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【発明の名称】 対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法、対数変換回路及び放射線読取装置
【発明者】 【氏名】崎野 和弘
【要約】 【課題】ゲイン及びオフセットを精度よく調整することができ、適切な時期に再調整する対数変換回路の調整方法を提供する。また、画質の再現性が良好な放射線画像読取装置を提供する。

【解決手段】対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法は、ログアンプと、ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを設定し調整する調整回路とを備える対数変換回路のゲイン及び／又はオフセットを調整する。調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流と第２の基準電流のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流と第２の基準電流のときの出力とから第２の傾きＤＢを求め、ＤＡ、ＤＢから目標の傾き（ゲイン）になる調整回路のゲインＧを第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを繰り返し変えることにより求める。
【特許請求の範囲】
【請求項１】 入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを設定し調整する調整回路と、を備える対数変換回路のゲイン及び／又はオフセットを調整する方法であって、前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第２の傾きＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２】 前記調整回路にゲインＧを設定し、第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットを求めることを特徴とする請求項１に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項３】 入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを設定し調整する調整回路と、を備える対数変換回路のゲイン及び／又はオフセットを調整する方法であって、前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第２の傾きＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求め、このゲインＧを前記調整回路に設定し、前記求められたゲインＧで第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットＯを求めることを特徴とする対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項４】 前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインを求める毎にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする請求項１、２または３に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項５】 前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする請求項１、２または３に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項６】 前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする請求項１、２または３に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項７】 前記ゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）は一定値以上とすることを特徴とする請求項４または６に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項８】 第２回目以降にゲインを求めるときに前回の第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値から前記ゲインを求めることを特徴とする請求項４，５，６または７に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項９】 前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと前記第２のゲインＧｂとの間に入っているか否かを判断することを特徴とする請求項４〜８のいずれか１項に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１０】 前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っていないときに、前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとを前記ゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）が大きくなるように変えてから、前記調整回路のゲインＧを再度求めることを特徴とする請求項９に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１１】 前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っていないときに、前記ゲインＧを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする請求項９に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１２】 前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っていないときに、前記ゲインＧを中心にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を大きくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする請求項９に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１３】 