| 【発明の名称】 |
データ処理装置 |
| 【発明者】 |
【氏名】逢坂 直樹
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| 【要約】 |
【課題】未知試料の測定値の誤差の範囲も表示できるようにしたデータ処理装置を提供する。
【解決手段】検量線算出部４は少なくとも２種類以上の標準試料既知成分量及び標準試料測定値を用いて検量線を算出する。誤差算出部６により標準試料既知成分量と検量線算出部４で得た検量線との誤差を算出する。誤差算出部６で得た誤差のうち少なくとも最大誤差を表示部１０に表示することにより、その検量線を用いて算出する未知試料の測定値の正確さを知ることができる。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 標準試料の既知成分量及び分析装置による標準試料測定値を分析して検量線を算出する検量線算出部と、前記既知成分量に対する前記検量線の誤差を算出する誤差算出部と、前記分析装置による未知試料測定値に前記検量線を適用して未知試料の成分量を求める成分量算出部と、前記成分量算出部による未知試料の成分量及び前記誤差算出部による誤差のうち少なくとも最大誤差を表示する表示部と、を備えたことを特徴とするデータ処理装置。
【０００１】
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【発明の詳細な説明】【発明の属する技術分野】本発明は、クロマトグラフを初めとする種々の分析装置において、既知成分量の標準試料を分析して検量線を算出し、その検量線を用いて未知試料の成分量を求めるデータ処理装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】データ処理装置では、標準試料を用いて未知試料の成分量算出時の基準となる検量線を算出する。得られた検量線は絶対的であると考えられていた。また、検量線は最小二乗法により求められることがあるが、最小二乗法により求められた検量線において、統計学手法によりその検量線の寄与率（重相関係数ともいう）ｒ2や相関係数ｒを求めることはあったが、既知成分との誤差を求めることはなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】統計学手法により寄与率ｒ2や相関係数ｒを求めて検量線の信頼性を表示することはあったが、未知試料を分析して得られた成分量にどの程度の誤差が含まれているのかを具体的に表示することはできなかった。そのため、未知試料の測定値の正確さを知ることができないという問題があった。
【０００４】そこで本発明は、未知試料の測定値の誤差の範囲も表示できるようにしたデータ処理装置を提供することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】図１は本発明を表すブロック図である。２は例えば液体クロマトグラフなどの分析装置、４は標準試料測定値を分析して検量線を算出する検量線算出部、６は既知成分量と検量線の誤差を算出する誤差算出部、８は未知試料測定値を分析して成分量を算出する成分量算出部、１０は未知試料の成分量及び誤差を表示する表示部、である。
【０００６】検量線算出部４は少なくとも２種類以上の標準試料測定値を用いて検量線を算出する。誤差算出部６により標準試料既知成分量と検量線算出部４で得た検量線との誤差を算出する。誤差算出部６で得た誤差を表示部１０に表示することにより、その検量線を用いて成分量算出部８により算出する未知試料の成分量の正確さを知ることができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明のデータ処理装置の一つの実施の形態として、液体クロマトグラフにおいて、最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部４を備え、成分量の異なる３種類の標準試料を用いて検量線及び誤差を算出するデータ処理装置を例に挙げて説明する。
【０００８】標準試料の既知成分量をそれぞれＣ1，Ｃ2，Ｃ3とし、標準試料を測定して得られた測定値（面積）をそれぞれＡ1，Ａ2，Ａ3とすると、図２に示すように、（ｘ，ｙ）＝（Ａ1，Ｃ1）、（Ａ2，Ｃ2）、（Ａ3，Ｃ3）の３点から最小二乗法により次式のような検量線を求めることができる。
ｙ＝ａｘ＋ｂ （１）
このとき、寄与率ｒ2や相関係数ｒを求めることが好ましい。
【０００９】次に、（１）式の検量線と標準試料既知成分量との誤差ｅを求める。
ｅｎ＝（ａＡｎ＋ｂ）−Ｃｎ （２） （ｎ＝１，２，３）
誤差ｅｎは標準試料既知成分量Ｃｎに対する検量線との差（成分量で表した不正確さ）を表すことになる。
