磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置並びに電磁波源探索方法及び装置並びに記憶媒体

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【発明の名称】	磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置並びに電磁波源探索方法及び装置並びに記憶媒体
【発明者】	【氏名】平井宏治
【要約】	【課題】不要電磁波の放射源を推定することができる磁界分布測定装置を提供する。【解決手段】電磁波源の磁界を測定する磁界センサ１０２と、磁界センサ１０２を被測定物１０６の近傍で駆動する駆動部１０１と、駆動部１０１を制御する制御部１１０と、磁界センサ１０２の測定値を演算処理する演算処理部１０８と、測定結果を表示する表示部１０９とを有する。

【特許請求の範囲】
【請求項１】電磁波源の磁界を測定する磁界センサであって、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする磁界センサ。
【請求項２】それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項３】前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする請求項１または２記載の磁界センサ。
【請求項４】前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする請求項３記載の磁界センサ。
【請求項５】前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項６】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項７】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項８】前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする請求項１記載の磁界センサ。
【請求項９】電磁波源の磁界分布を測定する磁界分布測定方法であって、電磁波源の磁界を測定する磁界センサを前記電磁波源近傍で駆動する駆動工程と、前記駆動工程を制御する制御工程と、前記磁界センサの測定値を演算処理する演算工程と、測定結果を表示する表示工程とを有することを特徴とする磁界分布測定方法。
【請求項１０】前記磁界センサは、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定方法。
【請求項１１】前記磁界センサは、それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする請求項１０記載の磁界分布測定方法。
【請求項１２】前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする請求項１０または１１記載の磁界分布測定方法。
【請求項１３】前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする請求項１２記載の磁界分布測定方法。
【請求項１４】前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定方法。
【請求項１５】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定方法。
【請求項１６】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定方法。
【請求項１７】前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする請求項９記載の磁界分布測定方法。
【請求項１８】電磁波源の磁界分布を測定する磁界分布測定装置であって、電磁波源の磁界を測定する磁界測定手段と、前記磁界測定手段を前記電磁波源近傍で駆動する駆動手段と、前記駆動手段を制御する制御手段と、前記磁界測定手段の測定値を演算処理する演算手段と、測定結果を表示する表示手段とを有することを特徴とする磁界分布測定装置。
【請求項１９】前記磁界測定手段は、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測定装置。
【請求項２０】前記それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする請求項１９記載の磁界分布測定装置。
【請求項２１】前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする請求項１９または２０記載の磁界分布測定装置。
【請求項２２】前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする請求項２１記載の磁界分布測定装置。
【請求項２３】前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測定装置。
【請求項２４】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測定装置。
【請求項２５】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測定装置。
【請求項２６】前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする請求項１８記載の磁界分布測定装置。
【請求項２７】電磁波源の動作状態を切り分けて制御する制御工程と、前記制御工程により指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動工程と、前記電磁界センサからの信号を受信する受信工程と、前記電磁界センサの測定値を演算処理する演算工程と、測定結果を表示する表示工程とを有することを特徴とする電磁波源探索方法。
【請求項２８】前記制御工程は、前記電磁波源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できることを特徴とする請求項２７記載の電磁波源探索方法。
【請求項２９】前記制御工程は、外部からプログラムで制御可能な情報処理装置を用いて制御することを特徴とする請求項２７または２８記載の電磁波源探索方法。
【請求項３０】前記情報処理装置はパーソナルコンピュータであることを特徴とする請求項２９記載の電磁波源探索方法。
【請求項３１】前記制御工程は、前記電磁波源内部で制御プログラムを格納した記憶媒体により制御することを特徴とする請求項２７または２８記載の電磁波源探索方法。
【請求項３２】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３３】前記記憶媒体は、フロッピーディスクであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３４】前記記憶媒体は、ハードディスクであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３５】前記記憶媒体は、光ディスクであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３６】前記記憶媒体は、光磁気ディスクであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３７】前記記憶媒体は、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３８】前記記憶媒体は、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項３９】前記記憶媒体は、磁気テープであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４０】前記記憶媒体は、不揮発性メモリカードであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４１】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする請求項３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４２】前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４３】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４４】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４５】前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする請求項請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法。
