| 【発明の名称】 |
論理デバイステスト装置及び方法 |
| 【発明者】 |
【氏名】尹 盛 俊
【氏名】鄭 基 勳
【氏名】金 允 基
【氏名】朴 憲 ▲徳▼
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| 【要約】 |
【課題】雑音により供給電圧または入力電圧のレベルが可変できる状況を任意に設定し論理デバイスをテストできるのみならず、供給電圧または入力電圧のレベルをテスト中に変化させ論理デバイスをテストする論理デバイステスト装置を提供すること。
【解決手段】セット上で多数個のチップと共に動作し、電圧入力端に印加されるテスト用電圧に応答し動作する論理デバイスをテストするためのこの装置は、所定電圧とテスト用雑音を合成し、合成された信号をテスト用電圧として論理デバイスの電圧入力端へ出力する。したがって、雑音による電源電圧及び入力電圧に対するレベル変化によって発生する論理デバイスの不良を検査できる効果がある。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 セット上で多数個のチップと共に動作し、入力端へ印加されるテスト用電圧に応答し動作する論理デバイスをテストするための論理デバイステスト装置において、所定電圧を供給する電圧供給手段と、テスト用雑音を供給する雑音供給手段と、前記所定電圧と前記テスト用雑音を合成し、合成された信号を前記テスト用電圧として前記入力端へ出力する信号合成手段とを具備することを特徴とする論理デバイステスト装置。
【請求項２】 前記電圧供給手段は前記所定電圧を可変出力できることを特徴とする請求項１に記載の論理デバイステスト装置。
【請求項３】 前記信号合成手段は片側が前記電圧供給手段と接続されるインダクタと、片側が前記雑音供給手段に接続され他側が前記インダクタの他側と接続されるキャパシタと、前記インダクタの前記他側と基準電位間に接続される抵抗とを具備し、前記インダクタの他側を通じ前記入力端に前記テスト用電圧が供給されることとを特徴とする請求項１に記載の論理デバイステスト装置。
【請求項４】 前記インダクタ、前記キャパシタ及び前記抵抗のインピーダンスを可変できることを特徴とする請求項３に記載の論理デバイステスト装置。
【請求項５】 前記雑音供給手段は所定クロック信号を前記テスト用雑音として出力するクロック発生手段を具備することを特徴とする請求項１に記載の論理デバイステスト装置。
【請求項６】 前記クロック発生手段は前記所定クロック信号の振幅及び周波数を可変出力できることを特徴とする請求項５に記載の論理デバイステスト装置。
【請求項７】 前記雑音供給手段は所定振幅及び周波数を持つアナログ信号を前記テスト用雑音として出力するアナログ信号発生手段を具備することを特徴とする請求項１に記載の論理デバイステスト装置。
【請求項８】 前記アナログ信号発生手段は前記アナログ信号の所定振幅及び周波数を可変し出力できることを特徴とする請求項７に記載の論理デバイステスト装置。
【請求項９】 セット上で多数個のチップと共に動作し、テスト用電圧によって動作する論理デバイスをテストするための論理デバイステスト方法において、所定電圧を発生する段階と、テスト用雑音を発生する段階と、前記所定電圧と前記テスト用雑音を合成し前記テスト用電圧を求める段階とを具備することを特徴とする論理デバイステスト方法。
【請求項１０】 前記所定電圧は可変できることを特徴とする請求項９に記載の論理デバイステスト方法。
【請求項１１】 前記テスト用雑音はクロック信号の形態として発生されることを特徴とする請求項９に記載の論理デバイステスト方法。
【請求項１２】 前記クロック信号の振幅及び周波数は可変できることを特徴とする請求項１１に記載の論理デバイステスト方法。
【請求項１３】 前記テスト用雑音はアナログ信号の形態として発生されることを特徴とする請求項９に記載の論理デバイステスト方法。
