定され、その主軸１１は、研削されるナイフ軸の軸１における往復台６の移動方向に平行である。好ましくは、０．００１ｍｍの分解能で目盛りが付けられたガラスの定規が使用される。往復台６の平行移動は、常に、測定センサ６２を用いて、この定規２２を参照して記録される。その定規２２は、それ自体が平行に移動する往復台６に対して固定されたままである。研削される軸上において実行される測定の基準として使われる初期位置は、両端のナイフの間における、ナイフ軸４０，５０の長さの測定の基準として選ばれた第１の理論上のナイフ（単数）の位置に相対的に、記録される。その基準値は、例えば、０等の単純なデジタル値を用いて初期化され、制御機器９に基準として記録される。その後、定規２２の０（リセット）は、センサのゼロと一致させられる。その後、センサ８は、往復台６を使用して、測定アセンブリ６０で測定できる最後のナイフまで動かされる。この最後のナイフは、一般的に、軸の最後の１つ前のナイフであってよい。すなわち、もし、ナイフ軸が、例えば３９本のナイフから成るなら、一般的に、１番目のナイフと３８番目のナイフとの間の実際の距離が測定される。一旦、フィーラ８が電気的にゼロの位置に位置されるなら、そのフィーラ８は、３８番目のナイフに接触し、それらのナイフの間で測定される実際の長さは、定規２２を参照して読み取られる。この長さは、例えば、定規２２に連結されたデジタルディスプレイ上で直接読み取られ、理論上の長さと比較される。その理論上の長さは、（ナイフ軸４０，５０の理論上のピッチＰ０の総数）×（ナイフ軸に沿った理論上のピッチＰ０の値）に等しい。この理論上のピッチＰ０の値は、一般的に、一定である。特定の実施の形態において、この理論上のピッチの値は、全体の製造工程を考慮に入れると、ナイフ軸に沿って若干可変であってよい。
【００２３】フィーラ、すなわち、ダイアモンド点８が固定される支持部７０は、第１の往復台４１に固定される。支持部７０は、第１の往復台４１に固定され、その支持部７０に固定された測定サブアセンブリ４４を備える。サブアセンブリ４４は、固定された支持部（固定支持部）７０に対して移動する可動の支持部（可動支持部）４５を備える。可動支持部４５の相対位置は、固定支持部７０に対して固定された第２の高精度センサ４７によって測定される。センサ４７は、第２のダイアモンド点１６の、軸１における、第１のダイアモンド点８に対する相対移動の測定を可能にする。センサ４７は、変形機械装置（ｄｅｆｏｒｍｉｎｇ ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ ｄｅｖｉｃｅ）を用いて、第２の機械フィーラ１６と検査される第２のナイフの面との間の接触によって決定される可動支持部４５の位置を測定する。変形機械装置は、例えば、変形バネリーフ５２である。検査される１番目のナイフ対の第２のナイフに接触する第２の機械フィーラ１６は、検査される第１のナイフの第１の代数値に対する第２の代数値を生成する。それは、測定された第１のピッチＰの長さの理論上のピッチＰ０に対する代数的な差を示す。従って、これらの値の全てが、ナイフごとに記録され、それらナイフ上で研削される材料の量の値を決定する基準として役立つ。もちろん、２つの機械測定フィーラ８，１６の間の間隔または距離は、例えば、精密計器ブロックを用いて、最初にあらかじめ設定される。
【００２４】好ましい実施の形態において、一般的に、センサ８，１６の間の基準ピッチの値は、理論上のピッチＰ０の値に等しくなるように取られる。しかし、図３の（１）において、基準ピッチ１９に従ってピッチをあらかじめ設定することも、創作の程度が低い実施の形態において検討されてよい。この基準ピッチ１９は、理論上のピッチＰ０に非常に近く、軸５０上で任意に選択できる。
