| 【発明の名称】 |
静電放電防止型試験装置およびそのコンタクト |
| 【発明者】 |
【氏名】ムッティカ パッスチャ
【氏名】ビタヤ ソンプラン
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| 【要約】 |
【課題】ＥＳＤに敏感なデバイスを含むプリント回路板上の電気回路等のＤＵＴを量産工程で試験するのに好適なＥＳＤ防止型試験装置及びそのコンタクトを提供すること。
【解決手段】複数の接点３３と対をなす解除アーム３４が形成された一体のコンタクト３０を絶縁ハウジング２０に保持して、挿入開口２１から挿入されるＤＵＴ５０のＥＳＤ敏感な回路点をＥＳＤから保護すると共に解除アーム３４の押圧操作により接点３３と回路点との接触を遮蔽してプロービング可能にする。コンタクト３０の各接点３３は解除アーム３４により独立して作動可能である。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】略平坦状の静電気敏感被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する静電放電型試験装置において、前記ＤＵＴが挿入される開口を有するハウジングと、該ハウジングに固定され、複数の接点を有し前記ハウジングに挿入された前記ＤＵＴの複数の回路部に電気的接触するコンタクトとを具え、該コンタクトは前記各接点に隣接した解除アームを有し、駆動されると前記接点が前記回路部から遮断されることを特徴とする静電放電防止型試験装置。
【請求項２】複数のアクセス穴を有するカバーが前記ハウジングに取付けられ、前記コンタクトを覆い、前記アクセス穴を介してテストロープが前記ＤＵＴにアクセス可能にすることを特徴とする請求項１の静電放電防止型試験装置。
【請求項３】弾性金属板を打ち抜き折り曲げ加工により形成される静電放電防止型試験装置用コンタクトにおいて、ハウジングに保持する保持部と、該保持部から離れた位置に形成された複数の接点と、該接点に隣接して形成された複数の解除アームとを具え、該解除アームの押圧操作により対応する前記接点を弾性的に撓めることを特徴とする静電放電防止型試験装置用コンタクト。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に試験装置、特に静電放電（ＥＳＤ）に敏感な電気回路又はデバイス（以下被試験デバイス又はＤＵＴという）用ＥＳＤ防止試験装置及びそのコンタクトに関する。
【０００２】
【従来の技術】最近の電気回路の大部分は１個以上の半導体デバイス（ＩＣ）を含むのが一般的である。低製造コスト、低消費電力、高実装密度を含む種々の利点の為に、多くのＩＣは接合型トランジスタ技術でなくＭＯＳ（金属−酸化物−シリコン）トランジスタ技術を用いて製造される。
【０００３】しかし乍ら、ＭＯＳトランジスタはＥＳＤに敏感であり、もし高静電に帯電した人体やテストプローブ等でアクセスすると静電気の放電を生じＭＯＳトランジスタＩＣを含む電気回路を破壊して動作不能にするか所定の性能が得られなくなる。そこで、組立られた電気回路は最終電子機器又は電子応用機器に組込み前に動作試験を行うのが一般的であるので、一般に回路基板や回路カードに組立てられた電気回路の取扱いを困難にする。
【０００４】また、ＭＯＳトランジスタを含むＩＣ以外にも、最近のコンピュータ用ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）の書込み／読出し（ＲＥＡＤ／ＷＲＩＴＥ）には磁気抵抗素子（ＭＲデバイス）を使用している。このＭＲデバイスもＭＯＳトランジスタと同様にＥＳＤに極めて敏感であることが知られている。
【０００５】従って、ＭＯＳデバイスやＭＲデバイスの電極を最終組み込み前の取扱い中には例えば、接地してＥＳＤから保護している。このＥＳＤ保護の従来技法には、次のものが提案されている。
【０００６】（１）ＥＳＤに敏感なデバイス又はそれを含む電気回路をＥＳＤプラスチックシート又はバッグで覆うこと。
（２）半田付け、折り取り可能なプリント基板、又は金属クリップを用いてＥＳＤに敏感な回路部を短絡すること。
【０００７】
【発明の解決課題】しかし乍ら、上述した如き従来の技法は、その作業に長時間を要するので、量産用に不適当である。これはＥＳＤ敏感デバイスを含むプリント基板を組立工程中で動作試験（ファンクションテスト）する必要がある場合に特に顕著である。
