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【発明の名称】 近磁界データ分析装置、近磁界データ分析方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
【発明者】 【氏名】宮西 英司
【要約】 【課題】効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうこと。

【解決手段】プリント基板の各所定の周波数の近磁界データおよび近磁界データが測定されたプリント基板における測定領域に関する位置情報を入力する被分析データ入力部２０１と、入力された各所定の周波数における近磁界データの測定領域ごとの平均値を算出する被分析データ平均値算出部２０２と、表示部２０６を制御して、算出された平均値を測定領域ごとに表示する表示制御部２００と、を備える。
【特許請求の範囲】
【請求項１】 電磁スキャナにより測定された電子機器の近磁界データを分析する近磁界データ分析装置において、前記電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび当該近磁界データが測定された前記電子機器における測定領域に関する位置情報を入力する被分析データ入力手段と、前記被分析データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの平均値を算出する被分析データ平均値算出手段と、を備えたことを特徴とする近磁界データ分析装置。
【請求項２】 さらに、参照データを入力する参照データ入力手段と、前記参照データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における参照データの前記測定領域ごとの平均値を算出する参照データ平均値算出手段と、前記被分析データ平均値算出手段により算出された近磁界データの平均値から当該近磁界データに対応する前記参照データ平均値算出手段により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを算出する差分データ算出手段と、を備えたことを特徴とする請求項１に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項３】 さらに、表示画面を有する表示手段と、前記表示手段を制御して、前記被分析データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された差分データを前記測定領域ごとに表示する表示制御手段と、を備えたことを特徴とする請求項１または２に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項４】 前記表示制御手段は、前記被分析データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴として、前記測定領域の二次元座標位置に対応させて表示することを特徴とする請求項３に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項５】 さらに、前記各所定の周波数における前記測定領域全体の平均値を算出する全測定領域平均値算出手段を備えたことを特徴とする請求項１または２に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項６】 さらに、表示画面を有する表示手段と、前記表示手段を制御して、前記全測定領域平均値算出手段により算出された平均値を表示する表示制御手段と、を備えたことを特徴とする請求項５に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項７】 所望の周波数を入力する周波数入力手段を備え、前記表示制御手段は、前記周波数入力手段により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／または差分データを表示し、さらに前記周波数入力手段に特殊な値を入れることにより、前記参照データ算出手段により算出された平均値および／または前記被分析データ算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された平均値データを表示することを特徴とする請求項１〜６に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項８】 さらに、前記電子機器のプリント基板構造情報を記憶するプリント基板構造情報記憶手段と、前記被分析データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値を記憶する最高値記憶手段を備え、前記表示制御手段は、前記最高値記憶手段により記憶された各所定の周波数の最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値に該当する前記測定領域に対応する前記プリント基板構造情報記憶手段により記憶されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とする請求項１〜７に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項９】 前記電子機器のプリント基板構造情報を記憶するプリント基板構造情報記憶手段と、前記測定領域を指定する指定手段と、を備え、前記表示制御手段は、前記指定手段により指定された測定領域に対応する前記プリント基板構造情報記憶手段により記憶されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とする請求項１〜７に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項１０】 前記所定の周波数が、電子機器のクロック周波数の高調波であることを特徴とする請求項１〜９に記載の近磁界データ分析装置。
【請求項１１】 電磁スキャナにより測定された電子機器の近磁界データを分析する近磁界データ分析方法において、前記電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび当該近磁界データが測定された前記電子機器における測定領域に関する位置情報を入力する被分析データ入力工程と、前記被分析データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの平均値を算出する被分析データ平均値算出工程と、を含んだことを特徴とする近磁界データ分析方法。
【請求項１２】 参照データを入力する参照データ入力工程と、前記参照データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における参照データの前記測定領域ごとの平均値を算出する参照データ平均値算出工程と、前記被分析データ平均値算出工程により算出された近磁界データの平均値から当該近磁界データに対応する前記参照データ平均値算出工程により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを算出する差分データ算出工程と、を含んだことを特徴とする請求項１１に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項１３】 前記被分析データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された差分データを前記測定領域ごとに表示する表示工程を含んだことを特徴とする請求項１１または１２に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項１４】 前記表示工程は、前記被分析データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴として、前記測定領域の二次元座標位置に対応させて表示することを特徴とする請求項１３に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項１５】 さらに、前記各所定の周波数における前記測定領域全体の平均値を算出する全測定領域平均値算出工程を含んだことを特徴とする請求項１１または１２に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項１６】 前記全測定領域平均値算出工程により算出された平均値を表示する表示工程を含んだことを特徴とする請求項１５に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項１７】 所望の周波数を入力する周波数入力工程を含み、前記表示工程は、前記周波数入力工程により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／または差分データを表示し、さらに前記周波数入力工程においてに特殊な値を入れることにより、前記参照データ算出工程により算出された平均値および／または前記被分析データ算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された平均値データを表示することを特徴とする請求項１１〜１６に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項１８】 さらに、前記電子機器のプリント基板構造情報を入力するプリント基板構造情報入力工程を含み、前記表示工程は、前記被分析データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの最高値および／または前記測定領域ごとの平均値の最高値に該当する前記測定領域に対応する前記プリント基板構造情報入力工程により入力されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とする請求項１１〜１７に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項１９】 前記電子機器のプリント基板構造情報を入力するプリント基板構造情報入力工程と、前記測定領域を指定する指定工程と、を含み、前記表示工程は、前記指定工程により指定された測定領域に対応する前記プリント基板構造情報入力工程により入力されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とする請求項１１〜１７に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項２０】 前記所定の周波数が、電子機器のクロック周波数の高調波であることを特徴とする請求項１〜１７に記載の近磁界データ分析方法。