【請求項４６】前記駆動工程は、１つの電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特徴とする請求項２７記載の電磁波源探索方法。
【請求項４７】前記駆動工程は、複数の電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特徴とする請求項２７記載の電磁波源探索方法。
【請求項４８】前記駆動工程は、複数の電磁界センサをアレイ状に並べたものを前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特徴とする請求項２７記載の電磁波源探索方法。
【請求項４９】電磁波源の動作状態を切り分けて制御する制御手段と、前記制御手段により指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁界測定手段と、前記電磁界測定手段を前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動手段と、前記電磁界測定手段からの信号を受信する受信手段と、前記電磁界測定手段の測定値を演算処理する演算手段と、測定結果を表示する表示手段とを有することを特徴とする電磁波源探索装置。
【請求項５０】前記制御手段は、前記電磁波源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できることを特徴とする請求項４９記載の電磁波源探索装置。
【請求項５１】前記制御手段は、外部からプログラムで制御可能な情報処理装置を用いて制御することを特徴とする請求項４９または５０記載の電磁波源探索装置。
【請求項５２】前記情報処理装置はパーソナルコンピュータであることを特徴とする請求項５１記載の電磁波源探索装置。
【請求項５３】前記制御手段は、前記電磁波源内部で制御プログラムを格納した記憶媒体により制御することを特徴とする請求項４９または５０記載の電磁波源探索装置。
【請求項５４】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項５５】前記記憶媒体は、フロッピーディスクであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項５６】前記記憶媒体は、ハードディスクであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項５７】前記記憶媒体は、光ディスクであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項５８】前記記憶媒体は、光磁気ディスクであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項５９】前記記憶媒体は、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６０】前記記憶媒体は、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６１】前記記憶媒体は、磁気テープであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６２】前記記憶媒体は、不揮発性メモリカードであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６３】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする請求項５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６４】前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする請求項４９記載の磁界分布測定装置。
【請求項６５】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする請求項４９記載の電磁波源探索装置。
【請求項６６】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする請求項４９，５０または５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６７】前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする請求項４９，５０または５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６８】前記電磁界測定手段は電磁界センサであることを特徴とする請求項４９，５０または５３記載の電磁波源探索装置。
【請求項６９】電磁波源の磁界分布を測定する磁界分布測定装置を制御するための制御プログラムを格納し且つ情報読取装置により前記制御プログラムを読み取り可能な記憶媒体であって、前記制御プログラムは、電磁波源の磁界を測定する磁界センサを前記電磁波源近傍で駆動する駆動モジュールと、前記駆動モジュールを制御する制御モジュールと、前記磁界センサの測定値を演算処理する演算モジュールと、測定結果を表示する表示モジュールとを有することを特徴とする記憶媒体。
【請求項７０】前記磁界センサは、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７１】前記磁界センサは、それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする請求項７０記載の記憶媒体。
【請求項７２】前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする請求項７０または７１記載の記憶媒体。
【請求項７３】前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする請求項７２記載の記憶媒体。
【請求項７４】前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７５】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７６】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７７】前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする請求項請求項６９記載の記憶媒体。
【請求項７８】電磁波放射源を特定する電磁波源探索装置を制御するための制御プログラムを格納し且つ情報読取装置により前記制御プログラムを読み取り可能な記憶媒体であって、前記制御プログラムは、電磁波源の動作状態を切り分けて制御する制御モジュールと、前記制御モジュールにより指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動モジュールと、前記電磁界センサからの信号を受信する受信モジュールと、前記磁界センサの測定値を演算処理する演算モジュールと、測定結果を表示する表示モジュールとを有することを特徴とする記憶媒体。
【請求項７９】前記制御モジュールは、前記電磁波源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できることを特徴とする請求項７８記載の記憶媒体。
【請求項８０】前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする請求項７８または７９記載の記憶媒体。
【請求項８１】前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする請求項７８または７９記載の記憶媒体。
【請求項８２】前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする請求項７８または７９記載の記憶媒体。
【請求項８３】前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする請求項請求項７８または７９記載の記憶媒体。
【請求項８４】前記電磁界測定手段は電磁界センサであることを特徴とする請求項７８記載の記憶媒体。
【請求項８５】前記記憶媒体は、フロッピーディスクであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項８６】前記記憶媒体は、ハードディスクであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項８７】前記記憶媒体は、光ディスクであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項８８】前記記憶媒体は、光磁気ディスクであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項８９】前記記憶媒体は、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項９０】前記記憶媒体は、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項９１】前記記憶媒体は、磁気テープであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項９２】前記記憶媒体は、不揮発性メモリカードであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。
