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【発明の名称】 ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置
【発明者】 【氏名】高 禎完

【氏名】鄭 鉉権
【要約】 【課題】ディスク記録及び再生装置を通じて追加余裕空間の拡張モードを運営する時、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新しているかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。

【解決手段】テスト基準情報を有するテストディスクを用いて記録及び再生装置でテストディスクの追加余裕空間を拡張し、テストディスクからテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。これにより、ディスク記録及び再生装置の追加余裕空間の拡張によるＤＭＡ生成または更新機能を容易に検証しうる。
【特許請求の範囲】
【請求項１】 欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を有するディスクを記録及び再生しうる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能を検証する方法において、テスト基準情報を有するテストディスクを用いて前記記録及び再生装置において前記テストディスクの追加余裕空間を拡張した後、前記テストディスクからテスト情報を生成する段階と、前記テスト基準情報により予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果を提供する段階と、を含むディスクの欠陥管理領域情報検証方法。
【請求項２】 前記テスト基準情報はミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
【請求項３】 前記テスト基準情報は、余裕空間フラグが、２次余裕空間がフル状態であることを示す値で設定されていることを特徴とする請求項２に記載の検証方法。
【請求項４】 前記テスト情報はミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項３に記載の検証方法。
【請求項５】 前記テスト情報は前記テストディスクの欠陥管理領域から直接読取った情報であることを特徴とする請求項３に記載の検証方法。
【請求項６】 前記比較段階は、前記テスト情報のＤＭＡの構造を検証する段階と、前記テスト情報のディスク規定構造（ＤＤＳ）を検証する段階と、前記テスト情報の１次欠陥リスト（ＰＤＬ）の構造を検証する段階と、前記テスト情報の２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の構造を検証する段階とを含むことを特徴とする請求項５に記載の検証方法。
【請求項７】 前記ＤＭＡ構造の検証段階は、前記テストディスクのリードイン領域とリードアウト領域とに各々２つずつ存在する合計４つのＤＭＡのうちエラーの存否をチェックする段階と、前記４つのＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と前記４ヵ所のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値とが“前の値”なのか、追加余裕空間の拡張前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかと、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが全て同一なのかをチェックする段階と、前記４つのＳＤＬ内のＳＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのか、前記追加余裕空間の拡張前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかと前記ＳＤＬ更新カウンタが全て同一なのかをチェックする段階と、前記４つのＤＭＡ内容が全て同一なのかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
【請求項８】 前記ＤＤＳの検証段階は、ＤＤＳの識別子が所定値であるかをチェックする段階と、ディスク生成または更新フラグのうち進行しているかどうかを示すビット値が"０ｂ" なのかということとディスク製造者の生成または更新を示すビット値及び使用者の生成または更新を示すビット値が "１ｂ" なのかをチェックする段階と、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのかと前記追加余裕空間の拡張前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかをチェックする段階と、グループの数が所定数なのかをチェックする段階と、領域数が所定数であるかをチェックする段階と、初期余裕空間の最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号が各々所定セクタ番号なのかをチェックする段階と、最初の論理セクタ番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックする段階と、各領域の開始論理セクタ番号がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されているかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
【請求項９】 前記ＰＤＬ構造検証段階は、ＰＤＬ識別子が所定値であるかをチェックする段階と、ＰＤＬ内の項目数が前記テスト基準情報のＰＤＬに登録された欠陥の数と一致しているかをチェックする段階と、前記ＰＤＬ項目の構成状態に存在する欠陥リストが前記テスト基準情報に設定されている欠陥リストと一致しているかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
【請求項１０】 前記ＳＤＬ構造検証段階は、ＳＤＬ識別子が所定値であるかをチェックする段階と、ＳＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのかと前記追加余裕空間の拡張前後の前記ＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかをチェックする段階と、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのかということと、前記追加余裕空間の拡張前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかをチェックする段階と、追加余裕空間の開始セクタ番号、論理セクタの総数が使用者の指定した２次余裕空間の大きさに合うように設定されているかをチェックする段階と、余裕空間フルフラグはＳＳＡがフルではない状態を示すかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
【請求項１１】 前記検証方法は空ディスクに前記テスト基準情報を記録して前記テストディスクを生成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
【請求項１２】 前記テスト基準情報を前記空ディスクが有している物理的な条件とは関係なく前記空ディスクに記録することを特徴とする請求項１１に記載の検証方法。
【請求項１３】 前記ＳＳＡの拡張は前記テストディスクのファイルシステム情報が前記テスト情報に含まれるようにテスト情報を生成することを含み、前記比較段階は前記テスト情報に含まれた前記ファイルシステム情報が正確に更新されたかを検証することを含む請求項１に記載の検証方法。
【請求項１４】 ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生しうる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能をテストする装置において、前記テストディスクを用いて前記記録及び再生装置において追加余裕空間拡張モードを行った後、前記テストディスクからテスト情報を生成する基準ディスク駆動装置と、前記テスト基準情報に基づいて予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に対する検証結果を提供する検証器を含むテスト装置。