【請求項２１】 前記請求項１１〜２０のいずれか一つに記載された方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電磁スキャナにより測定された電子機器の近磁界データを分析する近磁界データ分析装置、近磁界データ分析方法、およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子機器、たとえば、プリント基板の不要輻射現象の原因および対策の効果の把握を近磁界マップ測定装置（電磁スキャナ、たとえば、ノーザンテレコム社製のＥＭＳＣＡＮ（登録商標））を利用しておこなうためにはプリント基板に使用している問題となるクロック周波数の全高調波、二次元の空間的分布、対策の前後（時間軸）の合計四次元データのすべての対して連続的に見る必要がある。
【０００３】
【発明が解消しようとする課題】しかしながら、従来の分析方法にあっては、上記のような膨大な量のデータを見るためには多くの時間を必要とする。したがって、データ量が膨大であり、測定時間が多くかかる等の理由から、実際の測定は一部の２、３の周波数のみしかおこなうことができず、正確な不具合箇所の特定ができないという問題点があった。
【０００４】この問題点により、近磁界による不具合に対する適切な対策がとれない場合が多い。たとえば、ある周波数で改善が見られても別の周波数では悪化するという問題点がある場合があるからである。このように、近磁界マップ解析にあっては、プリント基板の不具合箇所と対策の効果の再現性がよく、見落としのない形で情報提供されるものが望まれる。
【０００５】この発明は、上述した従来例による問題点に鑑みてなされたものであり、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができる近磁界データ分析装置、近磁界データ分析方法、およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、目的を達成するため、請求項１に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、電磁スキャナにより測定された電子機器の近磁界データを分析する近磁界データ分析装置において、前記電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび当該近磁界データが測定された前記電子機器における測定領域に関する位置情報を入力する被分析データ入力手段と、前記被分析データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの平均値を算出する被分析データ平均値算出手段と、を備えたことを特徴とするものである。
【０００７】この請求項１に記載の発明によれば、各測定領域における平均値を得ることにより、共振現象を目立たなくすることができ、真の原因の領域を特定しやすくなる。
【０００８】また、請求項２に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項１に記載の発明において、さらに、参照データを入力する参照データ入力手段と、前記参照データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における参照データの前記測定領域ごとの平均値を算出する参照データ平均値算出手段と、前記被分析データ平均値算出手段により算出された近磁界データの平均値から当該近磁界データに対応する前記参照データ平均値算出手段により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを算出する差分データ算出手段と、を備えたことを特徴とするものである。
【０００９】この請求項２に記載の発明によれば、参照データとの比較をすることができ、改善処理によりどのくらい不要輻射現象が改善されたかを容易に把握することができる。
【００１０】また、請求項３に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項１または２に記載の発明において、さらに、表示画面を有する表示手段と、前記表示手段を制御して、前記被分析データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された差分データを前記測定領域ごとに表示する表示制御手段と、を備えたことを特徴とするものである。
【００１１】この請求項３に記載の発明によれば、分析結果を容易に把握することができる。
【００１２】また、請求項４に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項３に記載の発明において、前記表示制御手段が、前記被分析データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴として、前記測定領域の二次元座標位置に対応させて表示することを特徴とするものである。
【００１３】この請求項４に記載の発明によれば、直感的に分析結果を把握することができる。
【００１４】また、請求項５に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項１または２に記載の発明において、さらに、前記各所定の周波数における前記測定領域全体の平均値を算出する全測定領域平均値算出手段を備えたことを特徴とするものである。
【００１５】この請求項５に記載の発明によれば、電子機器のどの場所に現れても把握することができ、また、全領域に対する影響も反映した周波数特性全体を把握できる。
【００１６】また、請求項６に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項５に記載の発明において、さらに、表示画面を有する表示手段と、前記表示手段を制御して、前記全測定領域平均値算出手段により算出された平均値を表示する表示制御手段と、を備えたことを特徴とするものである。
【００１７】この請求項６に記載の発明によれば、全領域に対する影響も反映した分析結果を容易に把握することができる。
【００１８】また、請求項７に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項１〜６に記載の発明において、所望の周波数を入力する周波数入力手段を備え、前記表示制御手段が、前記周波数入力手段により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／または差分データを表示し、さらには前記周波数入力手段に特殊な値を入れることにより、前記参照データ算出手段により算出された平均値および／または前記被分析データ算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された平均値データもあわせて表示するようにしてもよい。
【００１９】この請求項７に記載の発明によれば、所望の周波数における分析結果を検索することができ、検索された分析結果を容易に把握することができる。
【００２０】また、請求項８に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項１〜７に記載の発明において、さらに、前記電子機器のプリント基板構造情報を記憶するプリント基板構造情報記憶手段と、前記被分析データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値を記憶する最高値記憶手段を備え、前記表示制御手段が、前記最高値記憶手段により記憶された各所定の周波数の最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値に該当する前記測定領域に対応する前記プリント基板構造情報記憶手段により記憶されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とするものである。
【００２１】この請求項８に記載の発明によれば、各所定の周波数における原因、あるいは全周波数に共通した真の原因と考えられる領域を視覚的に瞬時に把握することができる。
【００２２】また、請求項９に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項１〜７に記載の発明において、前記電子機器のプリント基板構造情報を記憶するプリント基板構造情報記憶手段と、前記測定領域を指定する指定手段と、を備え、前記表示制御手段が、前記指定手段により指定された測定領域に対応する前記プリント基板構造情報記憶手段により記憶されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とするものである。