【請求項９３】前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体。

【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、電子機器やその内部の金属筐体、回路基板、ケーブル或いは電子機器間を接続するケーブルを放射源（電磁波源）とする電磁波の近傍磁界を測定する磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置並びに前記電磁波源を特定する電磁波源探索方法及び装置並びに前記磁界分布測定装置及び電磁波源探索装置を制御するための制御プログラムを格納した記憶媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子機器が動作する時に放射される電磁波は、他の電子機器にとってノイズとなり、誤動作の原因となる。このような電子機器の電磁波の放射源（電磁波源）としては、電子機器の内部の回路基板、回路基板に接続されている信号ケーブル、回路基板を封入している導電部材、導電部材の間隙部分等が想定される。
【０００３】そこで、電子機器を製品化する場合には、他の電子機器に悪影響を及ぼすことを防止するため、電磁波の放射原因（電磁波源）を特定して有効な対策を実行することが重要である。
【０００４】このため、図２６に示すように、従来は電波暗室やオープンサイトで電子機器の電磁波を測定している。図２６において、２６０１は被測定物である電子機器、２６０２はアンテナである。
【０００５】このようなオープンサイトでは、電子機器２６０１が放射する電磁波をアンテナ２６０２で受信することにより、遠方での電界の周波数特性を測定することができる。従って、電子機器２６０１が放射する電磁波を低減する対策を実行した場合、前記オープンサイトでの測定結果から対策の効果を確認することができる。
【０００６】また、近年、電子機器の動作時に放射される不要電磁波の測定において、従来より行われている図２６に示すような電波暗室、オープンサイトにおける遠方電磁界測定の他に、放射源の特定を行いやすいと思われる近傍電磁界測定に対する要求が増えてきている。
【０００７】この要求に応える近傍電磁界測定装置として従来、平面アレイ上に置かれた被測定対象の近傍電磁界を測定するＥＭＳＣＡＮ（ＥＭＳＣＡＮＣＯＲＰＯＲＡＴＩＯＮ）や被測定対象近傍の二次元平面を電磁界プローブで走査するＥＭＩＳＳＩＯＮＳＵＰＥＲＶＩＥＷＳＹＳＴＥＭ（ノイズ研）等が製品化されている（特開平５－２６９３０号及び特公平５－６７１８４号等）。
【０００８】図２５は、従来の近傍電磁界測定装置の構成を示すブロック図であり、この近傍電磁界測定装置は、復号器・ドライバー回路２５０１によって駆動されるプローブ配列（ｐｒｏｂｅａｒｒａｙ）２５０２、測定受信器２５０３、信号プロセッサー２５０４、制御器２５０５及び視覚表示装置２５０６を有する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述した従来の近傍電磁界測定装置による測定は、被測定対象がプリント基板単体等の小面積の平面形状に限られてしまい、プリント基板間に接続されたケーブル、ケーブルの接地線、電子機器筐体の開口部等の電子機器システムに近い状態での測定は行えないという問題点があった。
【００１０】また、実際にケーブル等が接続されたプリント基板が電子機器筐体に実装された状態とプリント基板単体とでは、グラウンド条件が異なることにより不要電磁波の放射メカニズムが異なり、上記近傍電磁界測定装置による測定で得た近傍電磁界分布情報は、実際の電子機器からの不要電磁波の近傍電磁界分布状態とは異なってしまい、電子機器が通常動作する状態での近傍電磁界分布を測定することはできず、不要電磁波の放射源（電磁波源）を推定することは困難であるという問題点があった。
【００１１】また、１つのループを持つループ型磁界センサで磁界測定を行う場合、このループ型磁界センサはループ面に垂直に入射する磁界に対しては最大感度を持つが、ループ面に平行に入射する磁界に対しては殆ど感度を示さない。そのため１つのループ面を持つループ型磁界センサで被測定平面の磁界の最も強い部分を探索する場合、ループ面の方向により被測定平面の磁界分布が異なるため、少なくともループ面を互いに垂直方向に変えて２回或いは３回測定する必要がある。そのためループ型磁界センサを電子機器近傍で走査して測定を行う場合、測定時間が多くかかってしまう。
【００１２】その一例を図１９～図２４に示す。
【００１３】図１９及び図２２は、被測定物とループ型磁界センサ走査による近傍磁界測定の様子を示す斜視図、図２０及び図２３は、被測定物とループ型磁界センサ走査による近傍磁界測定の様子を示す平面図、図２１及び図２４は、それぞれの近傍磁界分布状態を示す図である。
【００１４】図１９、図２０及び図２２及び図２３において、１はループ型磁界センサである。また、図１９～図２４において、Ａは被測定物であり、該被測定物Ａは、筐体４と、２つの基板２ａ，２ｂと、これら基板２ａ，２ｂ相互間を接続するケーブル３とから構成されている。
【００１５】図１９～図２１はループ型磁界センサ１のループ面１ａがＸ方向に、図２２～図２４はループ型磁界センサ１のループ面１ａがＹ方向にそれぞれ向いている。
【００１６】それぞれの状態で被測定物Ａの近傍磁界分布を測定すると、磁界強部分３ａ、磁界弱部分３ｂ及び磁界無し部分３ｃとなり、磁界方向がループ面１ａに対して平行な位置関係にある場合、磁界を検出できない。そのため、実際には磁界が存在するにも拘らず、近傍磁界分布として測定できない部分（図２１及び図２４における×印部分３ｃ）が発生してしまい、それぞれループ型磁界センサ１のループ面１ａを変更して測定を繰り返し行う必要があり、測定時間が長くなってしまう。
【００１７】また、上述した図１２に示すようなデータ測定方法では、電子機器が放射している電磁波を測定できるので、その対策の効果を確認することができるが、電磁波の放射原因や放射位置を特定することは困難である。
【００１８】特に、複数の導電部材の内部の回路基板が信号ケーブルで接続されている場合、その信号ケーブルが放射する電磁波の特性は、複数の導電部材の配置や複数の導電部材の接合部の強度に左右される。特に、導電部材の接合強度が弱い部分がアンテナとして作用することがあり、導電部材の開口部がスロットアンテナとして作用することがある。
【００１９】そこで、上述したように複数の導電部材の内部の回路基板が信号ケーブルで接続された構造の電子機器から電磁波が放射されている場合、複数の導電部材の配置の変更、ケーブル配置の変更、回路基板上の部品の変更、複数の導電部材の接合部強度の強化、導電部材の開口部の遮断等の対策を実行することになる。
【００２０】しかし、実際の電磁波の放射位置はどこなのか、どの対策により電子機器の状態がいかに変化するか、どの対策がいかなる理由により有効なのか、電子機器のどの動作モードでどの位置が問題になっているか等を検証することができないため、電磁波の放射に対して良好な効率で対策を実行することが困難である。
【００２１】本発明は上述した従来の技術の有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり、その第１の目的とするところは、不要電磁波の放射源を推定することができる磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置を提供することにある。
【００２２】また、本発明の第２の目的とするところは、電磁波を放射する位置や原因を特定することができ、対策により電磁波の放射状態がいかに変化するかを評価することができる電磁波源探索方法及び装置を提供することにある。更に、本発明の第３の目的とするところは、上述した本発明の磁界分布測定装置及び電磁波源探索装置を制御するための制御プログラムを格納した記憶媒体を提供することにある。
【００２３】
【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成するため請求項１記載の磁界センサは、電磁波源の磁界を測定する磁界センサであって、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする。
【００２４】また、上記第１の目的を達成するため請求項２記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサにおいて、それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする。