【請求項１５】 前記テスト基準情報はミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項１４に記載のテスト装置。
【請求項１６】 前記テスト基準情報は余裕空間フラグが２次余裕空間がフル状態であることを示す値に設定されていることを特徴とする請求項１５に記載のテスト装置。
【請求項１７】 前記テスト情報はミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項１６に記載のテスト装置。
【請求項１８】 前記テスト情報は前記テストディスクの欠陥管理領域から抽出された情報であることを特徴とする請求項１６に記載のテスト装置。
【請求項１９】 前記検証器は、前記テスト情報のＤＭＡの構造を検証し、前記テスト情報のＤＤＳを検証し、前記テスト情報のＰＤＬの構造を検証し、前記テスト情報のＳＤＬの構造を検証するように構成されたことを特徴とする請求項１８に記載のテスト装置。
【請求項２０】 前記検証器は前記欠陥管理領域の構造を検証するために、前記テストディスクのリードイン領域とリードアウト領域に各々２つずつ存在する全４つのＤＭＡのうちエラーの存否をチェックし、前記４つのＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と前記４つのＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのか、前記追加余裕空間の拡張前後の前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかということと前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが全て同一なのかをチェックし、前記４つのＳＤＬ内のＳＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのか、前記追加余裕空間の拡張前後の前記ＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかと前記ＳＤＬ更新カウンタが全て同一なのかをチェックし、前記４つのＤＭＡ内容が全て同一なのかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項２１】 前記ＤＤＳを検証するために、前記検証器はＤＤＳの識別子が所定値なのかをチェックし、ディスク検証フラグのうち進行しているかを示すビット値が "０ｂ" なのかということとディスク製造者の検証を示すビット値及び使用者の検証を示すビット値が "１ｂ" なのかをチェックし、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのかと前記追加余裕空間の拡張前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかをチェックし、グループ数が所定値であるかをチェックし、領域数が所定値であるかをチェックし、初期余裕空間の最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号とが所定セクタ数であるかを各々チェックし、最初の論理セクタ番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックし、各領域の開始論理セクタ番号がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項１９に記載のテスト装置。
【請求項２２】 前記ＰＤＬの構造を検証するために、前記検証器はＰＤＬ識別子が所定値であるかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数が前記テスト基準情報のＰＤＬに登録された欠陥の数と一致しているかをチェックし、前記ＰＤＬ項目の構成状態に存在する欠陥リストが前記テスト基準情報に設定されている欠陥リストと一致しているかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項１９に記載のテスト装置。
【請求項２３】 前記ＳＤＬの構造を検証するために、前記検証器はＳＤＬ識別子が所定値であるかをチェックし、前記追加余裕空間の拡張前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタ値が“前の値”であるかと前記追加余裕空間の拡張前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が "１" なのかをチェックし、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が“前の値”なのかと前記追加余裕空間の拡張前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分カウンタの増分値が "１" なのかをチェックし、２次余裕空間の開始セクタ番号、論理セクタの総数が使用者の指定した２次余裕空間の大きさに合うように設定されているかをチェックし、余裕空間フルフラグは２次余裕空間がフルではない状態を示すかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項１９に記載のテスト装置。
【請求項２４】 前記基準ディスク駆動装置は前記追加余裕領域が拡張された前記テストディスクのファイルシステム情報が前記テスト情報に含まれるように前記テスト情報を生成するように構成され、前記検証器は前記テスト情報に含まれている前記ファイルシステム情報が正しく更新されたかを検証可能に構成されたことを特徴とする請求項１４に記載のテスト装置。
【請求項２５】 前記基準ディスク駆動装置は前記空ディスクに前記テスト基準情報を記録して前記テストディスクを生成する請求項１４に記載のテスト装置。
【請求項２６】 前記基準ディスク駆動装置は前記空ディスクが有している物理的な条件とは関係なく前記テスト基準情報を記録することを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
【請求項２７】 ＤＭＡ情報を有する光ディスクに情報を記録するか、または前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置において前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかを検証する方法において、ＳＳＡ拡張テストモードによってテスト基準を設定する段階と、前記ＳＳＡ拡張テストモードによって前記記録及び再生装置により生成されたり、更新される前記ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、前記追加余裕空間拡張テストモードにおいて前記テスト基準を用いて前記テスト情報を検証するためのテストを実行する段階とを含む検証方法。
【請求項２８】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項２７に記載の検証方法。
【請求項２９】 前記テスト情報はテストのために使われるディスクのＤＭＡ空間から直接読取ることを特徴とする請求項２７に記載の検証方法。
【請求項３０】 前記テスト情報生成段階はあらかじめ固定されたＤＭＡの内容を記録し、追加余裕空間を満たすのに十分なＳＤＬ欠陥を有するＤＭＡミラーファイルを選択することを含む請求項２７に記載の検証方法。
【請求項３１】 前記検証方法は、空ディスクに知っている物理的な欠陥を形成して第１テストディスクを得る段階と、前記第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ内容を記録し、前記第１テストディスクにおいて前記追加余裕空間がフルであることを示すミラーファイルを記録して第２テストディスクを得て、前記テスト情報を生成するのに前記第２テストディスクを使用する段階とをさらに含む請求項３０に記載の検証方法。