【００２３】この請求項９に記載の発明によれば、原因と考えられる領域のプリント基板上の構造を容易に知ることができる。
【００２４】また、請求項１０に記載の発明にかかる近磁界データ分析装置は、請求項１〜９に記載の発明において、前記所定の周波数が、電子機器のクロック周波数の高調波であることを特徴とするものである。
【００２５】この請求項１０に記載の発明によれば、発生源のクロック周波数に基づいた分析をすることができる。
【００２６】また、請求項１１に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、電磁スキャナにより測定された電子機器の近磁界データを分析する近磁界データ分析方法において、前記電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび当該近磁界データが測定された前記電子機器における測定領域に関する位置情報を入力する被分析データ入力工程と、前記被分析データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの平均値を算出する被分析データ平均値算出工程と、を含んだことを特徴とするものである。
【００２７】この請求項１１に記載の発明によれば、各測定領域における平均値を得ることにより、共振現象を目立たなくすることができ、真の原因の領域を特定しやすくなる。
【００２８】また、請求項１２に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１１に記載の発明において、参照データを入力する参照データ入力工程と、前記参照データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における参照データの前記測定領域ごとの平均値を算出する参照データ平均値算出工程と、前記被分析データ平均値算出工程により算出された近磁界データの平均値から当該近磁界データに対応する前記参照データ平均値算出工程により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを算出する差分データ算出工程と、を含んだことを特徴とするものである。
【００２９】この請求項１２に記載の発明によれば、参照データとの比較をすることができ、改善処理によりどのくらい不要輻射現象が改善されたかを容易に把握することができる。
【００３０】また、請求項１３に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１１または１２に記載の発明において、前記被分析データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された差分データを前記測定領域ごとに表示する表示工程を含んだことを特徴とするものである。
【００３１】この請求項１３に記載の発明によれば、分析結果を容易に把握することができる。
【００３２】また、請求項１４に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１３に記載の発明において、前記表示工程が、前記被分析データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴として、前記測定領域の二次元座標位置に対応させて表示することを特徴とするものである。
【００３３】この請求項１４に記載の発明によれば、直感的に分析結果を把握することができる。
【００３４】また、請求項１５に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１１または１２に記載の発明において、さらに、前記各所定の周波数における前記測定領域全体の平均値を算出する全測定領域平均値算出工程を含んだことを特徴とするものである。
【００３５】この請求項１５に記載の発明によれば、電子機器のどの場所に現れても把握することができ、また、全領域に対する影響も反映した周波数特性全体を把握できる。
【００３６】また、請求項１６に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１５に記載の発明において、前記全測定領域平均値算出工程により算出された平均値を表示する表示工程を含んだことを特徴とするものである。
【００３７】この請求項１６に記載の発明によれば、全領域に対する影響も反映した分析結果を容易に把握することができる。
【００３８】また、請求項１７に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１１〜１６に記載の発明において、所望の周波数を入力する周波数入力工程を含み、前記表示工程が、前記周波数入力工程により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／または差分データを表示し、さらには前記周波数入力工程において特殊な値を入れることにより、前記参照データ算出工程により算出された平均値および／または前記被分析データ算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された平均値データを表示することを特徴とするものである。
【００３９】この請求項１７に記載の発明によれば、所望の周波数における分析結果を検索することができ、検索された分析結果を容易に把握することができる。
【００４０】また、請求項１８に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１１〜１７に記載の発明において、さらに、前記電子機器のプリント基板構造情報を入力するプリント基板構造情報入力工程を含み、前記表示工程が、前記被分析データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの最高値および／または前記測定領域ごとの平均値の最高値に該当する前記測定領域に対応する前記プリント基板構造情報入力工程により入力されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とするものである。
【００４１】この請求項１８に記載の発明によれば、各所定の周波数における原因、あるいは全周波数に共通した真の原因と考えられる領域を視覚的に瞬時に把握することができる。
【００４２】また、請求項１９に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１１〜１７に記載の発明において、前記電子機器のプリント基板構造情報を入力するプリント基板構造情報入力工程と、前記測定領域を指定する指定工程と、を含み、前記表示工程が、前記指定工程により指定された測定領域に対応する前記プリント基板構造情報入力工程により入力されたプリント基板構造情報を表示することを特徴とするものである。
【００４３】この請求項１９に記載の発明によれば、原因と考えられる領域のプリント基板上の構造を容易に知ることができる。
【００４４】また、請求項２０に記載の発明にかかる近磁界データ分析方法は、請求項１〜１７に記載の発明において、前記所定の周波数が、電子機器のクロック周波数の高調波であることを特徴とするものである。
【００４５】この請求項２０に記載の発明によれば、発生源のクロック周波数に基づいた分析をすることができる。
【００４６】また、請求項２１に記載の発明にかかる記憶媒体は、請求項１１〜２０に記載された方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したことで、そのプログラムを機械読み取り可能となり、これによって、請求項１１〜２０の動作をコンピュータによって実現することが可能である。
【００４７】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この発明にかかる近磁界データ分析装置、近磁界データ分析方法、およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体の好適な実施の形態について詳細に説明する。
【００４８】（ハードウエア構成）まず、この発明の本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置のハードウエア構成について説明する。図１は、本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置のハードウエア構成を示すブロック図である。
【００４９】図１において、１０１は、スペクトル分析装置全体を制御するＣＰＵを、１０２は、ブートプログラム等を記憶したＲＯＭを、１０３は、ＣＰＵ１０１のワークエリアとして使用されるＲＡＭを、１０４は、ＣＰＵ１０１の制御にしたがってＨＤ（ハードディスク）１０５に対するデータのリード／ライトを制御するＨＤＤ（ハードディスクドライブ）を、１０５は、ＨＤＤ１０４の制御で書き込まれたデータを記憶するＨＤをそれぞれ示している。
【００５０】また、１０６は、ＣＰＵ１０１の制御にしたがってＦＤ（フロッピーディスク）１０７に対するデータのリード／ライトを制御するＦＤＤ（フロッピーディスクドライブ）を、１０７は、ＦＤＤ１０６の制御で書き込まれたデータを記憶する着脱自在な記憶媒体の一例としてのＦＤを、１０８は、ドキュメント、表やグラフを含む画像、機能情報等を表示するディスプレイをそれぞれ示すものである。
