| 【発明の名称】 |
実装検査装置及び実装検査方法 |
| 【発明者】 |
【氏名】山崎 孝
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| 【要約】 |
【課題】試験カード１枚当たりに要するバウンダリスキャンテストを行うための準備の手間を少なくすることによって、複数枚の試験カードをテストする場合でも、そのテスト時間を短縮すること。
【解決手段】実装検査が行われる試験カード１０４ａが挿抜自在に格納され、この格納された試験カード１０４ａを任意にコネクタに接続することが可能な複数のスロット１０２ａ〜１０２ｎと、この各スロット１０２ａ〜１０２ｎと上記コネクタを介して配線接続され、この配線を介して実装検査信号をコネクタに接続されたカード１０４ａへ出力する冶具部１０３とを備え、複数のカード１０４ａを、一旦、各スロット１０２ａ〜１０２ｎに挿入し、この中の１枚をコネクタに接続した後、検査信号を生成して実装検査を行い、この実装検査後のカード１０４ａをコネクタから外す一連の処理を繰り返して、全てのカード１０４ａの実装検査を行う。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 配線接続された電子部品の実装検査が行われる被試験手段が挿抜自在に格納され、この格納された前記被試験手段を任意にコネクタに接続することが可能な複数のスロット手段と、この複数のスロット手段と前記コネクタを介して配線接続され、この配線を介して前記実装検査を行うための検査信号を前記コネクタに接続された被試験手段へ出力する検査信号生成手段と、を具備することを特徴とする実装検査装置。
【請求項２】 スロット手段は、格納された被試験手段を押し込むことによりコネクタに接続できる構造を具備することを特徴とする請求項１記載の実装検査装置。
【請求項３】 被試験手段が、プリント基板であることを特徴とする請求項１記載の実装検査装置。
【請求項４】 配線接続された電子部品の実装検査が行われる被試験手段が挿抜自在に格納され、この格納された前記被試験手段を任意にコネクタに接続することが可能な複数のスロット手段と、この複数のスロット手段と前記コネクタを介して配線接続され、この配線を介して前記実装検査を行うための検査信号を前記コネクタに接続された被試験手段へ出力する検査信号生成手段とを具備し、複数の前記被試験手段を、一旦、前記複数のスロット手段に挿入し、この挿入された中の１つの被試験手段を前記コネクタに接続した後、前記検査信号生成手段から前記検査信号を生成して前記実装検査を行い、この実装検査が行われた被試験手段を前記コネクタから外す一連の処理を繰り返すことによって、前記挿入された全ての被試験手段の実装検査を行うことを特徴とする実装検査方法。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、国際標準規格であるＪＴＡＧ規格であってプリント基板の実装検査を行うためのバウンダリスキャンテストによって、移動体通信システムにおける基地局装置等に搭載されるプリント基板の実装検査を行う実装検査装置及び実装検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の実装検査装置及び実装検査方法としては、特開平８−２７４８２１号公報に記載されているものがある。
【０００３】図４は、従来のバウンダリスキャンテストによるプリント基板の実装検査を行うためのシステム構成図である。
【０００４】この図４に示すように、図示せぬプリント基板に複数の電子部品が実装されて所定の配線が行われた試験カード４０１に、バウンダリスキャンテスト用冶具４０２を接続し、この冶具４０２にパソコン（パーソナルコンピュータ）４０３を接続する。
【０００５】このような構成によって、パソコン４０３の制御に応じて冶具４０２から試験カード４０１に、試験カード４０１を動作させるに必要な電源クロックや、テストを行うためのＪＴＡＧ規格のＴＤＩ，ＴＤＯ，ＴＭＳ，ＴＣＫ，ＴＲＳＴの各信号を出力することによって、次に記述するバウンダリスキャンテストを行う。