【請求項３２】 前記テスト実行段階は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のファイルシステムを有する所定のＤＭＡ構造に基づくかをチェックすることを含む請求項３１に記載の検証方法。
【請求項３３】 ＤＭＡ情報を有する光ディスクから情報を再生し、前記光ディスクに情報を記録する記録及び再生装置において前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかを検証する方法において、追加余裕空間拡張テストモードによって前記記録及び再生装置により生成または更新されるＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、前記ＤＭＡ情報を検証するためのテスト基準を用いて前記テスト情報を検証する段階とを含む検証方法。
【請求項３４】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項３３に記載の検証方法。
【請求項３５】 ＤＭＡ情報を有する記録及び再生可能な光ディスクに情報を記録し、前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置をテストするための装置において、追加余裕空間拡張に相応するＤＭＡミラーファイルを有するテストディスクに対して前記記録及び再生装置が追加余裕空間拡張を行った後、得られたテストディスクの生成または更新されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する改造されたドライブユニットと、前記テスト情報と前記追加余裕空間拡張に相応する所定のテスト情報とを比較してテスト結果を検証する検証器とを含むテスト装置。
【請求項３６】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。
【請求項３７】 前記変形されたドライブユニットは前記テストディスクのＤＭＡ空間から前記テスト情報を読取り、前記テスト情報を前記検証器へ提供することを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。
【請求項３８】 前記テストディスクは空ディスクに知っている物理的な欠陥が形成され、前記追加余裕空間を満たすために十分なＳＤＬ欠陥を有するミラーファイルが記録された第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ内容を記録した第２テストディスクであることを特徴とする請求項３７に記載のテスト装置。
【請求項３９】 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に記録及び処理しているかを検証する方法において、前記記録及び再生装置を用いて所定の欠陥情報を含んでいるテストディスクに対して追加余裕空間拡張を行ってテスト情報を生成する段階と、前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定する段階とを含む検証方法。
【請求項４０】 前記方法は、空ディスクの所定位置に知っている物理的な欠陥を形成して第１テストディスクを生産する段階と、前記第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ内容を記録して前記第１テストディスクに追加余裕空間を満たすために十分なＳＤＬ欠陥を有するミラーファイルを記録する第２テストディスクを得る段階と、前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクに対して追加余裕空間拡張を行ってＤＭＡ情報を有する第２テストディスクを生成する段階と、基準ディスク駆動装置を用いて前記ＤＭＡ情報を有する第２テストディスクから前記ＤＭＡ情報のみを読取ってテストＤＭＡミラーファイルをテスト情報として発生する段階とを含み、前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項３９に記載の検証方法。
【請求項４１】 前記比較段階は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造に従うかをチェックし、Pリストを保つかをチェックし、欠陥リストが前記第１テストディスクの知っている欠陥と同一なのかをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを含む請求項４０に記載の検証方法。
【請求項４２】記録及び再生装置が正確に欠陥情報を翻訳して処理しているかを検証する方法において、知っている物理的な欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを有するテストディスクを準備する段階と、前記記録及び再生装置が前記テストディスクに対して追加余裕空間拡張を行うことに基づいてテスト情報を生成する段階と、前記テスト情報に対して検証テストを行う段階とを含む検証方法。
【請求項４３】 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に読取って処理しているかを検証する方法において、前記記録及び再生装置を用いて知っている物理的な欠陥とテスト基準ＤＭＡミラーファイルを有しているテストディスクに対して追加余裕空間拡張を行って前記ＤＭＡ情報を生成する段階と、生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定する段階とを含む検証方法。
【請求項４４】 前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項４３に記載の検証方法。
【請求項４５】 記録及び再生装置により正確に生成されたＤＭＡ情報において、前記記録及び再生装置を用いて知っている物理的な欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して追加余裕空間拡張を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処理と、前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定する処理を使用するＤＭＡ情報。
【請求項４６】 前記比較は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項４５に記載のＤＭＡ情報。
【請求項４７】 記録及び再生装置において、前記記録及び再生装置を用いて知っている物理的の欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して追加余裕空間拡張を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、前記生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処理と、前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定する処理によって検証された装置。
【請求項４８】 前記比較は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬをチェックすることを含む請求項４７に記載の記録及び再生装置。
【請求項４９】 記録及び再生装置において、前記記録及び再生装置を用いて知っている物理的な欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して追加余裕空間拡張を行って前記ＤＭＡ情報を生成する処理と、前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定する処理によって検証された記録及び再生装置。
【請求項５０】 前記比較は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項４９に記載の記録及び再生装置。