【００５１】また、１０９は、通信回線１１０を介してネットワークに接続され、そのネットワークＮＥＴと内部のインターフェイスを司るインターフェイス（Ｉ／Ｆ）を、１１１は、文字、数値、各種指示等の入力のためのキーを備えたキーボードを、１１２は、カーソルの移動や範囲選択、あるいは表示画面に表示されたアイコンやボタンの押下やウインドウの移動やサイズの変更等をおこなうマウスをそれぞれ示している。
【００５２】また、１１３は、ＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｈａｒａｃｔｅｒ Ｒｅａｄｅｒ）機能を備えた画像を光学的に読み取るスキャナを、１１４は、検索結果その他表示画面に表示されたデータの内容等を印刷するプリンタを、１１５は、上記各部を結合するためのバスをそれぞれ示している。
【００５３】また、ＨＤ１０５に近磁界分析ソフトウエア、データ変換ソフトウエア、表計算ソフトウエア、インターネット等のネットワークへの接続ソフトウエア等のアプリケーションソフトウエアや、動的書式マクロプログラム等のマクロプログラムが記憶されているようにしてもよい。
【００５４】（機能的構成）つぎに、本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置の機能的構成について説明する。図２および図３は、本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置の構成を機能的に示すブロック図である。
【００５５】図２のブロック図において、近磁界データ分析装置は、表示制御部２００と、被分析データ入力部２０１と、被分析データ平均値算出部２０２と、参照データ入力部２０３と、参照データ平均値算出部２０４と、差分データ算出部２０５と、表示部２０６と、周波数入力部２０７と、プリント基板構造情報記憶部２０８と、最高値記憶部２０９と、測定領域指定部２１０とから構成されるものである。
【００５６】また、図３は、本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置の構成を機能的に示す別のブロック図である。図３のブロック図において、近磁界データ分析装置は、表示制御部２００と、被分析データ入力部２０１と、被分析データ平均値算出部２０２と、参照データ入力部２０３と、参照データ平均値算出部２０４と、差分データ算出部２０５と、表示部２０６のほか、全測定領域平均値算出部３０１を含む構成である。なお、同一の構成部について、同一の符号を付すものである。
【００５７】被分析データ入力部２０１は、電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび近磁界データが測定された電子機器における測定領域に関する位置情報を入力し格納する。
【００５８】近磁界データとは、後述する近磁界マップ測定装置により測定された近磁界強度マップに関するデータを含むものである。また、測定領域に関する位置情報とは、具体的には、測定領域の二次元座標に関する情報等である。
【００５９】被分析データ平均値算出部２０２は、共振現象を目立たなくする等の理由から、被分析データ入力部２０１により入力された各所定の周波数における近磁界データの測定領域ごとの平均値を算出する。平均値の算出は、一般的な方法を用いるため、その詳細な説明は省略する。これにより、真の原因の領域を特定しやすくするものである。
【００６０】参照データ入力部２０３は、参照データを入力、格納し、参照データ平均値算出部２０４が、参照データ入力部２０３により入力された各所定の周波数における参照データの測定領域ごとの平均値を算出する。平均値の算出処理に関しては、被分析データ平均値算出部における平均値の算出処理と同様である。
【００６１】差分データ算出部２０５は、被分析データ平均値算出部２０２により算出された近磁界データの平均値から近磁界データに対応する参照データ平均値算出部２０４により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを得る。減算する理由は、被分析データを参照データと比較をすることにより、改善処理されたことで、どのくらい不要輻射現象が改善されたかを容易に把握可能とするためである。
【００６２】表示部２０６は、表示画面を有するものであり、たとえば、ＣＲＴや液晶ディスプレイ等のディスプレイ１０８により実現することができる。また、表示制御部２００は、表示部２０６を制御して、被分析データ平均値算出手段２０２により算出された平均値および／または参照データ平均値算出部２０４により算出された平均値および／または差分データ算出部２０５により算出された差分データを前記測定領域ごとに表示する。
【００６３】また、表示制御部２００は、被分析データ平均値算出部２０２により算出された平均値および／または参照データ平均値算出部２０４により算出された平均値および／または差分データ算出部２０５により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴、たとえば、色分けして、前記測定領域の二次元座標位置に対応させて表示する。
【００６４】また、周波数入力部２０７は、所望の周波数を入力し格納する。すなわち、操作者により分析結果が知りたい高調波の周波数が入力・格納される。周波数入力部２０７の詳細については後述する。
【００６５】この際、表示制御部２００は、周波数入力部２０７により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／またはそれらの差分データを表示する。
【００６６】また、プリント基板構造情報記憶部２０８は、電子機器のプリント基板構造情報を記憶し、最高値記憶部２０９は、被分析データ入力部２０１および参照データ入力部２０３により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの測定領域ごとの最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値を記憶する。
【００６７】プリント基板構造情報記憶部２０８および最高値記憶部２０９は、ＨＤ１０５およびＨＤＤ１０４、あるいはＦＤ１０７およびＦＤＤ１０６等、記憶媒体およびその記憶媒体への情報の書き込み／読み出しをおこなう装置等により実現される。なお、最高値記憶部２０９のアルゴリズムは後述する図１０のフローチャートの大部分を占める。
【００６８】この際、表示制御部２００は、最高値記憶部２０９により記憶された各所定の周波数の最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値に該当する測定領域に対応するプリント基板構造情報記憶部２０８により記憶されたプリント基板構造情報を表示する。したがって、各所定の周波数における原因、あるいは全周波数に共通した真の原因と考えられる領域を視覚的に瞬時に把握することが可能となる。
【００６９】また、測定領域指定部２１０は、測定領域を指定する。すなわち、たとえば操作者がキーボード１１１等により二次元の座標値を入力することにより、あるいは、表示画面に表示されている領域をマウス１１２等を利用してポイントすることにより、測定領域が指定される。
【００７０】この際、表示制御部２００は、測定領域指定部２１０により指定された測定領域に対応するプリント基板構造情報記憶部２０８により記憶されたプリント基板構造情報を表示する。したがって、原因と考えられる領域のプリント基板上の構造を容易に知ることができる。
【００７１】また、図３のブロック図において、全測定領域平均値算出部３０１は、各所定の周波数における測定領域全体の平均値を算出する。平均値の算出は一般的な方法を用いるため、その詳細な説明は省略する。
【００７２】全測定領域平均値算出部３０１により各所定の周波数における測定領域全体の平均値を算出するため、電子機器のどの場所に現れても把握することができ、また、全領域に対する影響も反映した周波数特性全体を把握することができる。なお、全測定領域平均値算出部３０１のアルゴリズムは後述する図１０のフローチャートの大部分を占める。
【００７３】この際、表示制御部２００は、全測定領域平均値算出部３０１により算出された平均値を表示する。したがって、全領域に対する影響も反映した分析結果を容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことが可能である。
【００７４】なお、表示制御部２００、被分析データ入力部２０１、被分析データ平均値算出部２０２、参照データ入力部２０３、参照データ平均値算出部２０４、差分データ算出部２０５、表示部２０６、周波数入力部２０７、プリント基板構造情報記憶部２０８、最高値記憶部２０９、測定領域指定部２１０、全測定領域平均値算出部３０１は、ＲＯＭ１０２、ＲＡＭ１０３、あるいはハードディスク１０５等の記録媒体に記録されたプログラム等に記載された命令にしたがってＣＰＵ１０１等が命令処理を実行することにより、各部の機能を実現するようにしてもよい。
【００７５】（近磁界マップ測定装置の概要）つぎに、近磁界マップ測定装置の概要について説明する。近磁界マップ測定装置（電磁スキャナ、たとえば、ノーザンテレコム社製のＥＭＳＣＡＮ（登録商標））は、プリント回路基板からの高周波放射を細部に立ち入ることなしに測定する。基板からの放射の振幅を周波数に対してプロットし、かつ特定周波数に対し基板表面電流に対応した磁界分布のＸ，Ｙ座標図をプロットする。
【００７６】図４に本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置に接続される近磁界マップ測定装置のアンテナの配列の一例を示す。また、図５に本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置に接続される近磁界マップ測定装置のアンテナアレイの回路の一例を示す。