【００２５】１番目のナイフ対の検査処理の終わりに、アクチュエータ４８は、フィーラ８，１６を、それらがもはやナイフに接触しないようにわずかに移動させる。その後、フィーラ８，１６は、上部部材５１によって、ナイフから離れるように取り外される。本発明による装置５の好ましい実施の形態によると、機械的な留め部材５５を装備する一軸のアーチキュレーション５４は、測定アセンブリ６０を備えるアーム２７が、主要支持部２６に対して、アーチキュレーション５４の軸２の回りに回転することを可能にする。この回転方向は、機械的な留め部材５５からアーム２７を取り除く回転の方向である。これらの運動学は、制御装置アセンブリ５の取り外しを容易にし、故に、ナイフ軸を研削装置に設置する、および、ナイフ軸を排除する処理がより容易になる。
【００２６】図３の（１）に示されるナイフ間のピッチＰは、特に、ナイフ軸４０，５０の良好な対の組み合せ、すなわち、寸法Ａによって示される回転ナイフと対向ナイフとの間の遊びの良好な制御によって切断の品質を保証するために、少なくとも同じ対のナイフ軸に対して、できるだけ一定でなければならない。この寸法Ａの制御は、本質的に、研ぐときのピッチＰの再現性による。実際、このピッチＰは、たとえ、それらが、数値制御手段によって管理されたとしても、従来の研削処理による分散のために一定ではない。本発明による方法の目的は、２つのピッチの間の最大差を減少させること、ナイフ軸の寿命を通して、切断ピッチＰの可変性の良好な制御を維持することによって、必要とされる耐性または規格を保つことを可能にすることである。
【００２７】検査される第１のナイフ対の位置の代数差を与えるセンサ４３，４７のフィーラ８，１６が、検査されるナイフの面に接触するとき、センサが、ナイフの位置を測定するために、制御位置にあると考えられる。その値は、定規２２に対して初期化された基準位置に対するものであり、制御機器９に記録される。測定されて、制御機器９に記録される値、すなわち、検査される第１のナイフ対の定規２２を参照した絶対位置を表わす値から、検査される第１のナイフに連続したナイフの相対差が、基準ピッチ１９に対して測定され、記録される。往復台は、常に、その基準位置に対して、理論上のピッチＰ０の値に等しい距離だけ移動し、それ自体、精密定規２２に対して初期化される。この移動の値は、例えば、デジタル表示スクリーンで直接読み取られる。その後、連続する第２のナイフ対の位置に相当する第２の値が記録される、すなわち、第１のナイフ対が選択された後すぐに、場所が定められる。従って、種々のナイフ対の検査される複数のナイフの間の位置の差が、連続的に記録される。この差は、一方では、理論上のピッチに対する相対差を意味し、他方では、検査されるナイフのそれらが持つべき理論上の位置に対する位置の差を意味する。従って、記録される値は、代数的といわれる、すなわち、それらは、正、負または０でありうる。従って、各々のナイフの位置決めのこれらの測定および記録は、１つのナイフから次のナイフへ、基準ピッチ１９に対して、連続して繰り返され、それが、検査されるナイフ軸の最後の軸まで続く。その後、本発明による処理は、代数差の合計によるナイフ毎の差の平均の代数値の決定、記録、従って、先に記録されたナイフの位置決めの実際の差の各々から平均の計算値を減算することを可能にする。従って、ナイフの各々の第１の訂正相対位置が得られる。その後、精密物差し２２を常に参照して、例えば、２つの端のナイフの間の実際の距離を測定することによって、研削される軸の実際の長さが測定される。位置センサは、第１のナイフの記録位置に基づいて、および、精密物差し２２を常に参照して、制御装置５を備える長手方向の往復台６によって、その軸の最後のナイフまで移動される。