【０００８】従って、本発明の目的は、ＥＳＤ敏感デバイスを含むＤＵＴを静電放電破壊を生じることなく短時間で安全に試験可能なＥＳＤ防止型試験装置及びそれに使用するコンタクトを提供することである。
【０００９】
【課題解決する為の手段】本発明によるＥＳＤ防止型試験装置は、ＤＵＴが挿入される開口を有するハウジングと、複数の接点及びこれら接点に隣接配置された解除アームを有するコンタクトとを具える。このコンタクトの接点は、ハウジングの開口内に挿入されるとき、ＤＵＴのＥＳＤ敏感回路部と接触する。しかし、これら接点に隣接する解除アームがハウジング外に延び、オペレ−タが押圧操作すると、対応する接点と回路部との接触を解放（又は解除）する。この状態で試験装置によるプロービングを可能にする。テストプロ−ブのアクセスと解除アームの押圧操作は同じ操作で同時に（シングルアクション）実行可能である。
【００１０】また、ＥＳＤ防止型試験装置用コンタクトは、金属板を打ち抜き折り曲げ加工により形成する一体構造である。このコンタクトは、保持手段と、複数の接点と、各接点に隣接配置され接点を他の接点と独立して動作させる解除アームとを具える。
【００１１】
【実施形態】以下、添付図を参照して本発明のＥＳＤ防止型試験装置及びそのコンタクトの好適実施形態を詳細に説明する。
【００１２】図１は、本発明によるＥＳＤ防止型試験装置１０の好適実施形態の分解斜視図である。このＥＳＤ防止型試験装置１０は、プラスチック製絶縁ハウジング２０、コンタクト３０及び底面カバー４０を具える。この特定実施形態において、コンタクト３０は単一の金属板、即ち一体部材であって、後で詳述する如く複数の接点を有する特定構造である。しかし、接点数及び形状は、特定用途に応じて適宜変更可能であることが容易に理解できよう。
【００１３】図２は、図１のＥＳＤ防止型試験装置１０に使用されるコンタクト３０の斜視図である。図３は、図１のＥＳＤ防止型試験装置１０の組立状態と、これにより試験されるＤＵＴ５０の一部を示す斜視図である。図４は、図１のＥＳＤ防止型試験装置１０の内部構成を示す為に一部切欠いた図３と同様の図である。
【００１４】次に図１乃至図４を参照して本発明のＥＳＤ防止型試験装置１０の構成を説明する。先ず、絶縁ハウジング２０は略箱状であるが、前方側壁２２に略矩形状開口２１が形成され且つ頂壁２６に６個のスロット２３ａ−２３ｄ及び２４ａ−２４ｂが形成されている。図中には明示されていないが、この絶縁ハウジング２０の底壁２６は開放されており、図２に示すコンタクト３０が挿入されると共に後述する底面カバー４０にて覆われる。開口２１は、図１及び図２には図示しないが、図３及び図４に部分的に示す例えば、電子回路が形成されたプリント基板であるＤＵＴが挿入されるよう構成されている。
【００１５】簡単に上述した如く、コンタクト３０は薄い金属板を打ち抜き折り曲げ加工により形成された一体部材である。図２に最もよく示す如く、コンタクト３０は両端から長手方向に向けて形成された中央スリット３２ａ−３２ｂ、両端の４個の独立した接点３３ａ−３３ｄ、これら接点に隣接して形成された４個の解除アーム３４ａ−３４ｄ及び夫々両端の解除アーム３４ａ−３４ｃ及び３４ｂ−３４ｄの中央に位置する２個のアライメント（位置決め）兼ロック部材３５ａ−３５ｂが形成された略平坦なベース３１を有する。これらアライメント兼ロック部材３５ａ−３５ｂには保持舌片３６ａ−３６ｂが形成されている。
【００１６】コンタクト３０は、これらアライメント兼ロック部材３５ａ−３５ｂを夫々絶縁ハウジング２０の中央スロット２４ａ−２４ｂに圧入して絶縁ハウジング２０内に保持固定される。中央スリット３２ａ−３２ｂを形成することにより、４個の接点３３ａ−３３ｄを独立して移動させることが可能であることに注目されたい。
【００１７】アライメント兼ロック部材３５ａ−３５ｂは解除アーム３４ａ−３４ｄより短いか、図５を参照して後述する如くコンタクト３０のベースを折り曲げている。コンタクト３０が絶縁ハウジング２０の開口２１から内部に挿入され固定されると、解除アーム３４ａ−３４ｄが絶縁ハウジング２０の頂壁２５から上方に突出し、アライメント兼ロック部材（保持手段）３５ａ−３５ｂは絶縁ハウジング２０内にとどまる。接点３３ａ−３３ｄと解除アーム３４ａ−３４ｄは保持手段３５ａ−３５ｂから離れているので、瀬点３３ａ−３３ｄは十分に弾性を有し且つ各解除アーム３４ａ−３４ｄを押圧操作するとコンタクト３０の接点３３ａ−３３ｄとＤＵＴ５０の対応する回路点間の接触を、他の接点と干渉することなく独立して電気的に切断又は遮蔽することが可能である（図３及び図４参照）。図４の矢印Ｐは、解除アーム３４ａ−３４ｃを作動する押圧力が加えられる方向を示す。