【請求項１４】 前記アナログ信号の振幅及び周波数は可変できることを特徴とする請求項１３に記載の論理デバイステスト方法。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はテスト装備に係り、特に論理デバイスをテストする論理デバイステスト装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】多様なチップが共に動作するセット上で各々のチップに供給される電力及び入力電圧はこのレベルが雑音により変わることがある。しかし、従来の論理デバイス（またはチップ）をテストする項目にはこのようなレベルの変化をテストする項目が存在しなかった。すなわち、従来のテスト装置は雑音がない純粋な電力及び入力電圧を論理デバイスへ供給する。したがって、セット上の雑音による電力または入力電圧のレベル変化に係る論理デバイス製品の不良を検査できない問題点があった。
【０００３】また、従来のテスト装置には論理デバイスをテスト進行中に電力（または供給電圧）または入力電圧のレベルを変化させることができる項目がなかった。したがって従来技術では、論理デバイスをテストする途中で供給電圧または入力電圧のレベルを変えるために一旦論理デバイスのテストを中断する。その後、供給電圧または入力電圧のレベルを変えてから、論理デバイスを再びテストしなければならず、テストの処理が煩雑になるという問題点があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明が果たそうとする技術的課題は、雑音により供給電圧または入力電圧のレベルが可変できる状況を任意に設定し論理デバイスをテストできるのみならず、供給電圧または入力電圧のレベルをテスト中に変化させ論理デバイスをテストする論理デバイステスト装置を提供することにある。
【０００５】また、本発明が果たそうとする他の技術的課題は、前記論理デバイステスト装置で実行される論理デバイステスト方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記課題を果たすために、セット上で多数個のチップと共に動作し、電圧入力端へ印加されるテスト用電圧に応答し動作する論理デバイスをテストするための本発明による論理デバイステスト装置は、所定電圧を供給する電圧供給手段と、テスト用雑音を供給する雑音供給手段及び所定電圧とテスト用雑音を合成し、合成された信号をテスト用電圧として電圧入力端へ出力する信号合成手段を含んで構成される。
【０００７】また、本発明によれば、セット上で多数個のチップと共に動作し、入力端へ印加されるテスト用電源に応答し該当機能を遂行する論理デバイスをテストするための本発明による論理デバイステスト装置は、所定電源を供給する電源供給手段と、テスト用雑音を供給する雑音供給手段及び電源とテスト用雑音を合成し、合成された信号をテスト用電源として入力端へ出力する信号合成手段を含んで構成される。
【０００８】前記他の課題を果たすために、セット上で多数個のチップと共に動作し、テスト用電圧によって動作する論理デバイスをテストするための本発明による論理デバイステスト方法は、所定電圧を発生する段階と、テスト用雑音を発生する段階及び所定電圧とテスト用雑音を合成しテスト用電圧を求める段階を含んでなされることが望ましい。
【０００９】または、セット上で多数個のチップと共に動作して、テスト用入力電圧によって該当機能を遂行する論理デバイスをテストするための本発明による論理デバイステスト方法は、所定電源を発生する段階と、テスト用雑音を発生する段階及び所定電源とテスト用雑音を合成し、テスト用電源を求める段階を含んでなされることが望ましい。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に添付図面を参照して本発明による論理デバイステスト装置の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明による論理デバイステスト装置の実施の形態を示す概略的なブロック図で、本実施の形態の論理デバイステスト装置は入力電圧供給部１０、雑音供給部１２及び信号合成部１４により構成されている。
