| 【発明の名称】 |
キャップ付き被覆電線の検査装置 |
| 【発明者】 |
【氏名】陳 永和
【氏名】上谷 敏寛
【氏名】林 秀樹
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| 【要約】 |
【課題】キャップ付き被覆電線の端部被覆を剥ぎ取った直後に、端子金具５をカシメ止めする自動機に組込まれ、皮剥き直後に振動しながら高速移動する被覆電線１に対し、キャップ２の取付不良及び被覆の皮剥き不良を検出するセンサとして、信頼性の高いものを提供する。
【解決手段】高速移動中のキャップ付き被覆電線１の通過を、同期検出用の光センサ１２で検出し電子シャッタ１３を高速で開き、２次元ＣＣＤセンサ１４でその端部を撮影して、それを影とする２値化画像を得る。この画像データに対して、キャップ端α，βが検出できるか調べ、検出できないとき装着不良とし、さらに各端部付近の外径Ｇ，Ｈを測定し、その比からキャップ向き不良を検出する。剥き取り不良の検査は、被覆の剥き取り境界Ａ′を挟む位置測定した芯線径ＬAと被覆径ＬBの比、芯線の影の横断長さＬ、この影の中の穴の大きさ、芯線４の先端からさらに延びる影があるかを調べて行う。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 キャップが取付けられた端部をフリーな状態にしてクランパで定位置を把持され、このクランパによって所定の経路を高速移動中のキャップ付き被覆電線に対して、キャップ取付状態を検査する検査装置であって、上記被覆電線が、検査位置に達したことを検出する同期検出センサと、この検出時に、電子シャッタを開いて、電線端部の画像を撮影する２次元ＣＣＤセンサと、２次元ＣＣＤセンサの出力を２値化し、影となるキャップ及び電線端部とそれ以外の部分を区別する２値化回路と、上記２値化画像を記憶する静止画像メモリと、検査する被覆電線とキャップについて、電線外径Ｅ、キャップ基端αからキャップの基端側測定部までの距離ｇ0、キャップ先端βからキャップの先端側測定部までの距離ｈ0、上記２値化画像におけるキャップ先端βの被覆電線先端方向への位置ずれ限界ラインＦを設定する設定部と、上記２値化画像において、電線と直交する方向の影の長さＬを、電線のクランパ側から電線端方向に向かって逐時測定し、Ｌが電線外径Ｅ＋Δ（誤差を吸収する固定値）より小さい値からこれを超える値に変化する位置をキャップ基端αとして検出し、Ｌが電線外径Ｅ＋Δより大きい値からこれより小さい値に変化する位置をキャップ先端βとして検出するキャップ端検出手段と、上記測定を位置ずれ限界ラインＦまで行なっても、キャップ基端αとキャップ先端βが共に検出されないとき、キャップなし又はキャップ位置不良として出力するキャップ装着不良の検出手段と、上記キャップ基端αから電線端方向に上記距離ｇ0だけ離れた位置Ｇ1から、さらに同方向に所定距離ｇ1だけ離れた位置Ｇ2までの間で、電線と直交する方向の影の長さＬを算出し、その平均長さＧを求める基端側測定部の測長手段と、上記キャップ先端βから電線のクランプ位置方向に上記距離ｈ0だけ離れた位置Ｈ1から、さらに同方向に所定距離ｈ1だけ離れた位置Ｈ2までの間で、電線と直交する方向の影の長さＬを算出し、その平均長さＨを算出する先端側測定部の測長手段と、上記平均長さの比Ｇ／Ｈを基準値と比較し、基準値を満足しないときキャップ向き不良の出力を発生するキャップ向き不良の検出手段とを具備したことを特徴とするキャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項２】 上記２値化画像において、電線端近傍で電線と直交するＣラインを設定する設定部と、キャップ先端βとＣラインの間で、計測位置を電線の延び方向に沿って変化させながら、電線と直交する方向の影の長さＬを計測し、その長さの変化率が所定値を超えかつ最大となる位置を、被覆の剥き取り境界Ａ′として検出し、この境界Ａ′が見つからないときストリップ不良信号を出力する剥き取り境界検出手段と、上記剥き取り境界Ａ′に対して、電線端方向に微小距離だけ離れた位置をＢライン、クランプ位置方向に微小距離だけ離れた位置をＡラインとして設定し、Ｂラインの影の長さＬBに対するＡラインの影の長さＬAの比ＬB／ＬAが設定範囲内にないとき、剥き過ぎ不良として出力する皮剥き不良判定手段とを具備したことを特徴とする請求項１記載のキャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項３】キャップ先端βとＣラインの間で、計測位置を電線の延び方向に沿って変化させながら、電線と直交する方向の影の長さＬを計測し、各計測ラインの影の中に存在する光を通過させる穴を２値化データのドット数でカウントし、１ラインの計測時に、このカウント数が所定数以上発生したとき芯線の広がり不良信号を出力する広がり不良検出手段を具備したことを特徴とする請求項２記載のキャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項４】 上記２値化画像において、電線端近傍で電線から離隔して電線の延び方向と直交するＤラインを設定する設定部と、Ｄライン中に、影となっている部分が、２値化データのドット数で所定数以上あるとき、ひげ発生不良信号を出力するひげ発生不良検出手段を具備したことを特徴とする請求項２記載のキャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項５】Ｃラインの影の長さＬCとＢラインの影の長さＬBの比が所定範囲にないとき、芯線の広がり不良又は芯線の一部切断不良として出力する芯線端部不良の検出手段を具備したことを特徴とする請求項２記載のキャップ付き被覆電線の検査装置。