【００２５】また、上記第１の目的を達成するため請求項３記載の磁界センサは、請求項１または２記載の磁界センサにおいて、前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする。
【００２６】また、上記第１の目的を達成するため請求項４記載の磁界センサは、請求項３記載の磁界センサにおいて、前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする。
【００２７】また、上記第１の目的を達成するため請求項５記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサにおいて、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする。
【００２８】また、上記第１の目的を達成するため請求項６記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサにおいて、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。
【００２９】また、上記第１の目的を達成するため請求項７記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサにおいて、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。
【００３０】また、上記第１の目的を達成するため請求項８記載の磁界センサは、請求項１記載の磁界センサにおいて、前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。
【００３１】また、上記第１の目的を達成するため請求項９記載の磁界分布測定方法は、電磁波源の磁界分布を測定する磁界分布測定方法であって、電磁波源の磁界を測定する磁界センサを前記電磁波源近傍で駆動する駆動工程と、前記駆動工程を制御する制御工程と、前記磁界センサの測定値を演算処理する演算工程と、測定結果を表示する表示工程とを有することを特徴とする。
【００３２】また、上記第１の目的を達成するため請求項１０記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界分布測定方法において、前記磁界センサは、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする。
【００３３】また、上記第１の目的を達成するため請求項１１記載の磁界分布測定方法は、請求項１０記載の磁界分布測定方法において、前記磁界センサは、それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする。
【００３４】また、上記第１の目的を達成するため請求項１２記載の磁界分布測定方法は、請求項１０または１１記載の磁界分布測定方法において、前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする。
【００３５】また、上記第１の目的を達成するため請求項１３記載の磁界分布測定方法は、請求項１２記載の磁界分布測定方法において、前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする。
【００３６】また、上記第１の目的を達成するため請求項１４記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする。
【００３７】また、上記第１の目的を達成するため請求項１５記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。
【００３８】また、上記第１の目的を達成するため請求項１６記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。
【００３９】また、上記第１の目的を達成するため請求項１７記載の磁界分布測定方法は、請求項９記載の磁界分布測定方法において、前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。
【００４０】また、上記第１の目的を達成するため請求項１８記載の磁界分布測定装置は、電磁波源の磁界分布を測定する磁界分布測定装置であって、電磁波源の磁界を測定する磁界測定手段と、前記磁界測定手段を前記電磁波源近傍で駆動する駆動手段と、前記駆動手段を制御する制御手段と、前記磁界測定手段の測定値を演算処理する演算手段と、測定結果を表示する表示手段とを有することを特徴とする。
【００４１】また、上記第１の目的を達成するため請求項１９記載の磁界分布測定装置は、、請求項１８記載の磁界分布測定装置において、前記磁界測定手段は、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする。
【００４２】また、上記第１の目的を達成するため請求項２０記載の磁界分布測定装置は、請求項１９記載の磁界分布測定装置において、前記それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする。
【００４３】また、上記第１の目的を達成するため請求項２１記載の磁界分布測定装置は、請求項１９または２０記載の磁界分布測定装置において、前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする。
【００４４】また、上記第１の目的を達成するため請求項２２記載の磁界分布測定装置は、請求項２１記載の磁界分布測定装置において、前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする。
【００４５】また、上記第１の目的を達成するため請求項２３記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする。
【００４６】また、上記第１の目的を達成するため請求項２４記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。
【００４７】また、上記第１の目的を達成するため請求項２５記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。
【００４８】また、上記第１の目的を達成するため請求項２６記載の磁界分布測定装置は、請求項１８記載の磁界分布測定装置において、前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。
【００４９】また、上記第２の目的を達成するため請求項２７記載の電磁波源探索方法は、電磁波源の動作状態を切り分けて制御する制御工程と、前記制御工程により指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動工程と、前記電磁界センサからの信号を受信する受信工程と、前記電磁界センサの測定値を演算処理する演算工程と、測定結果を表示する表示工程とを有することを特徴とする。
【００５０】また、上記第２の目的を達成するため請求項２８記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電磁波源探索方法において、前記制御工程は、前記電磁波源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できることを特徴とする。
【００５１】また、上記第２の目的を達成するため請求項２９記載の電磁波源探索方法は、請求項２７または２８記載の電磁波源探索方法において、前記制御工程は、外部からプログラムで制御可能な情報処理装置を用いて制御することを特徴とする。
【００５２】また、上記第２の目的を達成するため請求項３０記載の電磁波源探索方法は、請求項２９記載の電磁波源探索方法において、前記情報処理装置はパーソナルコンピュータであることを特徴とする。
【００５３】また、上記第２の目的を達成するため請求項３１記載の電磁波源探索方法は、請求項２７または２８記載の電磁波源探索方法において、前記制御工程は、前記電磁波源内部で制御プログラムを格納した記憶媒体により制御することを特徴とする。
【００５４】また、上記第２の目的を達成するため請求項３２記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする。
【００５５】また、上記第２の目的を達成するため請求項３３記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、フロッピーディスクであることを特徴とする。
【００５６】また、上記第２の目的を達成するため請求項３４記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ハードディスクであることを特徴とする。