【００１１】本実施の形態の論理デバイステスト装置は、論理デバイス（図示せず）をテストする間、論理デバイスが動作するために必要なテスト用供給電圧や、論理デバイスがこれの固有機能を実行するようにする入力電圧を論理デバイスの電源電圧入力端または電圧入力端へ供給する。このため、入力電圧供給部１０は所定電源電圧または所定入力電圧を発生し、信号合成部１４へ出力する。ここで、入力電圧供給部１０から供給される所定電源電圧または所定入力電圧の振幅及び周波数はダイナミックに論理デバイスをテストするために任意通り可変できる。
【００１２】雑音供給部１２は仮想的な雑音を生成する機能を備え、この雑音は信号合成部１４で合成される。雑音供給部１２は、デジタル信号をテストするためにピンカード(pincard）の駆動端になることができ、デジタル信号のみならずアナログ信号もテストするためにアナログ信号源になることもできる。すなわち、雑音供給部１２は制御が可能な振幅と周波数を持つクロック信号を雑音として発生するクロック発生部（図示せず）であるか、または制御可能な振幅と周波数を持つアナログ信号を雑音として発生するアナログ信号発生部（図示せず）になることもできる。ここで、クロック発生部はデジタル装備のピン−レベル−ドライバで実現できる。
【００１３】一方、信号合成部１４は、入力電圧供給部１０から出力される所定電源電圧または所定入力電圧と雑音供給部１２から出力されるテスト用雑音とを、それぞれ入力端子ＩＮ１，ＩＮ２に入力してこれら信号を合成する。そして、信号合成部１４は合成した信号を出力端子ＯＵＴを通じテスト用電源電圧またはテスト用入力電圧として、論理デバイスの電源電圧入力端または入力端に出力する。これにより、論理デバイスはテスト用電源電圧に応答し動作したり、テスト用入力電圧に応答してこれの固有機能を実行するようになる。
【００１４】図２は図１に示した信号合成部１４の一例を示した回路図で、片側が入力電圧供給部１０と接続されるインダクタＬ、片側が雑音供給部１２と接続され他側がインダクタＬの他側と接続されるキャパシタＣ、及びインダクタＬの他側と接地間に接続される抵抗Ｒで構成される。
【００１５】図２に示したインダクタＬには入力端子ＩＮ１を通して図１に示した入力電圧供給部１０から出力される所定電源電圧または所定入力電圧が供給される。また、キャパシタＣには入力端子ＩＮ２を通して図１に示した雑音供給部１２から出力されるクロック信号またはアナログ信号を雑音として入力する。ここで、抵抗Ｒは本発明によるテスト装置と論理デバイス間のインピーダンスマッチングのため用いられる。この結果、図２に示した出力端子ＯＵＴを通して雑音と合成されたテスト用電源電圧またはテスト用入力電圧が出力される。一方、インダクタＬ、キャパシタＣ及び抵抗Ｒ等のインピーダンスを変更することで、望みのテスト用電源電圧またはテスト用入力電圧を生成できる。
【００１６】図３は図１に示した論理デバイステスト装置の本発明による望ましい一実施例の詳細回路図である。この論理デバイステスト装置は、図１に示した入力電圧供給部１０を実現するバッテリまたはピン−レベル−ドライバ２０、図１の雑音供給部１２を実現するクロック信号発生部２２、及び図１の信号合成部１４に該当する信号合成部２４を構成するインダクタＬ１、キャパシタＣ１及び抵抗Ｒ１で構成される。
【００１７】図３に示した論理デバイステスト装置はデジタルテスト装置である。バッテリまたはピン−レベル−ドライバ２０は、インダクタＬ１を介して論理デバイスに接続され、レベルが調整できる所定電源電圧または所定入力電圧を供給する。雑音供給部１２として用いられるクロック信号発生部２２は、キャパシタＣ１を介して論理デバイスに接続され、振幅及び周波数が制御できるクロック信号を雑音として供給し、所定電源電圧（または入力電圧）と合成できるようにする。したがって、雑音が混ざった供給電源電圧または入力電圧が論理デバイスに供給できる。
【００１８】前述したように、図３に示したインダクタＬ１及びキャパシタＣ１の値を可変することでテスト用電源電圧またはテスト用入力電圧の振幅及び周波数を可変できる。図４は図３に示した回路の出力端（ＯＵＴ）及び雑音発生端２２からの信号の波形図であり、図４（Ａ）は出力端子ＯＵＴを介して出力されるテスト用電源電圧またはテスト用入力電圧の波形図を、図４（Ｂ）はクロック信号発生部２２から出力されるクロック信号の波形図を各々示す。
