| 【発明の名称】 |
コネクタ導通検査具 |
| 【発明者】 |
【氏名】佐藤 隆之
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| 【要約】 |
【課題】ピンを経済的に交換可能とし、且つピンの振れを防止して検査精度を高める。
【解決手段】コネクタ内の端子に対する導通検査ピン４と、端子をコネクタ内で係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピン２とをコネクタ嵌合室９内に有するコネクタ導通検査具で、挿入検査ピン２の基部側のブロック３に導通検査ピン４を貫通固定して成るセットピン５と、複数のセットピンに対する複数のガイド孔８を有するピンガイド７と、ピンガイドを固定するコネクタ嵌合室側のガイドブロック１０と、導通検査ピン４に対するプローブピン１１側のピンブロック１２とを備える。ピンガイド７は挿入検査ピン２の基部側のブロック３の長手方向に延長されている。ピンガイドを平板状に形成することも可能である。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 コネクタ内の端子に対する導通検査ピンと、該端子を該コネクタ内で係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピンとをコネクタ嵌合室内に有するコネクタ導通検査具において、前記挿入検査ピンの基部側のブロックに前記導通検査ピンを貫通固定して成るセットピンと、複数のセットピンに対する複数のガイド孔を有するピンガイドと、該ピンガイドを固定するコネクタ嵌合室側のガイドブロックと、該導通検査ピンに対するプローブピン側のピンブロックとを備えることを特徴とするコネクタ導通検査具。
【請求項２】 前記ピンガイドが前記挿入検査ピンの基部側のブロックの長手方向に延長されたことを特徴とする請求項１記載のコネクタ導通検査具。
【請求項３】 前記ピンガイドが平板状に形成されたことを特徴とする請求項１記載のコネクタ導通検査具。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタへの端子の挿入不完全を検知する挿入検査ピンと、端子の導通を検査する導通検査ピンとを合体させてセットピンを構成し、各セットピンごとにスライド移動可能としたコネクタ導通検査具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図９〜図１１は、特開平１１−３１５６９号公報に記載された従来のコネクタ導通検査具を示すものである。
【０００３】図９の如く、このコネクタ導通検査具７０は、コネクタ７１を上方から挿入してセットするためのコネクタ保持部７２と、コネクタ保持部７２に対してスライド自在に設けられ、コネクタ７１の前半部を挿入可能な検査部７３とを備えたものである。検査部７３はレバー７４の回動操作でリンク７５を介してフレーム７６上を進退する。コネクタ保持部７２はフレーム７６に固定されている。
【０００４】検査部７３内には、図１０の如く、コネクタ７１（図９）内の端子（図示せず）に接触するプローブピン７７と、コネクタ７１内への端子の挿入不完全を検知する挿入検査ピン７８とが組み付けられてセットピン７９の状態で複数組設けられる。各セットピン７９は合成樹脂製のホルダ８０の溝８１内に収容されてカバー８２で固定される。ホルダ８０は図９の検査部７３の合成樹脂製の本体ブロック８３内でコイルばね（図示せず）により前方に付勢され、ばね力に抗して後退自在に保持されている。
【０００５】図１１の如く、挿入検査ピン７８は金属製の矩形状のブロック８４から一体に突出形成され、プローブピン７７はブロック８４の孔部８５に圧入固定されている。挿入検査ピン７８とブロック８４の外周は絶縁皮膜８６で覆われている。挿入検査ピン７８はプローブピン７７よりもやや前方へ突出している。プローブピン７７は、内部のコイルばね（図示せず）で前方に付勢されたスライド部８７を有している。
