| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−３２９５０８ | タッチプローブ |
| 特開２０００−３２９５０９ | 電磁センサ |
| 特開２０００−３２９５１０ | 紙葉類の厚さ検出装置 |
| 特開２０００−３２９５１１ | データグローブ及びこれを用いた形状認識方法 |
| 特開２０００−３２９５１２ | アクチュエータおよびこれに用いることができる回転量検出装置 |
| 特開２０００−３２９５１３ | 物理量検出素子の駆動回路及び回転角度センサ |
| 特開２０００−３２９５１４ | 干渉縞画像の補正方法 |
| 特開２０００−３２９５１５ | トンネル掘削機の位置計測装置 |
| 特開２０００−３２９５１６ | アライメントマーク |
| 特開２０００−３２９５１７ | 距離測定装置 |
| 特開２０００−３２９５１８ | 座標測定方法 |
| 特開２０００−３２９５１９ | コイル位置検出装置 |
| 特開２０００−３２９５２０ | コイル位置検出装置 |
| 特開２０００−３２９５２１ | パターン測定方法および位置合わせ方法 |
| 特開２０００−３２９５２２ | 画像処理装置と水位計測システム |
| 特開２０００−３２９５２３ | アライメントスコープの位置校正装置及びその方法 |
| 特開２０００−３２９５２４ | レンジファインダ装置 |
| 特開２０００−３２９５２５ | 段差測定方法並びにエッチング深さ測定方法及びそれらの装置 |
| 特開２０００−３２９５２６ | 表面検査装置及び表面検査方法 |
| 特開２０００−３２９５２７ | 高さ測定装置及び方法とこれを利用した検査装置 |
| 特開２０００−３２９５２８ | 構造体の制御方式 |
| 特開２０００−３２９５２９ | スパークプラグ検査方法、スパークプラグ検査装置及びスパークプラグ製造方法 |
| 特開２０００−３２９５３０ | 変位計測装置の変位センサーおよびその設置方法 |
| 特開２０００−３２９５３１ | 三次元形状計測装置および同方法 |
| 特開２０００−３２９５３２ | パターンの欠陥抽出方法及びこれに用いられるパラメータ決定方法 |
| 特開２０００−３２９５３３ | ３次元情報入力カメラ |
| 特開２０００−３２９５３４ | 光イメージング装置 |
| 特開２０００−３２９５３５ | 位相シフト干渉縞の同時計測装置 |
| 特開２０００−３２９５３６ | 外観検査装置および外観検査方法 |
| 特開２０００−３２９５３７ | 表面検査方法および表面検査装置 |
| 特開２０００−３２９５３８ | 表面検査装置 |
| 特開２０００−３２９５３９ | 反射面評価装置、反射面の評価方法及び光ディスクの作成方法 |
| 特開２０００−３２９５４０ | 帯状体の平坦度の測定方法および装置 |
| 特開２０００−３２９５４１ | 表面画像生成方法及び装置 |
| 特開２０００−３２９５４２ | 異物検出装置 |
| 特開２０００−３２９５４３ | 超音波距離計測装置 |
| 特開２０００−３２９５４４ | 処理装置の基板位置決め装置及びその方法 |
| 特開２０００−３２９５４５ | 重量寸法測定装置 |
| 特開２０００−３２９５４６ | ピストン挙動解析用センサ取付構造 |
| 特開２０００−３２９５４７ | 線材束の捩れ検知部材 |
| 特開２０００−３２９５４８ | 地表面変位測定装置 |
| 特開２０００−３２９５４９ | 車両用の距離判別装置 |
| 特開２０００−３２９５５０ | 測距センサおよびこの測距センサの固定方法 |
| 特開２０００−３２９５５１ | トンネル覆工表面曲率半径測定による変状調査方法 |
| 特開２０００−３２９５５２ | ３次元地図作成方法 |
| 特開２０００−３２９５５３ | 計測装置 |
| 特開２０００−３２９５５４ | 掘削断面の内空変位の計測方法 |
| 特開２０００−３２９５５５ | 上方にある物の垂直下方位置検出装置 |
| 特開２０００−３２９５５６ | ターゲット装置 |
| 特開２０００−３２９５５７ | 姿勢角検出装置 |