【００７７】近磁界マップ測定装置のアンテナ基板は、アンテナアレイおよび制御論理回路の２つの要素から構成される。アンテナアレイは微小プローブの直交格子からなり、図４に示すように、１６層のプリント基板の中に埋め込まれた矢はず模様のパターンから構成される。各プローブはコンデンサ５０１、ダイオード５０２と印刷されたループ５０３の各１つから構成される。
【００７８】アンテナアレイはストリップライン技術を用いて作成され、各ラインはほぼ特性インピーダンスで終端されている。アンテナアレイの各列と各段はチップコンデンサで終端され、ミニ同軸ケーブルを通して受信機の入力に高周波電圧の給電を可能とする。
【００７９】制御論理回路はアンテナアレイの端に位置し高速のＣＭＯＳ論理から構成される。プロセッサからの制御により、適切な列と段が選択され受信機上で値の記録を可能とする。このスイッチは一つのループを選択し、これに誘起する高周波電圧はこのチップコンデンサを通じて測定用受信機に結合される。このようにして、近磁界マップ測定装置から被分析データを得ることができる。
【００８０】（各処理の内容）つぎに、本実施の形態にかかる近磁界データ分析装置における各処理の内容について説明する。以下に各処理の一覧を示す。
【００８１】（１）測定データ変換処理測定装置（制御プログラムを含む）が出力した測定データファイル（バイナリデータ）を以下に示す測定データ分析処理において読み込み可能な書式にしたがったデータファイルに変換する処理である。
【００８２】（２）測定データ分析処理つぎの■〜■に示すアルゴリズムにしたがう測定データ分析処理である。
【００８３】■データ読み込み処理■近磁界マップデータの二次元フィルタ処理■全領域にわたって各領域座標に対する全周波数にわたる平均化処理■特徴データの抽出処理■分析データの出力処理【００８４】（３）分析データ表示処理測定データ分析処理により出力された分析データおよびプリント基板データ（導体パターンと部品情報）を読み込み、視覚的に認識できる形（マップおよびスペクトルグラフ）に変換するとともに、つぎの■〜■の各処理を有する処理である。
【００８５】■レポート作成処理■プリント基板における最大放射箇所の自動特定と視覚的自動表示処理■マップデータの周波数検索処理■プリント基板の位置検索処理【００８６】（（１）測定データ変換処理）まず、測定データ変換処理について説明する。図６は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置の測定データ変換処理の内容を示すフローチャートである。
【００８７】上記近磁界マップ測定装置が出力した被分析データである測定データファイル（通常はバイナリデータ）は、問題となるクロック周波数の全高調波を近磁界マップ測定装置の測定可能範囲内ですべて順次並べられて一つのものとなっていることを前提としている。
【００８８】測定データ変換機能は、図６のフローチャートにおいて、まず、ヘッダー部の読み込みをおこなう（ステップＳ６０１）。その後、ヘッダー部の必要情報を取り出す（ステップＳ６０２）。ヘッダー部の必要情報とは、たとえば、測定周波数や測定表題等を含むものである。さらに、データ出力もおこなう。
【００８９】つぎに、測定データを取り込み（ステップＳ６０３）、取り込んだ測定データのストリング変換をおこなう（ステップＳ６０４）。さらに、ストリング変換したデータを出力する。
【００９０】引き続き、次ヘッダーを検索し（ステップＳ６０５）、次ヘッダーが見つかったか否かを判断する（ステップＳ６０６）。ここで、次ヘッダーが見つかった場合（ステップＳ６０６肯定）は、ステップＳ６０１へ移行し、以後、ステップＳ６０１〜Ｓ６０６までの一連の処理を繰り返しおこなう。
【００９１】一方、ステップＳ６０６において、次ヘッダーが見つからなかった場合（ステップＳ６０６否定）は、すべての測定データを取り込んだと判断し、処理を終了する。
【００９２】（（２）測定分析処理）つぎに、測定分析処理について図７〜図１０を用いて以下の■〜■の順に説明する。
【００９３】■データ読み込み処理図７は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置のデータ読み込み処理の手順を示すフローチャートである。
【００９４】図７のフローチャートにおいて、まず、被分析データファイル名および被参照データファイル名を取り込む（ステップＳ７０１、Ｓ７０２）。さらに、出力ファイル名を作成する（ステップＳ７０３）。
【００９５】つぎに、被分析データファイルを読み込み（ステップＳ７０４）、読み込んだ被分析データファイルを一時記憶（バッファメモリ等）に保管する。同様に、参照データファイルを読み込み（ステップＳ７０６）、読み込んだ参照データファイルを一時記憶に保管し（ステップＳ７０７）、処理を終了する。
【００９６】■近磁界マップデータの二次元フィルタ処理Ｘ方向Ｙ方向各２値計４値の平均値フィルタ処理は、近磁界マップ測定装置の多くが相互にとなりあう磁界アンテナの磁界方向に対する指向性が直交していることに基づいて、磁界ベクトルの大きさに相当する値を求めるためにおこなうものである。
【００９７】図８は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置平均値フィルタ処理の手順を示すフローチャートである。
【００９８】図８のフローチャートにおいて、まず、Ｘ方向の任意の点（ｘ：たとえば、最小値）におけるデータ値を入力する（ステップＳ８０１）。ステップＳ８０１において入力された値をｘ１とする。
【００９９】つぎに、ステップＳ８０１における任意の点ｘＸ方向におけるとなりのデータ値を入力する（ステップＳ８０２）。ステップＳ８０２において入力された値をｘ２とする。
【０１００】つぎに、Ｙ方向の上記ｘに対応する点（ｙ）におけるデータ値を入力する（ステップＳ８０３）。ステップＳ８０３において入力された値をｙ１とする。さらに、Ｘ方向におけるとなりのデータ値すなわち、Ｙ方向の上記ｘ２に対応する点におけるデータ値を入力する（ステップＳ８０４）。
【０１０１】ステップＳ８０４において入力された値をｙ２とする。つぎに、ｘ１、ｘ２、ｙ１、ｙ２の平均値を算出する（ステップＳ８０５）。算出された平均値は、出力されるか、あるいは、保管される（ステップＳ８０６）。
【０１０２】つぎに、すべてのデータにおける処理が終了したか否かを判断する（ステップＳ８０７）。ここで、いまだ、すべてのデータにおける処理が終了していない場合（ステップＳ８０７否定）は、つぎの点、すなわち、ｘ＝ｘ＋１の点を検索する（ステップＳ８０８）。
【０１０３】その後、ステップＳ８０１へ移行し、以後、ステップＳ８０１〜Ｓ８０８の処理を繰り返しおこなう。ステップＳ８０７において、すべてのデータにおける処理が終了した場合（ステップＳ８０７肯定）は、二次元フィルタ処理の一連の処理を終了する。
【０１０４】上記二次元フィルタ処理により、後述する磁界マップは連続した等高線をはっきり示すことができるようになる。したがって、近磁界の空間的分布状況を正しく見ることができる。
【０１０５】■全領域にわたって各領域座標に対する全周波数にわたる平均化処理つぎに、全領域にわたって各領域座標に対する全周波数にわたる平均化処理の内容について説明する。
【０１０６】図９は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置の全領域にわたって各領域座標に対する全周波数にわたる平均化処理の手順を示すフローチャートである。
【０１０７】図９のフローチャートにおいて、まず、平均化処理の対象となる最初の領域を抽出する（ステップＳ９０１）。そして、最初の領域について、最初の高調波における平均値を算出する（ステップＳ９０２）。算出された平均値は、出力され、あるいは、保管される（ステップＳ９０３）。
【０１０８】つぎに、平均値を算出した高調波が処理をおこなう最後の高調波であるか否かを判断する（ステップＳ９０４）。ここで、最後の高調波でない場合（ステップＳ９０４否定）は、引き続き、つぎの高調波における平均値を算出し（ステップＳ９０５）、その後、ステップＳ９０３へ移行する。以下、すべての高調波における平均値算出処理が終了するまで、ステップＳ９０３〜Ｓ９０５間での各処理を繰り返しおこなう。
【０１０９】ステップＳ９０４において、最後の高調波である場合（ステップＳ９０４肯定）は、つぎに、平均値化処理の対象となった領域が、処理をおこなう最後の領域であるか否かを判断する（ステップＳ９０６）。ここで、最後の領域でない場合（ステップＳ９０６否定）は、つぎの領域を抽出する（ステップＳ９０７）。
【０１１０】その後、ステップＳ９０２へ移行し、すべての領域における平均値化算出処理が終了するまで、ステップＳ９０２〜Ｓ９０７までの各処理を繰り返しおこなう。ステップＳ９０６において、最後の領域である場合（ステップＳ９０６肯定）は、全領域にわたって各領域座標に対する全周波数にわたる平均化処理のすべての処理を終了する。
【０１１１】また、参照データについても、図示は省略するが、上記各処理と同様の処理をおこなう。さらに、被分析データの各領域に対応したデータの全高調波にわたる各々平均値を求めたデータから、参照データの各領域に対応したデータの全高調波にわたる各々平均値を求めたデータを減算したデータを作成する。
【０１１２】■特徴データの抽出処理被分析データ、参照データ、差分データのそれぞれに対して以下の処理をおこなう。
【０１１３】図１０は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置の特徴データ抽出処理の手順を示すフローチャートである。