前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っているときに、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを変える繰り返し回数が所定回数のときのゲインを前記調整回路のゲインＧとすることを特徴とする請求項９に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１４】 前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っているときに、前回のゲインと比較し一定値以内であるときのゲインを前記調整回路のゲインＧとすることを特徴とする請求項９に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１５】 前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの問に入っているときに、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを変える繰り返し回数の所定回数範囲において一定値以内であるときのゲインを前記調整回路のゲインＧとすることを特徴とする請求項９に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１６】 入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを設定し調整する調整回路と、を備える対数変換回路のゲイン及び／又はオフセットを調整する方法であって、前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流Ｉ１のときの出力と、第２の基準電流Ｉ２（但し、Ｉ２＞Ｉ１）のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流Ｉ１のときの出力と、第２の基準電流Ｉ２のときの出力とから第２の傾きＤＢを求める際に、少なくとも低電流側の第１の基準電流Ｉ１のときの前記各出力を複数回測定して平均した平均出力として前記各傾きＤＡ、ＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１７】 前記調整回路にゲインＧを設定し、第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットを求めることを特徴とする請求項１６に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１８】 前記求められたオフセットを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを小さく変えて再度設定し直して繰り返すことにより前記目標となるオフセットを求めることを特徴とする請求項２，３または１７に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項１９】 前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を毎日、所定の時刻に実行することを特徴とする請求項１〜１８のいずれか１項に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２０】 前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を所定の時間間隔で実行することを特徴とする請求項１〜１９のいずれか１項に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２１】 前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を所定のイべントが発生したときに実行することを特徴とする請求項１〜２０のいずれか１項に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２２】 請求項１９〜２１における前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整の各実行周期のうち最も短い周期で前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を実行することを特徴とする対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２３】 電源投入時におけるゲイン及びオフセットを所定時間経過後のゲイン及びオフセットとそれぞれ比較し、その差がそれぞれ所定値以下であるとき、前記電源投入時または前記所定時間経過後のゲイン及びオフセットを電源切断後の電源再投入時におけるゲイン及びオフセットに設定することを特徴とする請求項１〜２２のいずれか１項に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２４】 前記ゲインの差のみが前記所定値以下であるとき、前記ゲインを前記電源切断後の電源再投入時におけるゲインに設定し、前記電源再投入時にオフセット調整のみを実行することを特徴とする請求項２３に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２５】 前記ゲインの差のみについて前記所定値以下であるか否かを比較し、前記オフセット調整を電源投入のたびに実行することを特徴とする請求項２３に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２６】 １日または所定時間におけるゲイン及びオフセットのドリフトを記録し、このドリフト記録に基づいて前記調整回路のゲイン調整及びオフセット調整の実行を制御することを特徴とする請求項１〜２５のいずれか１項に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２７】 前記ドリフト記録に基づいて電源切断後の電源再投入時以降の前記調整回路のゲイン調整及びオフセット調整の実行間隔を調整することを特徴とする請求項２６に記載の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【請求項２８】 入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを調整できる調整回路と、を備え、前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第２の傾きＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求め得ることを特徴とする対数変換回路。
