| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２００１−１３１９１ | 基板検査用センサおよび基板検査装置 |
| 特開２００１−１３１９２ | 回路基板検査装置 |
| 特開２００１−１３１９３ | コネクタ導通検査具 |
| 特開２００１−１３１９４ | コネクタ導通検査具 |
| 特開２００１−１３１９５ | コネクタ導通検査具 |
| 特開２００１−１３１９６ | 一端判定型事故点評定装置 |
| 特開２００１−１３１９７ | 電気機器の試験装置 |
| 特開２００１−１３１９８ | 半導体装置の試験方法 |
| 特開２００１−１３１９９ | 複数の発光点を有する半導体レーザの特性の測定方法 |
| 特開２００１−１３２００ | 集積回路の故障検出方法及び故障検出装置及びその制御プログラムを記録した記憶媒体 |
| 特開２００１−１３２０１ | ＩＣデバイスの試験方法及び試験装置 |
| 特開２００１−１３２０２ | ＩＣデバイスの検査装置 |
| 特開２００１−１３２０３ | 半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 |
| 特開２００１−１３２０４ | パワーデバイス試験装置 |
| 特開２００１−１３２０５ | 球体検査器 |
| 特開２００１−１３２０６ | 球体接続器 |
| 特開２００１−１３２０７ | 半導体素子検査用ソケット、半導体装置の検査方法及び製造方法 |
| 特開２００１−１３２０８ | 半導体テスト治工具 |
| 特開２００１−１３２０９ | ＩＣソケット付きＤＵＴボード |
| 特開２００１−１３２１０ | コネクタ、試験装置、及び接触検査方法 |
| 特開２００１−１３２１１ | テストバーンインボード管理方法及びバーンイン試験システム |
| 特開２００１−１３２１２ | オートハンドラ、その制御方法、及び記憶媒体 |
| 特開２００１−１３２１３ | キャリヤーモジュール |
| 特開２００１−１３２１４ | 内部信号観測回路及び内部信号観測方法 |
| 特開２００１−１３２１５ | 複合半導体集積回路装置、及びその接続試験方法 |
| 特開２００１−１３２１６ | ＬＳＩテスト回路 |
| 特開２００１−１３２１７ | タイミング校正方法及びこのタイミング校正方法を用いて校正動作する位相補正回路を搭載したＩＣ試験装置 |
| 特開２００１−１３２１８ | 半導体テスト装置 |
| 特開２００１−１３２１９ | 半導体装置 |
| 特開２００１−１３２２０ | 半導体集積回路及びその検査方法 |
| 特開２００１−１３２２１ | ＩＣ試験装置 |
| 特開２００１−１３２２２ | 波形生成回路 |
| 特開２００１−１３２２３ | クロック・ツリー・シンセシス用回路ブロック及びクロック・ツリー回路及びクロック・ツリー回路の設計方法 |
| 特開２００１−１３２２４ | 半導体装置及びそのテスト方法 |
| 特開２００１−１３２２５ | 交流回転機のオンライン絶縁診断方法及び装置 |
| 特開２００１−１３２２６ | 温度センサを用いない過充電防止機能付きバッテリの容量測定装置 |
| 特開２００１−１３２２７ | 電池余寿命測定装置 |
| 特開２００１−１３２２８ | バッテリチェッカ |
| 特開２００１−１３２２９ | バッテリチェッカ |
| 特開２００１−１３２３０ | 磁気センサ |
| 特開２００１−１３２３１ | 半導体基板上に形成された磁気センサ |
| 特開２００１−１３２３２ | ジッタ信号発生器 |
| 特開２００１−１３２３３ | ジッタ信号発生器 |
| 特開２００１−１３２３４ | アンテナ追尾信号発生回路 |
| 特開２００１−１３２３５ | ＧＰＳ受信装置 |
| 特開２００１−１３２３６ | 二輪車両位置検出装置 |
| 特開２００１−１３２３７ | キャリア位相相対測位装置および測位システム |
| 特開２００１−１３２３８ | 物体検知装置及びその動作確認装置 |
| 特開２００１−１３２３９ | 超音波振動子 |
| 特開２００１−１３２４０ | ＦＭ−ＣＷレーダ装置 |