| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２００１−８２９１４ | 角度検出装置 |
| 特開２００１−８２９１５ | 誘導減衰カプラを備えた角度位置センサ |
| 特開２００１−８２９１６ | 回転検出センサ |
| 特開２００１−８２９１７ | センサー |
| 特開２００１−８２９１８ | 光ファイバセンサを内蔵した材料およびその製造方法 |
| 特開２００１−８２９１９ | レーザビーム結像位置検出方法および装置・レーザビーム結像位置調整装置・レーザ光源調整装置・レーザ光源コリメート調整装置および画像形成装置 |
| 特開２００１−８２９２０ | リード検査方法 |
| 特開２００１−８２９２１ | レーザ距離計及びレーザ距離計を用いたレベル計 |
| 特開２００１−８２９２２ | 位置検出システム |
| 特開２００１−８２９２３ | 光学的検出装置 |
| 特開２００１−８２９２４ | スペックルパターン光による物標検知方法及び装置 |
| 特開２００１−８２９２５ | 紫外光の焦点位置制御機構及び方法、並びに、検査装置及び方法 |
| 特開２００１−８２９２６ | 焦点位置制御機構及び方法、並びに、半導体ウェハの検査装置及び方法 |
| 特開２００１−８２９２７ | 三次元画像処理方法、装置、および三次元画像処理プログラムを記録した記録媒体 |
| 特開２００１−８２９２８ | 配管検査方法 |
| 特開２００１−８２９２９ | 幅計測装置 |
| 特開２００１−８２９３０ | 表面変位評価方法及び表面変位評価装置 |
| 特開２００１−８２９３１ | 穴深さ測定方法及び穴深さ測定装置 |
| 特開２００１−８２９３２ | 工具外径測定装置及びその評価方法 |
| 特開２００１−８２９３３ | レーザ式シャフト自動計測装置 |
| 特開２００１−８２９３４ | 破堤監視システム |
| 特開２００１−８２９３５ | 三次元測定装置 |
| 特開２００１−８２９３６ | 柱状物体撮像装置 |
| 特開２００１−８２９３７ | 磁気ヘッドの検査方法及び検査装置 |
| 特開２００１−８２９３８ | ３次元物体への光模様の投射・撮影方法及び同システム |
| 特開２００１−８２９３９ | 画像認識装置及び該装置を用いた外観検査装置 |
| 特開２００１−８２９４０ | 立体モデル生成装置及び方法 |
| 特開２００１−８２９４１ | キャリブレーション用３次元パターン |
| 特開２００１−８２９４２ | 回転位置検出装置 |
| 特開２００１−８２９４３ | 被検物の傾き測定装置 |
| 特開２００１−８２９４４ | 被検物の傾き測定装置 |
| 特開２００１−８２９４５ | ステアリング角度検知機構 |
| 特開２００１−８２９４６ | プリント基板の半田検査方法およびその装置 |
| 特開２００１−８２９４７ | パターン欠陥検査方法とその装置 |
| 特開２００１−８２９４８ | Ｘ線厚み計 |
| 特開２００１−８２９４９ | 超音波肉厚測定装置 |
| 特開２００１−８２９５０ | 厚み計 |
| 特開２００１−８２９５１ | 非接触計測点データ位置合わせ装置、非接触計測点データ位置合わせ方法及び記録媒体 |
| 特開２００１−８２９５２ | ねじ形状測定方法 |
| 特開２００１−８２９５３ | 形状測定装置 |
| 特開２００１−８２９５４ | 画像処理装置及び画像処理測距方法 |
| 特開２００１−８２９５５ | ステレオ画像の位置ずれ調整装置 |
| 特開２００１−８２９５６ | 車両の勾配検知装置 |
| 特開２００１−８２９５７ | 傾斜センサ |
| 特開２００１−８２９５８ | 地盤の沈下量検出装置及び沈下量測定システム |
| 特開２００１−８２９５９ | 傾き許容範囲外警告装置付き測量機 |
| 特開２００１−８２９６０ | レーザ装置付測地機器 |
| 特開２００１−８２９６１ | 角速度センサおよび角速度センサの製造方法 |
| 特開２００１−８２９６２ | 振動型ジャイロスコープ |
| 特開２００１−８２９６３ | 運動センサ振動体および振動ジャイロスコープ |