【請求項５１】 ＤＭＡ情報を正確に生成しているかをチェックするためにＤＭＡ情報を有する記録及び再生可能な光ディスクに情報を記録したり、前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置をテストするための装置において、前記記録及び再生装置を用いて知っている物理的な欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して追加余裕空間拡張を行う再生装置により生成されたテストディスクのＤＭＡ情報に基づいてテスト情報を生成してＤＭＡ情報を生成する改造されたドライバーと、前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定する検証器を含む装置。
【請求項５２】 前記改造されたドライバーはＤＭＡ情報を有する前記テストディスクからＤＭＡ情報のみを読取り、ＤＭＡミラーファイルを前記テスト情報として生成し、前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項５１に記載の装置。
【請求項５３】 前記変形されたドライバーは知っている物理的な欠陥を有している第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡの内容を記録し、追加余裕空間を満たすのに十分なＳＤＬ欠陥を有するテスト基準ＤＭＡミラーファイルを記録して第２テストディスクを生成し、前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクに対して追加余裕空間の拡張を行って前記ＤＭＡ情報を有する第２テストディスクを生成し、前記変形されたドライバーは前記ＤＭＡ情報を有する前記第２テストディスクからＤＭＡ情報のみを読取って前記テスト情報としてテストＤＭＡミラーファイルを生成し、前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項５１に記載の装置。
【請求項５４】 前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造に従っているかをチェックし、Pリストを保つかをチェックし、欠陥リストが前記第１テストディスクの知っている欠陥と同一かをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックする請求項５３に記載の装置。
【請求項５５】 前記検証器は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックしつつ前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較する請求項５３に記載の装置。
【請求項５６】 前記装置は基準テスト情報を前記検証器へ提供して前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較させるＤＭＡミラーファイル提供器をさらに含む請求項３６に記載の装置。
【請求項５７】 前記記録及び再生装置は前記基準テスト情報を前記検証器へ提供して前記ＤＭＡミラーファイルと前記基準ＤＭＡミラーファイルとを比較させるＤＭＡミラーファイル提供器をさらに含む請求項４７に記載の記録及び再生装置。
【請求項５８】 柔軟な記録及び再生装置を製造する方法において、ＤＭＡ情報を更新及び生成する検定されていない記録及び再生装置を製造する段階と、前記検定されていない記録及び再生装置が標準に柔軟なのかを検証する段階とを含み、前記検証段階は、前記記録及び再生装置を用いて所定の欠陥情報及びテスト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに対して追加余裕空間の拡張を行ってテスト情報を生成する段階と、前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定する段階とを含み、前記検証は前記検定されていない記録及び再生装置が標準に柔軟なのかを示すことを特徴とする方法。
【請求項５９】 前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項５８に記載の方法。
【請求項６０】 光ディスクに情報を記録及び再生するディスク記録及び再生装置において、光を放射する光源と、情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォーカスするフォーカス素子と、前記光源を制御する制御器とを含み、前記制御器は、前記記録及び再生装置を用いて所定の欠陥情報及びテスト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに対して追加余裕空間の拡張を行ってテスト情報を生成し、前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を決定することにより、前記ＤＭＡ情報を更新及び生成するために検証されることを特徴とするディスク記録及び再生装置。
【請求項６１】 前記比較は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項６０に記載のディスク記録及び再生装置。
【請求項６２】 光ディスクに情報を記録及び再生するディスク記録及び再生装置において、光を放射する光源と、情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォーカスするフォーカス素子と、前記光源を制御し、前記光ディスクに対して追加余裕空間の拡張を行った後、ＤＭＡ情報を更新及び生成して前記欠陥管理情報を標準に柔軟にする制御器とを含むディスク記録及び再生装置。
【請求項６３】 前記制御器は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項６２に記載のディスク記録及び再生装置。
【請求項６４】 前記ＤＤＳの検証は残りの予備空間が所定値を有しているかをチェックすることをさらに含む請求項８に記載の方法。
【請求項６５】 前記ＰＤＬ構造の検証は未使用領域が所定値であるかをチェックすることを含む請求項９に記載の方法。
【請求項６６】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは初期余裕空間がフル状態であることを示す第１余裕空間フルフラグと２次余裕空間フルフラグがフル状態であることを示す第２余裕空間フルフラグとを有することを特徴とする請求項４３に記載の方法。
【請求項６７】 前記テスト基準情報が、初期余裕空間がフル状態であることを示す第１余裕空間フルフラグと２次余裕空間フルフラグがフル状態であることを示す第２余裕空間フルフラグとを有することを特徴とする請求項５１に記載の記録及び再生装置。
【請求項６８】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは初期余裕空間がフル状態であることを示す第１余裕空間フルフラグと２次余裕空間フルフラグがフル状態であることを示す第２余裕空間フルフラグとを有することを特徴とする請求項４７に記載の方法。
【請求項６９】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは初期余裕空間がフル状態であることを示す第１余裕空間フルフラグと２次余裕空間フルフラグがフル状態であることを示す第２余裕空間フルフラグとを有することを特徴とする請求項５１に記載の記録及び再生装置。
【請求項７０】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは初期余裕空間がフル状態であることを示す第１余裕空間フルフラグと２次余裕空間フルフラグがフル状態であることを示す第２余裕空間フルフラグとを有することを特徴とする請求項５８に記載の記録及び再生装置。
【請求項７１】 前記テスト基準は最大利用可能量の２次余裕空間に情報を有し、前記実行段階は前記最大利用可能量の２次余裕空間の情報を用いて現在２次余裕空間及びさらに割当て可能な余裕空間が正確に決定されたか否かをチェックすることを含む請求項２７に記載の方法。
【請求項７２】 前記実行段階は前記ＤＭＡのシステムファイルが前記追加余裕空間の拡張に基づいて正確に更新されたか否かをチェックすることを含む請求項７１に記載の方法。
