| 【発明の名称】 |
４ポートテストセット |
| 【発明者】 |
【氏名】藤崎 裕規
【氏名】安彦 典秀
【氏名】斉藤 千恵蔵
【氏名】生方 敬一
【氏名】木村 直也
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| 【要約】 |
【課題】本発明は、ネットワークアナライザで４ポートデバイスのＳパラメータ測定をする場合に、ケーブル接続変更することなく測定できる４ポートテストセットを提供する。
【解決手段】被測定デバイスのＳパラメータが測定ができる２ポートのネットワークアナライザと、該２ポートの一方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続できる第１のスイッチと、該２ポートの他方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続できる第２のスイッチと、前記ネットワークアナライザの制御信号を受けて、前記第１のスイッチと、第２のスイッチとを切り換え制御する制御部とを具備して４ポートデバイスを測定する解決手段。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 被測定デバイスのＳパラメータ測定ができる２ポートのネットワークアナライザと、該２ポートの一方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続できる第１のスイッチと、該２ポートの他方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続できる第２のスイッチと、前記ネットワークアナライザの制御信号を受けて、前記第１のスイッチと、第２のスイッチとを切り換え制御する制御部と、を具備して４ポートデバイスを測定できる４ポートテストセット。
【請求項２】 ネットワークアナライザは、測定結果を４画面表示として８種類のＳパラメータが同時表示できる請求項１記載の４ポートテストセット。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ネットワークアナライザを用いて４ポートデバイスを測定できる４ポートテストセットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の例について、図６〜図１１を参照して説明する。最初に、２ポートのネットワークアナライザについて概要を説明する。図７に示すように、２ポートのネットワークアナライザ１０は、測定部１１と、方向性結合器Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３と、スイッチＳＷ４とで構成している。
【０００３】測定部１１は、信号出力Ｐと、基準信号入力チャンネルＲと、２つの入力チャンネルＡとＢとがある。
【０００４】方向性結合器Ｄ１は、信号出力ｐを分配して基準信号入力をチャンネルＲへ与えている。また、方向性結合器Ｄ２は、ポートＰ１に接続された被測定デバイスからの反射信号・伝送信号をチャンネルＡに与えている。そして、方向性結合器Ｄ３は、ポートＰ２に接続された被測定デバイスからの反射信号・伝送信号をチャンネルＢに与えている。そして、２ポートデバイス４０のＳパラメータを測定している。
【０００５】ここで、ポートＰ１側にケーブル接続された被測定デバイスのポートを１とし、ポートＰ２側にケーブル接続された被測定デバイスのポートを２とする。また、ＳパラメータのＳijは、i は被測定デバイスから信号の出てくるポート番号を表し、j は被測定デバイスに信号の入っていくポート番号を表している。
【０００６】例えば、スイッチＳＷ４をａ側にしたとき、２ポートデバイス４０のＳパラメータ測定は下記のようになる。
Ｓ11＝チャンネルＡへの信号／チャンネルＲへの信号
Ｓ21＝チャンネルＢへの信号／チャンネルＲへの信号
【０００７】また、スイッチＳＷ４をｂ側にしたとき、２ポートデバイス４０のＳパラメータ測定は下記のようになる。
Ｓ12＝チャンネルＡへの信号／チャンネルＲへの信号
Ｓ22＝チャンネルＢへの信号／チャンネルＲへの信号
よって、２ポートデバイス４０のＳパラメータは、ケーブル接続を変更しないでも測定できる。
【０００８】次に、４ポートデバイスを測定する場合について説明する。例えば、図６に示す４ポートデバイス３０の一例は、スイッチＳＷ５と、送信信号用のバンドパスフィルタ３１と、受信信号用のバンドパスフィルタ３２とで構成されている。
【０００９】そして、端子Ｔｘは送信周波数ｆ１の送信アンプに接続され、端子Ｒｘは受信周波数ｆ２の受信アンプに接続されて、アンテナＡ１またはアンテナＡ２が切り換えスイッチＳＷ３で選択して接続される。一般に、送信周波数ｆ１と受信周波数ｆ２とは異なる周波数を設定している。
【００１０】この４ポートデバイス３０を測定する場合は、図８〜図９に示すようにスイッチスイッチＳＷ３は切り換えられる。図８は、Ａ１−Ｔｘ間の、図９は、Ａ１−Ｒｘ間の、図１０は、Ａ２−Ｔｘ間の、図１１は、Ａ１−Ｒｘ間の測定をするケーブル接続図である。