【請求項２９】 前記求められたゲインＧを前記調整回路に設定し、第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットを求めることができることを特徴とする請求項２８に記載の対数変換回路。
【請求項３０】 前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインを求めた後、ゲインを求める毎にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求め得ることを特徴とする請求項２８または２９に記載の対数変換回路。
【請求項３１】 前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求め得ることを特徴とする請求項２８または２９に記載の対数変換回路。
【請求項３２】 前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求め得ることを特徴とする請求項２８または２９に記載の対数変換回路。
【請求項３３】 請求項１〜２７のいずれか１項に記載のゲイン・オフセット調整方法を実行できることを特徴とする請求項２８〜３２のいずれか１項に記載の対数変換回路。
【請求項３４】 放射線撮影により放射線画像が記録された輝尽性蛍光体に対し励起光を照射して発生させた光を入射させて光電変換するフォトマルチプライヤと、前記フォトマルチプライヤからの電流を入力させる請求項２８〜３３のいずれか１項に記載の対数変換回路と、を備えることを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項３５】 請求項３４に記載の前記対数変換回路の調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を、放射線画像撮影または放射線画像読取が所定回数実行される度に行うことを特徴とする放射線画像読取装置における対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法。
【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力電流を対数変換して出力する対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法、対数変換回路、及びこの対数変換回路を備え放射線画像を読み取る放射線画像読取装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】放射線画像は、病気診断などに多く用いられており、この放射線画像を得るために、放射線照射部からの被写体を透過した放射線をプレート状の輝尽性蛍光体に吸収させた後、この輝尽性蛍光体を例えばレーザ光で走査しながら励起することによりこの輝尽性蛍光体が上記吸収により蓄積している放射線エネルギ（放射線画像情報）を蛍光として発光せしめ、この蛍光を光電変換して放射線画像信号を得て放射線画像を読み取るようにした方法が公知である（米国特許3,859,527号及び特開昭55−12144号公報等参照）。かかるレーザ光の走査により輝尽性蛍光体プレートから発生する蛍光を集光し、フォトマルチプライヤで光電変換し、この電気信号（入力電流）を対数変換回路で対数変換し、このアナログ信号から変換したデジタル信号に基づいて画像処理することにより放射射線画像を読み取る。
【０００３】ところで、上述のような従来の対数変換回路では、温度変動等による回路のゲインとオフセットの変動を補正すべくゲイン及びオフセットの調整を行っている。この従来のゲイン及びオフセットの調整は、放射線画像の画質の再現性に影響を与えるため、より精度よく行うことが必要である。また、設定したゲイン及びオフセットが変動したときには適切な時期に再調整を行うことが必要である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、ゲイン及びオフセットを精度よく調整することができ、また、適切な時期に再調整する対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法を提供することを目的とする。また、ゲイン及びオフセットを高精度に調整可能な対数変換回路及び放射線画像の画質の再現性が良好な放射線画像読取装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するために、本発明による対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法は、入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを設定し調整する調整回路と、を備える対数変換回路のゲイン及び／又はオフセットを調整する方法であって、前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第２の傾きＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする。
【０００６】この対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法によれば、第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを固定せずに繰り返し変えるので、より精度よく調整回路のゲインＧを求めることができ、対数変換回路のゲインを精度よく調整できる。
【０００７】また、前記調整回路にゲインＧを設定し、第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットを求めることにより、精度よく調整回路のオフセットを調整でき、対数変換回路のオフセットを精度よく調整できる。
【０００８】また、本発明による別の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法は、入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを設定し調整する調整回路と、を備える対数変換回路のゲイン及び／又はオフセットを調整する方法であって、【０００９】前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第２の傾きＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求め、このゲインＧを前記調整回路に設定し、前記求められたゲインＧで第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットＯを求めることを特徴とする。
【００１０】この対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法によれば、第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを固定せずに繰り返し変えることによって、より精度よくゲインＧを得るので、より精度よく調整回路のオフセットを調整でき、対数変換回路のオフセットを精度よく調整できる。
