テストバーンインボード管理方法及びバーンイン試験システム

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【発明の名称】	テストバーンインボード管理方法及びバーンイン試験システム
【発明者】	【氏名】栗原純
【要約】	【課題】テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。【解決手段】制御部２１は、ＴＢＩＢに付加された品種番号を基に、バーンイン試験装置１０で用いるＴＢＩＢを管理する。入力部２２において、バーンイン試験開始の指示が受け付けられると、制御部２１はＴＢＩＢに付加されている管理番号を読み取り、品種番号を抽出する。そして、抽出した品種番号が設定された品種番号と異なる場合は、制御部２１は、共用情報記録部４３からＴＢＩＢの品種番号に関する情報を取得し、その品種番号とＴＢＩＢから抽出した品種番号とを比較する。この結果、双方の品種番号が一致した場合は、品種番号の特定桁を製造番号の一部とみなし、その桁を含む製造番号を確定する。

【特許請求の範囲】
【請求項１】製造番号を示す桁と、実装する被試験ＩＣの品種番号を示す桁とで構成される管理番号が付加されたテストバーンインボードを管理するテストバーンイン管理方法において、予め試験に対応する被試験ＩＣの品種を指し示す第１の品種番号及び、該第１の品種番号を示す桁のうち、特定の桁を製造番号と共用した第２の品種番号とをメモリ内に記憶しておき、前記テストバーンインボードに付加されている管理番号を読み出し、前記管理番号から品種番号を抽出し、前記第１の品種番号と一致するかを判断し、前記品種番号が第１の品種番号と異なっていた場合に、第２の品種番号を取得し、前記品種番号が前記第２の品種番号と一致するかを判断し、前記品種番号が前記第２の品種番号と一致した場合に、前記品種番号を示す桁のうち、特定の桁を製造番号の一部とみなし、該品種番号の特定桁を含めた製造番号を確定することを特徴とするテストバーンインボード管理方法。
【請求項２】製造番号を示す桁と、実装する被試験ＩＣの品種番号を示す桁とで構成される管理番号が付加されたテストバーンインボードを用いて試験を行うバーンイン試験システムにおいて、試験に対応する被試験ＩＣの品種を指し示す第１の品種番号を記憶する試験条件記憶手段と、該第１の品種番号を示す桁のうち、特定の桁を製造番号と共用した第２の品種番号を設定する共用情報設定手段と、前記共用情報設定手段で設定された第２の品種番号を記憶する共用情報記録手段と、前記テストバーンインボードに付加されている管理番号を読み出す管理番号検出手段と、前記管理番号から品種番号を抽出すると共に、前記試験条件記憶手段から第１の品種番号を取得し、前記品種番号が第１の品種番号と一致するかを判断する第１の判断手段と、前記品種番号が第１の品種番号と異なっていた場合に、前記共用情報記録手段から第２の品種番号を取得し、前記品種番号が前記第２の品種番号と一致するかを判断する第２の判断手段と、前記品種番号が第２の品種番号と一致した場合に、前記品種番号を示す桁のうち、特定された桁を製造番号の一部とみなし、該特定桁を含めた製造番号を確定する製造番号確定手段とを有するバーンイン制御手段と、を具備することを特徴とするバーンイン試験システム。
【請求項３】前記バーンイン制御手段は、前記品種番号が第２の品種番号とも一致しなかった場合に、該品種番号が付加されたテストバーンインボードが、前記試験に対応するものではないと判断し、エラー表示を行う表示手段を更に具備することを特徴とする請求項２記載のバーンイン試験システム。
【請求項４】前記バーンイン制御手段は、前記第１の品種番号を外部から設定するための入力手段を具備することを特徴とする請求項２記載のバーンイン試験システム。

【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路を実装するテストバーンインボード管理方法及び、半導体集積回路を試験するバーンイン試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】様々な半導体集積回路（以下ＩＣと記載）等は、抵抗、コンデンサ、及びトランジスタ等の各素子を印刷、蒸着することによって形成される。そして、これらのＩＣは、大量生産されるため、それぞれの製品間に多少の特性のバラツキが生じ、中には、規格をみたさない製品も出現することがある。そして、このようなＩＣを選別するために、全てのＩＣに対して様々な試験を実施し、規格を満たしているか否かを確認する必要がある。