【請求項７３】 前記ＤＭＡミラーファイルは最大利用可能な量の２次余裕空間に情報を有し、前記検証器は前記最大利用可能な量の２次余裕空間の情報を用いて現在２次余裕空間及びさらに割当て可能な余裕空間が正確に決定されたか否かをチェックすることを含む請求項３５に記載の装置。
【請求項７４】 前記検証器は前記ＤＭＡのファイルシステム情報が前記追加余裕空間の拡張に基づいて正確に更新されるか否かをチェックすることを特徴とする請求項７３に記載の装置。
【請求項７５】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最大利用可能量の２次余裕空間に情報を有し、前記比較は前記最大利用可能量の２次余裕空間の情報を用いて現在２次余裕空間及びさらに割当て可能な余裕空間が正確に決定されたか否かをチェックすることを含む請求項４５に記載のＤＭＡ情報。
【請求項７６】 前記比較は前記ＤＭＡのファイルシステムが前記追加余裕空間の拡張に基づいて正確に更新されたか否かをチェックすることを含む請求項７５に記載のＤＭＡ情報。
【請求項７７】 前記ＤＭＡミラーファイルは最大利用可能量の２次余裕空間に情報を有し、前記比較は前記最大利用可能量の２次余裕空間の情報を用いて現在２次余裕空間及びさらに割当て可能な余裕空間が正確に決定されたか否かをチェックすることを含む請求項５８に記載の方法。
【請求項７８】 前記比較は前記ＤＭＡのファイルシステムが追加余裕空間の拡張に基づいて正確に更新されているかをチェックすることを含む請求項７５に記載の方法。
【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は記録及び再生可能なディスクを記録及び再生しうる装置に係り、特にディスクを記録及び再生しうる装置がディスクの欠陥管理領域（Defect Management Area；ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証する方法及びこれを行うためのテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】前述した記録及び再生可能なディスクはレーザーのように光の性質を用いて情報を記録／再生する光ディスクであって、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Digital VersatileDisc Random Access Memory；ＤＶＤ−ＲＡＭ）を例として挙げられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは再記録可能な（rewritable）ディスクである。 "DVD Specifications for rewritable disc Part１ Physical Specifications version２.０."規格によれば、前述したＤＶＤ−ＲＡＭはディスク上の欠陥（defect）を管理するためにディスクの一面当り４つのＤＭＡ（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）が存在することになる。
【０００３】この４つのＤＭＡのうちＤＭＡ１とＤＭＡ２は、図１に示されたように、ディスクの内径（inner diameter）に隣接したリードイン（Lead-in）領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディスクの外径（outer diameter）に隣接したリードアウト（Lead-out）領域に位置する。そして、各ＤＭＡには予備セクタが後続する。
【０００４】このようなＤＭＡには各々ディスク規定構造（Disc Definition Structure；ＤＤＳ）と１次欠陥リスト（Primary Defect List；ＰＤＬ）及び２次欠陥リスト（Secondary Defect List；ＳＤＬ）が貯蔵される。前述したＤＤＳにはディスク検定フラグ（disc certification flag）、ＤＤＳ／ＰＬＤアップデートカウンタ及び各領域別開始論理セクタ番号などディスクのフォーマットされた構造に関する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスクの初期化時に発見されたディスク上のあらゆる欠陥セクタに関する情報が含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中発生した欠陥ブロック（１ＥＣＣ（Error-Correction Code）ブロック）の最初のセクタのセクタ番号と欠陥ブロックと置換（replacement）される余裕ブロック（spare blocks）の最初のセクタのセクタ番号に対する情報と余裕空間（spare area）に関する情報が含まれる。
【０００５】このようにＤＭＡに貯蔵されている情報は直ちに読取って使用可能なものもあるが、ディスク上に存在する欠陥の位置及び数によって変更される情報も含まれており、ＤＭＡに登録されている欠陥情報に基づいた演算を通じて得られる情報も含まれている。欠陥情報に基づいた演算を通じて得られる情報としては各地域の開始セクタ番号または論理セクタ番号０の位置情報などがある。
【０００６】このようなＤＭＡがディスクの一面当り４つ存在するのは、ＤＭＡ情報のエラーで誤った欠陥管理がなされることを防止するためである。そして、ＤＭＡ情報はデータの物理的なセクタと密接した関係を有するので、移動可能な光ディスクのような記録媒体はＤＭＡの情報が誤って記録及び解読される場合、ディスク記録及び再生装置間の互換性の問題が発生することになる。
【０００７】これはディスク記録及び再生装置（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層をファイルシステム階層、ホストコンピューターと記録再生可能なディスク記録及び再生装置を連結するホストインターフェース階層、物理的な信号を記録再生する物理的なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動装置）階層及び記録媒体階層などに区分する時、物理的なディスク記録及び再生装置階層の以下でＤＭＡ情報に対する記録及び解読がなされるからである。
【０００８】すなわち、実際のファイルシステムでは論理的なセクタ番号のみを用いて記録または再生を希望する使用者情報をディスク記録及び再生装置に渡し、ディスク記録及び再生装置は論理セクタ番号を物理的なセクタ番号に変えて使用者情報に関する記録または再生処理を行い、この時、ＤＭＡ情報を使用することになる。したがって、１つのディスク記録及び再生装置からＤＭＡ情報を誤読したり、誤記録した場合に、他のディスク記録及び再生装置においてデータを正しく読出／書込できない問題が発生する。
【０００９】したがって、ディスク記録及び再生装置においてディスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に解読し、ディスク上にＤＭＡ情報を正確に生成または更新するかを確認しうる方法が必要となった。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記問題点を解決するために案出したものであって、ディスク記録及び再生装置を通じて追加余裕空間（Supplementary Spare Area）の拡張モードを運営する時、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するかどうかを検証するための検証方法を提供することにその目的がある。
【００１１】本発明の他の目的は、ディスク記録及び再生装置を通じて追加余裕空間の拡張モードを運営する時、空ディスクとテスト基準となるＤＭＡミラーファイルを用いて生成したディスクのＤＭＡ情報を正常に生成または更新しているかを検証するための検証方法を提供することにある。
