| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−２０５８０８ | 変位検出装置およびレンズ鏡筒 |
| 特開２０００−２０５８０９ | 電気機械変換素子を使用したアクチエ―タにおける移動部材の位置検出機構及び位置検出方法 |
| 特開２０００−２０５８１０ | 段差寸法測定器 |
| 特開２０００−２０５８１１ | 回転型センサ |
| 特開２０００−２０５８１２ | センサ用静電荷散逸パッド |
| 特開２０００−２０５８１３ | リタデ―ション測定法及びそれを用いた偏光干渉計 |
| 特開２０００−２０５８１４ | ヘテロダイン干渉計 |
| 特開２０００−２０５８１５ | ３次元変位検出装置、ホイ―ルアラインメント測定装置、および３次元変位検出方法 |
| 特開２０００−２０５８１６ | 測定装置および測定方法 |
| 特開２０００−２０５８１７ | 電子部品の位置検出方法及び位置検出装置と電子部品の電子部品実装方法及び電子部品実装装置 |
| 特開２０００−２０５８１８ | 高さ計測装置及びこれを用いた半導体パッケ―ジの検査装置 |
| 特開２０００−２０５８１９ | 光学式変位センサ |
| 特開２０００−２０５８２０ | 半導体部品の画像認識装置 |
| 特開２０００−２０５８２１ | 三次元形状計測装置及びその三次元形状計測方法 |
| 特開２０００−２０５８２２ | 画像計測システム及びその画像校正方法 |
| 特開２０００−２０５８２３ | 被処理体の識別方法並びに被処理体の位置決め方法及び被処理体の位置決め装置 |
| 特開２０００−２０５８２４ | ワ―クの稜線長さ測定方法とその装置 |
| 特開２０００−２０５８２５ | グラビア版のセルサイズ測定用スケ―ルの画像処理方法及び装置 |
| 特開２０００−２０５８２６ | 画像処理方法および装置 |
| 特開２０００−２０５８２７ | 高温の容器の肉厚の測定方法 |
| 特開２０００−２０５８２８ | 透明膜の段差の測定方法及び位相シフトマスクの作成方法 |
| 特開２０００−２０５８２９ | 走間材厚み測定方法 |
| 特開２０００−２０５８３０ | 塗装膜厚の測定方法および装置 |
| 特開２０００−２０５８３１ | 丸形蛍光灯バルブの両フレア部の間隔の検査方法およびその装置 |
| 特開２０００−２０５８３２ | プラズマ反応装置に用いるギャップ測定装置 |
| 特開２０００−２０５８３３ | 陥凹材料の深さを測定するための非破壊的方法および装置 |
| 特開２０００−２０５８３４ | パッケ―ジ検査方法 |
| 特開２０００−２０５８３５ | 形状測定装置 |
| 特開２０００−２０５８３６ | 周期性開口パタ―ンの検査方法及び装置 |
| 特開２０００−２０５８３７ | クリ―ム半田印刷機用検査装置及び方法及び該検査装置を有する印刷機 |
| 特開２０００−２０５８３８ | 対象物の形状認識方法及びその装置 |
| 特開２０００−２０５８３９ | 形状測定器 |
| 特開２０００−２０５８４０ | 形状検査装置 |
| 特開２０００−２０５８４１ | ウエハ形状認識方法 |
| 特開２０００−２０５８４２ | 形状測定器 |
| 特開２０００−２０５８４３ | 画像測定装置 |
| 特開２０００−２０５８４４ | 棒材角度測定システム |
| 特開２０００−２０５８４５ | 角形部材の方向判別センサ |
| 特開２０００−２０５８４６ | 塗装ムラ検査装置および方法 |
| 特開２０００−２０５８４７ | 表面疵検査方法および装置 |
| 特開２０００−２０５８４８ | モジュ―ル外観検査設備 |
| 特開２０００−２０５８４９ | エスカレ―タのチェ―ンの振幅測定装置及び振幅測定方法 |
| 特開２０００−２０５８５０ | 半導体素子の位置決め装置 |
| 特開２０００−２０５８５１ | 簡易軌道検測車のスタンド機構 |
| 特開２０００−２０５８５２ | デジタルアナログ併用表示型測定器のアナログ量測定・表示方法 |
| 特開２０００−２０５８５３ | 眼鏡用レンズ測定装置と、その測定子 |
| 特開２０００−２０５８５４ | 機械部品の寸法計測方法 |
| 特開２０００−２０５８５５ | 材料径測定装置および材料曲がり検出装置 |
| 特開２０００−２０５８５６ | 低測定圧プロ―ブ |
| 特開２０００−２０５８５７ | 軸受の製造方法および製造装置 |