【０００６】図９において、コネクタ７１は合成樹脂製の雄型のコネクタハウジング８８の各端子収容室９０内に雌型の端子（図示せず）を有し、端子は電線８９に接続されている。端子収容室９０内には可撓係止ランス（図示せず）が突出して位置し、可撓係止ランスによって端子が係止されている。挿入検査ピン７８はコネクタハウジング８８の前部開口から可撓係止ランスの撓み空間内に挿入される。
【０００７】コネクタ７１をコネクタ保持部７２にセットし、レバー７４を手前に倒すことで、検査部７３がコネクタ７１に向けて前進し、コネクタ７１の前半部が検査部７３のコネクタ嵌合室９１内に挿入され、挿入検査ピン７８が可撓係止ランスの撓み空間に進入し、プローブピン７７が端子収容室９０の前部挿入口から端子の先端に向けて進入する。
【０００８】万一、コネクタ７１内の端子の挿入が不完全である場合には、挿入検査ピン７８の先端が、撓んだ状態の可撓係止ランスの先端に突き当たり、ホルダ８０（図１０）全体がコイルばねに抗して後退する。プローブピン７７はホルダ８０と一体に移動し、端子との導通検査は行われない。これにより異常が検知される。
【０００９】一方、図１２は、特開平１１−３１５７０号公報に記載された従来のコネクタ導通検査具を示すものである。
【００１０】このコネクタ導通検査具９４は、合成樹脂製のブロック９５から一体に突出形成された複数本の挿入検査ピン９６と、ブロック９５の各孔部９７に挿入固定された複数本の導通検査ピン９８と、ブロック９５を前後方向スライド自在に支持する合成樹脂製の本体ブロック（ケース）９９と、導通検査ピン９８の後端に弾性的に当接したスライド部１００を有するプローブピン１０１と、コネクタ嵌合室１０２を有して本体ブロック９９に接合したカバー１０３とを備えている。ブロック９５と挿入検査ピン９６と導通検査ピン９８とで一つのセットピン１０４が構成されている。
【００１１】コネクタ１０５は前例と同様の機構でコネクタ嵌合室１０２内に挿入される。その際、下側の端子１０６の如く端子収容室１０７に不完全挿入である場合には、可撓係止ランス１０８が端子１０６の外周面に当接して撓んでいるから、挿入検査ピン９６の先端が可撓係止ランス１０８の先端に突き当たって、ブロック９５が挿入検査ピン９６及び導通検査ピン９８と一体に後退し、すなわちセットピン１０４が後退し、導通検査ピン９８が端子１０６と接触せず、それにより異常が検知される。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記各従来例にあっては、図１０の如く端子の挿入不完全を検知する挿入検査ピン７８が複数本一体的にホルダ８０に固定されたり、図１２の如く挿入検査ピン９６が複数本一体にブロック９５に形成されているために、一つの端子の挿入不完全に対して全ての挿入検査ピン７８，９６が一体的に後退するから、複数の端子のうちのどの端子が挿入不完全であるかを判別するのに時間がかかるという問題があった。二つの端子が不完全挿入である場合は、一方の端子の挿入不完全を見落としやすいという問題もあった。また、その場合には端子の導通検査が全く行われないために、端子を完全に挿入した後に再度検査をやり直さなければならず、効率が悪いという問題もあった。挿入不完全であった端子のみの導通を再検査するのであれば、短時間で検査が終了する。
【００１３】また、図１２の従来例にあっては、複数本の挿入検知ピン９６がブロック９５に一体に形成されているから、例えば一本の挿入検知ピン９６が傷んだり変形したりした場合に、ブロック９５ごと複数本の挿入検知ピン９６と導通検査ピン９８とをセットで交換しなければならず、無駄で不経済であり多くのコストがかかるという問題があった。
【００１４】また、図１０の従来例にあっては、セットピン７９をホルダ８０の溝８１内に挿入するために、セットピン７９の倒れ（振れ）を生じやすく、その場合には各ピン７７，７８の先端の位置が狂って、ピン７７，７８の先端がコネクタハウジング８８（図９）の前端に突き当たったり、導通検査精度や挿入検知精度が悪化するという懸念があった。図１２の従来例においても、スライド式のブロック９５と本体ブロック９９との間のクリアランスによってブロック９５が傾いて各ピン９６，９８の先端に位置が狂い、同様の問題を生じる懸念があった。