理論上の長さに対する軸の長さの代数差が記録される。実際に、もし、ナイフ軸の実際の長さの測定基準としてはたらくフィーラ８が、精密物差し２２に対して動かされるなら、センサ８は、第１番目のナイフ、および、その軸の最後の１つ前のナイフに位置できるだけである。最後のナイフの位置は、一般的に、第２のセンサ１６によって占められる。各々のナイフ軸の種類に対する、種々のフィルムのストリップ幅に相当するこの特定の理論上の長さは、例えば、装置９のデータファイルに記録される。例えば、３９本のナイフから成り、フィルムストリップを３５ｍｍの幅に切断することが意図されるナイフ軸は、全体の理論上の長さＬＴ＝３８×３５＝１３３０ｍｍを有する。
【００２８】本発明による方法は、実際の長さと特定の理論上の全体長さとの間の代数差を計算することによって、ナイフ毎の長さの代数差の計算を可能にする。その実際の長さは、対応する測定位置センサを、研削される軸の端部に位置される２つのナイフの位置まで動かすことによって得られる。本発明による方法は、ナイフの各々の第１の訂正相対位置に、ナイフ毎の長さの差を追加する。従って、ナイフの各々の代数的な第２の訂正相対位置が得られる。従って、本発明による方法は、ナイフの各々の第２の訂正相対位置の値の代数的な合計から、ナイフ毎に除去される材料の値を表示する。ナイフ毎に除去される材料の値は、各々のナイフの訂正相対位置に相当する第２の値の累積されたこれらの代数値から得られる。従って、求められる最も大きい正の代数値は、除去される材料が全くないナイフに相当し、逆に、最も絶対値の大きい負の代数値は、除去される材料が最も多いナイフに相当する。実際には、これらの２つの最終値の間の差は、数十マイクロメートル、すなわち、ミリメートルの数百分の一である。求められる最も絶対値の大きい代数値から、第２の相対位置の他の個々の計算された累積値の各々を除くことによって、他のナイフの各々について削除される実際の値が得られる。一般的に、良質な研削を得ることに固有の理由のために、固定値が、第２の訂正相対位置の計算された累積値の各々に追加されなければならない。追加される固定値は、研削条件、特に、研削されるナイフの材料の寸法特性に左右される。実際に、これは、例えば、ナイフ毎に２，３の研削パスを行うことを可能にする。これは、例えば０、すなわち、軸のナイフの一部にとって除去される材料が全くない第１の空の（ブランク）パスを計画することによって、および、残りのナイフに対して数マイクロメートルを表示することのみによってなされる。その後、これは、以下のパスの高品質かつ優れた均一性を保証する。例えば、最後のパスは、均一であり、軸のナイフの各々について２０マイクロメートルである。
【００２９】本発明による方法の実行の好ましい実施の形態は、２つのセンサ４３，４７を同時に使用することによってナイフを検査し、ナイフ軸の所定のナイフ対を測定することを可能にする。図６によると、これらのセンサ４３，４７は、往復台６に乗った制御装置５に設置される。故に、それらは、あらかじめ互いに、例えば、ナイフ軸の理論上のピッチの値に等しい距離Ｐ０に位置される。理論上のピッチの値は、センサ４３，４７を保持する装置５にあらかじめ設定され、２つのセンサ４３，４７を分離する距離Ｐ０に等しい。図６によると、センサの基準位置は、これら２つのセンサの間の距離Ｐ０を意味する初期設定の位置である。センサ４３，４７を保持する装置５は、ナイフ軸の軸１に平行に動く。センサ４３，４７を保持する装置５は、センサが軸から離されること、かつ、それらを軸に沿ってピッチからピッチへ移動させることを可能にする。さらに、好都合なことに、測定された差を測定することができるように、装置５によって保持される２つのセンサ４３，４７は、軸１の方向に加えられる機械的な小さい力の効果の下で、ナイフ軸の軸１において１つを他に相対的に移動させることができる。