| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−１８０３５０ | 粘着テープの剥離試験機 |
| 特開２０００−１８０３５１ | 光学特性測定ユニット |
| 特開２０００−１８０３５２ | 分光光度計用微量試料容器 |
| 特開２０００−１８０３５３ | 表面プラズモンセンサー |
| 特開２０００−１８０３５４ | 表面プラズモン共鳴を利用した有害ハロゲン化合物計測方法 |
| 特開２０００−１８０３５５ | スルホン基含有芳香族系重合体中のスルホン化度の定量方法 |
| 特開２０００−１８０３５６ | 赤外線分光分析装置 |
| 特開２０００−１８０３５７ | 路面状態判別装置 |
| 特開２０００−１８０３５８ | 泡持ち評価装置 |
| 特開２０００−１８０３５９ | 薄膜の特性測定方法 |
| 特開２０００−１８０３６０ | ガス分析計 |
| 特開２０００−１８０３６１ | 撮影システム |
| 特開２０００−１８０３６２ | 画像情報読取方法および画像情報読取装置 |
| 特開２０００−１８０３６３ | 炎監視方法及び装置 |
| 特開２０００−１８０３６４ | ガス分析装置 |
| 特開２０００−１８０３６５ | 画像情報読取装置 |
| 特開２０００−１８０３６６ | テープ式ガス測定装置 |
| 特開２０００−１８０３６７ | テープ式ガス測定装置 |
| 特開２０００−１８０３６８ | 化学分析装置 |
| 特開２０００−１８０３６９ | 穀粒品位測定方法及びその装置 |
| 特開２０００−１８０３７０ | 非接触薄膜検査装置 |
| 特開２０００−１８０３７１ | 異物検査装置および半導体工程装置 |
| 特開２０００−１８０３７２ | ガラス基板の欠陥検出法 |
| 特開２０００−１８０３７３ | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
| 特開２０００−１８０３７４ | 欠陥検出方法 |
| 特開２０００−１８０３７５ | フラットパネル表示器検査方法及び装置 |
| 特開２０００−１８０３７６ | ディスク表面検査装置における欠陥種類判別方法 |
| 特開２０００−１８０３７７ | 欠陥・異物検査装置 |
| 特開２０００−１８０３７８ | 路面状態検出装置 |
| 特開２０００−１８０３７９ | 表面疵検査装置 |
| 特開２０００−１８０３８０ | 外観検査装置およびＰＴＰシートの外観検査装置ならびにＰＴＰ包装機 |
| 特開２０００−１８０３８１ | 缶の表面検査方法および検査装置 |
| 特開２０００−１８０３８２ | 外観検査装置 |
| 特開２０００−１８０３８３ | 発泡樹脂製容器の開口フランジ部検査方法および検査装置 |
| 特開２０００−１８０３８４ | 非破壊検査システムおよび非破壊検査方法 |
| 特開２０００−１８０３８５ | 再結合ライフタイム測定方法及び再結合ライフタイム測定装置 |
| 特開２０００−１８０３８６ | Ｘ線撮像装置 |
| 特開２０００−１８０３８７ | Ｘ線検査装置及びＸ線検査方法 |
| 特開２０００−１８０３８８ | Ｘ線回折装置及びＸ線回折測定方法 |
| 特開２０００−１８０３８９ | Ｘ線回折装置 |
| 特開２０００−１８０３９０ | 分析元素の同定時におけるスペクトルエネルギー軸のずれ補正方法 |
| 特開２０００−１８０３９１ | 電子顕微鏡および欠陥形状確認方法 |
| 特開２０００−１８０３９２ | 電子線マイクロアナライザー |
| 特開２０００−１８０３９３ | 同じ構成元素を有して組成比の異なる微小物質のＥＰＭＡ定量法 |
| 特開２０００−１８０３９４ | 表面分析機器による定性分析方法 |
| 特開２０００−１８０３９５ | 熱伝導率算出方法及び装置並びに熱伝導率算出プログラムを記録した媒体 |
| 特開２０００−１８０３９６ | 熱伝導率の測定方法及び装置 |
| 特開２０００−１８０３９７ | 排気ガス用ＮＯｘ測定素子 |
| 特開２０００−１８０３９８ | 比較電極 |
| 特開２０００−１８０３９９ | 基質の定量方法 |