【０１１４】図１０のフローチャートにおいて、まず、複数ある高調波データのうちの、最初の高調波データを抽出する（ステップＳ１００１）。つぎに、ステップＳ１００１において抽出した高調波データのうちの、最初のマップ座標のデータ（被分析データ、参照データ）を抽出する（ステップＳ１００２）。つぎに、ステップＳ１００２において抽出されたマップ座標に対応する被分析データ値から参照データ値を減算し、減算した結果導かれた値を差分データ値とする（ステップＳ１００３）。
【０１１５】その後、すべてのマップ座標について終了したか否かを判断し（ステップＳ１００４）、いまだ終了していない場合（ステップＳ１００４否定）は、つぎのマップ座標のデータを抽出し（ステップＳ１００５）、ステップＳ１００３へ移行する。以下、すべてのマップ座標について終了するまで、ステップＳ１００３〜Ｓ１００５の処理を繰り返しおこなう。
【０１１６】ステップＳ１００４において、すべてのマップ座標について終了した場合（ステップＳ１００４肯定）は、つぎに、被分析データ、参照データ、差分データの各データのマップ中の最大値を求め、その値を記憶する（ステップＳ１００６）。
【０１１７】同様に、被分析データ、参照データ、差分データの各データのマップ中の最小値を求め、その値を記憶する（ステップＳ１００７）。さらに、高調波データの全マップにわたる平均値を算出する（ステップＳ１００８）。
【０１１８】その後、すべての高調波データについて終了したか否かを判断し（ステップＳ１００９）、いまだ終了していない場合（ステップＳ１００９否定）は、つぎの高調波データを抽出し（ステップＳ１０１０）、ステップＳ１００１へ移行する。以下、すべての高調波データについて終了するまで、ステップＳ１００１〜Ｓ１０１０の処理を繰り返しおこなう。
【０１１９】ステップＳ１００９において、すべての高調波データについて上記ステップＳ１００１からＳ１００８までの処理が終了した場合（ステップＳ１００９肯定）は、一連のすべての処理を終了する。同様の処理を前記全周波数平均値化データに対してもおこなう。すなわち、これらの処理は、全周波数について各座標ごとに平均値化したデータについても一つの高調波データと同様にあつかって処理するものである。
【０１２０】■分析データの出力処理上記■全領域にわたって各領域座標に対する全周波数にわたる平均化処理および■特徴データの抽出処理によって作成したデータをあらかじめ定められた書式にしたがって出力する。
【０１２１】（（３）分析データ表示処理）つぎに、測定分析処理について図１１〜図１６を用いて以下の■〜■の順に説明する。
【０１２２】■レポート作成処理表示制御部２００が分析結果のデータを読み込む作業の途中で作成される。すなわち、図１１のフローチャートに示すアルゴリズムにより実行される。
【０１２３】図１１は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置のレポート作成処理の手順を示すフローチャートである。
【０１２４】図１１のフローチャートにおいて、まず、起動用ダイアログを起動する（ステップＳ１１０１）。起動用ダイアログとは、必要データの記述のためのダイアログであり、「番号／分析の表題」、「分析ディレクトリ」、「分析ファイル名」、「差分ディレクトリ」、「差分ファイル名」等を記述する。
【０１２５】つぎに、分析日時のシート所定場所への書き込みをおこなう（ステップＳ１１０２）。さらに、報告書シート所定場所への書き込みをおこなう（ステップＳ１１０３）。
【０１２６】その後、読み込んだデータの報告書に必要なデータ部分を上記報告書シートにコピーすることにより、データの書き込みをおこなう（ステップＳ１１０４）。最後に、ステップＳ１１０１〜ステップＳ１１０４の処理をふまえ、マップの作成をおこない（ステップＳ１１０５）、一連のレポート作成のすべての処理を終了する。
【０１２７】図１２は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置のレポートの構成を示す説明図である。図１２において、レポートの構成は、プリント基板情報表示領域１２０１、スペクトル表示領域１２０２、近磁界マップ表示領域１２０３、差分マップ表示領域１２０４、スキャンマップ表示領域１２０５、コメント領域Ａ１２０６、コメント領域Ｂ１２０７等によって構成される。
【０１２８】プリント基板情報表示領域１２０１には、「評価の対象に関する情報」、「測定場所」、「使用期間」、「組立仕様」、「全体機能仕様」、「担当者に関する情報」等、プリント基板に関する情報が表示される。また、スペクトル表示領域１２０２には、周波数対効果（全領域平均値）が被分析データ、参照データ、差分データについてそれぞれ表示される。
【０１２９】また、近磁界マップ表示領域１２０３には、空間的位置対観測値（全周波数平均）が連続した等高線によって表示される。また、差分マップ表示領域１２０４には、空間的位置対効果（全周波数平均）が空間的位置対観測値と同様に連続した等高線によって表示される。また、スキャンマップ表示領域１２０５には、対象となったプリント基板の画像が表示される。
【０１３０】また、コメント領域Ａ１２０６には、自動記載によるコメントが表示される。また、コメント領域Ｂ１２０７には、操作者によりおこなわれるマニュアル記載のコメントが表示される。
【０１３１】■プリント基板における最大放射箇所の自動特定と視覚的自動表示処理表示制御部２００は、レポート書式部分のほかに、分析処理されたデータや各高調波の近磁界マップ等を見ることができるビュア部を備えている。図１３は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置のビュア部の構成を示す説明図である。
【０１３２】このように、参照データ平均値算出部２０４のデータ、被分析データ平均値算出部２０２のデータ、差分データ算出部２０５のデータは、図１０における、近磁界マップ表示領域１２０３、差分マップ表示領域１２０４，１３０２，１３０３に表示される。
【０１３３】図１３において、ビュア部は、分析処理されたスペクトルデータの表示領域１３０１のほか、分析処理された近磁界マップ表示領域１３０２、分析数値データ表示領域１３０３、基板マップ表示領域１３０４、操作ボタン領域１３０５等より構成される。
【０１３４】分析数値データ表示領域１３０３に、近磁界マップの絶対値が最大の座標を表示する部分があり、近磁界マップが切り替わったときにそれに応じて数値が更新されると同時に基板マップ表示領域１３０４にその座標に相当するプリント基板の部分を表示する。
【０１３５】なお、表示制御部２００は、基板マップ表示領域１３０４に表示するためのプリント基板マップデータをプリント基板の層構成に応じて各層ごとに近磁界マップ座標にしたがって格納するマップデータ部を備えていてもよい。
【０１３６】プリント基板マップデータはカット・アンド・ペースト機能を用いて手動で格納することができる。また、所定のプリント基板マップデータを格納する自動格納機能を使用することもできる。図１４は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置のプリント基板マップデータ自動格納機能の起動用のダイアログを示す説明図である。
【０１３７】図１４の起動用ダイアログ１４００では、複数のマップファイル名１４０１、取り込み倍率１４０２と、取り込み座標Ｘ１４０３、取り込み座標Ｙ１４０４が入力可能であり、入力されたあるいはあらかじめ入力されてあるデータが表示される。データが入力された後、「実行」ボタン１４０５をクリックすることにより、格納がおこなわれる。
【０１３８】■マップデータの周波数検索処理ビュア部の近磁界マップ表示領域１３０２に測定された高調波の近磁界マップデータのうち、必要とされる周波数のデータを検索し表示することができる。図１５は、本実施の形態にかかるスペクトル分析装置のマップデータの周波数検索処理の起動用ダイアログを示す説明図である。
【０１３９】図１５において、周波数検索処理起動用ダイアログ１５００は、検索の対象となる周波数を入力するための周波数記入欄１５０１が設けられ、周波数記入欄１５０１に該当する周波数の数値を入力し、「ＯＫ」ボタン１５０２をクリックすることにより、周波数検索処理が実行される。
【０１４０】検索処理の結果、周波数記入欄１５０１に入力された周波数に最も近い周波数の近磁界マップデータが図１３に示した近磁界マップ表示領域１３０２に表示される。負の値を記入した場合は分析処理された近磁界マップデータが表示される。
【０１４１】なお、近磁界マップ領域１３０２には、被分析データ、参照データ、差分データの３種のデータを切り替えた表示することができ、切り替えたそれぞれのデータについて、同様に周波数検索をすることができる。
【０１４２】■プリント基板の位置検索処理ビュア部には、近磁界マップ表示領域１３０２に現れた問題箇所に対する該問題箇所の座標を指定することで、該場所のプリント基板構造を示す画像情報（基板の内層パターン）を検索することができる。
【０１４３】図１６は、本実施の形態にかかる近磁界データ解析装置のプリント基板の位置検索処理の起動用ダイアログを示す説明図である。
【０１４４】図１６において、プリント基板の位置検索処理起動用ダイアログ１６００は、Ｘ座標入力欄１６０１と、Ｙ座標入力欄１６０２と、「実行」ボタン１６０３とから構成されている。Ｘ座標入力欄１６０１、Ｙ座標入力欄１６０２に座標数値を入力した後、「実行」ボタン１６０３をクリックすることにより、基板マップ表示領域１３０４にプリント基板構造を示す画像情報の該当箇所が表示される。なお、図１３に示したマップ選択ボタン１３０６をクリックすることにより基板マップ表示領域１３０４に表示するプリント基板の層情報を切り替えることができる。