【００１２】本発明のさらに他の目的は、ディスク記録及び再生装置を通じて追加余裕空間の拡張モードを運営する時、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新しているかを確認するためのテスト装置を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するために本発明に係る方法は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生しうる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能を検証する方法において、テスト基準情報を有するテストディスクを用いて前記記録及び再生装置において前記テストディスクの追加余裕空間を拡張した後、前記テストディスクからテスト情報を生成する段階と、前記テスト基準情報により予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含むことが望ましい。
【００１４】前記目的を達成するために本発明に係る装置は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生しうる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能をテストする装置において、前記テストディスクを用いて前記記録及び再生装置において追加余裕空間拡張モードを行った後、前記テストディスクからテスト情報を生成する基準ディスク駆動装置と、前記テスト基準情報に基づいて予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に対する検証結果を提供する検証器を含むことが望ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づいて本発明の望ましい実施例を詳しく説明する。同一な構成要素は同一な部材番号を付する。
【００１６】図２は本発明に係るディスク駆動装置のテスト装置に関する機能ブロック図であって、Ｃ−１ディスク２０１、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３、基準ディスク駆動装置２０５、Ｃ−３ディスク２０７、テスト対象ディスク駆動装置２０９、Ｃ−３'ディスク２１１、Ｃ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３及び検証器２１５で構成される。
【００１７】Ｃ−１ディスク２０１はＤＶＤ−ＲＡＭのように再記録可能なディスクに情報を記録及び再生しうるディスク駆動装置をテストするために人為的に物理的な欠陥が存在するように製作したテストディスクであって、何らの情報が記録されていない空ディスクである。Ｃ−１ディスク２０１に記録された情報がなく、故意的な欠陥のみ存在する限り、Ｃ−１ディスク２０１は空いたものと見なされる。Ｃ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥は所望のディスク駆動装置をテストする時、既知の情報として用いられる。また、Ｃ−１ディスク２０１は再記録が可能なディスクに関する "DVD specification for Rewritable disc version２.０." 規格書に規定されている４.７ＧＢの容量を有する相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満たすように構成されたディスクである。
【００１８】ＤＭＡミラーファイル提供部２０３は図１に示されたようにディスク規定構造（ＤＤＳ）、１次欠陥リスト（ＰＤＬ）及び２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に関する情報を含んで追加余裕空間（Supplementary Spare Area；ＳＳＡ）がフルの条件を満たすテスト基準情報のＤＭＡミラーファイルを提供する。
【００１９】特に、提供されるＤＭＡミラーファイルは前述した追加余裕空間がフルの条件を満たすために、ＰＤＬに存在する初期余裕空間（Primary Spare Area；ＰＳＡ）に関する余裕領域フルフラグをフル状態を意味する‘１ｂ’に設定し、ＳＤＬに存在するＳＳＡに対する余裕空間フルフラグもフル状態を意味する‘１ｂ’に設定するように構成される。
【００２０】ＰＳＡはディスクの初期化または再初期化時、ディスクのユーザーデータ領域の最前方に配置される初期欠陥のための余裕空間として、主にスリップ置換（Slipping replacement）に使われ、残りの領域は線形置換（Linear replacement）に使われる。ＳＳＡは初期余裕空間が足りない場合、さらに初期化、再初期化時またはディスクを使用中に割当てられ、大きさを拡張させうる。
【００２１】また、ＰＳＡとＳＳＡには論理的なセクタ番号が割当てられない。論理的なセクタ番号（ＬＳＮ）と実際の物理的なセクタ番号との関係はディスク上の欠陥によって変わる。すなわち、欠陥セクタが発生する度にＰＳＡの使用可能な領域のエンド（end）から領域のトップ（top）に向けて１セクタずつ増加されるので、論理的なセクタ番号が変更される。このようなスリップ置換により置換えられた欠陥セクタの位置はＰＤＬに記録される。
【００２２】ＳＳＡはディスクの使用中発生される欠陥（２次欠陥）に対してエラーが発生した地域のエラー訂正コード（ＥＣＣ）ブロック単位で余裕空間にある正常なブロックに置換える線形置換時に用いられる領域である。このような線形置換時、ディスク上のＬＳＮと実際のセクタ番号との関係は、実際のセクタ番号にＬＳＮが割当てられたセクタで欠陥が発生すれば、すなわち、前述した２次欠陥が発生すれば、前述したＬＳＮを有するセクタはＳＳＡの使用可能な領域の後方から前方に増加しつつ割当てられる。言い換えれば、同一なＬＳＮを有するセクタの物理余裕空間にあるセクタに線形置換されることである。このような線形置換により置換えられた欠陥ブロックの位置はＤＭＡのＳＤＬに記録される。
【００２３】テスト基準ＤＭＡミラーファイルは前述した方法によってＰＳＡとＳＳＡとが満たされたかどうかに関係なく余裕空間フルフラグがフル状態を示す値に設定されるように構成される。
【００２４】基準ディスク駆動装置２０５はディスクに情報を記録及び再生しうる記録及び再生装置をテストするために変形されたテスト記録及び再生装置である。この基準ディスク駆動装置２０５はＣ−１ディスク２０１が設置され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３からテスト基準ＤＭＡミラーファイルが提供されると、テスト基準ＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディスク２０１に記録したＣ−３ディスク２０７を生成するように構成される。この際、Ｃ−１ディスク２０１に記録されるテスト基準ＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥と関係なく記録される。したがって、Ｃ−３ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥が存在しつつこの物理的な欠陥とは関係なく前述したテストのための基準ＤＭＡミラーファイルが記録されたディスクとなる。このＣ−３ディスク２０７に記録されたテスト基準ＤＭＡ情報は使用者が知っている固定された情報（pre-fixed）である。そして、Ｃ−３ディスク２０７は再記録が可能なディスクに関する "DVD specification for Rewritable disc version ２.０." 規格書に規定されている４.７ＧＢの容量を有する相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満たすように構成されたディスクである。
【００２５】また、基準ディスク駆動装置２０５は後述するＳＳＡが拡張されたＣ−３′ディスク２１１が設けられると、設けられたＣ−３′ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を直接読取り、読取られたＤＭＡ情報に基づいたＣ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３をテスト情報として出力するように構成される。この際、テスト情報はＣ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３に存在する一部の情報で有り得る。Ｃ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３の何れの部分でも使用しうる。