【００１５】本発明は、上記した点に鑑み、どの端子が挿入不完全であるかを容易に判別でき、且つ挿入不完全の端子があっても他の端子は導通検査を行うことができて検査の効率化が可能で、また、挿入検査ピン（導通検査ピン）が傷んだり変形した場合にその挿入検査ピン（導通検査ピン）のみをユニット交換できて経済的で、さらに、ピンの位置ずれ（振れ）を防止して端子の導通検査精度や挿入検知精度を向上させることのできるコネクタ導通検査具を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するために、本発明は、コネクタ内の端子に対する導通検査ピンと、該端子を該コネクタ内で係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピンとをコネクタ嵌合室内に有するコネクタ導通検査具において、前記挿入検査ピンの基部側のブロックに前記導通検査ピンを貫通固定して成るセットピンと、複数のセットピンに対する複数のガイド孔を有するピンガイドと、該ピンガイドを固定するコネクタ嵌合室側のガイドブロックと、該導通検査ピンに対するプローブピン側のピンブロックとを備えることを特徴とする（請求項１）。前記ピンガイドが前記挿入検査ピンの基部側のブロックの長手方向に延長されたことも有効である（請求項２）。また、前記ピンガイドが平板状に形成されたことも有効である（請求項３）。
【００１７】
【発明の実施の形態】図１〜図６は、本発明のコネクタ導通検査具における検査部の一実施形態を示すものである。コネクタ保持部や検査部の移動手段は従来と同様であるので説明を省略する。
【００１８】図１の如く、このコネクタ導通検査具の検査部１は、一本の挿入検査ピン２を一体に突出させた金属製のブロック３と、ブロック３の内側に合成樹脂製の絶縁スリーブ６（図２）を介して圧入固定された一本の導通検査ピン４とで構成されるセットピン５を複数本有している。
【００１９】各セットピン５は合成樹脂製ないしは金属製のピンガイド７の各ガイド孔８にスライド自在に挿入され、ピンガイド７は、コネクタ嵌合室９を有する金属製のガイドブロック１０内に保持され、ガイドブロック１０は、導通検査ピン４の後端に対するプローブピン１１を保持する合成樹脂製のピンブロック１２に接合されている。ガイドブロック１０は金属の切削加工により多種多様のセットピン５の形状・ピッチに対応でき、汎用性がある。
【００２０】ピンガイド７の前端はガイドブロック１０のコネクタ嵌合室９に続く段部１３に接合し、ピンガイド７の後端はピンブロック１２の前端に接合し、それによりピンガイド７が前後方向不動に固定されている。ピンガイド７の外周はガイドブロック１０の孔部１４の内周に密着して上下左右のガタ付きなく固定されている。
【００２１】挿入検査ピン２と導通検査ピン４とはコネクタ嵌合室９内に位置し、挿入検査ピン２は導通検査ピン４よりも前方に長く突出している。ピンガイド７の後端側においてピンブロック１２に、各セットピン５を後退させる空室１５が構成されている。空室１５内で導通検査ピン４の後端がプローブピン１１のスライド部１６の前端に当接している。スライド部１６は内部のコイルばね（図示せず）で前方に付勢され、プローブピン１１の中間部１７はピンブロック１２に固定され、ピンブロック１２から後方に露出した後部１８はリード線１９に接続されている。ガイドブロック１０とピンブロック１２とはボルト等の図示しない固定手段で固定されている。
【００２２】図示しないレバーの回動操作で検査部１がコネクタ保持部（図示せず）側に移動し、図２の如く、コネクタ嵌合室９にコネクタ２０が挿入された状態で、挿入検査ピン３が合成樹脂製のコネクタハウジング２１の可撓係止ランス２２の撓み空間２３に進入し、導通検査ピン４の先端が、端子収容室２３内の端子２４の突出したピン部２５に当接する。導通検査ピン４の先端には円錐状の凹部２６が形成されており、端子のピン部２５の先端を確実に捕らえる。導通検査ピン４は前後の絶縁スリーブ６で支持絶縁されている。
【００２３】万一、端子２４の挿入が不完全である場合には、可撓係止ランス２２が撓み空間２３内に位置し、長い挿入検査ピン２の先端が可撓係止ランス２２の先端に突き当たり、セットピン５すなわち一本の挿入検査ピン２と一本の導通検査ピン４とが一体にピンガイド７のガイド孔８内をスライドして後退する。それにより、その導通検査ピン４と端子２４とが接触せず、導通検査ＮＧ（不良）となり、その導通検査ピン４及び挿入検査ピン２に対応する端子２４が異常であることが簡単に判明する。