【０００３】上述した試験の一例として、ＩＣを恒温層の炉の中に入れ、その炉内の被試験ＩＣに、電源電圧や試験パタン信号を印加して試験を行うバーンイン試験がある。このバーンイン試験に際しては、被試験ＩＣが設置された恒温層内の炉の温度を高温または低温に設定し、長時間にわたり試験パタン信号を被試験ＩＣに印加することで初期不良を検出する。このバーンイン試験では、半導体集積回路の１個当たりの試験時間が長いため、炉の中には数千個から一万個の被試験ＩＣを設置する。
【０００４】そして、このバーンイン試験において、恒温層の炉の中に設置された被試験ＩＣに、外部から電源電圧や試験パタン信号を印加するために用いられるテストバーンインボード（以下、ＴＢＩＢと略称する）とよばれるボードがある。このＴＢＩＢは、１枚当たり数百個の半導体集積回路を実装することができる。
【０００５】そして、このＴＢＩＢには、製造番号および、実装する被試験ＩＣの品種を示す品種番号で構成される管理番号が付加されている。これらの管理番号は、各ＴＢＩＢ固有のものであり、同じ管理番号を保有するＴＢＩＢが存在したり、また、１つのＴＢＩＢを示す管理番号が複数存在してはならない。そして、全てのＴＢＩＢは、それぞれ付加されている管理番号によって使用時間参照、テスト結果の検索等が管理されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＴＢＩＢの増産が続くと必然的に管理番号が枯渇し、最終的には、管理番号の製造番号にオーバーフローが発生する（全ての製造番号が使用尽くされてしまう）。このような製造番号のオーバーフロー問題を対処する方法として、管理番号の桁数を増やす方法が挙げられる。しかし、管理番号の桁数を変更することは、バーンイン装置を構成するすべての要素に大きな影響を及ぼし、膨大な費用がかかってしまう。
【０００７】本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、桁数を変更せずに、製造番号のオーバーフロー問題を解決し、製造番号のオーバーフロー発生後においても、オーバーフロー発生前と同様に、テストバーンインボードの管理が可能であるテストバーンインボード管理方法及び、テストバーンインボードを使用して試験を行う試験システムを提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、予め試験に対応する被試験ＩＣの品種を指し示す第１の品種番号及び、該第1の品種番号を示す桁のうち、特定の桁を製造番号と共用した第２の品種番号とをメモリ内に記憶しておき、前記テストバーンインボードに付加されている管理番号を読み出し、前記管理番号から品種番号を抽出し、前記第１の品種番号と一致するかを判断し、前記品種番号が第１の品種番号と異なっていた場合に、第２の品種番号を取得し、前記品種番号が前記第２の品種番号と一致するかを判断し、前記品種番号が前記第２の品種番号と一致した場合に、前記品種番号を示す桁のうち、特定の桁を製造番号の一部とみなし、該品種番号の特定桁を含めた製造番号を確定することを特徴とする。
【０００９】また、請求項２に記載の発明は、試験に対応する被試験ＩＣの品種を指し示す第１の品種番号を記憶する試験条件記憶手段と、該第１の品種番号を示す桁のうち、特定の桁を製造番号と共用した第２の品種番号を設定する共用情報設定手段と、前記共用情報設定手段で設定された第２の品種番号を記憶する共用情報記録手段と、前記テストバーンインボードに付加されている管理番号を読み出す管理番号検出手段と、前記管理番号から品種番号を抽出すると共に、前記試験条件記憶手段から第１の品種番号を取得し、前記品種番号が第１の品種番号と一致するかを判断する第１の判断手段と、前記品種番号が第１の品種番号と異なっていた場合に、前記共用情報記録手段から第２の品種番号を取得し、前記品種番号が前記第２の品種番号と一致するかを判断する第２の判断手段と、前記品種番号が第２の品種番号と一致した場合に、前記品種番号を示す桁のうち、特定された桁を製造番号の一部とみなし、該特定桁を含めた製造番号を確定する製造番号確定手段とを有するバーンイン制御手段とを具備することを特徴とする。
