| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２００１−１７４２０５ | ピストンロッドの位置検出機構及びそれを用いたオートテンショナ |
| 特開２００１−１７４２０６ | シリンダ位置検出装置 |
| 特開２００１−１７４２０７ | 変位計及び変位量測定方法 |
| 特開２００１−１７４２０８ | 可動物体の位置を検出するための磁場センサ |
| 特開２００１−１７４２０９ | 歪み検出装置、方法、電子機器および記憶媒体 |
| 特開２００１−１７４２１０ | 装置変形検出システム及びそれを備えた携帯情報端末装置 |
| 特開２００１−１７４２１１ | 表面形状測定装置および測定方法 |
| 特開２００１−１７４２１２ | 回転角度検出センサのフェイルモード調整方法 |
| 特開２００１−１７４２１３ | 平面計測用位相シフト干渉計の光学的位相制御装置、光学的位相制御方法及び光学的位相制御プログラムを格納した記憶媒体 |
| 特開２００１−１７４２１４ | ステレオ測位装置及び方法 |
| 特開２００１−１７４２１５ | 光学的検出手段の検出データ更正方法及び光学的検出手段を備えた位置検出装置並びに電子部品の実装装置 |
| 特開２００１−１７４２１６ | 走査位置測定装置 |
| 特開２００１−１７４２１７ | 光学検査装置のアライメント方法およびその機構 |
| 特開２００１−１７４２１８ | マイクロ視覚センサ |
| 特開２００１−１７４２１９ | 画像処理装置および方法、並びに記録媒体 |
| 特開２００１−１７４２２０ | 画像生成装置および画像生成方法 |
| 特開２００１−１７４２２１ | 部品位置検出方法及び装置 |
| 特開２００１−１７４２２２ | チップ観察機構 |
| 特開２００１−１７４２２３ | 熱物体の位置と形状の検出装置 |
| 特開２００１−１７４２２４ | タイヤ用検査装置 |
| 特開２００１−１７４２２５ | 発掘出土品のデータ作成方法 |
| 特開２００１−１７４２２６ | 光学素子の膜厚測定方法及び光学素子の製造方法 |
| 特開２００１−１７４２２７ | 繊維の径分布測定方法および装置 |
| 特開２００１−１７４２２８ | 刻印読取装置 |
| 特開２００１−１７４２２９ | パターン自動検査装置 |
| 特開２００１−１７４２３０ | 機械部品の表面形状測定装置 |
| 特開２００１−１７４２３１ | 光ファイバーを利用した形状等測定センサ |
| 特開２００１−１７４２３２ | 平面形状計測装置、平面形状計測方法及び該方法を実行するプログラムを記憶した記憶媒体 |
| 特開２００１−１７４２３３ | 面形状等を測定するための干渉計及びその測定方法 |
| 特開２００１−１７４２３４ | 画像計測装置 |
| 特開２００１−１７４２３５ | フーリエ変換を用いた縞解析方法 |
| 特開２００１−１７４２３６ | ラベルの適正位置の検査方法およびその装置 |
| 特開２００１−１７４２３７ | 偏心測定方法及び偏心測定装置 |
| 特開２００１−１７４２３８ | 欠陥検出方法 |
| 特開２００１−１７４２３９ | 対向平面平行度測定方法及び装置 |
| 特開２００１−１７４２４０ | 平面度測定方法および装置 |
| 特開２００１−１７４２４１ | 電磁波を利用した間隔報知装置 |
| 特開２００１−１７４２４２ | トンネル内監視システム |
| 特開２００１−１７４２４３ | ディスクホイールの嵌合部の隙間測定装置 |
| 特開２００１−１７４２４４ | 厚さ計測方法及び装置 |
| 特開２００１−１７４２４５ | レーザ衝撃ピーニングにおいて閉込め媒質の流れの条件設定及び制御を行うための方法 |
| 特開２００１−１７４２４６ | 液体の噴射分裂距離測定方法 |
| 特開２００１−１７４２４７ | 変位検出装置 |
| 特開２００１−１７４２４８ | 中心位置検出装置 |
| 特開２００１−１７４２４９ | 面形状測定装置および面形状測定方法 |
| 特開２００１−１７４２５０ | 手動可変調整器 |
| 特開２００１−１７４２５１ | 測定方法および装置 |
| 特開２００１−１７４２５２ | 眼鏡の玉型形状測定装置 |
| 特開２００１−１７４２５３ | ２つの直交する試験信号のオフセットを補償する装置 |
| 特開２００１−１７４２５４ | レベル測定機の支持装置 |