【００２４】検査に際して各セットピン５は単独で後退可能であり、それにより複数のセットピン５のどれが端子不完全挿入の異常を検知したのかをチェッカ（図示せず）の表示で簡単に検知できる。チェッカはプローブピン１１（図１）のリード線１９と端子２４側の電線２７とに接続されている。
【００２５】セットピン５はピンガイド７に対して例えば段差部やキーとキー溝といった図示しない位置決め手段で前進後退の位置を規制されている。各セットピン５はピンガイド７の各ガイド孔８にガタつきなくスムーズにスライド可能に係合している。各セットピン５はピンガイド７によって振れが防止され、且つ上下左右方向すなわち端子直交方向に正確に位置決めされている。
【００２６】それにより、複数の端子２４に対する各セットピン５の位置すなわち端子５の先端に対する導通検査ピン４の位置と、可撓係止ランス２２に対する挿入検査ピン２の位置とが正確に規定され、導通検査精度及び挿入検査精度が向上すると共に、精度の良い検出が長期間に渡って保証される。また、セットピン５の振れが防止されることで、コネクタハウジング２１の前端の開口端２８への挿入検査ピン２や、コネクタハウジング２１の前端（図示せず）への導通検査ピン４の突き当たりが防止され、各ピン２，４やコネクタハウジング２１の傷付きや変形等が防止される。また、各ピン２，４が破損や変形や磨耗を起こした場合は、各セットピン５ごとに交換できるから、極めて経済的であり、無駄がない。
【００２７】図３はピンガイド７の一実施形態を示すものであり、矩形ブロック状（六面体）に形成され、前壁２０から後壁３０にかけて各セットピン５（図２）に対する複数の貫通したガイド孔８を有している。ガイド孔８は矩形状に形成され、コネクタ側の端子２４（図２）の配列に応じて端子２４と同数に設定されている。
【００２８】図４はセットピン５の一実施形態を示すものであり、金属製の矩形状のブロック３の先端側部から挿入検査ピン２が一体に突出形成され、ブロック３の長手方向に貫通した円形の孔部３１に円筒状の前後のスリーブ６を介して円柱状の金属製の導通検査ピン４が圧入固定されている。挿入検査ピン２は平板状に形成され、先端部が段差３２を介して薄板状に形成され、この薄板部３３が図２の撓み空間２３側の開口３３に案内されてスムーズに挿入可能である。導通検査ピン４の後端部３４は一廻り大径に形成され、圧入時のストッパとなっている。ブロック３の後端部はやや幅広に形成され、幅広部３５の前側の段差部３６が前進方向のストッパとなっている。
【００２９】図５は前記検査部１を示す正面図、図６は同じく側面図である。コネクタ嵌合室９内には左右二本、上下三本の計６本のセットピン５が配列されている。セットピン４はピンガイド７の前端からコネクタ嵌合室９内に突出している。３７（図５）はコネクタ２０（図２）のロックアーム（図示せず）を挿入させる部分である。前半のガイドブロック１０は上下三本のボルト（図示せず）で後半のピンブロック１２（図６）に固定される。３８はそのためのボルト孔である。ガイドブロック１０及びピンブロック１２の下部両側には、スライド移動用のガイドシャフト（図示せず）を挿通する一対の孔部３９が設けられている。ピンガイド７の前端面４０はコネクタ嵌合室９の開口４１よりも一廻り大きな面積を有している。１１（図６）はプローブピンである。
【００３０】図７〜図８は、本発明に係るコネクタ導通検査具の他の実施形態を示すものである。このコネクタ導通検査具４３（図８）は、図７の如く検査部４４に平板状の金属製のピンガイド４５を備え、ピンガイド４５を前側のガイドブロック４６と後側のピンブロック４７とで挟んで固定するものである。
【００３１】ピンガイド４５は中央側に、複数のセットピン４８に対する矩形状の複数のガイド孔４９を有している。各ガイド孔４９ごとに各セットピン４８が独立してスライド自在である。各セットピン４８はピンブロック４５の各ガイド孔４９内に進退自在に配置されて後方のプローブピン（図示せず）に当接している。各セットピン４８は前実施形態と同様に金属製のブロック５０から一体に突出された挿入検査ピン５１と、ブロック５０を貫通して固定された導通検査ピン５２とを有し、両ピン５１，５２は絶縁スリーブ（図示せず）で隔絶されている。