この距離Ｐ０は、研削される軸の軸１に平行な直線に従って測定される。同時に検査される２つのナイフの間の実際のピッチは、もし、実際のピッチが理論上のピッチＰ０に等しいなら値Ｐ０を、もし、実際のピッチが理論上のピッチよりも大きいなら値Ｐ１を、もし、実際のピッチが、理論上のピッチよりも小さいなら値Ｐ２を取ることができる。連続したナイフ対の間の距離差を測定するときに得られる種々の値が、図６に示される。あらかじめ設定されたセンサ対を用いることにより、例えば、ナイフ軸の端に位置された１番目の連続する２つのナイフを検査することは、ナイフ軸の対応する理論上のナイフの、あらかじめ初期化された基準値に対する差の値が得られることを可能にする。
【００３０】表１の表に示される例は、３８個のフィルムストリップの切断を可能にする３９個のナイフと連続するナイフの３８個の異なる対とを備えるナイフ軸４０，５０に関する。検査の初期基準としてはたらく１番目のナイフＮｏ０は、表に記述されない。すなわち、ナイフＮｏ１は、ナイフ軸４０，５０の第２番目のナイフであり、Ｎｏ３８は、そのナイフ軸の３９番目のナイフである。
【表１】

【００３１】本発明による方法を実行するために、あらかじめ設定されたセンサ８，１６は、例えば、軸の１番目の連続する２つのナイフに接触する。例えば、ガルバノメータ上で読み取られる差の代数値は、＋１である（表のナイフＮｏ列の１番目の行）。この差＋１は、ナイフ軸４０，５０のナイフ２０，３０の１番目の対で検査される第１の実際のピッチの、理論上のピッチ、または、その理論上のピッチに最も近いように選択された基準ピッチ１９に対するマイクロメートル台の差を表わす。また、第１の検査された実際のピッチは、第２のナイフＮｏ１が、ナイフ軸４０，５０上において、その理論上の位置に対して＋１だけ、基準ナイフＮｏ０（表には示されない）に対してオフセットされることを示す。
【００３２】測定アセンブリ６０を、軸１において、ピッチの値におおよそ等しい距離だけ動かした後、例えば、ナイフＮｏ１およびＮｏ２によって形成される連続ナイフの２番目の対が検査される。読み取られる差の代数値は、再び、＋１である（表のナイフＮｏ列の２番目の行）。この差＋１は、２番目のナイフ対において検査される第２の実際のピッチの理論上のピッチに対する差が＋１であることを意味する。また、この差＋１は、３番目のナイフＮｏ２が、その理論上の位置に対して、＋２（＋１＋１）だけオフセットされることを意味する。９番目のナイフＮｏ８の例は、７番目のナイフと８番目のナイフとの間で検査されるピッチが、理論上のピッチに対して＋３だけオフセットされることを示し、ナイフＮｏ８が、その理論上の位置に対して＋１４だけオフセットされることを暗に意味する。＋１４は、記録された全ての差（表のナイフＮｏ列）の合計の代数値である。従って、ピッチ毎に、すなわち、連続するナイフの各々の対に対して、ナイフ軸４０，５０の１番目のナイフＮｏ０に関して得られる基準値に対する、ナイフ２０，３０の各々の実際の位置の差の値が決定される。各々のナイフの実際の位置の差は、ナイフの理論上の位置に対して決定される。この差は、連続するナイフの間の実際のピッチと理論上のピッチＰ０、すなわち、初期設定による基準ピッチ１９との差の代数値によって、異なる各々の対、一般的に、連続するナイフの連続対の各々に対して決定される。実際のピッチと理論上のピッチとの間の差の代数値は、表の第１列おいて、および、図７の曲線Ｃ１によって示される。その後、前もって決定された差の平均的な代数値が決定される。このために、その差が合計され、それが、異なるピッチ、または、ナイフ軸４０，５０の連続するナイフ対の全体数によって分割される。