【００１１】上述の各調整方法において、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインを求めた後、ゲインを求める毎にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めるようにできる。第１及び第２のゲインＧａとＧｂとの幅を狭くしながら繰り返し調整しゲインＧを求めるので、精度よくゲインＧを得ることができる。
【００１２】また、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めるようにしてもよい。これにより、精度よくゲインＧを得ることができる。
【００１３】また、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めるようにしてもよい。これにより、精度よくゲインＧを得ることができる。
【００１４】この場合、前記ゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）は一定値以上とすることが好ましい。これにより、一定値を適切に設定することにより、ゲインＧを精度よく求めることができるとともに、ゲインの差（幅）（Ｇａ−Ｇｂ）が狭くなりすぎて調整できなくなることを防止できる。なお、ゲインＧは、最終的な第１及び第２のゲインＧａとＧｂとの相加平均により求めることができる。
【００１５】また、第２回目以降にゲインを求めるときに前回の第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値から前記ゲインを求めることが好ましい。これにより、第１及び第２のゲインＧａとＧｂとの幅を狭くしながら繰り返す繰り返し回数を減らすことができより迅速で効率的な調整が可能となる。
【００１６】また、前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと前記第２のゲインＧｂとの間に入っているか否かを判断することが好ましい。これにより、ゲインＧが第１及び第２のゲインＧａとＧｂとの間からずれて調整されることを防ぐことができる。
【００１７】この場合、前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っていないときに、前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとを前記ゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）が大きくなるように変えてから、前記調整回路のゲインＧを再度求める。なお、ゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を前回と同じ値に保ったまま、ＧａとＧｂの中心にゲインＧがくるようにＧａとＧｂをシフトさせてから、前記調整回路のゲインＧを再度求めるようにしてもよい。
【００１８】また、前記ゲインＧを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めるようにしてもよく、また、前記ゲインＧを中心にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を大きくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めるようにしてもよい。
【００１９】また、前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っているときに、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを変える繰り返し回数が所定回数のときのゲインを前記調整回路のゲインＧとし、調整を終了させることができる。また、前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っているときに、前回のゲインと比較し一定値以内であるときのゲインを前記調整回路のゲインＧとし、調整を終了させてもよい。更に、前記調整回路のゲインＧが前記第１のゲインＧａと第２のゲインＧｂとの間に入っているときに、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを変える繰り返し回数の所定回数範囲において一定値以内であるときのゲインを前記調整回路のゲインＧとし、調整を終了させてもよい。
【００２０】また、本発明による更に別の対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法は、入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを設定し調整する調整回路と、を備える対数変換回路のゲイン及び／又はオフセットを調整する方法であって、前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流Ｉ１のときの出力と、第２の基準電流Ｉ２（但し、Ｉ２＞Ｉ１）のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流Ｉ１のときの出力と、第２の基準電流Ｉ２のときの出力とから第２の傾きＤＢを求める際に、少なくとも低電流側の第１の基準電流Ｉ１のときの前記各出力を複数回測定して平均した平均出力として前記各傾きＤＡ、ＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求めることを特徴とする。
【００２１】この対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法によれば、少なくとも低電流側の基準電流のときの出力を複数回測定して平均し、その平均した出力により傾きＤＡ、ＤＢを求めるので、ノイズ等の影響を効果的に排除でき、より精度よくゲインの調整ができる。なお、高電流側の基準電流の出力も複数回測定し平均してもよく、この場合、測定回数を低電流側よりも少なくしてもよい。
【００２２】また、前記調整回路にゲインＧを設定し、第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットを求めることにより、ノイズ等の影響を効果的に排除でき、より精度よくオフセットの調整ができる。
【００２３】上述の各オフセット調整時において、前記求められたオフセットを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを小さく変えて再度設定し直して繰り返すことにより前記目標となるオフセットを求めることでオフセット調整の精度を向上できる。