【００２６】テスト対象ディスク駆動装置２０９は再記録が可能なディスクに情報を記録及び再生可能に構成された記録及び再生装置である。このテスト対象ディスク駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−３ディスク２０７が設けられると、ＳＳＡ拡張モードを行う。これにより、テスト対象ディスク駆動装置２０９はＣ−３ディスク２０７のＳＳＡを拡張したＣ−３′ディスク２１１が生成されるようにＣ−３ディスク２０７のＤＭＡを生成または更新することになる。Ｃ−３′ディスク２１１はＣ−１ディスク２０１と同様に４.７ＧＢの容量を有する相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満たすように構成されたディスクである。
【００２７】テスト対象ディスク駆動装置２０９で生成されたＣ−３′ディスク２１１は基準ディスク駆動装置２０５に設けられて前述したようにテスト情報を出力することになる。基準ディスク駆動装置２０５から出力されたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式は基準ディスク駆動装置２０５が直接テスト情報を提供するように具現しうる。
【００２８】検証器２１５はテスト対象ディスク駆動装置２０９がＣ−３ディスク２０７に対するＳＳＡ拡張を正常に行った場合に変更されるものと予測されるＤＭＡの基準情報（または期待値）を用いてＣ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。基準情報はＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準ＤＭＡミラーファイルとあらかじめ提供されたＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥情報を考慮して検証器２１５で設定したり、図３（ａ）ないし図３（ｄ）に示されたようなＤＭＡ情報テーブルを予め具備して用いるように具現しうる。
【００２９】図３（ａ）はＤＭＡ検証のために検証器２１５に備えられるチェックリストであって、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４の内容項目などが存在する。
【００３０】ＤＭＡエラー状態項目はリードイン領域とリードアウト領域に各々２ヵ所ずつ存在するＤＭＡにエラーが存在するかをチェックするものであって、４ケヵ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂正できないエラーがあってはならなく、もし何れか１つのＤＭＡに訂正できないエラーが発見されると検証結果はテスト対象ディスク駆動装置２０９がＣ−３ディスク２０７のＤＭＡ生成または更新に失敗したことを知らせるように出力される。出力方式は成否を使用者が認識可能にディスプレーする形に具現しうる。このようにＤＭＡ生成または更新が失敗した場合に、使用者は新たなテストディスクを用いて再び最初からテストを行わなければならない。
【００３１】ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬ更新カウンタ項目は検定しつつ再初期化時、４ヵ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と４ヵ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値を示す "Ｍ＋ｋ" 値が "Ｍ" が“前の値（previous value）”であり、 "ｋ" が "１" のものによる値を有するかをチェックする。これはＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値がＤＤＳ／ＰＤＬが更新されたり、再記入される度に１ずつ増加するからである。以前値はテスト対象ディスク駆動装置２０９がＳＳＡを拡張する前のＤＤＳ.ＰＤＬ更新カウンタの値である。そして、ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に各々存在する８つのＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が全て同一なのかチェックする。
【００３２】また、４ヵ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンタ値を示す "Ｎ＋ｋ" 値が "Ｎ" が“前の値”で、"ｋ" が "１" のものによる値を有するかをチェックする。ＳＤＬ更新カウンタ値もＳＤＬが更新されたり、再記入される度に１ずつ増加するからである。前の値はテスト対象ディスク駆動装置２０９がＳＳＡの拡張を行う前のＳＤＬ更新カウンタの値である。そして、４ヵ所のＳＤＬ更新カウンタ値が同一かをチェックする。
【００３３】また、４ヵ所（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡ内容が全て同一なのかをチェックする。
【００３４】図３（ｂ）はＤＤＳ構造を検証するために検証器２１５に備えられるチェックリストであって、ＤＤＳ識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置などが存在する。
【００３５】すなわち、ＤＤＳ識別子が "０A０Ah" なのかをチェックし、１バイトのディスク生成または更新フラグのうち進行中（In-progress）であるかを示すビット位置ｂ７の値が "０b" なのかをチェックする。この際、ビット位置ｂ７の値が"０b" ならばフォーマットが完了されることを示し、"１b" ならばフォーマットが進行中であることを示すので、もし "１b" ならば検証器２１５はフォーマットが失敗したと認識する。また、ディスク生成または更新フラグのうち予備ビット位置ｂ６〜ｂ２が全て "０ｂ" なのかをチェックし、使用者生成または更新フラグを示すビット位置ｂ１の値が "１ｂ" なのかをチェックし、ディスク製造者の生成または更新フラグを示すビット位置ｂ０の値が "１ｂ" なのかをチェックする。
【００３６】ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタを確認するためにＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタを示すＭの値が“前の値”なのかとテスト前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタMの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分を示すkの値が "１" なのかをチェックし、グループの数が１つを示す "０００１h" なのかと、地域数が３５なのかを示す "００２３h" なのかをチェックする。
【００３７】また、初期余裕空間の最初のセクタ番号が "０３１０００h" なのかということと最後のセクタのセクタ番号が "０３４１ＦＦｈ" なのかをチェックし、最初の論理セクタ番号（ＬＳＮ０）の位置はＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたかをチェックする。そして、各地域の開始論理セクタ番号、すなわち、二番目の領域（Zone１）から３５番目の領域（Zone３４）の各開始論理セクタ番号がＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたかをチェックする。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−１ディスク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準ＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を全て考慮したものである。また、ＤＤＳ構造の残り予備空間（バイト位置３９６ to ２０４７）が全て "００h" なのかを確認する。
【００３８】ＰＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図３（ｃ）に示されたようにＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域などである。