【００５７】また、上記第２の目的を達成するため請求項３５記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、光ディスクであることを特徴とする。
【００５８】また、上記第２の目的を達成するため請求項３６記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、光磁気ディスクであることを特徴とする。
【００５９】また、上記第２の目的を達成するため請求項３７記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする。
【００６０】また、上記第２の目的を達成するため請求項３８記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを特徴とする。
【００６１】また、上記第２の目的を達成するため請求項３９記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、磁気テープであることを特徴とする。
【００６２】また、上記第２の目的を達成するため請求項４０記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、不揮発性メモリカードであることを特徴とする。
【００６３】また、上記第２の目的を達成するため請求項４１記載の電磁波源探索方法は、請求項３１記載の電磁波源探索方法において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする。
【００６４】また、上記第２の目的を達成するため請求項４２記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする。
【００６５】また、上記第２の目的を達成するため請求項４３記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。
【００６６】また、上記第２の目的を達成するため請求項４４記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。
【００６７】また、上記第２の目的を達成するため請求項４５記載の電磁波源探索方法は、請求項２７，２８または３１記載の電磁波源探索方法において、前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。
【００６８】また、上記第２の目的を達成するため請求項４６記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電磁波源探索方法において、前記駆動工程は、１つの電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特徴とする。
【００６９】また、上記第２の目的を達成するため請求項４７記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電磁波源探索方法において、前記駆動工程は、複数の電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特徴とする。
【００７０】また、上記第２の目的を達成するため請求項４８記載の電磁波源探索方法は、請求項２７記載の電磁波源探索方法において、前記駆動工程は、複数の電磁界センサをアレイ状に並べたものを前記電磁波源の測定面近傍において駆動することを特徴とする。
【００７１】また、上記第２の目的を達成するため請求項４９記載の電磁波源探索装置は、電磁波源の動作状態を切り分けて制御する制御手段と、前記制御手段により指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁界測定手段と、前記電磁界測定手段を前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動手段と、前記電磁界測定手段からの信号を受信する受信手段と、前記電磁界測定手段の測定値を演算処理する演算手段と、測定結果を表示する表示手段とを有することを特徴とする。
【００７２】また、上記第２の目的を達成するため請求項５０記載の電磁波源探索装置は、請求項４９記載の電磁波源探索装置において、前記制御手段は、前記電磁波源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できることを特徴とする。
【００７３】また、上記第２の目的を達成するため請求項５１記載の電磁波源探索装置は、請求項４９または５０記載の電磁波源探索装置において、前記制御手段は、外部からプログラムで制御可能な情報処理装置を用いて制御することを特徴とする。
【００７４】また、上記第２の目的を達成するため請求項５２記載の電磁波源探索装置は、請求項５１記載の電磁波源探索装置において、前記情報処理装置はパーソナルコンピュータであることを特徴とする。
【００７５】また、上記第２の目的を達成するため請求項５３記載の電磁波源探索装置は、請求項４９または５０記載の電磁波源探索装置において、前記制御手段は、前記電磁波源内部で制御プログラムを格納した記憶媒体により制御することを特徴とする。
【００７６】また、上記第２の目的を達成するため請求項５４記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする。
【００７７】また、上記第２の目的を達成するため請求項５５記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、フロッピーディスクであることを特徴とする。
【００７８】また、上記第２の目的を達成するため請求項５６記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ハードディスクであることを特徴とする。
【００７９】また、上記第２の目的を達成するため請求項５７記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、光ディスクであることを特徴とする。
【００８０】また、上記第２の目的を達成するため請求項５８記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、光磁気ディスクであることを特徴とする。
【００８１】また、上記第２の目的を達成するため請求項５９記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする。
【００８２】また、上記第２の目的を達成するため請求項６０記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを特徴とする。
【００８３】また、上記第２の目的を達成するため請求項６１記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、磁気テープであることを特徴とする。
【００８４】また、上記第２の目的を達成するため請求項６２記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、不揮発性メモリカードであることを特徴とする。
【００８５】また、上記第２の目的を達成するため請求項６３記載の電磁波源探索装置は、請求項５３記載の電磁波源探索装置において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする。
【００８６】また、上記第２の目的を達成するため請求項６４記載の電磁波源探索装置は、請求項４９記載の電磁波源探索装置において、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする。
【００８７】また、上記第２の目的を達成するため請求項６５記載の電磁波源探索装置は、請求項４９記載の電磁波源探索装置において、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。
【００８８】また、上記第２の目的を達成するため請求項６６記載の電磁波源探索装置は、請求項４９，５０または５３記載の電磁波源探索装置において、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。
【００８９】また、上記第２の目的を達成するため請求項６７記載の電磁波源探索装置は、請求項４９，５０または５３記載の電磁波源探索装置において、前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。
【００９０】また、上記第２の目的を達成するため請求項６８記載の電磁波源探索装置は、請求項４９，５０または５３記載の電磁波源探索装置において、前記電磁界測定手段は電磁界センサであることを特徴とする。
【００９１】また、上記第３の目的を達成するため請求項６９記載の記憶媒体は、電磁波源の磁界分布を測定する磁界分布測定装置を制御するための制御プログラムを格納し且つ情報読取装置により前記制御プログラムを読み取り可能な記憶媒体であって、前記制御プログラムは、電磁波源の磁界を測定する磁界センサを前記電磁波源近傍で駆動する駆動モジュールと、前記駆動モジュールを制御する制御モジュールと、前記磁界センサの測定値を演算処理する演算モジュールと、測定結果を表示する表示モジュールとを有することを特徴とする。