【００１９】図３に示したバッテリまたはピン−レベル−ドライバ２０が５ボルトの所定電源を供給し、クロック発生器２２が図４（Ｂ）に示した２ボルトの振幅と２００ｎｓの周期を持つクロック信号を雑音として発生する。１０００ｎＨのインダクタＬ１と、１０ｎＦのキャパシタＣ１と５０Ωの抵抗Ｒ１を使用すれば、図３に示した出力端子ＯＵＴを介して４〜６ボルトの間で変わる図４（Ａ）に示したテスト用電源電圧またはテスト用入力電圧が出力される。
【００２０】図５は図１に示した論理デバイステスト装置の本発明による望ましい他の実施例の詳細回路図である。この論理デバイステスト装置は、図１の入力電圧供給部１０を実現するバッテリまたはピン−レベル−ドライバ３０、図１の雑音供給部１２を実現するアナログ信号発生部３２、及び図１の信号合成部１４に対応する信号合成部３４を構成するインダクタＬ２、キャパシタＣ２及び抵抗Ｒ２で構成される。
【００２１】図５に示した論理デバイステスト装置はアナログテスト装置であり、バッテリまたはピン−レベル−ドライバ３０はインダクタＬ２を介して論理デバイスに接続され、レベルを調整できる所定電源電圧または所定入力電圧を供給する。雑音供給部１２として使われたアナログ信号発生部３２（またはアナログ信号源）は、キャパシタＣ２を介して論理デバイスに接続され、振幅及び周波数が制御できるアナログ信号を雑音として供給し、所定電源電圧（または入力電圧）と合成できるようにする。
【００２２】前述した図３の実施例と同様に、図５に示したインダクタＬ２及びキャパシタＣ２の値を可変することで、テスト用電源電圧またはテスト用入力電圧の振幅及び周波数を可変できる。
【００２３】図６は図５に示した回路の出力端（ＯＵＴ）及びアナログ出力端Ｐの信号の波形図として、図６（Ａ）は出力端子ＯＵＴを通じ出力されるテスト用電源電圧または入力電圧の波形図を、図６（Ｂ）はアナログ信号発生部３２から出力されるアナログ信号の波形図をそれぞれ示している。
【００２４】図５に示した、バッテリまたはピン−レベル−ドライバ３０が５ボルトの所定電源を供給し、アナログ信号発生部３２が図６（Ｂ）に示した４ボルトのピーク間幅と１０μｓの周期を持つアナログ信号を雑音として発生する。１ｍＨのインダクタＬ２と、１００ｎＦのキャパシタＣ２と５０Ωの抵抗Ｒ２を使用すれば、３〜７ボルトの間で変わる図６（Ａ）に示したテスト用電源電圧またはテスト用入力電圧が、図５に示した出力端子ＯＵＴを介して論理デバイスの電源電圧入力端または電圧入力端に出力される。
【００２５】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明による論理デバイステスト装置及び方法によれば、論理デバイスに供給される電源電圧または入力電圧に意図的に任意通り雑音を印加し、実装セット上の電源電圧雑音及び入力電圧雑音の環境と同じ条件を論理デバイスに適用しテストを実行するため、雑音による電源電圧及び入力電圧に対するレベル変化によって発生する論理デバイスの不良を検査できる効果がある。
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| 【出願人】 |
【識別番号】３９００１９８３９
【氏名又は名称】三星電子株式会社
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| 【出願日】 |
平成１０年（１９９８）４月２２日 |
| 【代理人】 |
【弁理士】
【氏名又は名称】萩原 誠
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| 【公開番号】 |
特開平１１−２３６７３ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）１月２９日 |
| 【出願番号】 |
特願平１０−１１２２７４ |
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