【０１４５】従来の装置ではプリント基板上の問題箇所の大体の位置を把握することができたが、プリント基板のその箇所の構造（たとえば表面的には見ることができない内層構造など）をその場で把握することができず、解析作業の効率化を図ることができなかったが、このプリント基板の位置検索処理により、プリント基板の構造情報を格納し、近磁界マップ表示に対応して問題箇所の基板構造を検索できることにより、速やかにプリント基板の構造上の問題点を把握することができるようになった。
【０１４６】以上説明したように本実施の形態によれば、被分析データ入力部２０１が、電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび当該近磁界データが測定されたプリント基板における測定領域に関する位置情報を入力し、被分析データ平均値算出部２０２が、被分析データ入力部２０１により入力された各所定の周波数における近磁界データの測定領域ごとの平均値を算出するので、共振現象を目立たなくすることができ、真の原因の領域を特定しやすくなる。
【０１４７】これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有するプリント基板のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができる。
【０１４８】また、本実施の形態によれば、さらに、参照データ入力部２０３が参照データを入力し、参照データ平均値算出部２０４が、参照データ入力２０３により入力された各所定の周波数における参照データの測定領域ごとの平均値を算出し、差分データ算出部２０５が、被分析データ平均値算出部２０２により算出された近磁界データの平均値から近磁界データに対応する参照データ平均値算出部２０４により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを算出するので、参照データとの比較をすることができ、改善処理によりどのくらい不要輻射現象が改善されたかを容易に把握することができる。
【０１４９】また、本実施の形態によれば、表示制御部２００が、表示画面を有する表示部２０６を制御して、被分析データ平均値算出部２０２により算出された平均値および／または参照データ平均値算出部２０４により算出された平均値および／または差分データ算出部２０５により算出された差分データを測定領域ごとに表示するので、分析結果を容易に把握することができる。
【０１５０】また、本実施の形態によれば、表示制御部２００が、被分析データ平均値算出部２０２により算出された平均値および／または参照データ平均値算出部２０４により算出された平均値および／または差分データ算出部２０５により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴として、測定領域の二次元座標位置に対応させて表示するので、直感的に分析結果を把握することができる。
【０１５１】また、本実施の形態によれば、全測定領域平均値算出部３０１が、各所定の周波数における測定領域全体の平均値を算出するので、プリント基板のどの場所に現れても把握することができ、また、全領域に対する影響も反映した周波数特性全体を把握できる。
【０１５２】また、本実施の形態によれば、表示制御部２００が、表示画面を有する表示部２０６を制御して、全測定領域平均値算出部３０１により算出された平均値を表示するので、全領域に対する影響も反映した分析結果を容易に把握することができる。
【０１５３】また、本実施の形態によれば、周波数入力部２０７が所望の周波数を入力し、表示制御部２００が、周波数入力部により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／またはそれらの差分データを表示するので、所望の周波数における分析結果を検索することができ、検索された分析結果を容易に把握することができる。
【０１５４】また、本実施の形態によれば、プリント基板構造情報記憶部２０８、プリント基板構造情報を記憶し、最高値記憶部２０９が、被分析データ入力部２０１および参照データ入力部２０３により入力された各所定の周波数における近磁界データの測定領域ごとの最高値を記憶し、表示制御部２００が、最高値記憶部２０９により記憶された各所定の周波数の最高値に該当する測定領域に対応するプリント基板構造情報記憶部２０８により記憶されたプリント基板構造情報を表示するので、各所定の周波数における原因、あるいは全周波数に共通した真の原因と考えられる領域を視覚的に瞬時に把握することができる。
【０１５５】また、本実施の形態によれば、プリント基板構造情報記憶部２０８が、プリント基板構造情報を記憶し、測定領域指定部２１０が、測定領域を指定し、表示制御部２００が、測定領域指定部２１０により指定された測定領域に対応するプリント基板構造情報記憶部２０８により記憶されたプリント基板構造情報を表示するので、原因と考えられる領域のプリント基板上の構造を容易に知ることができる。
【０１５６】また、本実施の形態によれば、所定の周波数が、プリント基板のクロック周波数の高調波であるので、発生源のクロック周波数に基づいた分析をすることができる。
【０１５７】したがって、以下のような効果を奏する。
（１）問題となるリターンパス・バイオレーション等の場所の特定を容易にする。
（２）プリント基板の対策部品の効果の定量的評価ができる。
（３）効果の定量化によりプリント基板の対策部品の必要最小限化、コストミニマム化が図れる。
（４）分析データの蓄積・分類による共通問題点の把握ができる。
【０１５８】なお、本実施の形態または２で説明した近磁界データ分析方法は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現される。このプログラムは、ハードディスク、フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。またこのプログラムは、上記記録媒体を介して、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。
【０１５９】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明によれば、被分析データ入力手段が、前記電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび当該近磁界データが測定された前記電子機器における測定領域に関する位置情報を入力し、被分析データ平均値算出手段が、前記被分析データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの平均値を算出するので、各測定領域における平均値を得ることにより、共振現象を目立たなくすることができ、真の原因の領域を特定しやすくなる。
【０１６０】これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６１】また、請求項２に記載の発明によれば、請求項１に記載の発明において、さらに、参照データ入力手段が参照データを入力し、参照データ平均値算出手段が、前記参照データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における参照データの前記測定領域ごとの平均値を算出し、差分データ算出手段が、前記被分析データ平均値算出手段により算出された近磁界データの平均値から当該近磁界データに対応する前記参照データ平均値算出手段により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを算出するので、参照データとの比較をすることができ、改善処理によりどのくらい不要輻射現象が改善されたかを容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６２】また、請求項３に記載の発明によれば、請求項１または２に記載の発明において、表示制御手段が、表示画面を有する表示手段を制御して、前記被分析データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された差分データを前記測定領域ごとに表示するので、分析結果を容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６３】また、請求項４に記載の発明によれば、請求項３に記載の発明において、前記表示制御手段が、前記被分析データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴として、前記測定領域の二次元座標位置に対応させて表示するので、直感的に分析結果を把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６４】また、請求項５に記載の発明によれば、請求項１または２に記載の発明において、全測定領域平均値算出手段が、前記各所定の周波数における前記測定領域全体の平均値を算出するので、電子機器のどの場所に現れても把握することができ、また、全領域に対する影響も反映した周波数特性全体を把握でき、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６５】また、請求項６に記載の発明によれば、請求項５に記載の発明において、表示制御手段が、表示画面を有する表示手段を制御して、前記全測定領域平均値算出手段により算出された平均値を表示するので、全領域に対する影響も反映した分析結果を容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