| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−２１４０６２ | 粉体摩耗、硬さ評価試験方法およびその装置 |
| 特開２０００−２１４０６３ | 振動試験用治具 |
| 特開２０００−２１４０６４ | 走査トンネル顕微鏡用試料ホルダ |
| 特開２０００−２１４０６５ | 強誘電体薄膜の特性解析方法 |
| 特開２０００−２１４０６６ | 走査型プロ―ブ顕微鏡 |
| 特開２０００−２１４０６７ | 走査型プロ―ブ顕微鏡の探針移動制御方法 |
| 特開２０００−２１４０６８ | 粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器およびその製作方法 |
| 特開２０００−２１４０６９ | 気体透過評価装置 |
| 特開２０００−２１４０７０ | シ―スフロ―セルとそれを用いた血液分析装置 |
| 特開２０００−２１４０７１ | 微粒子検出器 |
| 特開２０００−２１４０７２ | カンチレバ―型の吸着センサ―並びに吸着力解析方法 |
| 特開２０００−２１４０７３ | 赤外線水分計検定シ―ト |
| 特開２０００−２１４０７４ | 光量測定装置 |
| 特開２０００−２１４０７５ | 白熱ランプ光の集光方式 |
| 特開２０００−２１４０７６ | 脱泡機能付き測定槽 |
| 特開２０００−２１４０７７ | 光学吸収セル |
| 特開２０００−２１４０７８ | 化学標準試料分析用試料セル及びこれを用いた炭素又は硫黄の定量分析方法 |
| 特開２０００−２１４０７９ | 光学特性測定系の制御方法 |
| 特開２０００−２１４０８０ | 分析装置 |
| 特開２０００−２１４０８１ | 測定容器および旋光度測定装置 |
| 特開２０００−２１４０８２ | 媒質の非線形光学応答測定装置 |
| 特開２０００−２１４０８３ | 光学式センサ |
| 特開２０００−２１４０８４ | 検査対象物質判定方法及びその装置 |
| 特開２０００−２１４０８５ | 赤外線を使用した液体評価装置及びこれを用いた評価方法 |
| 特開２０００−２１４０８６ | ゲル化過程またはゲル状態の観測方法 |
| 特開２０００−２１４０８７ | 炭酸ガス濃度センサ―の拡散吸気・排気の構造 |
| 特開２０００−２１４０８８ | 偏光変調蛍光測定装置 |
| 特開２０００−２１４０８９ | 施肥量判定方法 |
| 特開２０００−２１４０９０ | 多サンプル対応のスキャナ―型蛍光検出装置 |
| 特開２０００−２１４０９１ | ラマン分光法を用いたＤＬＣ膜の定量測定方法 |
| 特開２０００−２１４０９２ | 気体排出物を識別する方法とシステム、およびそのようなシステムを備えた設備 |
| 特開２０００−２１４０９３ | 誘導結合プラズマ分析装置 |
| 特開２０００−２１４０９４ | 微粒子導入装置 |
| 特開２０００−２１４０９５ | 溶液測定装置 |
| 特開２０００−２１４０９６ | 三次元レ―ザ加工機ヘッド部の光路検査方法およびその装置 |
| 特開２０００−２１４０９７ | 錠剤の外観検査装置およびＰＴＰ包装機 |
| 特開２０００−２１４０９８ | 基板外観検査方法及び装置 |
| 特開２０００−２１４０９９ | 結晶欠陥計測方法および装置 |
| 特開２０００−２１４１００ | 欠陥検査装置 |
| 特開２０００−２１４１０１ | 表面欠陥検査装置 |
| 特開２０００−２１４１０２ | 異物検出装置および異物検出装置を含むプロセスライン |
| 特開２０００−２１４１０３ | 欠陥検査装置 |
| 特開２０００−２１４１０４ | ガラス壜口部の欠陥検査装置 |
| 特開２０００−２１４１０５ | 石英中の不純物の測定方法 |
| 特開２０００−２１４１０６ | 蛍光Ｘ線分析装置 |
| 特開２０００−２１４１０７ | 蛍光Ｘ線分析装置 |
| 特開２０００−２１４１０８ | 電子プローブマイクロアナライザによる任意形状試料の面分析法 |
| 特開２０００−２１４１０９ | 電子衝撃型反跳水素分析器 |
| 特開２０００−２１４１１０ | 表面分析機器による非等分割モンタージュ面分析法 |
| 特開２０００−２１４１１１ | 電子プロ―ブマイクロアナライザ |