【００９２】また、上記第３の目的を達成するため請求項７０記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体において、前記磁界センサは、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする。
【００９３】また、上記第３の目的を達成するため請求項７１記載の記憶媒体は、請求項７０記載の記憶媒体において、前記磁界センサは、それぞれのループ面に磁性体を挿入したことを特徴とする。
【００９４】また、上記第３の目的を達成するため請求項７２記載の記憶媒体は、請求項７０または７１記載の記憶媒体において、前記ループはケーブルにより構成されていることを特徴とする。
【００９５】また、上記第３の目的を達成するため請求項７３記載の記憶媒体は、請求項７２記載の記憶媒体において、前記ケーブルはセミリジッドケーブルであることを特徴とする。
【００９６】また、上記第３の目的を達成するため請求項７４記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする。
【００９７】また、上記第３の目的を達成するため請求項７５記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。
【００９８】また、上記第３の目的を達成するため請求項７６記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。
【００９９】また、上記第３の目的を達成するため請求項７７記載の記憶媒体は、請求項６９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。
【０１００】また、上記第３の目的を達成するため請求項７８記載の記憶媒体は、電磁波放射源を特定する電磁波源探索装置を制御するための制御プログラムを格納し且つ情報読取装置により前記制御プログラムを読み取り可能な記憶媒体であって、前記制御プログラムは、電磁波源の動作状態を切り分けて制御する制御モジュールと、前記制御モジュールにより指定された動作における前記電磁波源の電磁界分布を測定するための電磁界センサを前記電磁波源の測定面近傍において駆動する駆動モジュールと、前記電磁界センサからの信号を受信する受信モジュールと、前記磁界センサの測定値を演算処理する演算モジュールと、測定結果を表示する表示モジュールとを有することを特徴とする。
【０１０１】また、上記第３の目的を達成するため請求項７９記載の記憶媒体は、請求項７８記載の記憶媒体において、前記制御モジュールは、前記電磁波源を単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できることを特徴とする。
【０１０２】また、上記第３の目的を達成するため請求項８０記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器であることを特徴とする。
【０１０３】また、上記第３の目的を達成するため請求項８１記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器内部の金属筐体であることを特徴とする。
【０１０４】また、上記第３の目的を達成するため請求項８２記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器内部の回路基板であることを特徴とする。
【０１０５】また、上記第３の目的を達成するため請求項８３記載の記憶媒体は、請求項７８または７９記載の記憶媒体において、前記電磁波源は電子機器のケーブルであることを特徴とする。
【０１０６】また、上記第３の目的を達成するため請求項８４記載の記憶媒体は、請求項７８記載の記憶媒体において、前記電磁界測定手段は電磁界センサであることを特徴とする。
【０１０７】また、上記第３の目的を達成するため請求項８５記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、フロッピーディスクであることを特徴とする。
【０１０８】また、上記第３の目的を達成するため請求項８６記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ハードディスクであることを特徴とする。
【０１０９】また、上記第３の目的を達成するため請求項８７記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、光ディスクであることを特徴とする。
【０１１０】また、上記第３の目的を達成するため請求項８８記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、光磁気ディスクであることを特徴とする。
【０１１１】また、上記第３の目的を達成するため請求項８９記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であることを特徴とする。
【０１１２】また、上記第３の目的を達成するため請求項９０記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）であることを特徴とする。
【０１１３】また、上記第３の目的を達成するため請求項９１記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、磁気テープであることを特徴とする。
【０１１４】また、上記第３の目的を達成するため請求項９２記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、不揮発性メモリカードであることを特徴とする。
【０１１５】更に、上記第３の目的を達成するため請求項９３記載の記憶媒体は、請求項６９乃至８３または８４記載の記憶媒体において、前記記憶媒体は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）チップであることを特徴とする。
【０１１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図面に基づき説明する。
【０１１７】（第１の実施の形態）まず、本発明の第１の実施の形態を図１～図１０に基づき説明する。
【０１１８】図１は、本実施の形態に係る磁界分布測定装置（近傍磁界分布測定装置）の構成を示す斜視図である。同図において、１０１は近傍磁界分布測定部で、磁界センサ１０２と、駆動部１０３と、測定受信機１０４とにより構成されている。
【０１１９】磁界センサ１０２は後述する不要電磁波放射源である電子機器の近傍磁界を測定するものである。この磁界センサ１０２は図示のように１個に限られるものではなく、複数個であってもよい。
【０１２０】駆動部１０３は、磁界センサ１０２をＸＹＺ方向に走査するものである。駆動部１０３は、互いに所定間隔を存して配置された水平アーム１０３ａ，１０３ｂと、これら水平アーム１０３ａ，１０３ｂ相互間中央部を接続する接続アーム１０３ｃと、この接続アーム１０３ｃの上面に水平方向に移動可能に配設された垂直アーム１０３ｄと、この垂直アーム１０３ｄの一側面に上下方向に移動可能に配設された水平アーム１０３ｅと、この水平アーム１０３ｅの下面に水平方向に移動可能に配設されたスライド部材１０３ｆとを有している。このスライド部材１０３ｆに磁界センサ１０２が装着されている。そして、垂直アーム１０３ｄ、垂直アーム１０３ｄ、水平アーム１０３ｅ及びスライド部材１０３ｆを、図示しないモータ等により所定方向にそれぞれ移動させることにより、磁界センサ１０２をＸＹＺ方向に走査することができるものである。
【０１２１】測定受信機１０４は、磁界センサ１０２からの測定値を受け取るスペクトラムアナライザ若しくはベクトルネットワークアナライザ等により構成される。このとき、磁界センサ１０２とスペクトラムアナライザ若しくはベクトルネットワークアナライザとの間にアンプを介装する場合もある。測定受信機１０４は、磁界センサ１０２及び後述するコントローラに電気的に接続されている。
【０１２２】図１において、１０６は不要電磁波を放射する電磁波源である電子機器のある部分での被測定物である。この被測定物１０６は、筐体１０６ａと、２つの基板１０６ｂ，１０６ｃと、これら基板１０６ｂ，１０６ｃ相互間を接続するケーブル１０６ｄとから構成されている。
【０１２３】図２は、本実施の形態に係る磁界分布測定装置の構成を示すブロック図であり、同図において図１と同一部分には同一符号が付してある。
【０１２４】本実施の形態に係る磁界分布測定装置は、図２に示すように、近傍磁界分布測定部１０１と、コントローラ１０７とからなる。コントローラ１０７は、演算処理部１０８と、表示部１０９と、制御部１１０とから構成されている。演算処理部１０８は、測定受信機１０４からの測定データを演算処理するものである。表示部１０９は、演算処理部１０８の演算結果から近傍磁界分布状態を視覚化して表示するものである。制御部１１０は、駆動部１０３を制御するものである。
