| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２００１−１６５６１１ | 回動角検出装置 |
| 特開２００１−１６５６１２ | レーザ干渉計 |
| 特開２００１−１６５６１３ | 赤外スキャニング干渉法による装置と方法 |
| 特開２００１−１６５６１４ | 送受光方法およびその応用システム |
| 特開２００１−１６５６１５ | 位置計測装置 |
| 特開２００１−１６５６１６ | レーザ測長装置及びレーザ測長方法 |
| 特開２００１−１６５６１７ | 軌道検査装置及び方法 |
| 特開２００１−１６５６１８ | 画像認識装置 |
| 特開２００１−１６５６１９ | 移動体の位置検出方法および装置 |
| 特開２００１−１６５６２０ | 重心座標算出装置、重心座標算出方法および重心座標算出プログラムを格納した記録媒体 |
| 特開２００１−１６５６２１ | 光学式測定装置及び光学式測定方法 |
| 特開２００１−１６５６２２ | 光学装置 |
| 特開２００１−１６５６２３ | 微小物体検査装置 |
| 特開２００１−１６５６２４ | 顕微鏡による部品検査方法および装置 |
| 特開２００１−１６５６２５ | 高さ測定装置、焦点検出装置、焦点検出ユニット、および、合焦機能を備えた光学装置 |
| 特開２００１−１６５６２６ | 仕上げられたパッケージの形状を検査するための方法および装置 |
| 特開２００１−１６５６２７ | 膜厚測定方法及び膜厚測定装置 |
| 特開２００１−１６５６２８ | 膜厚測定装置 |
| 特開２００１−１６５６２９ | 形状測定装置及び形状測定方法 |
| 特開２００１−１６５６３０ | 表面性状測定機のセンサー校正装置 |
| 特開２００１−１６５６３１ | 形状測定装置 |
| 特開２００１−１６５６３２ | 検査装置及び検査方法 |
| 特開２００１−１６５６３３ | パターン欠陥検出方法 |
| 特開２００１−１６５６３４ | 表面形状測定装置 |
| 特開２００１−１６５６３５ | 検査装置 |
| 特開２００１−１６５６３６ | プリント基板配線パターン欠陥検出方法及び装置 |
| 特開２００１−１６５６３７ | 外観検査装置 |
| 特開２００１−１６５６３８ | 三次元モデル提供装置及びその方法 |
| 特開２００１−１６５６３９ | 部品実装装置及び部品実装方法 |
| 特開２００１−１６５６４０ | 平面度測定手法および測定装置 |
| 特開２００１−１６５６４１ | 空気マイクロメータ |
| 特開２００１−１６５６４２ | 空気マイクロメータ |
| 特開２００１−１６５６４３ | 共鳴型光音響計測・検査装置及び方法 |
| 特開２００１−１６５６４４ | 変位検出装置 |
| 特開２００１−１６５６４５ | 携帯用測定装置 |
| 特開２００１−１６５６４６ | 部品を精密位置決めするための装置およびこの装置を備えた座標測定器 |
| 特開２００１−１６５６４７ | 路面騒音評価装置 |
| 特開２００１−１６５６４８ | 膜厚測定装置及び膜厚測定方法 |
| 特開２００１−１６５６４９ | 厚さプロファイルの測定方法および装置 |
| 特開２００１−１６５６５０ | 進行する材料ストリップの厚さ横断面と厚さ縦断面を規定するための方法および装置 |
| 特開２００１−１６５６５１ | 外壁材素材の曲がり検知装置および検知方法 |
| 特開２００１−１６５６５２ | センサの支軸装置 |
| 特開２００１−１６５６５３ | 瓦の歪測定装置 |
| 特開２００１−１６５６５４ | 距離測定機及び距離測定機の受光部調整方法 |
| 特開２００１−１６５６５５ | 距離推定装置及び距離推定方法 |
| 特開２００１−１６５６５６ | トンネル内空変位の自動測定システム |
| 特開２００１−１６５６５７ | 観測測定用器具および基礎脚材据付け寸法測定装置 |
| 特開２００１−１６５６５８ | 移動体の測角方法およびその装置とこの測角装置を使用した移動体の位置検出設備 |
| 特開２００１−１６５６５９ | 表示杭及びエンドキャップ付き表示杭 |
| 特開２００１−１６５６６０ | 測量ターゲット器具、測量器具取付装置および鉄塔測量方法 |