【００１０】誤差ｅｎの最小値ｅmin、最大値ｅmaxは、（１）式に表す検量線に含まれる成分量で表した不正確さの最小値、最大値となる。この最小誤差値ｅmin及び最大誤差値ｅmaxを求めて表示することにより、検量線の不正確さ（誤差や絶対的な成分量など）を知ることができる。例えば、最小値ｅmin＝ｅ2、最大値ｅmax＝ｅ3とすると、得られた検量線には、最小ｅ2、最大ｅ3の誤差が含まれることになる。未知試料の測定値をＡｕとすると、（１）式より、未知試料の成分量はＣｕ＝ａＡｕ＋ｂとなるが、成分量Ｃｕには、最小ｅ2、最大ｅ3の誤差が含まれる。
【００１１】さらに、許容誤差値ｅtoleranceを予め定めておくことが好ましい。求められた誤差が許容範囲内であるかどうかを判定することにより、得られた検量線が適正なものであるかどうかを知ることができる。
【００１２】
【実施例】図３は、一実施例で用いられる装置を表す。１２は図示しない分析装置の検出器からのアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器であり、そのデジタル信号はＣＰＵ１４に取り込まれる。ＣＰＵ１４には検出データや計算結果を記憶するメモリ１６、計算結果を記録するプリンタ１８、ディスプレイ２０、データの入力や動作を操作するキーボード２２などが接続されている。図１と図３の対応関係を示すと、検量線算出部４、誤差算出部６、及び成分量検出部１０はＣＰＵ１４及びメモリ１６により実現され、表示部１０はプリンタ１８及びディスプレイ２０に該当する。
【００１３】少なくとも２以上の既知成分量の標準試料測定値ＡｎをＡ／Ｄ変換器１２を介してメモリ１６に記憶し、標準試料既知成分量Ｃｎ及び許容誤差値ｅtoleranceをキーボード２２によりメモリ１６に記憶する。ＣＰＵ１４により、メモリ１６に記憶された標準試料測定値Ａｎ及び標準試料既知成分量Ｃｎから検量線を算出し、さらに、寄与率ｒ2、相関係数ｒ、最小誤差値ｅmin及び最大誤差値ｅmaxを算出する。これらのデータをメモリ１６に記憶し、プリンタ１８に出力し、又はディスプレイ２０に表示する。
【００１４】ＣＰＵ１４が行なうデータ処理の動作を図４のフローチャートに従って説明する。データ処理に当たっては、まずキーボード２２によりオペレータが検量線算出のデータ処理動作をスタートさせる。メモリ１６に記憶された標準試料測定値Ａｎ及び標準試料既知成分量Ｃｎを読み出し、（１）式に示すような検量線を算出する。このとき、寄与率ｒ2や相関係数ｒも求める。次に、(２）式の計算を行ない、標準試料既知成分量Ｃｎと検量線との誤差ｅｎを算出する。誤差ｅｎから最小誤差値ｅmin及び最大誤差値ｅmaxを選択する。
【００１５】検量線、寄与率ｒ2、相関係数ｒ、最小誤差値ｅmin及び最大誤差値ｅmaxをメモリ１６に記憶する。これらのデータをプリンタ１８に出力し、又はディスプレイ２０に表示する。図５はデータ処理の出力例を表す図である。このように、最小誤差値ｅmin、最大誤差値ｅmax及び許容誤差値ｅtoleranceを表示しておくことにより、未知試料の測定値の正確さを即座に知ることができる。
【００１６】上記の実施の形態及び実施例では、重み付け（１／ｙ2）を行なわない最小二乗法を用いているので、求めた誤差ｅはｙ軸の絶対量となる。ｙ軸に重み付けを行なって最小二乗法により検量線を求めると、誤差を百分率ｅ’で求めることができる。
ｅ'ｎ＝（ｅｎ／Ｃｎ）×１００ （４）
このように、ｙ軸に重み付けを行なって最小二乗法により検量線を求めてもよい。
【００１７】
【発明の効果】本発明では、標準試料測定値Ａｎ及び標準試料既知成分量Ｃｎから検量線を算出し、標準試料既知成分量Ｃｎと検量線との誤差ｅｎを算出し、少なくとも最大誤差を表示するようにしたので、未知試料の測定値の正確さを即座に知ることができる。
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| 【出願人】 |
【識別番号】０００００１９９３
【氏名又は名称】株式会社島津製作所
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| 【出願日】 |
平成１０年（１９９８）３月２３日 |
| 【代理人】 |
【弁理士】
【氏名又は名称】野口 繁雄
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| 【公開番号】 |
特開平１１−２７１２９６ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）１０月５日 |
| 【出願番号】 |
特願平１０−９５３３５ |
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