【００３９】すなわち、ＰＤＬ識別子が "０００１h" なのかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されたテスト基準ＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに含まれた欠陥数を示し、各ＰＤＬ項目の構成状態は項目タイプと欠陥セクタ番号をチェックする。ここで、ＰＤＬ項目タイプはＣ−３ディスク２０７に存在する既知の P-list を示す "００ｂ" と使用者生成または更新時発生した欠陥セクタの G１_list を示す "１０ｂ" 及びＳＤＬ変換により発生される G２_list を示す "１１b" などがテスト基準ＤＭＡミラーファイルに存在するものと同一に存在するかをチェックし、ＰＤＬの欠陥セクタ番号はセクタの番号順に記入されたかをチェックする。そして、使われないＰＤＬ領域は "ＦＦｈ" なのかをチェックする。
【００４０】ＳＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図３（ｄ）に示されたように、ＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更新カウンタ、２次余裕空間の開始セクタ番号、論理セクタの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用空間、余裕空間などである。
【００４１】すなわち、ＳＤＬ識別子が "０００２h" なのかをチェックし、対応するＳＤＬ更新カウンタ項目を検証するためにＳＤＬ更新カウンタを示すN値が“前の値”なのかと、テスト前後ＳＤＬ更新カウンタNの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値を示すｋの値が "１" なのかをチェックする。対応するＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ項目を検証するためにＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタを示すＭ値が“前の値”なのかと、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値を示すｋ値が "１" なのかをチェックする。
【００４２】また、余裕空間フルフラグの２次余裕空間がフルではない状態を示すかをチェックする。これはテスト対象ディスク駆動装置２０９からＳＳＡを拡張することによってＳＳＡフルフラグがフルではない状態を示す値と設定されるからである。
【００４３】また、ＳＳＡ拡張処理のためにテスト基準ＤＭＡミラーファイルにさらに拡張可能な量の情報が含まれた場合にテスト対象ディスク駆動装置２０９は設定された量だけＣ−３ディスク２０７のＳＳＡを図４に示されたように拡張すればよいので、ＳＳＡの開始セクタ番号と論理セクタの総数をチェックしてこのような拡張が正常に行われたかチェックする。
【００４４】そして、テスト基準ＤＭＡミラーファイルに最大設定が可能なＳＳＡに関する情報が載せている場合に、テスト対象ディスク駆動装置２０９はこれを用いて現在設定されているＳＳＡを演算してさらに設定可能な領域を計算して拡張処理を行い、それに関する情報をＤＤＳに記録するため、このような拡張が正常になされたかをチェックする。
【００４５】一方、余裕空間には論理的なセクタ番号が付されず、余裕空間はファイルシステム空間に含まれていないためにＳＳＡを拡張する場合にはファイルシステムの情報も共に変わることになる。これは通常の場合ファイルシステム情報にはファイルシステム空間の大きさなどが記録されているだけでなく、ファイルシステム情報自体もボリューム空間の最初と最後の部分に記録される場合が多くて実際のファイルシステムが図４に示されたように記録される位置が変更されうるからである。したがって、ＳＳＡを正しく拡張したかを検証する場合にはファイルシステム情報が正しく更新されたかを判断する過程を経ることが望ましい。
【００４６】ＳＤＬの総使用空間（area）を知っているために、ＳＤＬの項目数をチェックすれば、ＳＤＬの未使用空間（un-used area）の大きさを判断しうる。したがって、Ｃ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３の未使用空間の大きさがＳＤＬの項目数に基づいたＳＤＬの未使用空間の大きさと同一かをチェックし、未使用空間は "ＦＦｈ" に設定されているかをチェックする。また、あらゆる予備空間の期待値は "００h" なのかをチェックする。
【００４７】このように検証器２１５はＣ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３に存在する情報が設定された基準情報に基づくかをチェックしてテスト対象ディスク駆動装置２０９がＣ−３ディスク２０７に記録されているＤＭＡ解読によるＳＳＡ拡張処理後、ＤＭＡを正常に生成または更新したかを検証することになる。検証結果は使用者が認識できる形にディスプレーされるように具現しうる。このために本発明に係る装置は別のディスプレー手段をさらに具備するように具現しうる。これにより、使用者はテスト対象ディスク駆動装置２０９がＳＳＡ拡張モードを行う時、ディスクのＤＭＡを正常に解読／生成または更新するかを把握することになる。
【００４８】図５は本発明に係る検証方法に関する動作フローチャートであって、段階５０１で前述した図２のような条件を揃えたＣ−１ディスク２０１に前述した図２のような条件を有するテスト基準ＤＭＡミラーファイルを記録してＣ−３ディスク２０７を生成する。
【００４９】その後、段階５０２でテスト対象ディスク駆動装置２０９にＣ−３ディスク２０７を設け、段階５０３でテスト対象ディスク駆動装置２０９が任意のＳＳＡ拡張モードを行うようにする。そして、段階５０４においてＳＳＡが拡張されたＣ−３′ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を読取り、該読取られたＤＭＡ情報に基づいてＣ−３'ディスクＤＭＡミラーをテスト情報として生成する。段階５０５でＣ−３′ディスクＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。検証は前述した図２の検証器２１５で行われたものと同一に予測された基準情報（または期待値）を用いて行われる。検証が完了されると、段階５０６で検証結果を出力して使用者がテスト対象ディスク駆動装置２０９に対する性能を評価できる。
【００５０】図６は光を放射する光源２２、ディスクD上に光源からの光をフォーカスするフォーカス素子２４及び光源２２を制御する制御器２６を有するテスト対象ディスク駆動装置１１０を示す。前述した検証処理は制御器２６の適した動作を検証する。
【００５１】
【発明の効果】前述した本発明は、何らの情報の記録されていない空ディスク（Ｃ−１ディスク）とＳＳＡ拡張テストのための基準ＤＭＡミラーファイルを用いて生成したテストディスク（Ｃ−３ディスク）に対してテスト対象ディスク駆動装置が追加余裕空間拡張モードを行うことによって、追加余裕空間拡張モードでテスト対象ディスク駆動装置がＤＭＡ解読／生成または更新を正常に行われているかを使用者が容易に確認し、使用者がテストディスクを直接製作できて製作社が別にテストディスクを製作及び提供することによって発生する製作社と使用者の経済的な損失を防止しうる。使用者は基準ディスク駆動装置、ＤＭＡミラーファイル提供部及びＣ−１ディスクを用いてＣ−３ディスクを生産しうる。
【００５２】本発明は前述した実施例に限定されず、本発明の思想内で当業者による変形が可能なのはもちろんである。したがって、本発明において権利の請求範囲は詳細な説明の範囲内で決まるのではなく、特許請求の範囲により規定されるものである。
【出願人】 【識別番号】３９００１９８３９
【氏名又は名称】三星電子株式会社
【出願日】 平成１３年４月９日（２００１．４．９）
【代理人】 【識別番号】１０００６４９０８
【弁理士】
【氏名又は名称】志賀 正武 （外１名）
【公開番号】 特開２００２−５６６３２（Ｐ２００２−５６６３２Ａ）
【公開日】 平成１４年２月２２日（２００２．２．２２）
【出願番号】 特願２００１−１１０５８１（Ｐ２００１−１１０５８１）