【００１８】必須要件ではないが、好ましくは底面カバー４０を使用して絶縁ハウジング２０の開放している底面２６を覆う。この底面カバー４０には４個のアクセス穴４１ａ−４１ｄが形成され且つダブテール状保持突起４２ａ−４２ｄが絶縁ハウジング２０の対応する相補形状の凹部２７ａ−２７ｄと係合する。コンタクト３０は好ましくは従来の手段を用いて共通電位（例えば接地）に接続されることに留意されたい。
【００１９】次に本発明のＥＳＤ防止試験装置１０の動作乃至作用を図５（Ａ）乃至（Ｃ）を参照して説明する。図５（Ａ）はＤＵＴ５０が挿入されているＥＳＤ防止型試験装置１０を絶縁基板６２上に取付けた複数のプローブコンタクト６１を含み、リード６４を介してメータ又は試験機器６３に接続されたプローブユニット６０に配置する直前の状態を示す。ＤＵＴ５０には複数のワイヤ又はケーブル５１が接続され、ＤＵＴ５０が必要とする電源や信号を供給又は接続する。図５（Ａ）において、ＤＵＴ５０はプローブユニット６０に未接続状態であり、絶縁ハウジング２０内に保持されるコンタクト３０によりＥＳＤ防止又は保護されている。
【００２０】次に図５（Ｂ）はＤＵＴ５０のプロービンク又は試験工程を示す（但し、試験機器６３の図示は省略している）。駆動（押圧）力Ｐを任意の解除アーム３４に印加すると、コンタクト３０の接点３３とＤＵＴ５０の回路点間の電気的接触を遮断する。この状態下で、テストプローブ又はプローブピン６１が底面力バー４０のアクセス穴４１を介してプロービングされる。
【００２１】図５（Ｃ）は、ＤＵＴ５０のプロービングの別の方法を示す。即ち、ＥＳＤ防止型試験装置１０は、図５（Ａ）及び（Ｂ）に対して上下反転させている。同図中では、駆動力ＰがＥＳＤ防止型試験装置１０の右端の解除アームのみに印加される。そこで、プローブピン６１がＤＵＴ５０の右側の回路点に（図中上面の）カバー４０のアクセス穴４１を介してアクセス、即ちプロービングされる。この際に、押圧ロッド７０が駆動力Ｐを印加する手段として図示されているが、作業者の指等により押圧してもよいことは勿論である。
【００２２】以上、本発明のＥＳＤ防止型試験装置１０及びそのコンタクト３０の好適実施形態の構成及び作用を、添付図を参照して説明した。しかし、本発明は斯る特定実施形態に限定されるべきでなく、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が可能であること勿論である。例えば、コンタクトの形状はベースから単に起立するのみではなく、反転したＵ字状又はＶ字状に折り返して、挿入されるＤＵＴの表面を過度に削り取られないよう構成してもよい。４個以上の接点を形成するには、ＤＵＴの挿入方向に別体のコンタクトを複数個縦列配置してもよい。
【００２３】
【発明の効果】上述の説明から理解さえる如く、本発明のＥＳＤ防止型試験装置は、構成が極めて簡単で且つ部品点数も少なく、従って、極めて容易且つ安価に組立製造可能であると共にＤＵＴの挿入等の作業性も従来装置に比して極めて良好である。しかもＤＵＴをＥＳＤにより破壊から確実に保護することが可能であり、且つ耐久性を有するので、例えば、量産工程中で多数のＤＵＴを順次試験するのに好適である。
【００２４】また、本発明のＥＳＤ防止型試験装置用コンタクトは薄い金属板を打ち抜き折曲げ加工により複数の接点と解除アームとを一体に形成し且つ独立して作動可能であるので、個別に形成し、取付ける場合に比べて極めて簡単、確実且つ安価であり、しかも複数の独立したコンタクトを相互接続する必要もないという効果を有する。
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| 【出願人】 |
【識別番号】３９２０３０７３７
【氏名又は名称】ザ ウィタカー コーポレーション
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| 【出願日】 |
平成９年（１９９７）１０月３１日 |
| 【代理人】 |
【弁理士】
【氏名又は名称】廣瀬 一
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| 【公開番号】 |
特開平１１−１６０３９０ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）６月１８日 |
| 【出願番号】 |
特願平９−３１６１９１ |
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