| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−１７１１９８ | 地雷除去装置 |
| 特開２０００−１７１１９９ | パッシブ弾着標定装置 |
| 特開２０００−１７１２００ | 地中ガス検知機械 |
| 特開２０００−１７１２０１ | 金型用ピンゲージ |
| 特開２０００−１７１２０２ | スイッチの荷重及び変位測定装置 |
| 特開２０００−１７１２０３ | 大型構造物の変形計測装置 |
| 特開２０００−１７１２０４ | 距離測定装置 |
| 特開２０００−１７１２０５ | 変位検出装置 |
| 特開２０００−１７１２０６ | 位置検出装置 |
| 特開２０００−１７１２０７ | 管製品検査設備 |
| 特開２０００−１７１２０８ | 摺動式位置検出装置 |
| 特開２０００−１７１２０９ | 干渉測定装置 |
| 特開２０００−１７１２１０ | エッジ検出装置 |
| 特開２０００−１７１２１１ | パイプ長さ測定装置 |
| 特開２０００−１７１２１２ | 形状複屈折を有する表面特徴を測定するためのシステムおよび形状複屈折を有する特徴サイズを測定するための方法および高い横方向分解能で異方性サンプル上でクリティカルディメンションを測定するための装置および高い横方向分解能でサンプルにおけるクリティカルディメンションを求めるための方法 |
| 特開２０００−１７１２１３ | 移動体現在位置検出方法 |
| 特開２０００−１７１２１４ | 対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測方法 |
| 特開２０００−１７１２１５ | 物流情報読取り装置 |
| 特開２０００−１７１２１６ | 試料測定装置 |
| 特開２０００−１７１２１７ | 半導体検査装置および半導体検査方法 |
| 特開２０００−１７１２１８ | フィルムエッジ厚み測定装置及びフィルムエッジ厚み測定方法 |
| 特開２０００−１７１２１９ | 物体形状計測装置 |
| 特開２０００−１７１２２０ | レール断面測定装置 |
| 特開２０００−１７１２２１ | 広視野３次元位置計測方法および装置およびこの方法を記録した記録媒体 |
| 特開２０００−１７１２２２ | ３次元入力方法及び３次元入力装置 |
| 特開２０００−１７１２２３ | ３次元入力装置 |
| 特開２０００−１７１２２４ | 外観検査装置 |
| 特開２０００−１７１２２５ | ３次元入力方法及び３次元入力装置 |
| 特開２０００−１７１２２６ | 側面検査装置 |
| 特開２０００−１７１２２７ | パターンを有するウエハの異物検査装置及び検査方法 |
| 特開２０００−１７１２２８ | 斜入射干渉計 |
| 特開２０００−１７１２２９ | 空圧式測定器 |
| 特開２０００−１７１２３０ | 微小パタ―ン形状検査方法及びその装置 |
| 特開２０００−１７１２３１ | 管体の形状測定方法および装置 |
| 特開２０００−１７１２３２ | 超音波計測装置 |
| 特開２０００−１７１２３３ | 多角形管の肉厚測定装置および測定方法 |
| 特開２０００−１７１２３４ | 溶射皮膜の膜厚計測方法 |
| 特開２０００−１７１２３５ | 原反フィルム径測定装置及び測定方法 |
| 特開２０００−１７１２３６ | 大型構造物の横方向変形計測装置 |
| 特開２０００−１７１２３７ | Ｖ溝測定方法 |
| 特開２０００−１７１２３８ | 遊星歯車装置の性能予測方法 |
| 特開２０００−１７１２３９ | 回転角検出装置 |
| 特開２０００−１７１２４０ | 薄肉部品の平面度検査方法および装置 |
| 特開２０００−１７１２４１ | 平坦度測定方法 |
| 特開２０００−１７１２４２ | 形状の粗さ計測方法およびそのプログラムを記録した記録媒体 |
| 特開２０００−１７１２４３ | 方位検出装置 |
| 特開２０００−１７１２４４ | センサ装置 |
| 特開２０００−１７１２４５ | 測距装置 |
| 特開２０００−１７１２４６ | 測距装置 |
| 特開２０００−１７１２４７ | トンネル内測量装置 |