【００１０】また、請求項３に記載の発明は、請求項２に記載のバーンイン試験システムにおいて、前記バーンイン制御手段は、前記品種番号が第２の品種番号とも一致しなかった場合に、該品種番号が付加されたテストバーンインボードが、前記試験に対応するものではないと判断し、エラー表示を行う表示手段を更に具備することを特徴とする。また、請求項４に記載の発明は、請求項２に記載のバーンイン試験システムにおいて、前記バーンイン制御手段は、前記第１の品種番号を外部から設定するための入力手段を具備することを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の一実施形態について説明する。図１は、この発明の一実施形態によるバーンイン試験システムの構成を示すブロック図である。この図において、１は、バーンイン試験を行うバーンイン試験システムである。そして、このバーンイン試験システム１は、バーンイン試験装置１０、バーンイン制御装置２０、及びバーンイン情報一元管理装置４０から構成されている。バーンイン試験装置１０において、１１は恒温層であり、１１ａは複数のＴＢＩＢが設置される炉である。１１ｂは恒温層１１内に設置されているＴＢＩＢに任意の信号を印加するための試験信号入力端子である。１２は恒温層１１の温度を調節するヒーター部であり、１３は温度センサであり、１４は恒温層１１、及びヒーター部１２を制御する制御部である。１５はバーンイン制御装置２０と情報を通信するＩ／Ｆ部である。
【００１２】バーンイン制御装置２０はバーンイン試験装置１０を制御する装置である。このバーンイン制御装置２０において、２１はバーンイン制御装置２０の各部を制御する制御部であり、管理番号検出部２１ａ、ボード共有時の制御部２１ｂ、試験に対応する品種番号かを判断する判断部、製造番号を確定する製造番号確定部（図示略）等を有している。２２は外部からの入力を受け付ける入力部である。２３は表示部であり、２４はバーンイン試験装置１０で実施する試験の試験条件や、入力部２２から受け付けた情報等を記憶する試験条件記憶部である。２５はプログラムを記憶するプログラム記憶部である。２６は計時部であり、２７は停電検出部である。２８は実施状況を記憶する実施状況格納部であり、２９はバーンイン試験装置１０と情報を通信するＩ／Ｆ部である。３０は電源をＯＮ、ＯＦＦする電源部であり、３１はバーンイン情報一元管理装置４０と情報を通信するネットワークＩ／Ｆ部である。
【００１３】バーンイン情報一元管理装置４０において、４１はバーンイン制御装置２０と情報を通信するネットワークＩ／Ｆ部である。４２は共用情報設定部であり、詳細は後述する。４３は共用情報設定部４２で設定された情報を記憶する共用情報記録部である。
【００１４】次に、バーンイン情報一元管理装置４０における共用情報設定部４２、共用情報記録部４３について、詳細に記述する。なお、本実施形態で使用される管理番号は６桁で構成されており、上３桁が実装する被試験ＩＣの品種を示す品種番号であり、下３桁が製造番号である。また、この管理番号における製造番号は、製造順に付与されるシリアル番号（通し番号）である。
【００１５】上述した管理番号において、製造番号がオーバーフローした場合、品種番号に割り当てられている桁の一部を、前記製造番号と共用する。更に、この製造番号と一部の桁を共用することによって影響を受けた品種番号が、既存の品種番号に一致しないように管理番号を作成する。
【００１６】例えば、「０００ＦＦＦ」という管理番号を例に挙げ説明する。この管理番号において、製造番号がオーバーフローする前は、下３桁「００１」が製造番号であり、上３桁「ＦＦＦ」が品種番号である。このような管理番号において、製造番号がオーバーフローした場合、下４桁目を品種番号と共用し、新たに管理番号を作成する。今、「００１」という品種番号をもつ管理番号が存在していなかったとすると、例えば「００１００１」という管理番号を作成することができる。この管理番号において、下４桁の「１００１」が製造番号であり、また、上３桁の「００１」が品種番号である。しかし、このような場合、本来「０００」であった品種番号が、製造番号の影響を受けることにより「００１」に変更されてしまう。
