| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−２１４２１２ | 電気装置の電気絶縁に関する寿命の予測方法 |
| 特開２０００−２１４２１３ | バ―ンイン装置およびそれを用いた半導体装置のエ―ジング方法 |
| 特開２０００−２１４２１４ | 多ピンコネクタおよび該多ピンコネクタと接続されるバ―ンインボ―ド |
| 特開２０００−２１４２１５ | 電子部品接触装置 |
| 特開２０００−２１４２１６ | 半導体検査装置 |
| 特開２０００−２１４２１７ | 半導体試験方法および半導体テストシステム |
| 特開２０００−２１４２１８ | ＩＣテストハンドリング機構 |
| 特開２０００−２１４２１９ | テストバ―ンインボ―ドハンドラ |
| 特開２０００−２１４２２０ | オンチップモジュ―ルおよびオンチップモジュ―ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 |
| 特開２０００−２１４２２１ | 半導体装置およびその試験方法 |
| 特開２０００−２１４２２２ | 電源回路 |
| 特開２０００−２１４２２３ | 遅延時間の測定方法 |
| 特開２０００−２１４２２４ | 半導体集積回路装置 |
| 特開２０００−２１４２２５ | 半導体装置 |
| 特開２０００−２１４２２６ | スキャンテスト回路及びスキャンテスト回路を含む半導体集積回路及びスキャンテスト回路を搭載した半導体集積回路試験用基板 |
| 特開２０００−２１４２２７ | 半導体装置 |
| 特開２０００−２１４２２８ | 半導体装置 |
| 特開２０００−２１４２２９ | モジュ―ルＩＣハンドラ―のエレベ―タ―部でパレットを循環させる方法及びその装置 |
| 特開２０００−２１４２３０ | 電気光学サンプリングプロ―バ |
| 特開２０００−２１４２３１ | 電気光学サンプリングプロ―バ |
| 特開２０００−２１４２３２ | 集積回路の試験方法および試験装置 |
| 特開２０００−２１４２３３ | 能動微細構造素子の機能試験方法及び装置、当該方法を用いて能動微細素子を製造する能動微細素子製造方法 |
| 特開２０００−２１４２３４ | 走査検査装置 |
| 特開２０００−２１４２３５ | 半導体集積回路装置の検査方法 |
| 特開２０００−２１４２３６ | ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 |
| 特開２０００−２１４２３７ | 半導体試験装置 |
| 特開２０００−２１４２３８ | バッテリ駆動予想時間算出装置及びバッテリ駆動予想時間算出方法 |
| 特開２０００−２１４２３９ | 電池残量検出装置 |
| 特開２０００−２１４２４０ | 磁気センサ素子の製造方法 |
| 特開２０００−２１４２４１ | 磁気エンコ―ダ及び磁気センサ |
| 特開２０００−２１４２４２ | ＤＯＡ検出方法 |
| 特開２０００−２１４２４３ | 追尾受信機 |
| 特開２０００−２１４２４４ | 衛星航法補強システム |
| 特開２０００−２１４２４５ | ＧＰＳ受信機 |
| 特開２０００−２１４２４６ | 物体検出装置 |
| 特開２０００−２１４２４７ | レ―ダ装置の階調識別装置 |
| 特開２０００−２１４２４８ | 目標検出装置及び目標検出方法 |
| 特開２０００−２１４２４９ | レ―ダ断面積計測装置 |
| 特開２０００−２１４２５０ | ＦＭ―ＣＷレ―ダ装置 |
| 特開２０００−２１４２５１ | レ―ダ装置 |
| 特開２０００−２１４２５２ | 追尾処理方法及びシステム |
| 特開２０００−２１４２５３ | 高分解能レ―ダ装置 |
| 特開２０００−２１４２５４ | 航空機航路監視システム |
| 特開２０００−２１４２５５ | 船舶用レ―ダ装置 |
| 特開２０００−２１４２５６ | 車両の表示装置 |
| 特開２０００−２１４２５７ | タ―ゲットストレングス表示方法および装置 |
| 特開２０００−２１４２５８ | 車両用障害物警報装置 |
| 特開２０００−２１４２５９ | 車両用障害物検知装置 |
| 特開２０００−２１４２６０ | 測距装置 |
| 特開２０００−２１４２６１ | 測距装置 |