【０００６】まず、パソコン４０３から冶具４０２に、バウンダリスキャンテストの試験データを送出する。このデータは、ＴＤＩ信号を通して試験カード４０１に送られる。これによって、試験カード４０１内でバウンダリスキャンテストが行われ、このテスト結果が冶具４０２を介してパソコン４０３に送出されることによりテスト結果が表示される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の装置においては、試験カード４０１のバウンダリスキャンテストを行う場合に、試験カード４０１を１枚ずつ冶具４０２に接続してテストを行った後、着脱を行う作業が必要となるため、テストを行うための作業に時間がかかり、試験カード４０１の数が増えるほどにテストに多大な時間を要するという問題がある。
【０００８】本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、試験カード１枚当たりに要するバウンダリスキャンテストを行うための準備の手間を少なくすることによって、複数枚の試験カードをテストする場合でも、そのテスト時間を短縮することができる実装検査装置及び実装検査方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の実装検査装置は、配線接続された電子部品の実装検査が行われる被試験手段が挿抜自在に格納され、この格納された前記被試験手段を任意にコネクタに接続することが可能な複数のスロット手段と、この複数のスロット手段と前記コネクタを介して配線接続され、この配線を介して前記実装検査を行うための検査信号を前記コネクタに接続された被試験手段へ出力する検査信号生成手段と、を具備する構成を採る。
【００１０】この構成によれば、複数のスロット手段の全てに一旦被試験手段をコネクタが接続されないように格納しておき、この格納された中から１つずつ、被試験手段をコネクタに接続して実装検査を実施することができるので、複数の被試験手段を実装検査する場合に、その準備の手間を少なくすることができ、これによって、実装検査時間を短縮することができる。
【００１１】本発明の実装検査装置は、上記構成において、スロット手段は、格納された被試験手段を押し込むことによりコネクタに接続できる構造を具備する構成を採る。
【００１２】この構成によれば、被試験手段を容易にコネクタに接続することができる。
【００１３】本発明の実装検査装置は、上記構成において、被試験手段が、プリント基板である構成を採る。
【００１４】この構成によれば、プリント基板の実装検査を短時間で容易に行うことができる。
【００１５】本発明の実装検査方法は、配線接続された電子部品の実装検査が行われる被試験手段が挿抜自在に格納され、この格納された前記被試験手段を任意にコネクタに接続することが可能な複数のスロット手段と、この複数のスロット手段と前記コネクタを介して配線接続され、この配線を介して前記実装検査を行うための検査信号を前記コネクタに接続された被試験手段へ出力する検査信号生成手段とを具備し、複数の前記被試験手段を、一旦、前記複数のスロット手段に挿入し、この挿入された中の１つの被試験手段を前記コネクタに接続した後、前記検査信号生成手段から前記検査信号を生成して前記実装検査を行い、この実装検査が行われた被試験手段を前記コネクタから外す一連の処理を繰り返すことによって、前記挿入された全ての被試験手段の実装検査を行うようにした。
【００１６】この方法によれば、複数の被試験手段を実装検査する場合に、その準備の手間を少なくすることができ、これによって、実装検査時間を短縮することができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００１８】（実施の形態）図１は、本発明の実施の形態に係る実装検査装置の外観構成図である。
【００１９】この図１に示す実装検査装置１００は、装置１００に電源を供給する電源部１０１と、第１〜第ｎスロット１０２ａ〜１０２ｎと、バウンダリスキャンテスト用冶具部１０３とを備えて構成されている。
【００２０】各スロット１０２ａ〜１０２ｎは、試験カード１０４ａを挿抜自在に格納するものであり、図２に示すように、バックプレーンボードの信号配線１０５〜１０９によってバウンダリスキャンテスト用冶具部１０３と接続されている。
【００２１】試験カード１０４ａは、図示せぬプリント基板に複数の電子部品が実装されて所定の配線が行われたバウンダリスキャンテスト対象のカードであり、各スロット１０２ａ〜１０２ｎに挿入した後、更に奥側に押し込むことによって、図２に示すように信号配線１０５〜１０９に接続されるようになっている。この接続は、試験カード１０４ａと、各スロット１０２ａ〜１０２ｎとの図示せぬコネクタ同士が勘合されることによって行われるようになっている。