【００１７】ここで、「０００」と、「００１」は同じ品種を示す番号であると設定する必要がある。この設定を行う装置として共用情報設定部４２が設けられている。ユーザは、共用情報設定部４２から「０００」と「００１」は同じ品種を示すという内容を設定することにより、品種番号「０００」と「００１」は等価に扱われることが可能となる。そして、共用情報設定部４２で設定されたこれらの情報は、共用情報記録部４３に記憶される。
【００１８】次に、本発明の一実施形態における動作について、図１及び図２を参照して説明する。まず、ユーザにより、バーンイン試験開始の操作がバーンイン制御装置２０の入力部２２から行われる（図２ステップＳ１）。次に、ユーザは今回のバーンイン試験で使われるＴＢＩＢの品種番号を入力部２２から入力する。そして、入力されたＴＢＩＢの品種番号は、バーンイン制御装置２０の、試験条件記憶部２４に記憶される。
【００１９】次に、バーンイン制御装置２０内の制御部２１は、被試験ＩＣが実装されているＴＢＩＢの管理番号の読み込みを開始する（ステップＳ２）。次に、制御部２１は、全てのＴＢＩＢについて管理番号の読み込みが行われたかをチェックする（ステップＳ３）。そして、全ての管理番号の読み込みが終了していた場合は、制御部２１はＩ／Ｆ部２９を介して、バーンイン試験装置１０にバーンイン試験開始の指示を出力し、バーンインテストを実施する（ステップＳ９）。一方、全ての管理番号について読み込みが終了していない場合は、ステップＳ２で読み込んだ管理番号から品種番号を抽出する（ステップＳ４）。
【００２０】次に、制御部２１は、試験条件記憶部２４に記憶されているＴＢＩＢの品種番号と、ＴＢＩＢから抽出した品種番号とを比較する（ステップＳ５）。そして、このＴＢＩＢの品種番号が、試験条件記憶部２４に記憶されている品種番号と一致した場合、ステップＳ２に戻り、制御部２１は、次のＴＢＩＢについて管理番号の読み込みを行う。
【００２１】一方、ステップＳ４で抽出された品種番号が、試験条件記憶部２４に記憶されている品種番号と一致しなかった場合、制御部２１はネットワークＩ／Ｆ部３１に対して、バーンイン情報一元管理装置４０にアクセスするよう指示を出す。そして、バーンイン一元管理装置４０内の共用情報記録部４３に記憶されている共用情報を、ネットワークＩ／Ｆ部３１を介して取得する（ステップＳ６）。
【００２２】次に、制御部２１はステップＳ４で抽出した品種番号が、共用情報記録部４３から取得した共用品種番号に一致するかを判断する（ステップＳ７）。そして、品種番号が一致していた場合には、ステップＳ２に戻り、一方、品種番号が一致しなかった場合は、この品種番号が付されたＴＢＩＢは、これから行われるバーンイン試験に対応するＴＢＩＢではないと判断し、制御部２１は表示部２３に対してエラー表示の指示を出力する（ステップＳ８）。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、管理番号における製造番号がオーバーフローした時に、品種番号に割り当てられている桁の一部を、製造番号と共用し、更に、製造番号と一部の桁を共用することによって影響を受けた品種番号が、既存の品種番号に一致しないように管理番号を作成することで、管理番号の桁数を従来と変更することなく、製造番号を増加させることができ、製造番号のオーバーフロー問題を解決することができる。
【００２４】また、製造番号のオーバーフロー対策がなされた後の管理番号が付加されているＴＢＩＢに関して、製造番号のオーバーフローにより品種番号を示す桁の一部を製造番号と共用した品種番号において、予め設定が行える共用情報設定手段及び、共用情報設定手段で設定された情報を記憶する共用情報記録手段とを設けている。これにより、管理番号のオーバーフロー発生後においても、オーバーフロー発生前と同様に、管理番号を用てのＴＢＩＢの管理が可能となる。

【出願人】	【識別番号】０００１１７７４４【氏名又は名称】安藤電気株式会社
【出願日】	平成１１年６月２９日（１９９９．６．２９）
【代理人】	【識別番号】１０００６４９０８【弁理士】【氏名又は名称】志賀正武（外８名）
【公開番号】	特開２００１－１３２１１（Ｐ２００１－１３２１１Ａ）
【公開日】	平成１３年１月１９日（２００１．１．１９）
【出願番号】	特願平１１－１８４３４９