【０１２５】尚、磁界センサ１０２の感度周波数依存等の補正等は演算処理部１０８で行う。
【０１２６】図３は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２の構成を示す外観図である。同図に示すように磁界センサ１０２は、セミリジッドケーブル３０１によって形成され且つ互いに垂直に配置された同一特性の３つのループ面３０２，３０３，３０４から構成されていて、そのループ同士は回路的に終端抵抗を介して、或いは直接、分配器３０５によって並列接続されている。磁界センサ１０２の３つのループ面３０２～３０４はそれぞれ垂直に配置され、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁界に対してＸ面、Ｙ面、Ｚ面のループが最大の感度を持つ。
【０１２７】図４及び図５に、１つのループについての外観を示す。両図に示すようにループはセミリジッドケーブル３０１によって形成され、このセミリジッドケーブル３０１の内導体４０１により被測定物からの電界をシールドしている。このとき、内導体４０１が磁界を検出できるようにセミリジッドケーブル３０１の外導体４０２の一部を剥離してある。
【０１２８】また、図４のように内導体４０１はスペクトラムアナライザ、ベクトルネットワークアナライザ等の測定器の出力インピーダンと整合をとるため、その出力インピーダンスと同じ値の抵抗４０３で外導体４０２に終端してもよい。また、図５に示すように内導体４０１を直接、外導体４０２に接続してもよい。
【０１２９】図６及び図７に図３の構成を示す。両図において、磁界センサ１０２の等価回路は、磁界ループセンサ部６０１と測定器６０２とから構成されている。また、両図において、Ｌx，Ｌy，Ｌzは磁界ループセンサ部６０１のＸ面ループ，Ｙ面ループ，Ｚ面ループそれぞれのインダクタンス、Ｖx，Ｖy，Ｖzは磁界ループセンサ部６０１のＸ面ループ，Ｙ面ループ，Ｚ面ループそれぞれの磁界により発生する起電力、Ｚoは測定器６０２の出力インピーダンスである。
【０１３０】図６は、磁界ループセンサ部６０１のそれぞれのループを測定器６０２の出力インピーダンスＺoで終端している場合である。また、図７は、磁界ループセンサ部６０１のそれぞれのループを直接、並列接続している場合である。
【０１３１】また、本実施の形態に係る近傍磁界測定装置は、記憶媒体に格納された制御プログラムをコンピュータが読み出して実行することにより、上述した本実施の形態の機能が実現されるものであるが、本発明はこれに限定されるものではなく、前記制御プログラムの指示に基づきコンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）等の実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって上述した本実施の形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【０１３２】また、制御プログラムを格納する記憶媒体としては、例えば、フロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、磁気テープ、不揮発性メモリカード、ＲＯＭチップ等を用いることができる。
【０１３３】以上詳述したように本実施の形態に係る磁界センサ１０２によれば、３つのループ面３０２～３０４を持っているので、図１９～図２４で示した１つのループ面１ａを持つ従来の磁界センサ１と比較して、全ての方向の近傍磁界を同時に検出できるため、電子機器の近傍磁界測定のための磁界センサ１０２の走査が１回で、電子機器の近傍磁界分布を測定できる。
【０１３４】また、本実施の形態に係る近傍磁界測定方法及び装置によれば、電子機器の不要電磁波放射源であると思われる任意の近傍平面を磁界センサ１０２で、駆動部１０３により電子機器の近傍平面を走査し、電子機器の近傍磁界分布を測定することにより、放射源を３次元的に推定するものである。
【０１３５】上述したように電子機器の近傍磁界分布を測定することにより、ケーブル等を含む電子機器のシステムとしての動作状態における不要電磁波放射源を推定することができる。
【０１３６】（第２の実施の形態）次に、本発明の第２の実施の形態を図８～図１１に基づき説明する。
【０１３７】図８は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２ａの構成を示す外観図であり、同図において、上述した第１の実施の形態の図３と同一部分には同一符号が付してある。図８において図３と異なる点は、図３の構成から第３のループ３０４を削除し、２つのループ面３０２，３０３としたことである。これらループ面３０２，３０３は互いに垂直に配置されて、ループ同士は回路的に終端抵抗を介して、或いは直接、分配器３０５によって並列接続されている。
【０１３８】図９は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２ａによる電子機器の近傍磁界測定状況を示す斜視図、図１０は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２による電子機器の近傍磁界測定状況を示す平面図、図１１は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２ａによる電子機器の近傍磁界測定結果を示す図である。
【０１３９】本実施の形態に係る磁界センサ１０２ａによれば、２つのループ面３０２，３０３を持っているので、図１１に示すようにケーブル１０６ｄの全ての部分において磁界強となり、全ての方向の近傍磁界を同時に検出できるため、電子機器の近傍磁界測定のための走査を１回で、電子機器の近傍磁界分布を測定できる。
【０１４０】（第３の実施の形態）次に、本発明の第３の実施の形態を図１２に基づき説明する。
【０１４１】図１２は、本実施の形態に係る磁界センサ１０２ｂの構成を示す外観図であり、同図において、上述した第２の実施の形態の図８と同一部分には同一符号が付してある。図１２において図８と異なる点は、図８の構成のループ面３０２，３０３に磁性体１２０１を挿入したことである。
【０１４２】本実施の形態に係る磁界センサ１０２ｂによれば、ループ面３０２，３０３に磁性体１２０１を挿入したことにより、ループ面３０２，３０３の透磁率が高まることによって、ループ面３０２，３０３を貫く磁界によってループ導体に発生する起電力を高くすることができ、磁界の検出感度を高めることができる。
【０１４３】尚、本実施の形態におけるその他の構成及び効果は、上述した第２の実施の形態と同一であるから、その説明は省略する。
【０１４４】（第４の実施の形態）次に、本発明の第４の実施の形態を図１３～図１７に基づき説明する。
【０１４５】図１３は、本実施の形態に係る電磁波源探索装置における被測定物である電子機器とその近傍電磁界分布を測定する近傍電磁界分布測定部の構成を示す斜視図である。同図において、１３０１は不要電磁波を放射する電子機器（電磁波源）である被測定物、１３０２は近傍電磁界分布測定部で、被測定物１３０１の近傍電磁界分布を測定するものである。
【０１４６】被測定物１３０１は、全ての面の近傍電磁界が測定できる１つの例として回転台１３０３の上に搭載されている。
【０１４７】近傍電磁界分布測定部１３０２は、電磁界センサ１３０４と、駆動部１３０５と、測定受信機１３０６とにより構成されている。電磁界センサ１３０４は被測定物１３０１の近傍磁界及び電界を測定するものである。この電磁界センサ１３０４は磁界測定時は磁界センサ、電界測定時には電界センサを使用する。また、電磁界センサ１３０４は、ある面の近傍電磁界分布を求める場合、ある特定の方向の電磁界分布を求めるため、その近傍電磁界分布測定面において３６０度可変である。また、電磁界センサ１３０４は、図示のように１個に限られるものではなく、複数個であってもよい。
【０１４８】駆動部１３０５は、電磁界センサ１０４を電子機器近傍測定面において走査するものである。駆動部１３０５は、互いに所定間隔を存して配置された水平アーム１３０５ａ，１３０５ｂと、これら水平アーム１３０５ａ，１３０５ｂ相互間中央部を接続する接続アーム１３０５ｃと、この接続アーム１３０５ｃの上面に水平方向に移動可能に配設された垂直アーム１３０５ｄと、この垂直アーム１３０５ｄの一側面に上下方向に移動可能に配設された水平アーム１３０５ｅとを有している。この水平アーム１３０５ｅの先端部に電磁界センサ１３０４が装着されている。そして、垂直アーム１３０５ｄ、垂直アーム１３０５ｄ及び水平アーム１３０５ｅを、図示しないモータ等により所定方向にそれぞれ移動させることにより、電磁界センサ１３０４を電子機器近傍測定面において走査することができるものである。