【００１１】そして、Ａ１−Ｔｘ間、Ａ１−Ｒｘ間はスイッチＳＷ３をａ側にして、Ａ２−Ｔｘ間、Ａ１−Ｒｘ間はスイッチＳＷ３をｂ側にして、ＳパラメータＳ11、Ｓ12、Ｓ21、Ｓ22をそれぞれ測定する。従って、４ポートデバイスを測定する場合、ケーブル接続を４回変更する必要がある。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、従来の２ポートのネットワークアナライザで４ポートデバイスのＳパラメータを測定する場合、ケーブル接続を４回変更する必要があり、そのため測定のスループットが向上できない実用上の不便があった。そこで、本発明は、こうした問題に鑑みなされたもので、その目的は、ネットワークアナライザで４ポートデバイスのＳパラメータ測定をする場合に、ケーブル接続の変更なしに測定できる４ポートテストセットを提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】即ち、上記目的を達成するためになされた本発明の第１は、被測定デバイスのＳパラメータ測定ができる２ポートのネットワークアナライザと、該２ポートの一方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続できる第１のスイッチと、該２ポートの他方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続できる第２のスイッチと、前記ネットワークアナライザの制御信号を受けて、前記第１のスイッチと、第２のスイッチとを切り換え制御する制御部と、を具備して４ポートデバイスを測定できる４ポートテストセットを要旨としている。
【００１４】また、上記目的を達成するためになされた本発明の第２は、ネットワークアナライザは、測定結果を４画面表示として８種類のＳパラメータが同時表示できる本発明第１記載の４ポートテストセットを要旨としている。
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、下記の実施例において説明する。
【００１５】
【実施例】本発明の実施例について、図１〜図６を参照して説明する。４ポートデバイス３０を測定する本発明は、図１に示すように、従来のネットワークアナライザ１０に、４ポートテストセット２０を追加した構成となっている。
【００１６】ネットワークアナライザ１０と、４ポートデバイス３０との構成については、従来技術において説明したので省略する。
【００１７】４ポートテストセット２０は、スイッチＳＷ１、ＳＷ２と、制御部２１とで構成している。スイッチＳＷ１、ＳＷ２は、例えば半導体スイッチを使用する。制御部２１は、ネットワークアナライザ１０からの制御信号を受けてスイッチＳＷ１、ＳＷ２をそれぞれ切り換える制御をする。
【００１８】ネットワークアナライザ１０のポートＰ１からの信号は、スイッチＳＷ１でポートＰ４またはＰ５に切り換えられ、またポートＰ２からの信号は、スイッチＳＷ２でポートＰ３またはＰ６に切り換えられる。
【００１９】そして、例えば図１に示すように、４ポートテストセットの各ポートＰ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６と、４ポートデバイスの測定端子Ｒｘ、Ａ１、Ａ２、Ｔｘ間をそれぞれ全てケーブル接続する。なお、図１〜図４において点線でしめすケーブルは実際の測定に関係しないが、接続したままの状態でも測定に影響しない。
【００２０】図１に示すように、４ポートテストセットのスイッチＳＷ１はａ側、ＳＷ２はｂ側にし、４ポートデバイス３０のＳＷ５をａ側としてＡ１−Ｔｘ間のＳパラメータ測定をおこなう。
【００２１】図２に示すように、４ポートテストセットのスイッチＳＷ１はａ側、ＳＷ２はａ側にし、４ポートデバイス３０のＳＷ５をａ側としてＡ１−Ｒｘ間のＳパラメータ測定をおこなう。
【００２２】図３に示すように、４ポートテストセットのスイッチＳＷ１はｂ側、ＳＷ２はｂ側にし、４ポートデバイス３０のＳＷ５をｂ側としてＡ２−Ｔｘ間のＳパラメータ測定をおこなう。
【００２３】図４に示すように、４ポートテストセットのスイッチＳＷ１はｂ側、ＳＷ２はａ側にし、４ポートデバイス３０のＳＷ５をｂ側としてＡ２−Ｒｘ間のＳパラメータ測定をおこなう。
【００２４】以上のように、４ポートデバイス３０のＳパラメータが測定途中でケーブル接続を変えることなくできるので測定のスループットを向上させることができる。
【００２５】また、図５に示すように、ネットワークアナライザ１０は、測定結果を４画面表示として８種類のＳパラメータを同時表示させる。
【００２６】例えば、４ポートデバイス３０の測定結果のデータは、Ａ１−ＴｘのＳ11とＳ21、Ａ１−ＴｘのＳ22とＳ12、Ａ２−ＲｘのＳ11とＳ21、Ａ２−ＲｘのＳ22とＳ12を表示させる。
【００２７】４ポートデバイス３０において、各Ｓパラメータの特性は独立して変化しないで相互に関連しあっている。つまり、４ポートデバイス３０のどれかの特性をよくすると他方の特性が劣化することがある。よって、８種類のＳパラメータを４画面で同時に表示することで相互の特性比較が容易になり、４ポートデバイスの試験が有効におこなえる。
【００２８】
【発明の効果】本発明は、以上説明したような形態で実施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、４ポートデバイスのＳパラメータの測定が、ケーブル接続を測定途中で変えることなくできるので測定のスループットを向上させることができる。また、８種類のＳパラメータを４画面で同時に表示することで相互の特性比較が容易になり、４ポートデバイスの試験が有効におこなえる効果もある。
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| 【出願人】 |
【識別番号】３９０００５１７５
【氏名又は名称】株式会社アドバンテスト
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| 【出願日】 |
平成９年（１９９７）１２月２４日 |
| 【代理人】 |
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| 【公開番号】 |
特開平１１−１８３５３５ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）７月９日 |
| 【出願番号】 |
特願平９−３５５１７５ |
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