【００２４】上述の各調整方法につき、前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を毎日、所定の時刻に実行することが好ましい。また、前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を所定の時間間隔で実行することが好ましい。また、前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を所定のイべントが発生したときに実行することが好ましい。所定のイべントとは、ゲイン・オフセットが変動する可能性のある状況であって、例えば電源投入時、スタンバイ状態からの復帰時、スリープ状態からの復帰時、環境温度や機内温度の変化時等である。
【００２５】以上のようにしてゲイン・オフセットを適切な時期に再調整することができるが、前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整の各実行周期のうち最も短い周期で前記調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を実行するようにしてもよい。
【００２６】また、電源投入時におけるゲイン及びオフセットを所定時間経過後のゲイン及びオフセットとそれぞれ比較し、その差がそれぞれ所定値以下であるとき、前記電源投入時または前記所定時間経過後のゲイン及びオフセットを電源切断後の電源再投入時におけるゲイン及びオフセットに設定するようにできる。これにより、ゲイン・オフセット調整をその都度行う必要がなくなり、ゲイン及びオフセットの調整回数を精度を保ちながら減らすことができる。
【００２７】この場合、前記ゲインの差のみが前記所定値以下であるとき、前記ゲインを前記電源切断後の電源再投入時におけるゲインに設定し、前記電源再投入時にオフセット調整のみを実行するようにしてもよい。また、前記ゲインの差のみについて前記所定値以下であるか否かを比較し、前記オフセット調整を電源投入のたびに必ず実行するようにしてもよい。
【００２８】また、１目または所定時間におけるゲイン及びオフセットのドリフトを記録し、このドリフト記録に基づいて前記調整回路のゲイン調整及びオフセット調整の実行を制御するようにしてもよい。これにより、ドリフトが生じても、ドリフトの影響を効果的に排除するように調整を制御でき、例えば調整の実行間隔を変更することで適切な時期にゲイン・オフセットを調整できる。
【００２９】この場合、前記ドリフト記録に基づいて電源切断後の、例えば次の日の電源再投入時以降の前記調整回路のゲイン調整及びオフセット調整の実行間隔を調整するようにしてもよい。
【００３０】また、本発明による対数変換回路は、入力電流を対数的比例関係で変換して出力するログアンプと、前記ログアンプに少なくとも２点の基準電流を入力させたときの前記ログアンプの出力の傾き及びオフセットが一定値になるようにゲイン及びオフセットを調整できる調整回路と、を備え、前記調整回路に第１のゲインＧａを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第１の傾きＤＡを求め、次に、第２のゲインＧｂを設定し、第１の基準電流のときの出力と第２の基準電流のときの出力とから第２の傾きＤＢを求め、前記第１及び第２の出力の傾きＤＡ、ＤＢから目標の傾きとなるゲインＧを求め、このゲインＧから前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを再度設定し直して繰り返すことにより前記調整回路のゲインＧを求め得ることを特徴とする。
【００３１】この対数変換回路によれば、第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを固定せずに繰り返し変えるので、より精度よく調整回路のゲインＧを求めることができ、ゲインを精度よく調整可能な対数変換回路を実現できる。
【００３２】また、前記求められたゲインＧを前記調整回路に設定し、第１のオフセットＯａを設定し前記第２の基準電流のときの出力と、第２のオフセットＯｂを設定し前記第２の基準電流のときの出力とから、目標となるオフセットを求めることができる。第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを固定せずに繰り返し変えることによって、より精度よくゲインＧを得るので、より精度よく調整回路のオフセットを調整でき、オフセットを精度よく調整可能な対数変換回路を実現できる。
【００３３】この場合、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインを求めた後、ゲインを求める毎にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求めることができる。
【００３４】また、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心に前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求め得るように構成でき、また、前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂ（但し、Ｇａ＞Ｇｂ）の初期値で第１回目にゲインＧを求めた後、ゲインＧを中心にゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）を小さくするように前記第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂの値を変えることにより前記調整回路のゲインＧを求め得るように構成してもよい。
【００３５】また、上述の対数変換回路は、上述した各ゲイン・オフセット調整方法を実行できる。この場合、調整回路は、上述の調整方法を実行できるように構成されたアナログ乗算回路、加算回路、可変ゲイン回路やＣＰＵを含んで構成できる。
【００３６】また、本発明による放射線画像読取装置は、放射線撮影により放射線画像が記録された輝尽性蛍光体に対し励起光を照射して発生させた光を入射させて光電変換するフォトマルチプライヤと、前記フォトマルチプライヤからの電流を入力させる上述の対数変換回路と、を備えることを特徴とする。
【００３７】この放射線画像読取装置によれば、フォトマルチプライヤからの電流が入力する対数変換回路が精度よくゲイン及びオフセットを調整できるので、読み取られた放射線画像における画質の再現性が良好な放射線画像読取装置を実現できる。
【００３８】この場合、上記放射線画像読取装置で前記対数変換回路の調整回路のゲイン調整及び／又はオフセット調整を、放射線画像撮影または放射線画像読取が所定回数（例えば５回）実行される度に行うことにより、対数変換回路を常に精度よくゲイン及びオフセット調整した状態とすることができるので、読み取られた放射線画像における画質の再現性を良好に維持できる。
