| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開２０００−９７５２ | 球面形バンプに対するコンタクトの接触構造 |
| 特開２０００−９７５３ | プローブカード |
| 特開２０００−９７５４ | 配線基板検査用コンタクトピンの製造方法及び配線基板検査装置 |
| 特開２０００−９７５５ | プリント基板検査用治具基板およびプリント基板検査方法 |
| 特開２０００−９７５６ | 積算電流計 |
| 特開２０００−９７５７ | デマンド監視装置 |
| 特開２０００−９７５８ | 電子機器 |
| 特開２０００−９７５９ | 測定装置 |
| 特開２０００−９７６０ | データの表示装置および表示方法 |
| 特開２０００−９７６１ | プローブアダプタ |
| 特開２０００−９７６２ | 光変成器 |
| 特開２０００−９７６３ | ＰＷＭ変換器の交流電圧推定装置 |
| 特開２０００−９７６４ | 電流検出回路 |
| 特開２０００−９７６５ | レベル測定装置 |
| 特開２０００−９７６６ | 電力表示装置 |
| 特開２０００−９７６７ | 発振手段からの発振周波数の異常検出回路 |
| 特開２０００−９７６８ | 周波数解析装置 |
| 特開２０００−９７６９ | スペクトラムアナライザ |
| 特開２０００−９７７０ | スペクトラムアナライザ |
| 特開２０００−９７７１ | タイヤ電気抵抗測定用当接具及び測定器 |
| 特開２０００−９７７２ | バイアホールインダクタンスの測定方法 |
| 特開２０００−９７７３ | 高周波電流検出装置 |
| 特開２０００−９７７４ | パルス位置検出器、その検出方法、および電話線ネットワーク |
| 特開２０００−９７７５ | 電流測定装置および電流発生源特定方法 |
| 特開２０００−９７７６ | 無線通信特性試験装置 |
| 特開２０００−９７７７ | 直流ケーブル課通電試験方法及びその装置 |
| 特開２０００−９７７８ | 直流ケーブル課通電試験方法及びその装置 |
| 特開２０００−９７７９ | 携帯電話機測定用シールドボックス |
| 特開２０００−９７８０ | 電力開閉器用異常検出装置 |
| 特開２０００−９７８１ | 乗員保護装置の故障検出装置 |
| 特開２０００−９７８２ | 電力系統の負荷高調波特性測定方法 |
| 特開２０００−９７８３ | 三相機器と三相電源との接続確認装置 |
| 特開２０００−９７８４ | 組み電池駆動回路の漏電検出装置 |
| 特開２０００−９７８５ | プリント基板検査装置 |
| 特開２０００−９７８６ | 主変圧器の２次電力ケーブルの地絡事故検出方法 |
| 特開２０００−９７８７ | 系統事故箇所判定装置とこの装置を動作させるプログラムを記録した記録媒体 |
| 特開２０００−９７８８ | ケーブルの劣化診断方法 |
| 特開２０００−９７８９ | 絶縁材の耐電圧試験方法 |
| 特開２０００−９７９０ | 半導体試験装置 |
| 特開２０００−９７９１ | 半導体試験装置用バイアス電源回路 |
| 特開２０００−９７９２ | テストバーンインシステム、及びテストバーンインシステム校正方法 |
| 特開２０００−９７９３ | 部品試験装置 |
| 特開２０００−９７９４ | バーンイン方法及びバーンイン装置制御システム |
| 特開２０００−９７９５ | ベアチップ検査用プローブ基板 |
| 特開２０００−９７９６ | ソケットボード実装構造 |
| 特開２０００−９７９７ | ＤＩＰ部品試験用治具 |
| 特開２０００−９７９８ | ＩＣ試験装置 |
| 特開２０００−９７９９ | 半導体装置 |
| 特開２０００−９８００ | スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 |
| 特開２０００−９８０１ | ＩＣ試験装置のＴＤＲタイミング校正方法 |