【００３２】前側のガイドブロック４６は、コネクタ５４（図８）の形状に貫通形成されたコネクタ嵌合孔５５を有している。コネクタ嵌合孔５５の後部にピンガイド４５が接合してコネクタ嵌合室５６（図８）が構成される。ガイドブロック４６とピンガイド４５とピンブロック４７とは上下二本のボルト５７（図８）で固定される。コネクタ嵌合室５６内に挿入検査ピン５１（図７）と導通検査ピン５２とが突出する。下側の二つの孔５８はガイドシャフト５９（図８）に対する挿通孔である。
【００３３】図８の如く、門柱状のコネクタ保持部６０にコネクタ５４が挿入セットされ、レバー６１を手前に倒すことでリンク６２を介して検査部４４がフレーム６３上をコネクタ保持部６０側に移動し、コネクタ嵌合室５６内にコネクタ５４の前半部が挿入され、各ピン５１，５２（図７）によって端子の挿入不完全や導通の有無が検知される。
【００３４】各セットピン４８（図７）はピンガイド４５によって上下左右に位置決めされ、且つ振れが防止されているから、端子やコネクタハウジング６４の可撓係止ランス（図示せず）に対する各ピン５１，５２（図７）の位置が正確に規定されると共に、コネクタハウジング６４の前端への各ピン５１，５２の突き当たり（干渉）が起こらない。また、各ピン５１，５２が破損や変形や磨耗を起こした場合は、各セットピン４８ごとに交換できるから、極めて経済的である。
【００３５】
【発明の効果】以上の如く、請求項１記載の発明によれば、各セットピンがピンガイドのガイド孔に沿って独立して移動可能であるから、不完全挿入の端子があった場合、その端子の導通検査がＮＧ（不良）となって、不完全挿入の端子がどれであるかが簡単に且つ確実に判別できると共に、その他の完全挿入の端子は導通検査が行われるから、検査に無駄がなく、検査が効率化する。また、挿入検査ピンや導通検査ピンが傷んだり変形したり磨耗した場合に、その導入検査ピンあるいは導通検査ピンを含むセットピンをピンガイドから抜き出してセットピンの単位で交換することができるから、経済的である。また、各セットピンがピンガイドのガイド孔に係合することで、セットピンが長手直交方向（上下左右方向）に位置決めされると共に、セットピンの振れが防止され、端子に対する導通検査ピンの位置精度や可撓係止ランスに対する挿入検査ピンの位置精度が向上し、導通検査及び挿入検査の精度が高まる。
【００３６】また、請求項２記載の発明によれば、ピンガイドが長いから、セットピンの振れが確実に防止され、端子に対する導通検査ピンの位置精度や可撓係止ランスに対する挿入検査ピンの位置精度が一層向上し、導通検査及び挿入検査の精度が一層高まる。また、請求項３記載の発明によれば、ピンガイドが平板状で薄く構成されるから、コネクタ導通検査具の長手方向（セットピン長手方向）のコンパクト化が可能になると共に、セットピンに対するガイド孔の摺動面積が減って、セットピンの後退及び前進（復元）に要する力が少なくて済む、セットピンの移動が小さな力でスムーズに行われる。
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| 【出願人】 |
【識別番号】０００００６８９５
【氏名又は名称】矢崎総業株式会社
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| 【出願日】 |
平成１１年６月３０日（１９９９．６．３０） |
| 【代理人】 |
【識別番号】１０００６０６９０
【弁理士】
【氏名又は名称】瀧野 秀雄 （外１名）
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| 【公開番号】 |
特開２００１−１３１９５（Ｐ２００１−１３１９５Ａ） |
| 【公開日】 |
平成１３年１月１９日（２００１．１．１９） |
| 【出願番号】 |
特願平１１−１８５４８６ |
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