【００２２】バウンダリスキャンテスト用冶具部１０３は、バウンダリスキャンテスト用ソフトが搭載されたパソコン１０６を接続する図１に示すＩ／Ｆ（インタフェース）部１１０を備え、このＩ／Ｆ部１１０に接続されたパソコン１１１の制御に応じて、テストを行うためのＪＴＡＧ規格のＴＤＩ，ＴＤＯ，ＴＭＳ，ＴＣＫ，ＴＲＳＴの各信号を、信号配線１０５〜１０９を介して、スロット１０２ａ〜１０２ｎに差し込まれて配線接続された試験カード１０４ａへ出力するものである。
【００２３】このような実装検査装置１００を用いた図２に示す複数の試験カード１０４ａ〜１０４ｎのバウンダリスキャンテストの動作を、図３のフロー図を参照して説明する。
【００２４】まず、ステップＳＴ３０１において、全てのスロット１０２ａ〜１０２ｎに、各試験カード１０４ａ〜１０４ｎを挿入する。この際、コネクタ同士の接続は行わない。
【００２５】次に、ステップＳＴ３０２において、挿入された中の１枚の試験カード１０４ａをスロットの奥まで差し込んでコネクタ同士の接続を行う。
【００２６】ステップＳＴ３０３において、パソコン１１１のソフトを起動することによって冶具部１０３へバウンダリスキャンテストの制御信号を出力する。これによってＴＤＩ，ＴＤＯ，ＴＭＳ，ＴＣＫ，ＴＲＳＴの各信号が、信号配線１０５〜１０９を介して、スロット１０２ａに差し込まれて配線接続された試験カード１０４ａへ出力され、バウンダリスキャンテストが実施される。
【００２７】ステップＳＴ３０４において、そのテストが実施された試験カード１０４ａをスロット１０２ａから抜き取り、ステップＳＴ３０５において、次の試験カード１０４ｂをスロット１０２ｂに差し込んでコネクタ接続する。
【００２８】この後、全スロットが終了したかどうかを判断し（ＳＴ３０６）、全スロット終了していなければステップＳＴ３０３に戻って、バウンダリスキャンテストを実施する。このようなステップＳＴ３０３〜ＳＴ３０５までの作業工程を全スロット１０２ａ〜１０２ｎ分の試験カード１０４に対して実施し、全てのスロット１０２ａ〜１０２ｎ分の検査が終了したら、全スロット１０２ａ〜１０２ｎに対して試験カードを入れ換える（ＳＴ３０７）。
【００２９】このように、本実施の形態の実装検査装置１００によれば、複数のスロット１０２ａ〜１０２ｎの全てに一旦試験カード１０４ａ〜１０４ｎをコネクタが接続されないように挿入しておき、この挿入された中から１枚づつ、スロット１０２ａ〜１０２ｎのコネクタに接続してバウンダリスキャンテストを実施するようにしたので、複数枚の試験カード１０４ａ〜１０４ｎをテストする場合に、その準備の手間を少なくすることができ、これによって、テスト時間を短縮することができる。
【００３０】このようにテスト時間を短縮することができるので、例えば、商品量産時に、工場にて実施するバウンダリスキャンテストの時間が短縮され、これによって商品のコストダウンを図ることができる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、試験カード１枚当たりに要するバウンダリスキャンテストを行うための準備の手間を少なくすることによって、複数枚の試験カードをテストする場合でも、そのテスト時間を短縮することができる。
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| 【出願人】 |
【識別番号】０００００５８２１
【氏名又は名称】松下電器産業株式会社
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| 【出願日】 |
平成１２年１月１７日（２０００．１．１７） |
| 【代理人】 |
【識別番号】１００１０５０５０
【弁理士】
【氏名又は名称】鷲田 公一
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| 【公開番号】 |
特開２００１−１９４４２９（Ｐ２００１−１９４４２９Ａ） |
| 【公開日】 |
平成１３年７月１９日（２００１．７．１９） |
| 【出願番号】 |
特願２０００−７６９１（Ｐ２０００−７６９１） |
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