| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−２７５１４５ | 車両診断システムおよび記録媒体 |
| 特開２０００−２７５１４６ | 車輪管理システム |
| 特開２０００−２７５１４７ | 回転体の動的負荷試験装置 |
| 特開２０００−２７５１４８ | 異物捕集装置 |
| 特開２０００−２７５１４９ | ダストサンプリング装置 |
| 特開２０００−２７５１５０ | 油中溶存ガス分析装置 |
| 特開２０００−２７５１５１ | 硫黄分析方法及びその装置 |
| 特開２０００−２７５１５２ | 病理組織検査用フレームカセット |
| 特開２０００−２７５１５３ | ヤング率測定方法及びそれに用いる音叉型水晶触覚センサ |
| 特開２０００−２７５１５４ | 応力−ひずみ関係シミュレート方法 |
| 特開２０００−２７５１５５ | 鋼管の落錘衝撃試験装置 |
| 特開２０００−２７５１５６ | 反発弾性試験装置 |
| 特開２０００−２７５１５７ | 交互吸着膜を用いた粒子センサ |
| 特開２０００−２７５１５８ | 自動粘度測定装置および方法ならびに連続塗装設備 |
| 特開２０００−２７５１５９ | 走査型プローブ顕微鏡の画像表示方法 |
| 特開２０００−２７５１６０ | 走査近接場光学顕微鏡による試料観測方法および走査近接場光学顕微鏡用超平坦サファイア基板 |
| 特開２０００−２７５１６１ | 微小点発光発生装置および距離制御方法と走査型近接場顕微鏡 |
| 特開２０００−２７５１６２ | 機能性有機高分子ゲルから成るＡＦＭ用カンチレバー |
| 特開２０００−２７５１６３ | 粒子分析装置 |
| 特開２０００−２７５１６４ | 応力腐食割れ試験方法 |
| 特開２０００−２７５１６５ | 電線腐食診断方法及び装置 |
| 特開２０００−２７５１６６ | 犠牲試験片のき裂検出装置 |
| 特開２０００−２７５１６７ | 紙質検出装置、印刷装置および複写装置 |
| 特開２０００−２７５１６８ | 劣化度測定システム |
| 特開２０００−２７５１６９ | 光学的測定装置 |
| 特開２０００−２７５１７０ | 原子吸光分析方法及びその装置 |
| 特開２０００−２７５１７１ | 気体中の浮遊粒子の原子吸光分析方法および装置 |
| 特開２０００−２７５１７２ | 原子吸光分析方法及びその装置 |
| 特開２０００−２７５１７３ | アイソトポマー吸収分光分析装置及びその方法 |
| 特開２０００−２７５１７４ | 可燃性炭化水素系ガス・溶液の検知用オプティクファイバーセンサ素子及び検出装置 |
| 特開２０００−２７５１７５ | 溶液測定用光ファイバーセル |
| 特開２０００−２７５１７６ | 光透過率測定用プローブ |
| 特開２０００−２７５１７７ | 過酸化水素の測定方法 |
| 特開２０００−２７５１７８ | イソチアゾロン類の検出方法 |
| 特開２０００−２７５１７９ | 冷却水系の循環水濃縮倍数管理方法 |
| 特開２０００−２７５１８０ | 生物学的用途のための有機発光半導体ナノクリスタルプローブ、およびこのようなプローブを製造および使用するプロセス |
| 特開２０００−２７５１８１ | ポリカルボン酸類の検出方法 |
| 特開２０００−２７５１８２ | 円盤状記録媒体の検査装置及び検査方法 |
| 特開２０００−２７５１８３ | 画像取込み装置 |
| 特開２０００−２７５１８４ | レビューシステム |
| 特開２０００−２７５１８５ | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
| 特開２０００−２７５１８６ | 糊検査装置及び方法 |
| 特開２０００−２７５１８７ | サインパネル検査装置 |
| 特開２０００−２７５１８８ | フィルム傷検出装置 |
| 特開２０００−２７５１８９ | 管内面の浸透探傷検査装置 |
| 特開２０００−２７５１９０ | マイクロ波水分測定装置 |
| 特開２０００−２７５１９１ | Ｘ線検査方法及びその装置 |
| 特開２０００−２７５１９２ | Ｘ線回折装置 |
| 特開２０００−２７５１９３ | 表面密度の測定方法および測定装置 |
| 特開２０００−２７５１９４ | 超精密Ｘ線回折装置の校正法 |