| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−２６６７５８ | 自動分析装置及びそれを用いる分析方法 |
| 特開２０００−２６６７５９ | 化学分析装置と化学分析システム |
| 特開２０００−２６６７６０ | 分注装置 |
| 特開２０００−２６６７６１ | 自動分析装置 |
| 特開２０００−２６６７６２ | 検体搬送装置 |
| 特開２０００−２６６７６３ | 自動分析装置 |
| 特開２０００−２６６７６４ | 分注用装置 |
| 特開２０００−２６６７６５ | 自動分析装置 |
| 特開２０００−２６６７６６ | 生化学分析装置 |
| 特開２０００−２６６７６７ | 生化学分析装置 |
| 特開２０００−２６６７６８ | 自動分析装置 |
| 特開２０００−２６６７６９ | 走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 |
| 特開２０００−２６６７７０ | 表面測定装置 |
| 特開２０００−２６６７７１ | 磁電変換素子を用いた車輪速度センサ |
| 特開２０００−２６６７７２ | 粉粒体の流動計測装置 |
| 特開２０００−２６６７７３ | 熱線流速計及びその変換テーブル生成方法 |
| 特開２０００−２６６７７４ | 回転検出装置 |
| 特開２０００−２６６７７５ | 加速度センサとその製造方法 |
| 特開２０００−２６６７７６ | 圧電式加速度センサ用増幅回路 |
| 特開２０００−２６６７７７ | 静電容量型センサ |
| 特開２０００−２６６７７８ | 測定用プローブ |
| 特開２０００−２６６７７９ | マルチプローブユニット |
| 特開２０００−２６６７８０ | プローブカードとそれを用いた検査装置 |
| 特開２０００−２６６７８１ | 多種料金形電力量計 |
| 特開２０００−２６６７８２ | 測定装置 |
| 特開２０００−２６６７８３ | 測定装置の表示制御方法および測定装置 |
| 特開２０００−２６６７８４ | 同相ノイズ検出用プローブ |
| 特開２０００−２６６７８５ | 電流計測装置 |
| 特開２０００−２６６７８６ | 電流センサ |
| 特開２０００−２６６７８７ | 光電流センサ |
| 特開２０００−２６６７８８ | 電力量計 |
| 特開２０００−２６６７８９ | 自家発電の表示装置 |
| 特開２０００−２６６７９０ | 周波数測定装置 |
| 特開２０００−２６６７９１ | ラプラス変換インピーダンスの測定方法及びその測定装置 |
| 特開２０００−２６６７９２ | スペクトラムアナライザ |
| 特開２０００−２６６７９３ | 電磁雑音レコーダ及び記録方法 |
| 特開２０００−２６６７９４ | 表面電位測定方法および装置 |
| 特開２０００−２６６７９５ | 電圧変動試験システム |
| 特開２０００−２６６７９６ | 電子部品の搬送装置 |
| 特開２０００−２６６７９７ | アンテナ制御方法 |
| 特開２０００−２６６７９８ | プリント基板の検査装置 |
| 特開２０００−２６６７９９ | プリント基板検査装置 |
| 特開２０００−２６６８００ | 短絡治具 |
| 特開２０００−２６６８０１ | 無線伝送型故障区間標定装置 |
| 特開２０００−２６６８０２ | 直流ケーブルの直流課電を伴う試験方法 |
| 特開２０００−２６６８０３ | 半導体装置の評価方法 |
| 特開２０００−２６６８０４ | 電波干渉監視機能付き半導体測定装置 |
| 特開２０００−２６６８０５ | ベアチップのバーンイン方法およびバーンイン用基板 |
| 特開２０００−２６６８０６ | 半導体デバイスの検査装置、検査方法、半導体デバイス及び半導体デバイスの製造方法 |
| 特開２０００−２６６８０７ | 電子部品の接続装置 |