６６】また、請求項７に記載の発明によれば、請求項１〜６に記載の発明において、周波数入力手段が所望の周波数を入力し、前記表示制御手段が、前記周波数入力手段により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／または差分データを表示、さらには前記周波数入力手段に特殊な値を入れることにより、前記被分析データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出手段により算出された平均値および／または前記差分データ算出手段により算出された差分データを表示するので、所望の周波数における分析結果を検索することができ、検索された分析結果を容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６７】また、請求項８に記載の発明によれば、請求項１〜７に記載の発明において、プリント基板構造情報記憶手段が、前記電子機器のプリント基板構造情報を記憶し、最高値記憶手段が、前記被分析データ入力手段により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値を記憶し、前記表示制御手段が、前記最高値記憶手段により記憶された各所定の周波数の最高値および／または前記測定領域ごとの平均値データの最高値に該当する前記測定領域に対応する前記プリント基板構造情報記憶手段により記憶されたプリント基板構造情報を表示するので、各所定の周波数における原因、あるいは全周波数に共通した真の原因と考えられる領域を視覚的に瞬時に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６８】また、請求項９に記載の発明によれば、請求項１〜７に記載の発明において、プリント基板構造情報記憶手段が、前記電子機器のプリント基板構造情報を記憶し、指定手段が、前記測定領域を指定し、前記表示制御手段が、前記指定手段により指定された測定領域に対応する前記プリント基板構造情報記憶手段により記憶されたプリント基板構造情報を表示するので、原因と考えられる領域のプリント基板上の構造を容易に知ることができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１６９】また、請求項１０に記載の発明によれば、請求項１〜９に記載の発明において、前記所定の周波数が、電子機器のクロック周波数の高調波であるので、発生源のクロック周波数に基づいた分析をすることができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１７０】また、請求項１１に記載の発明によれば、被分析データ入力工程が、前記電子機器の各所定の周波数の近磁界データおよび当該近磁界データが測定された前記電子機器における測定領域に関する位置情報を入力し、被分析データ平均値算出工程が、前記被分析データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの平均値を算出するので、各測定領域における平均値を得ることにより、共振現象を目立たなくすることができ、真の原因の領域を特定しやすくなる。
【０１７１】これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７２】また、請求項１２に記載の発明によれば、請求項１１に記載の発明において、参照データ入力工程が、参照データを入力し、参照データ平均値算出工程が、前記参照データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における参照データの前記測定領域ごとの平均値を算出し、差分データ算出工程が、前記被分析データ平均値算出工程により算出された近磁界データの平均値から当該近磁界データに対応する前記参照データ平均値算出工程により算出された参照データの平均値を減算することにより差分データを算出するので、参照データとの比較をすることことで、改善処理によりどのくらい不要輻射現象が改善されたかを容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７３】また、請求項１３に記載の発明によれば、請求項１１または１２に記載の発明において、表示工程が、前記被分析データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された差分データを前記測定領域ごとに表示するので、分析結果を容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７４】また、請求項１４に記載の発明によれば、請求項１３に記載の発明において、前記表示工程が、前記被分析データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記差分データ算出工程により算出された差分データを、データ量に基づいて変化させた視覚的特徴として、前記測定領域の二次元座標位置に対応させて表示するので、直感的に分析結果を把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７５】また、請求項１５に記載の発明によれば、請求項１１または１２に記載の発明において、全測定領域平均値算出工程が、前記各所定の周波数における前記測定領域全体の平均値を算出するので、電子機器のどの場所に現れても把握することができ、また、全領域に対する影響も反映した周波数特性全体を把握でき、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７６】また、請求項１６に記載の発明によれば、請求項１５に記載の発明において、表示工程が、前記全測定領域平均値算出工程により算出された平均値を表示するので、全領域に対する影響も反映した分析結果を容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７７】また、請求項１７に記載の発明によれば、請求項１１〜１６に記載の発明において、周波数入力工程が、所望の周波数を入力し、前記表示工程が、前記周波数入力工程により入力された周波数に該当するあるいは近似する周波数に対応する被分析データおよび／または参照データおよび／または差分データを表示、さらには前記周波数入力工程に特殊な値を入れることにより、前記被分析データ平均値算出工程により算出された平均値および／または前記参照データ平均値算出工程により算出された平均値および／または差前記分データ算出工程により算出された差分データを表示するので、所望の周波数における分析結果を検索することができ、検索された分析結果を容易に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７８】また、請求項１８に記載の発明によれば、請求項１１〜１７に記載の発明において、プリント基板構造情報入力工程が、前記電子機器のプリント基板構造情報を入力し、前記表示工程が、前記被分析データ入力工程により入力された前記各所定の周波数における近磁界データの前記測定領域ごとの最高値および／または前記測定領域ごとの平均値の最高値に該当する前記測定領域に対応する前記プリント基板構造情報入力工程により入力されたプリント基板構造情報を表示するので、各所定の周波数における原因、あるいは、全周波数に共通した真の原因と考えられる領域を視覚的に瞬時に把握することができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１７９】また、請求項１９に記載の発明によれば、請求項１１〜１７に記載の発明において、プリント基板構造情報入力工程が、前記電子機器のプリント基板構造情報を入力し、指定工程が、前記測定領域を指定し、前記表示工程が、前記指定工程により指定された測定領域に対応する前記プリント基板構造情報入力工程により入力されたプリント基板構造情報を表示するので、原因と考えられる領域のプリント基板上の構造を容易に知ることができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１８０】また、請求項２０に記載の発明によれば、請求項１〜１７に記載の発明において、前記所定の周波数が、電子機器のクロック周波数の高調波であるので、発生源のクロック周波数に基づいた分析をすることができ、これにより、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数または単数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を、迅速にかつ正確におこなうことが可能な近磁界データ分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１８１】また、請求項２１の発明によれば、請求項１１〜２０に記載された方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したことで、そのプログラムを機械読み取り可能となり、これによって、請求項１１〜２０の動作をコンピュータによって実現することが可能な記録媒体が得られるという効果を奏する。
【出願人】 【識別番号】０００００６７４７
【氏名又は名称】株式会社リコー
【出願日】 平成１１年７月６日（１９９９．７．６）
【代理人】 【識別番号】１００１０４１９０
【弁理士】
【氏名又は名称】酒井 昭徳
【公開番号】 特開２００１−４１９８７（Ｐ２００１−４１９８７Ａ）
【公開日】 平成１３年２月１６日（２００１．２．１６）
【出願番号】 特願平１１−１９１９１１