| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２００１−８３０６４ | 粘性係数測定装置、および粘性係数測定方法 |
| 特開２００１−８３０６５ | 位置制御装置 |
| 特開２００１−８３０６６ | 走査プローブ顕微鏡 |
| 特開２００１−８３０６７ | 走査型プローブ顕微鏡 |
| 特開２００１−８３０６８ | 近接場光学顕微鏡 |
| 特開２００１−８３０６９ | 部材の先端部に金属微粒子を生成して固定する方法およびその装置ならびにプローブ |
| 特開２００１−８３０７０ | 走査形プローブ顕微鏡 |
| 特開２００１−８３０７１ | 連続鋳造用顆粒パウダーの強度測定方法および測定装置並びに顆粒パウダーの製造方法 |
| 特開２００１−８３０７２ | コロイド粒子の表面荷電測定法 |
| 特開２００１−８３０７３ | 細胞・結晶・粒子計測装置 |
| 特開２００１−８３０７４ | 粒径分布測定装置および粒径分布測定方法 |
| 特開２００１−８３０７５ | 流通性に優れる赤外線吸収分析計用測定セル及び赤外線吸収分析装置 |
| 特開２００１−８３０７６ | 機具の保持機構 |
| 特開２００１−８３０７７ | 光イメージング装置 |
| 特開２００１−８３０７８ | 路面状況推定装置 |
| 特開２００１−８３０７９ | 埃、煙等の測定装置 |
| 特開２００１−８３０８０ | 結晶欠陥計測装置 |
| 特開２００１−８３０８１ | 自動化学分析装置における非直線検量線作成方法 |
| 特開２００１−８３０８２ | 原子吸光測定方法 |
| 特開２００１−８３０８３ | 全窒素の測定方法及び測定装置 |
| 特開２００１−８３０８４ | 光ファイバーによる溶液の屈折率測定法 |
| 特開２００１−８３０８５ | 濃度計の自動光軸調整方法および装置 |
| 特開２００１−８３０８６ | ガス濃度計測方法およびガス濃度計測装置 |
| 特開２００１−８３０８７ | 像観察装置及び像観察方法 |
| 特開２００１−８３０８８ | 量子ドット観察法及びその装置 |
| 特開２００１−８３０８９ | 画像処理装置 |
| 特開２００１−８３０９０ | マイクロタイタープレート用励起光源 |
| 特開２００１−８３０９１ | 画像読み取り装置 |
| 特開２００１−８３０９２ | 蛍光粒子撮像装置 |
| 特開２００１−８３０９３ | 蛍光分光光度計 |
| 特開２００１−８３０９４ | 藻類濃度測定システム |
| 特開２００１−８３０９５ | 水質測定装置 |
| 特開２００１−８３０９６ | 発光分光分析装置 |
| 特開２００１−８３０９７ | 亜鉛イオン蛍光センサー |
| 特開２００１−８３０９８ | 光学的表面検査機構及び光学的表面検査装置 |
| 特開２００１−８３０９９ | 汚れセンサ |
| 特開２００１−８３１００ | 表面検査方法及び装置 |
| 特開２００１−８３１０１ | 光学的パターン検査装置 |
| 特開２００１−８３１０２ | 電磁波式濃度測定装置 |
| 特開２００１−８３１０３ | コンピュータ断層撮影装置 |
| 特開２００１−８３１０４ | Ｘ線検査装置 |
| 特開２００１−８３１０５ | Ｘ線回折装置および回折Ｘ線の測定方法 |
| 特開２００１−８３１０６ | 物質構造解析方法およびその装置 |
| 特開２００１−８３１０７ | 膜の物質特性解析装置 |
| 特開２００１−８３１０８ | 積層構造検査法、Ｘ線反射率装置および磁気記録再生装置 |
| 特開２００１−８３１０９ | 蛍光Ｘ線分析方法およびその装置 |
| 特開２００１−８３１１０ | 蛍光Ｘ線分析装置 |
| 特開２００１−８３１１１ | オージェ電子分光装置およびスペクトル測定方法 |
| 特開２００１−８３１１２ | 光電子分光装置 |
| 特開２００１−８３１１３ | サーモリフレクタンス法による熱拡散率測定方法 |