| 【発明の名称】 |
基板の導通検査方法 |
| 【発明者】 |
【氏名】豊田 秀則
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| 【要約】 |
【課題】導通チェッカによる導通検査の稼働率を向上させ得る基板の導通検査方法を提供する。
【解決手段】導通チェッカ１に基板２及びチェッカヘッド３を取付け、チェッカヘッド３のカメラ７により基板２のターゲットマーク５Ａを投影して基板２の位置を決め、チェッカヘッド３に取付けたプローブピン６を基板２の回路パターン４Ａに接触させて導通を検査する基板の導通検査方法において、チェッカヘッド３にプローブピン６を取付けた段階で、カメラ７とプローブピン６との位置ずれを基板２の回路パターン４Ａ形成用のマスクフィルム１３を基準にして測定し、このチェッカヘッド３を導通チェッカ１に取付ける際に、測定した位置ずれに基ずく補正値を該導通チェッカ１に入力するようにした基板の導通検査方法。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 導通チェッカに基板及びチェッカヘッドを取付け、チェッカヘッドのカメラにより基板のターゲットマークを投影して基板の位置を決め、チェッカヘッドに取付けたプローブピンを基板の回路パターンに接触させて導通を検査する基板の導通検査方法において、前記チェッカヘッドに前記プローブピンを取付けた段階で、カメラとプローブピンとの位置ずれを基板の回路パターン形成用のマスクフィルムを基準にして測定し、このチェッカヘッドを前記導通チェッカに取付ける際に、測定した位置ずれに基ずく補正値を該導通チェッカに入力するようにしたことを特徴とする基板の導通検査方法。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線基板の導体部間の導通状態を検査する基板の導通検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の基板の導通検査方法は、図３に示すように、導通チェッカ１の中央部に基板２が取付けられ、この基板２の上下にチェッカヘッド３を取付けている。基板２には、導体回路４及びターゲットマーク５が形成されており、上下のチェッカヘッド３には、導体回路４間の導通を検査するプローブピン６が取付けられている。
【０００３】そして、カメラ７を基板２と上下のチェッカヘッド３との間に挿入して左右に移動させ、基板２のターゲットマーク５を投影し、基板２とプローブピン６との位置ずれを補正している。この検査方法は、基板２の２箇所のターゲットマーク５を投影するためカメラ７を左右に移動させるので、時間がかかるという問題がある。さらに、基板２の上面及び下面を投影するので作業時間がさらにかかるという問題がある。そこで、カメラ７を、チェッカヘッド３に一体に取付け、調整時間の短縮を図っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】然しながら、チェッカヘッド３は、基板２の種類に応じて度々取替える必要がある。チェッカヘッド３が変わると、カメラ７とプローブピン６との間の寸法が、チェッカヘッド３ごとに変化するので、導通検査を実施するに先立ち、チェッカヘッド３を導通チェッカ１に取り付けて、プローブピン６と基板２との間に感圧紙を挟み、実際にタッチトライしてその位置ずれを測定し、その測定値に基づいた補正値を入力している。この調整作業中は、導通検査を行なうことができないので、導通チェッカ１の稼働率が悪く生産性を低下させるという問題がある。
【０００５】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、その目的は、導通チェッカによる導通検査の稼働率を向上させ得る基板の導通検査方法を提供するにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するために本発明が採った手段は、実施例で使用する符号を付して説明すると、導通チェッカ１に基板２及びチェッカヘッド３を取付け、チェッカヘッド３のカメラ７により基板２のターゲットマーク５を投影して基板２の位置を決め、チェッカヘッド３に取付けたプローブピン６を基板２の回路パターン４に接触させて導通を検査する基板の導通検査方法において、チェッカヘッド３にプローブピン６を取付けた段階で、カメラ７とプローブピン６との位置ずれを、基板２の回路パターン形成用のマスクフィルム１３を基準にして測定し、チェッカヘッド３を導通チェッカ１に取付ける際に、測定した位置ずれに基ずく補正値を導通チェッカ１に入力するようにしたので、チェッカヘッド３を導通チェッカ１に取付ければ直ちに導通検査を実施することができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例につき図１及び図２を参照して説明する。但し、従来例において説明した同一箇所には同一符号を付す。チェッカヘッド３には、基板２のターゲットマーク５に対応する位置に、孔１１が形成され、ここにカメラ７が挿入されている。このカメラ７は、孔１１に連続して形成された鏡筒１２を通して、マスクフィルム１３を投影する。また、チェッカヘッド３には、所定の位置にプローブピン６が取付けられている。
【０００８】マスクフィルム１３は、基板２のパターンを形成する際に使用されるものであって、回路パターン部４Ａ及び２箇所にターゲットマーク部５Ａが形成されている。これら回路パターン部４Ａ及びターゲットマーク部５Ａの位置及び寸法は、基板２の導体回路４及びターゲットマーク５と同一である。
【０００９】つぎに、マスクフィルム１３をプローブピン６にコンタクトさせ、顕微鏡等を使用してプローブピン６と回路パターン部４Ａとの位置を合わせる。ここで、カメラ７によりターゲットマーク部５Ａを投影し、相互の中心間の寸法を測定すれば、この測定値がプローブピン６とカメラ７とのずれとなる。そこで、この寸法に基づいて補正値を決定する。
【００１０】つぎに、図２に示すように、導通チェッカ１にチェッカヘッド３を取付け、補正値を導通チェッカ１に入力する。これにより、プローブピン６とカメラ７とのずれは補正されるので、導通チェッカ１に基板２を取付ければ直ちに基板２の導通検査を実施することができる。
【００１１】上記実施例によれば、つぎの効果を奏する。即ち、（１）マスクフィルム１３を基準にしてプローブピン６とカメラ７との位置ずれを測定するので、チェッカヘッド３を導通チェッカ１に取付ける前の工程で両者の補正値が決定できる。
（２）この補正値は、チェッカヘッド３を導通チェッカ１に取付けるときに導通チェッカ１に入力されるので、直ちに導通検査を実施することができる。
【００１２】（３）カメラ７とプローブピン６との位置ずれは、マスクフィルム１３を基準にして行うので、導通チェッカ１に基板２を取付けて実施していた従来と同様の精度を得ることができる。
（４）プローブピン６とカメラ７との位置ずれを測定するため、従来とは異なり導通チェッカ１を使用しないので、導通検査を実施するための導通チェッカ１の稼働率が向上する。
【００１３】
【発明の効果】本発明は、導通チェッカに基板及びチェッカヘッドを取付け、チェッカヘッドのカメラにより基板のターゲットマークを投影して基板の位置を決め、チェッカヘッドに取付けたプローブピンを基板の回路パターンに接触させて導通を検査する基板の導通検査方法において、前記チェッカヘッドにプローブピンを取付けた段階で、基板の回路パターン形成用のマスクフィルムを基準にしてカメラとプローブピンとの位置ずれを測定し、こりチェッカヘッドを導通チェッカに取付ける際に、測定した位置ずれに基ずく補正値を導通チェッカに入力するようにしたので、導通チェッカの稼働率を向上させることができるという優れた効果を奏するものである。
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| 【出願人】 |
【識別番号】００００００１５８
【氏名又は名称】イビデン株式会社
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| 【出願日】 |
平成９年（１９９７）１２月２日 |
| 【代理人】 |
【弁理士】
【氏名又は名称】廣江 武典 （外１名）
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| 【公開番号】 |
特開平１１−１６０３８２ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）６月１８日 |
| 【出願番号】 |
特願平９−３３１７２０ |
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