| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−２９２３４９ | クリーム中の脂肪濃度の測定装置及び測定方法 |
| 特開２０００−２９２３５０ | 樹脂の識別方法および装置 |
| 特開２０００−２９２３５１ | 光干渉式流体特性測定装置 |
| 特開２０００−２９２３５２ | 紫外用光学部材の透過率測定方法 |
| 特開２０００−２９２３５３ | 蛍光画像生成装置 |
| 特開２０００−２９２３５４ | 局所的な測定量の分布を定量的に測定するための装置 |
| 特開２０００−２９２３５５ | 発光スタンド |
| 特開２０００−２９２３５６ | 発光スタンドにおけるダスト回収構造 |
| 特開２０００−２９２３５７ | レーザーＩＣＰ成分分析装置 |
| 特開２０００−２９２３５８ | 圧縮成形品の外観検査装置 |
| 特開２０００−２９２３５９ | 青果物の内部品質検査方法及びその装置 |
| 特開２０００−２９２３６０ | 異物検査方法 |
| 特開２０００−２９２３６１ | 管外部検査ロボット及びその制御方法 |
| 特開２０００−２９２３６２ | ウエハ検査装置 |
| 特開２０００−２９２３６３ | 船舶のタンク内検査装置 |
| 特開２０００−２９２３６４ | 疵目向き判別システム |
| 特開２０００−２９２３６５ | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 |
| 特開２０００−２９２３６６ | レーザ光による欠陥検出方法 |
| 特開２０００−２９２３６７ | 欠陥検査装置およびその記録媒体 |
| 特開２０００−２９２３６８ | 品質検査装置 |
| 特開２０００−２９２３６９ | 品質検査装置 |
| 特開２０００−２９２３７０ | 印字検査装置 |
| 特開２０００−２９２３７１ | Ｘ線検査装置 |
| 特開２０００−２９２３７２ | ＣＴスキャニング・システムのためのアーキテクチャ |
| 特開２０００−２９２３７３ | 流体軸受内部検査方法 |
| 特開２０００−２９２３７４ | 流体軸受液面検査方法 |
| 特開２０００−２９２３７５ | Ｘ線回折装置及び該装置を用いた試料の測定方法 |
| 特開２０００−２９２３７６ | 結晶厚み測定方法と結晶厚み測定装置 |
| 特開２０００−２９２３７７ | Ｘ線回折装置 |
| 特開２０００−２９２３７８ | 反射型電子線回折装置 |
| 特開２０００−２９２３７９ | Ｘ線回折装置及びＸ線ロッキングカーブの測定方法 |
| 特開２０００−２９２３８０ | 陽電子消滅分析装置 |
| 特開２０００−２９２３８１ | 微量試料分析装置 |
| 特開２０００−２９２３８２ | Ｘ線分析装置 |
| 特開２０００−２９２３８３ | Ｘ線分析装置およびＸ線分析装置の制御プログラムを記録した記録媒体 |
| 特開２０００−２９２３８４ | 試料分析方法および電子線分析装置 |
| 特開２０００−２９２３８５ | 表面分析装置 |
| 特開２０００−２９２３８６ | パルス伝熱試験装置 |
| 特開２０００−２９２３８７ | コンクリートの断熱温度上昇特性の簡易測定方法および装置 |
| 特開２０００−２９２３８８ | アスファルト表面層内部の水探知方法および装置 |
| 特開２０００−２９２３８９ | センサ回路 |
| 特開２０００−２９２３９０ | 導電率センサ |
| 特開２０００−２９２３９１ | 導電率センサ |
| 特開２０００−２９２３９２ | ガス測定装置及びガス測定方法 |
| 特開２０００−２９２３９３ | 薄膜ガスセンサ |
| 特開２０００−２９２３９４ | 薄膜ガスセンサ |
| 特開２０００−２９２３９５ | 薄膜ガスセンサ |
| 特開２０００−２９２３９６ | 薄膜ガスセンサ |
| 特開２０００−２９２３９７ | ガスセンサ |
| 特開２０００−２９２３９８ | 薄膜ガスセンサ |