【００３９】
【発明の実施の形態】以下、本発明による実施の形態について図面を用いて説明する。図１は本発明の実施の形態による対数変換回路のブロック図である。この対数変換回路には放射線画像読取装置のフォトマルチプライヤ（ＰＭＴ）１からの電流が入力する。
【００４０】図１の対数変換回路は、ＰＭＴ１からの電流が入力し対数的比例関係で増幅され電圧に変換されて出力するログアンプ１１と、ログアンプ１１からの出力電圧のゲインとオフセットを調整する調整回路を構成するアナログ乗算器１２と、ゲインとオフセットの調整時にログアンプ１１に第１の基準電流Ｉ１を入力させるための第１の定電流源１４と、第２の基準電流Ｉ２（Ｉ２＞Ｉ１）を入力させるための第２の定電流源１５と、ログアンプ１１に対して第１の定電流源１４と第２の定電流源１５とを切り替えるスイッチ（ＳＷ）１３とを備える。なお、ログアンプ１１は演算増幅器やトランジスタ等からなる公知の回路を用いて構成できる。
【００４１】また、アナログ乗算器１２は、ゲインを調整するためのゲイン調整部１２ａとオフセットを調整するためのオフセット調整部１２ｂを備え、以下のようにして図１の対数変換回路のゲイン・オフセットを調整できるようになっている。
【００４２】図１の対数変換回路におけるゲイン・オフセットの調整方法について図２〜図４を参照して説明する。図２は本実施の形態によるゲイン・オフセット調整方法の各ステップを示すフローチャートであり、図３（ａ），（ｂ）は図２の調整時における入力電流と出力電圧との関係を示す図であり、図４は図２の調整時において設定ゲインＧａとＧｂとの間隔を狭くしながらゲインＧを求める様子を示す図である。
【００４３】図２に示すように、まず、図１のゲイン調整部１２ａでアナログ乗算器１２において第１のゲインＧａを設定し（Ｓ０１）、図１のスイッチ１３で第１の低電流源１４から第１の基準電流Ｉ１をログアンプ１１に入力し、そのときの出力電圧Ｖ１を測定し、次に、スイッチ１３で第２の低電流源１５から第２の基準電流Ｉ２（Ｉ２＞Ｉ１）をログアンプ１１に入力し、そのときの出力電圧Ｖ２を測定する。傾きＤは図３（ａ）のように次の式（１）から計算でき、ゲインＧａのときの傾きＤＡを求める（Ｓ０２）。
【００４４】
Ｄ＝（Ｖ２−Ｖ１）／（Ｉ２−Ｉ１） （１）
【００４５】続いて、ゲインＧａよりも低い第２のゲインＧｂを設定し（Ｓ０３）、ステップＳ０２と同様にしてゲインＧｂのときの傾きＤＢを求める（Ｓ０４）。そして、目標の傾きをＤとし、ＤＡ、ＤＢから次の式（２）でゲインＧを求める（Ｓ０５）。
【００４６】
Ｇ＝（Ｄ−ＤＡ）／（ＤＢ−ＤＡ） （２）
【００４７】または、目標の出力差をΔＶ（＝Ｖ２−Ｖ１）とし、ゲインＧａのときの出力差ΔＶａ、ゲインＧｂのときの出力差ΔＶｂから次の式（３）でゲインＧを求めることができる。
【００４８】
Ｇ＝（ΔＶ−ΔＶａ）／（ΔＶｂ−ΔＶａ） （３）
【００４９】即ち、図３（ｂ）のように、１回目のＧａ（１）、Ｇｂ（１）を設定しそれぞれのＶ１，Ｖ２から求められる出力差ΔＶａ、ΔＶｂからゲインＧが得られ、次に、以下のように２回目のＧａ（２）、Ｇｂ（２）を設定し、傾きの幅を狭くしていく。
【００５０】次に、第１及び第２のゲインＧａとＧｂとの差（幅）（Ｇａ−Ｇｂ）が所定値ｍを越えているか否かを判断し（Ｓ０６）、所定値ｍを越えている場合にはゲインＧを中心に（Ｇａ−Ｇｂ）が小さくなるようにＧａとＧｂを再設定し（Ｓ０７）、上述のステップＳ０１〜Ｓ０５を再度実行する。即ち、図４（ｂ）のケース１のように、Ｇａ（１）−Ｇｂ（１）＝ｘとした場合、ステップＳ０５で求めたゲインＧを中心にＧａ（２）−Ｇｂ（２）＝ｘ’＜ｘとなるように、Ｇａ、Ｇｂを設定する。
【００５１】または、図４（ｂ）のケース３のように、ゲインＧを中心にＧａ（２）−Ｇｂ（２）＝ｘ’＝ｘとなるように、Ｇａ、Ｇｂを設定してもよい。また、ケース３のように、ＧａをＧよりも大きく設定し、Ｇａ（２）−Ｇｂ（２）＝ｘ’＞ｘとなるように設定してもよい。
【００５２】上述のようにしてステップＳ０１〜Ｓ０７を繰り返すことにより、図４（ａ）のようにゲインＧａとＧｂとの幅を狭めていき、そして、幅（Ｇａ−Ｇｂ）が所定値ｍ以下であれば、そのときのＧａとＧｂとの相加平均又は上記式（２）または（３）で算出したＧをゲインＧとする（Ｓ０８）。このようにして、精度よくゲインＧを求めることができる。ここで、所定値ｍは、ゲインＧがＧａとＧｂとの間にあるとき、上記傾きＤＡ、ＤＢが目的の一定の傾きＤに対し所定の誤差範囲内となるような値に設定されており、従って、ゲインＧを精度よく設定できる。
【００５３】次に、ステップＳ０８で求めたゲインＧがゲインＧａとＧｂとの間に入っているかどうかを判断し（Ｓ０９）、入っている場合にはステップＳ０１〜Ｓ０６の繰り返す数ｎが所定値（例えば１０）であるか否かを判断し（Ｓ１０）、繰り返し回数ｎが所定値に達している場合には、ステップＳ０８におけるゲインＧを最終的なゲインＧとして図１のアナログ乗算器１２に設定される（Ｓ１１）。また、繰り返し回数ｎが所定値（１０）に達していない場合には、ステップＳ０７に戻り、ｎ＝１０となるまでステップＳ０１〜Ｓ０７を繰り返す。
【００５４】また、ステップＳ０８でゲインＧがゲインＧａとＧｂとの間に入っていない場合には、ゲインＧが、目的の一定の傾きＤを得るようなゲインの値から大きく外れている可能性が高いので、ゲインの差（Ｇａ−Ｇｂ）が大きくなるようにＧａを大きくＧｂを小さく設定し、再度ステップＳ０１〜Ｓ０８を繰り返す（Ｓ１２）。この場合、Ｇを中心にＧａを大きくＧｂを小さく設定するようにしてもよい。また、第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを最初に設定した初期値としてもよい。
【００５５】以上のようにして第１及び第２のゲインＧａ、Ｇｂを、幅（Ｇａ−Ｇｂ）が狭くなるように所定値ｍ以下になるまで繰り返し変えるので、より精度よく調整回路のアナログ乗算器１２におけるゲインを求めることができ、図１の対数変換回路におけるゲインを精度よく調整できる。従来は、ゲインＧａとＧｂとを初期に与えた一定値に固定していたが、本実施の形態の対数変換回路によれば、ゲインＧａ、Ｇｂを固定せずに繰り返し変えるので、従来よりも精度よくゲイン調整を行うことができるのである。
【００５６】また、図１の対数変換回路においてオフセットを調整する場合について図１１により説明する。上述と同様にして、第１のオフセットＯａ及び第２のオフセットＯｂ（Ｏｂ＞Ｏａ）を設定し、目標の傾きＤ、電流Ｉ２のときの各傾きＤｏａ、ＤｏｂからオフセットＯを次の式（４）から得る。
【００５７】
Ｏ＝（Ｄ−Ｄｏａ）×（Ｏｂ−Ｏａ）／（Ｄｏｂ−Ｄｏａ） （４）
【００５８】オフセットもゲイン同様の考え方で第１のオフセットＯａ及び第２のオフセットＯｂを変え、小さくし、オフセットＯを中心に再設定し、これを繰り返すことで、オフセットを精度よく調整できる。
