| 【発明の名称】 |
電子部品の特性測定用治具の接触子 |
| 【発明者】 |
【氏名】村田 清史
【氏名】横田 文男
【氏名】村上 達也
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| 【要約】 |
【課題】従来の接触子はインダクタンス成分や容量成分による測定誤差が大きくなる上、電極数の多いチップ型電子部品の測定時に接触不良となり易い。
【解決手段】導体パターン31が形成されたプリント基板30と、プリント基板30上に取付けた耐熱性の弾性部材10と、弾性部材10の上を横切り且つ導体パターン31に電気的に接続した導線20とで接触子を構成する。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 導体パターンが形成されたプリント基板と、該プリント基板上に取付けられた耐熱性の弾性部材と、弾性部材の上を横切り且つ該導体パターンに電気的に接続された導線とを備えたことを特徴とする電子部品の特性測定用治具の接触子。
【請求項２】 導線を弾性部材に螺旋状に複数回巻き付けてなる請求項１の電子部品の特性測定用治具の接触子。
【請求項３】 複数の導線を有し、それぞれの導線の両端を導体パターンにワイヤボンディング接続した請求項１の電子部品の特性測定用治具の接触子。
【請求項４】 弾性部材の少なくとも上面が曲面である請求項１の電子部品の特性測定用治具の接触子。
【請求項５】 弾性部材の長手方向に沿った帯状の突起を弾性部材の側面に設け、該突起に形成した溝に導線を食い込ませてなる請求項１の電子部品の特性測定用治具の接触子。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品の電気的特性を測定する治具における接触子に係り、特に高周波チップ型電子部品の特性測定に適した接触子の構造に関するものである。
【０００２】
【従来の技術とその問題点】使用周波数が数百ＭＨｚを超えるような高周波電子部品では、電気的特性の測定時にこの電子部品の特性に影響を与えないように、測定治具に設けられる接触子を極力小型にする必要がある。このため、小型金属片をチップ型電子部品の電極形状に合わせてプリント基板上に半田付けした固定型の接触子が従来用いられている。この接触子は構造的には単純で作り易い利点がある。ところが、チップ型電子部品の複数の電極と、測定治具の複数の接触子との双方に、それぞれ位置や寸法のバラツキが生じるため、接触不良が避けられない問題があった。
【０００３】このような固定型の接触子の欠点を補うため、測定治具における接触子を片持ちバネ型とすることも考えられる。入出力側の接触子はインピーダンス整合がとれていれば片持ちバネ型とすることは可能である。しかし、アース用の接触子がインダクタンス成分や容量成分を持つと測定誤差が大きくなるので、アース用の接触子は出来るだけ小型化する必要があり、片持ちバネ型には出来ない。したがって、入出力側の接触子を片持ちバネ型とした測定治具を用いた場合でも、アース電極が複数あるチップ型電子部品の測定を行う際には接触不良の可能性が残る問題がある。そこで、本発明は適度な弾性を有しかつ高周波帯の測定においても大きな測定誤差を生じることがない接触子を提供することを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、電子部品の特性測定用治具の接触子において、導体パターンが形成されたプリント基板と、このプリント基板上に取付けられた耐熱性の弾性部材と、弾性部材の上を横切り且つ導体パターンに電気的に接続された導線とを備えたことを特徴とする。
【０００５】
【実施例】図１及び図２は本発明の特性測定用治具における接触子の一実施例を示すもので、10はシリコーンゴムあるいはフッ素ゴムなどの耐熱性の弾性材料からなる弾性部材である。横断面がほぼ楕円形をした弾性部材10の両側面には、長手方向に沿った帯状の突起11が一体に設けてある。これらの突起11には、図３に拡大して示すような溝12が等間隔に複数個形成してある。
【０００６】弾性部材10には、金線あるいは銅線等からなる導線20が溝12の中を通しながら螺旋状に複数回巻き付けてある。溝12の幅を導線20の直径よりも狭くして、溝12の奥に導線20を食い込ませることで、弾性部材10に巻き付けた導線20が緩まないようにしてある。導線20は弾性部材10の下面の部分で、プリント基板30の導体パターン31に半田40で半田付けされている。
【０００７】図４は、この接触子の使用状態を示すもので、電極51を有するチップ型電子部品50の電気的特性を測定する場合の例である。図４は接触子の導線20に電極51を当接させ、この電子部品50を押し下げた状態を示している。このとき、厚み方向にわずかに変形した弾性部材10には、電極51を上方向に押し戻そうとする弾性力が生じる。このため、弾性部材10の上面が曲面であることと相まって、電極51と導線20との間で良好な接触状態が得られる。
【０００８】図５は、接触子の他の実施例を示している。断面がほぼ半円形の弾性部材60の両側面には、先の実施例と同様な溝62付きの突起61が一体成形してある。弾性部材60の下面は、プリント基板30の導体パターン31上に接着剤、あるいは両面テープ等により接着してある。そして金線あるいは銅線等からなる複数の導線70の両端を、プリント基板30の導体パターン31にそれぞれワイヤボンディング接続した構成である。各導線70は、両側の溝62の中を通るとともに、弾性部材60の上面に当接している。
【０００９】このように構成した場合も、接触子の複数の導線70に電極を接触させた電子部品を押し下げたとき、変形した弾性部材60の弾性によって良好な接触状態が得られる。以上は一つの接触子だけを図示して説明したが、一つの特性測定用治具における全ての接触子が同じ構造とされる。なお、導線の緩みを防止するための突起11、61を弾性部材に一体成形した例を示したが、これらの突起11、61は必ずしも設けなくてもよい。
【００１０】
【発明の効果】本発明によれば、一つ一つの接触子が弾性を有するので、電極数の多い電子部品であっても安定した接触状態を得ることができる。また、接触子を小型に構成できるので、被測定電子部品の電気特性に殆ど影響を与えることがなく、ＧＨｚの周波数帯でも使用可能である。さらに、弾性部材上に独立した複数の導線を設けることにより電子部品の電極に多点で接触可能となる上、構造が簡単で弾性部材を高精度な形状に安価に成形加工できる効果がある。
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| 【出願人】 |
【識別番号】０００００３０８９
【氏名又は名称】東光株式会社
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| 【出願日】 |
平成１２年１月１４日（２０００．１．１４） |
| 【代理人】 |
【識別番号】１０００７３７３７
【弁理士】
【氏名又は名称】大田 優
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| 【公開番号】 |
特開２００１−１９４３８５（Ｐ２００１−１９４３８５Ａ） |
| 【公開日】 |
平成１３年７月１９日（２００１．７．１９） |
| 【出願番号】 |
特願２０００−５４６８（Ｐ２０００−５４６８） |
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