【０１４９】測定受信機１３０６は、電磁界センサ１３０４からの測定値を受け取るスペクトラムアナライザ若しくはオシロスコープ等により構成される。このとき、電磁界センサ１３０４とスペクトラムアナライザ若しくはオシロスコープとの間にアンプユニットを介装する場合もある。測定受信機１３０６は、電磁界センサ１３０４及び後述するコントローラに電気的に接続されている。
【０１５０】被測定物１３０１である電子機器は、単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できるように電子機器に変更可能なＲＯＭ（リードオンリーメモリ）が搭載されている。
【０１５１】次に、電子機器が単一の動作周波数、或いは単一の動作モード、或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できるようにすることの電子機器の電磁波源探索にもたらすメリットについて、図１４及び図１５を用いて説明する。
【０１５２】図１４は、従来の電子機器からの不要電磁波発生の様子を示す斜視図である。同図において、１４０１は電子機器で、その内部には複数の回路基板１４０２ａ，１４０２ｂ，１４０２ｃ，１４０２ｄ及びこれら回路基板１４０２ａ～１４０２ｄを電気的に接続するケーブル１４０３が配置されている。この状態で様々な動作モード、動作周波数で動作していると、特にケーブル１４０３等の電磁波放射源になりやすい部分が数多く存在しているので、あるケーブル１４０３が自らを流れている信号に起因するディファレンシャルモードが主な原因となって不要電磁波放射が発生しているのか、また、近接するケーブル１４０３からの結合によって不要電磁波放射が発生しているのか、或いはケーブル１４０３に流れている信号が問題ではなく、回路基板１４０２ａ～１４０２ｄからのコモンモードノイズが原因となっているのか等、不要電磁波放射の原因及び発生箇所を特定することが難しく、その対策を困難にしていた。
【０１５３】しかし、図１５に示すように、外部からパソコン（パーソナルコンピュータ）１５０４で電子機器１５０１内の１本のケーブル１５０３の信号のみが動作するように制御できる場合、この状態で電子機器１５０１の近傍電磁界分布を測定すると、そのケーブル１５０３のみが電磁波放射源になっているか、或いは隣接するケーブルが結合により新たな電磁波放射源になっているか、また、回路基板１５０２ａ～１５０２ｄからのコモンモードノイズが動作していないケーブルや回路基板１５０２ａ～１５０２ｄにのっていないか等の不要電磁波放射の原因を用意に判別でき、良好な効率で対策を行うことができる。この電子機器の制御は図１５のようにパソコン１５０４を使って行ってもよく、また、パソコン１５０４を使わずに電子機器１５０１の内部ＲＯＭ（リードオンリーメモリ）等から制御を行ってもよい。また、電子機器１５０１の近傍電磁界分布を測定する電磁波源探索装置の演算処理部や制御部から制御を行い、同期をとって測定を行い、演算処理部により解析を行い、その測定結果を表示部に表示するようにしてもよい。
【０１５４】図１６は、本実施の形態に係る電磁波源探索装置の構成を示すブロック図であり、同図において、図１３と同一部分には同一符号が付してある。
【０１５５】この図１６に示す電磁波源探索装置は、近傍電磁界分布測定部１３０２とコントローラ１６０１とで構成されている。コントローラ１６０１は演算処理部１６０２と、表示部１６０３と、制御部１６０４とから構成されている。演算処理部１６０２は、近傍電磁界分布測定部１３０２の測定受信機１３０６からの測定データを演算処理するものである。表示部１６０３は、演算処理部１６０２の演算処理結果から近傍電磁界分布を視覚化するように表示するものである。制御部１６０４は、近傍電磁界分布測定部１３０２の駆動部１３０５を制御するものである。電磁界センサ１３０４の構成係数や周波数の補正等は演算処理部１６０２で行う。また、被測定物１３０１である電子機器は、外部のパソコン或いは内部ＲＯＭ等の制御手段１６０５により制御され、単一の動作周波数或いは単一の動作モード或いはそれらの複数の組み合わせで動作する。
【０１５６】図１７は、本実施の形態に係る電磁波源探索装置の図１６とは異なる構成を示すブロック図であり、同図において、図１６と同一部分には同一符号が付してある。
【０１５７】図１７において図１６と異なる部分は、図１６の構成から制御手段１６０５を削除し、コントローラ１６０１の制御部１６０４によって近傍電磁界分布測定部１３０２の駆動部１３０５や被測定物１３０１である電子機器を単一の動作周波数或いは単一の動作モード或いはそれらの複数の組み合わせで動作するように制御するようにしたことである。電磁界センサ１３０４の構成係数や周波数の補正等は演算処理部１６０２で行う。また、演算処理部１６０２に解析機能を持たせ、電子機器の動作状態と不要電磁波放射源の情報とを一致付けて近傍電磁界分布を表示部１６０３により視覚化するように表示することも可能としている。
【０１５８】また、本実施の形態に係る電磁波源探索装置は、記憶媒体に格納された制御プログラムをコンピュータが読み出して実行することにより、上述した本実施の形態の機能が実現されるものであるが、本発明はこれに限定されるものではなく、前記制御プログラムの指示に基づきコンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）等の実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって上述した本実施の形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【０１５９】また、制御プログラムを格納する記憶媒体としては、例えば、フロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、ＣＤ－Ｒ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、磁気テープ、不揮発性メモリカード、ＲＯＭチップ等を用いることができる。
【０１６０】以上のように本実施の形態に係る電磁波源探索方法及び装置によれば、電子機器の近傍電磁界分布を測定することが可能となり、電子機器の不要電磁波放射源や不要電磁波発生原因の特定が容易になり、不要電磁波の放射を良好な効率で対策することができるものである。
【０１６１】（第５の実施の形態）次に、本発明の第５の実施の形態を図１８に基づき説明する。
【０１６２】図１３は、本実施の形態に係る電磁波源探索装置における被測定物である電子機器とその近傍電磁界分布を測定する近傍電磁界分布測定部の構成を示す斜視図である。同図において、図１３と同一部分には同一符号が付してある。
【０１６３】本実施の形態に係る近傍電磁界分布測定部１３０２ａは、アレイ状に配置された複数の電磁界センサ１８０１と、この電磁界センサ１８０１からの信号を測定する測定受信機１３０６とから構成されている。
【０１６４】測定受信機１３０６は、電磁界センサ１８０１からの測定値を受け取るスペクトラムアナライザ若しくはオシロスコープにより構成される。このとき、電磁界センサ１８０１とスペクトラムアナライザ若しくはオシロスコープとの間にアンプユニットを介装する場合もある。
【０１６５】本実施の形態に係る電磁波源探索装置は、上述した近傍電磁界分布測定部１３０２ａと図示しないコントローラとにより構成されている。このコントローラは、測定値を演算処理する演算処理部と、測定結果を視覚化するように表示する表示部とから構成されている。
【０１６６】被測定物１３０１である電子機器には、単一の動作周波数或いは単一の動作モード或いはそれらの複数の組み合わせで動作することを制御できるように、変更可能なＲＯＭ（リードオンリーメモリ）が搭載されている。
【０１６７】尚、本実施の形態におけるその他の構成及び効果は、上述した第４の実施の形態と同一であるから、その説明は省略する。
【０１６８】
【発明の効果】以上詳述したように本発明の磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置によれば、ケーブルを含む電子機器のシステムとしての動作状態において、近傍磁界分布測定が可能であり、電子機器の不要電磁波放射源を推定することができる。
【０１６９】また、本発明の電磁波源探索方法及び装置によれば、被測定物である電子機器のそれぞれの動作状態を切り分けて、前記電子機器の近傍電磁界分布を測定することが可能になり、電子機器の不要電磁波放射源や不要電磁波発生原因の特定が容易になり、不要電磁波の放射を良好な効率で対策することができる。
【０１７０】更に、本発明の記憶媒体によれば、上述した本発明の磁界分布測定装置及び電磁波源探索装置を円滑に制御することができる。

【出願人】	【識別番号】０００００１００７【氏名又は名称】キヤノン株式会社
【出願日】	平成１２年１月７日（２０００．１．７）
【代理人】	【識別番号】１０００８１８８０【弁理士】【氏名又は名称】渡部敏彦
【公開番号】	特開２００１－１９４４３５（Ｐ２００１－１９４４３５Ａ）
【公開日】	平成１３年７月１９日（２００１．７．１９）
【出願番号】	特願２０００－１４８０（Ｐ２０００－１４８０）