【００５９】以上のようにして第１のオフセットＯａ及び第２のオフセットＯｂを固定せずに幅（Ｏｂ−Ｏａ）が狭まるように繰り返し変えるので、より精度よく調整回路のオフセットを調整でき、図１の対数変換回路におけるオフセットを精度よく調整できる。
【００６０】なお、図２において、ステップＳ０８でゲインＧがゲインＧａとＧｂとの間に入っているとき、ステップＳ０９で繰り返し回数が１０になるまでステップＳ０１〜Ｓ０６を繰り返すようにしたが、次のようにして繰り返しを終了するようにしてもよい。
【００６１】即ち、ゲインＧが、前回のＧ’と比べてその差（Ｇ−Ｇ’）が一定値以内であるときに、そのときに求められたゲインＧを図２のステップＳ１０でゲインＧと設定する。
【００６２】また、ゲインＧａ、Ｇｂをその差が狭まるように繰り返し変えている過程において、図５のように、一定の繰り返し回数範囲（図では、ｎ＝５）で一定値ｍ’以内であるときに、そのときのＧをゲインＧと設定するようにしてもよい。
【００６３】次に、図６により図２の変形例の調整方法を説明する。図６のゲイン・オフセット調整方法は、ステップＳ１５で繰り返し回数ｎが例えば１０になるまでステップＳ０１〜Ｓ０６を繰り返すことにより、ゲインの幅（Ｇａ−Ｇｂ）を充分に狭めてから、幅（Ｇａ−Ｇｂ）を図２と同様に所定値ｍと比較し（Ｓ１７）、幅（Ｇａ−Ｇｂ）が所定値ｍ以下であれば、そのときのＧまたはＧａとＧｂから求められる相加平均をゲインＧとする（Ｓ１８）。このようにして、図１の対数変換回路においてゲインＧを精度よく設定できる。なお、同様にして、オフセットも精度よく調整できる。
【００６４】次に、図７により、図１の対数変換回路における別のゲイン・オフセットの調整方法を説明する。図７の調整方法はゲイン・オフセット調整時におけるノイズの影響を除去するものである。
【００６５】図７に示すように、図１の対数変換回路のアナログ乗算器１２においてゲインを例えばＧａに設定し（Ｓ２１）、図１の第１の定電流源１４から基準電流Ｉ１をログアンプ１１に入力し、そのときの出力電圧Ｖ１を測定する（Ｓ２２）。この測定を５回繰り返して行い（Ｓ２３）、測定した出力電圧を平均し、平均出力ＶＡ１を求める（Ｓ２４）。なお、測定回数ｃは必要に応じて増減できる。
【００６６】続いて、図１の第２の定電流源１５から基準電流Ｉ２（Ｉ２＞Ｉ１）をログアンプ１１に入力し、そのときの出力電圧Ｖ２を測定する（Ｓ２５）。この測定を３回繰り返して行い（Ｓ２６）、測定した出力電圧を平均し、平均出力ＶＡ２を求める（Ｓ２７）。なお、測定回数ｃ’は必要に応じて増減できる。
【００６７】以上の電流Ｉ１、Ｉ２及び平均出力ＶＡ１、ＶＡ２から上述の式（１）により傾きＤＡを求める（Ｓ２８）。
【００６８】次に、ゲインＧｂにおいて同様に行い、平均出力ＶＢ１、ＶＢ２を求め、傾きＤＢを求める（Ｓ２９）。そして、出力差ΔＶａを平均出力ＶＡ１、ＶＡ２から求め、出力差ΔＶｂを平均出力ＶＢ１、ＶＢ２から求め、上述の式（３）でゲインＧを求める（Ｓ３０）。次に、図２と同様にして、幅（Ｇａ−Ｇｂ）が所定値ｍ以下であれば（Ｓ３１）、ステップ３０のＧまたはそのときのＧａとＧｂとの相加平均で算出したＧをゲインＧとする（Ｓ３３）。このゲインＧが図１のアナログ乗算器１２に設定される（Ｓ３４）。また、（Ｇａ−Ｇｂ）が所定値ｍを越えていれば、同様にしてＧａ、Ｇｂを再設定し（Ｓ３２）、Ｓ２１〜Ｓ３１をｍ以下になるまで繰り返す。
【００６９】以上のようにして、出力電圧を平均して求めるので、ノイズの影響で出力電圧が変動して測定された場合でも、そのノイズの影響を除去することができるので、傾きＤＡ，ＤＢを精度よく求めることができるので、この傾きに基づいて図１の対数変換回路におけるゲインを精度よく設定できる。なお、オフセットも同様にして精度よく調整できる。
【００７０】また、ノイズの影響は、特に入力電流が低電流側であるときの出力電圧にあらわれ易いので、図７の調整方法は低電流側の基準電流による測定時に効果的であり、高電流側の基準電流のときは測定回数を１回としてもよい。
【００７１】次に、図８により、本発明による実施の形態の別の対数変換回路を説明する。図８の対数変換回路は、調整回路として図１のゲインアナログ乗算器の代わりに中央演算装置（ＣＰＵ）１６を備える。図８のＣＰＵ１８は、上述したような図２〜図６のゲイン・オフセット調整方法及び図７のゲイン・オフセット調整方法を、スイッチ１３を制御し基準電流を切り替えながら実行するように構成されている。従って、上述の各調整方法を図８の対数変換回路が実行することにより、対数変換回路におけるゲイン及びオフセットを自動的により精度よく調整することができる。なお、図８ではＣＰＵ１６の代わりに、ＬＵＴ（ルックアップテーブル）を備えてもよく、また、ＣＰＵとＬＵＴの組み合わせて備えてもよい。
【００７２】以上、説明したように図１または図８の対数変換回路は、その入力電流としてフォトマルチプライヤ（ＰＭＴ）１で光電変換した電気信号を入力するように用いることができるが、かかるフォトマルチプライヤ（ＰＭＴ）１及び対数変換回路８を備えた放射線画像読取装置について図９、図１２により説明する。図９は放射線画像読取装置の走査光学部と集光読取部と変換部とを示す図であり、図１２は放射線画像読取装置の全体を示すブロック図である。
【００７３】図１２に示すように、放射線画像読取装置５０はリーダ部５３とコントローラ７２とを備える。リーダ部５３は、放射線を照射するとこの放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後、可視光やレーザ光等の励起光を照射すると蓄積された放射線エネルギーに応じて輝尽発光を示す輝尽性蛍光体を利用して、支持体上に蓄積性蛍光体を積層してなるシート状の輝尽性蛍光体シート２に、制御部６２で制御されるＸ線照射部６１から照射されたＸ線による人体等の被写体Ｍの放射線画像情報を一旦蓄積記録したものに、走査光学部４からレーザ光を走査して順次輝尽発光させ、この輝尽発光光をフォトマルチプライヤ１で光電的に順次読み取って画像信号を得るものである。そして、リーダ部５３は、この画像信号読取り後の輝尽性蛍光体シート２にハロゲンランプ６から消去光を照射して、このシートに残留する放射線エネルギーを放出させ、次の撮影に備える。