例えば、表の第１列の差の代数的な合計は、＋２１である。ナイフ対の全体数は、３８である。その差の平均的な代数値は、＋２１を３８で割ることによって計算される。それは、約＋０．６の平均的な代数値を与える。この＋０．６の値から、各々のナイフの第１の訂正される相対位置（訂正相対位置）が、前のステップ（表１の表の第１列）で得られた個々の差の値の各々から、その平均的な代数値を減算することによって決定される。この処理は、結局、表の第２列のデータとなる。例えば、２番目のナイフＮｏ１に対して、＋１−０．６＝＋０．４が得られる。１６番目のナイフＮｏ１５に対して、−２−０．６＝−２．６が得られる。
【００３３】その訂正を正確にするために、第１の訂正相対位置に相当する代数値に、ナイフ毎の長さに対する差の代数値を加えることによって、各々のナイフの第２の訂正相対位置が決定される。ナイフ毎の長さに対する代数差は、研削される軸の実際の長さの値から得られる。その研削される軸の実際の長さの値は、一般的に、ナイフ軸４０，５０の２つの端のナイフの間で測定される。第１に、ナイフ軸の理論上の全体長さと、ナイフ軸の２つの端のナイフの間の対応する実際の全体長さとの間の差の代数値が決定される。その理論上の全体長さＬＴは、ナイフ軸の連続するナイフの種々の対の全体数に、理論上のピッチＰ０の値をかけることによって計算される。ナイフ毎の長さの差の代数値は、理論上の長さと対応する実際の長さとの間の差を与える代数値を、対応するナイフ対の数で割ることによって決定される。もし、３８個のフィルムストリップが切断されることを可能にするナイフ軸４０，５０の連続するナイフのピッチまたはナイフ対の全体数を用いるなら、対応するナイフの数は３９である。しかし、２つのフィーラ８，１６を備えた測定アセンブリ６０の使用の処理条件に関する理由のために、実際の長さは、精密物差し２２を参照してフィーラ８を使用することによって決定できる。その長さは、２つの端のナイフ間の全体長さに近いが短い。例えば、３７個のピッチまたはナイフ対に対して、理論上の長さＬＴが計算される。もし、特定の理論上のピッチが、例えば、３４．９５８ｍｍであるなら、理論上の長さは、１２９３．４４６ｍｍ（３４．９５８×３７）である。これら３７個のピッチに相当するナイフの数は３８である。
【００３４】３７個のピッチに対して測定される実際の長さＬＲは、例えば、１２９３．４４２ｍｍである。ナイフ毎の長さの代数差は、（ＬＲ−ＬＴ）／ナイフ対の数の式によって決定される。
【００３５】ある例において、ナイフ毎の長さに対する差のおおよその代数値−０．１マイクロメートルは、（１２９３．４４２−１２９３．４４６）／３８＝−０．１の式で得られる。
【００３６】その後、各々のナイフの第２の訂正相対位置の代数値が、ナイフ毎の長さに対する差の代数値を第１の訂正相対位置（表の第２列）の代数値に追加することによって決定される。従って、ナイフの第２の訂正相対位置の代数値に相当する表１の表の第３列が得られる。例えば、第２のナイフＮｏ１の第２の訂正相対位置の値は、＋０．４−０．１＝＋０．３である。３１番目のナイフＮｏ３０のそれは、＋３．４−０．１＝＋３．３である。
【００３７】その後、これらの連続する訂正に基づいて、第３列に得られる値の代数的な合計が決定され、ナイフ軸に沿って、各々の理論上の位置に対するナイフの実際の位置を得る。この合計は、表１の表の第４列、および、図７の曲線Ｃ２に対応する。正の代数値は、除去される材料が最も少ないナイフに相当し、１３番目のナイフＮｏ１２の最大値１３．６は、例えば、材料が全く除去されないナイフに相当する。ナイフＮｏ２６の最低値−２１．２は、ほとんどの材料が除去されるナイフに相当する。このナイフＮｏ２６に対して除去される値は、第４列の２つの端の値の間の差の絶対値である。