【００７４】このリーダ部５３は、被検体の放射線画像情報を輝尽性蛍光体シート２と、輝尽性蛍光体シート２に対する励起光としてのレーザ光を発生するレーザダイオード等からなるレーザ光源部５６と、レーザ光源部５６を駆動するためのレーザ駆動回路８５と、レーザ光源部５６からのレーザ光を輝尽性蛍光体シート２上に走査させるための光学系５７と、励起レーザ光により励起された輝尽発光を集光し、光電変換し、画像信号を得る集光読取部５９とを有する。集光読取部５９は、励起レーザ光により励起された輝尽発光を集光する光ガイド３と、光ガイド３により集光された光を光電変換するフォトマルチプライヤ（光電子増倍管）１と、フォトマルチプライヤ１に電圧を加える高圧電源１０ａと、フォトマルチプライヤ１からの電流信号を、電流電圧変換・電圧増幅・Ａ／Ｄ変換などにより、デジタル信号に変換する変換部８１と、この変換部により変換されたデジタル信号を補正する補正部８２と、この補正部８２で補正されたデジタル信号を送信する画像送信部８３とを有し、読み取った放射線画像情報のデジタル信号をコントローラ７２に送信する。なお、補正部８２は、RISCプロセッサで構成され、デジタル信号の応答遅れやムラなどを補正する。また、変換部８２は、図１２のように、対数変換回路８（例えば図１の対数変換回路）及びＡ／Ｄ変換回路９を有する。
【００７５】リーダ部５３は、更に、画像信号読取後の輝尽性蛍光体シートに残留する放射線エネルギーを放出させるために、消去光を照射するハロゲンランプ６と、このハロゲンランプ６を駆動するドライバ４５とを有する。また、リーダ部５３は、レーザ駆動回路５、高圧電源１０ａ、変換部８１、補正部８２、画像送信部８３、及びドライバ４５をそれぞれ制御する制御部４７を有する。また、リーダ部５３のレーザ光源部５６と光学系５７とを含む走査光学部４、光ガイド３、フォトマルチプライヤ１及びハロゲンランプ６は、図示しない副走査ユニットとして一体的に、ボールねじ機構により、レーザ走査方向と垂直な副走査方向に移動する。この副走査ユニットは、画像読取時に、移動することにより副走査し、復動する間に、ハロゲンランプ６が発光することにより残像を消去する。
【００７６】コントローラ７２は、パソコン本体部６５と、キーボード６６と、モニタ表示部６７とを有し、リーダ部５３から受信した放射線画像情報のデジタル信号を一旦、メモリ上に記憶し、画像処理し、キーボード６６からの操作入力に応じて、モニタ表示部６７への表示と画像処理を制御し、画像処理された放射線画像情報を出力する。
【００７７】図９のように、放射線画像読取装置は、走査光学部４からのレーザ光４ａが、被写体に放射線照射して放射線画像の記録された輝尽性蛍光体プレート２を図の紙面垂直方向に主走査しながら図の上下方向に副走査すると、輝尽性蛍光体プレート２から光２ａが発生し、その光２ａがフィルタ７、光ガイド３を介してフォトマルチプライヤ１の光電面５に入射し、フォトマルチプライヤ１で光電変換される。この電気信号が対数変換回路８（例えば図１または図８の対数変換回路）に入力電流として入力して電圧に対数変換され、更にＡ／Ｄ変換回路９でデジタル変換され、このデジタル信号に基づいてコントローラ７２のパソコン本体部６５の画像処理部１０で画像処理し、放射射線画像を読み取る。この読み取り後に、次の放射線画像記録に支障がないように輝尽性蛍光体プレート２に対し消去ランプ６から消去光を照射することによって輝尽性蛍光体プレート２の残像を消去する。
【００７８】以上のように、フォトマルチプライヤ１で光電変換された電気信号が対数変換回路８に入力電流として入力し対数変換された電圧が出力して画像読み取りが行われるとき、対数変換回路８のゲイン及びオフセットが上述のように高精度に調整されているので、図９の放射線画像読取装置における読み取られた放射線画像の画質の再現性を向上させることができる。
【００７９】また、図９、図１２の放射線画像装置において、上述した図２〜図６のゲイン・オフセット調整方法または図７のゲイン・オフセット調整方法を実行する場合に、その調整時期を次のようにして設定することが好ましい。
（１）毎日、所定の時刻、例えば、午前１０時と午後１５時等に実行する。
（２）所定の時間間隔、例えば５時間で実行する。
（３）電源投入時、スタンバイ状態からの復帰時、スリープ状態からの復帰時のよう な所定のイべントが発生したときに実行する。
（４）ゲイン及びオフセットに影響を与える撮影回数又は画像読み取り回数で所定の回数（例えば５回）毎に実行する。
（５）以上の（１）〜（４）の各実行周期を組み合わせ、組み合わせの中で最も短い周期で実行する。
【００８０】また、図９、図１２の放射線画像読取装置の電源投入時におけるゲイン及びオフセットを所定時間経過後のゲイン及びオフセットとそれぞれ比較し、その差がそれぞれ所定値以下であるとき、電源投入時または所定時間経過後のゲイン及びオフセットを、電源切断後の例えば次の日の電源投入時におけるゲイン及びオフセットに設定してもよい。これにより、ゲイン・オフセット調整をその都度行う必要がなくなり、放射線画像読取装置を効率的に使用でき便利である。
【００８１】この場合、ゲインの差のみが所定値以下であるとき、ゲインをそのままの設定にし、次の日の電源投入時にオフセット調整のみを実行してもよい。また、ゲインの差のみについて所定値以下であるか否かを比較し、オフセット調整は電源投入のたびに必ず行うようにしてもよい。
【００８２】また、図１０により、上述の対数変換回路におけるゲイン及びオフセットのドリフト対策を説明する。図１０のドリフト対策回路は、図９の放射線画像読取装置における対数変換回路８に備えられ、対数変換回路８のゲイン及びオフセットの温度変動等に起因するドリフトを記録するドリフト記録部１７と、対数変換回路８におけるゲイン・ドリフト調整を制御する制御部１８とを備える。
【００８３】ドリフト記録部１７で記録した１日または所定時間におけるゲイン及びオフセット設定値の変動に基づいて制御部１８がゲイン調整及びオフセット調整を制御し、その実行間隔を適宜変更する。これにより、ドリフトが生じても、適切な時期にゲイン・オフセットを調整することができ、ドリフトの影響を効果的に排除することができる。また、制御部１８はドリフト記録部１７の記録に基づいて次の日の電源投入時以降のゲイン調整及びオフセット調整の実行間隔を調整することができる。
【００８４】以上のように本発明を実施の形態により説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で各種の変形が可能である。例えば、本発明の対数変換回路及びそのゲイン・オフセット調整方法は放射線画像読取装置のみならず、他の装置に適用してもよいことは勿論である。また、ゲイン・オフセット調整時における基準電流は３以上であってもよい。
【００８５】
【発明の効果】本発明によれば、ゲイン及びオフセットを精度よく調整することができ、また、適切な時期に再調整する対数変換回路のゲイン・オフセット調整方法を提供できる。また、ゲイン及びオフセットを高精度に調整可能な対数変換回路及び放射線画像の画質の再現性が良好な放射線画像読取装置を提供できる。
【出願人】 【識別番号】０００００１２７０
【氏名又は名称】コニカ株式会社
【出願日】 平成１３年３月２１日（２００１．３．２１）
【代理人】 【識別番号】１００１０７２７２
【弁理士】
【氏名又は名称】田村 敬二郎 （外１名）
【公開番号】 特開２００２−２７７５９４（Ｐ２００２−２７７５９４Ａ）
【公開日】 平成１４年９月２５日（２００２．９．２５）
【出願番号】 特願２００１−８１０１８（Ｐ２００１−８１０１８）