我々の例において、＋１３．６−（−２１．２）＝３４．８である。これは、もし、例えば、ナイフＮｏ１２から材料を除去しないように選択するなら、３４．８マイクロメートルが、ナイフＮｏ２６から除去されることを意味する。例えば、ナイフＮｏ６から、１３．６−（＋３．８）＝９．８が除去される。従って、ナイフの各々に対して除去される材料が決定される。表に示されないナイフ軸の第１のナイフＮｏ０は、ナイフＮｏ１と同じ値だけ研削される。平均的な代数値は、表の第１列の差の代数的な合計をナイフ対の全体数で割ることによって得られる。
【００３８】ナイフ軸４０，５０のナイフ２０，３０の全てを研削しようとするこの最後の実施の形態の変形例によると、明らかに、ナイフ軸のナイフの総数よりも小さい有限数のナイフを研削することが考えられる。また、表の第５列によると、研削処理条件を改善して、全てのナイフが研がれることを保証するために、例えば、追加の値２０マイクロメートルが、ナイフ毎の除去される値に追加できる。この追加の値は、ナイフ軸４０，５０の全てのナイフ２０，３０にとって最後の研削パスの間、体系的に削除される。この処理の方法は、ナイフを研削する一方、ナイフの良好な幾何学的な位置決め、および、研削される軸に沿った一定のピッチの両方を、周囲の物理的現象、特に、研削装置の周りの温度変化に関係無く、保持することを可能にする。
【００３９】ナイフ毎の１以上のパスにおいて研削することが考慮できる。表の第６列から第８列までは、第３および最後の研削パスの間に、各々のナイフから２０マイクロメートルを体系的に削除することによって、ナイフが３つの連続するパスにおいて研削される例を構成する。もちろん、第１の研削パス（表の第６列）の間、材料が全く除去されないかなり多くのナイフが発見される。
【００４０】本発明による方法のやや格の低い変形例は、非常に受け入れやすい結果を与えるにもかかわらず、ナイフ毎の長さに対してその差の代数値を考慮しない。
【００４１】好ましい実施の形態の実現例は、製造工程の可変性、および、写真フィルムストリップの物理的特性を考慮することによって、ナイフ２０，３０を研削する本発明による方法を適用することを含む。その写真フィルムストリップは、ナイフ軸４０，５０の軸１に沿って理論上のピッチの均一な値Ｐ０を選択することによってではなく、例えば、ナイフ軸４０，５０の各々の端部に設置されるナイフ対のやや可変のピッチＰ０＋ΔＰ０を選択することによって切断される。ΔＰ０は、線形的に増加または減少しうる、または、非線型関数に従う。従って、約０．０５ｍｍのストリップの幅のばらつきに相当する範囲においてわずかに異なる幅のストリップが、同じナイフ軸を用いて切断できる。一般的に、スリッタ１０の第１の軸に関する一般的な数値データは、共に働く２つのナイフ軸４０，５０の良好な対の組み合せを保証するために、そのスリッタの第２の軸を研削するために使用される。
【００４２】明らかに、研削装置および研削されるナイフ軸に対する、その制御装置の部品の他の任意の配置は、本発明による方法が実行されることを可能にする限り考えられる。
【００４３】本発明は、特に好ましい実施の形態を参照して詳細に述べられたが、本発明の精神と範囲内で種々の変形が可能であることが理解される。
【出願人】 【識別番号】５９００００８４６
【氏名又は名称】イーストマン コダック カンパニー
【出願日】 平成１４年７月４日（２００２．７．４）
【代理人】 【識別番号】１０００６２１４４
【弁理士】
【氏名又は名称】青山 葆 （外２名）
【公開番号】 特開２００３−９４３２６（Ｐ２００３−９４３２６Ａ）
【公開日】 平成１５年４月３日（２００３．４．３）
【出願番号】 特願２００２−１９５４０９（Ｐ２００２−１９５４０９）