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被覆が剥ぎ取られた端部にキャップを取付けた被覆電線を、高速送りしながら、キャップ取付け状態及び被覆の剥き取り状態の良否判定を行う検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】被覆電線の端部に取り付けた端子金具を利用して、相手方の機器との電気的接続を行う場合において、予め、被覆電線の端部にキャップを嵌めておき、端子金具を相手方端子と接続すると同時に、キャップを相手方機器に設けたキャップ受けに嵌め合せて防水・防塵を行う場合がある。
【０００３】このような被覆電線の端部加工を行う自動機は、図９に示すような(a) 被覆電線の定寸での切断、(b) キャップの装着、(c) 端部被覆の剥ぎ取り、及び(d) 端子金具の固着を、図１０、図１１に示すような作業工程により行っている。
【０００４】図１０において、直線上の被覆電線の通過路の途中に、切断・キャップ装着・被覆剥ぎ取りポジションＭ、端子金具のカシメ止めポジションＮがある。被覆電線１は図中右側から長尺な状態で供給され、切断・キャップ装着・被覆剥ぎ取りポジションＭに送られる。ここで、切断用カッターで定寸に切断した後、キャップ２を嵌め入れ、この後に剥ぎ取り用カッターで皮剥き部分を把持し、被覆電線１をクランプしたスライダを引くことにより端部絶縁被覆１ａの皮剥きを行う。絶縁被覆１ａが剥ぎ取られた被覆電線１は、クランパ３でクランプされた状態で、図１１に示すように、アーム回転によってカシメ止めポジションＮに高速送りされ、皮剥きによって突出した芯線４に端子金具５がプレス機でカシメ止めされる。
【０００５】上記被覆電線の自動機を使用すると、キャップの取付けに関して、図１２に示すような、(a) 取付位置不良、(b) キャップなし不良、(c) キャップ向き不良が発生することがある。
【０００６】また、電線の皮剥きに関して、図１３に示すように、(a) 被覆残り、(b) (c)芯線の一部を切り取ってしまう剥き過ぎ、(d) 芯線をも切断する切り落とし、(e) 芯線の広がり不良、(f) ひげ発生不良が発生することがある。
【０００７】上記キャップの取付不良や皮剥き不良が発生したときは、端子金具を取付けても不良品となってしまう。したがって、キャップ取付けと皮剥きを行った直後に不良検出を行なって不良品を加工ラインから排除し、無駄な加工をなくし不良製品の発生を未然に防止する必要がある。
【０００８】従来、上記キャップの取付け不良を検出するセンサは知られていない。
【０００９】また、皮剥き不良の検出を行う装置として、本出願人は、２次元ＣＣＤセンサを用いた被覆電線の皮剥き不良検出器を出願している（特開平７−１９８１９号公報）。
【００１０】この発明は、被覆電線端部の影を２次元ＣＣＤセンサで撮影し、これを２値化したデータをプログラム処理して、皮剥き不良を検出している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】キャップの取付不良を検出するセンサがないと、皮剥き不良を検出していても不良品を完全に加工ラインから排除できない。
【００１２】また、上記被覆電線の皮剥き不良検出器は、(c) 芯線の先端部の一部切り落とし不良、(e) 芯線の広がり不良、(f) ひげ発生不良を検出する機能がないため、不良品の排除に限界があった。
【００１３】そこで、この発明は、キャップの取り付け不良を検出できると同時に、(c) 芯線の先端部の一部切り落とし不良、(e) 芯線の広がり不良、(f) ひげ発生不良の検出も行なえるキャップ付き被覆電線の検査装置を提供する。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
(1) この発明は、キャップが取付けられた端部をフリーな状態にしてクランパで定位置を把持され、このクランパによって所定の経路を高速移動中のキャップ付き被覆電線に対して、キャップ取付状態を検査する検査装置として、次の構成を持つものを提供する。
【００１５】すなわち、上記被覆電線が、検査位置に達したことを検出する同期検出センサと、この検出時に、電子シャッタを開いて、電線端部の画像を撮影する２次元ＣＣＤセンサと、【００１６】２次元ＣＣＤセンサの出力を２値化し、影となるキャップ及び電線端部とそれ以外の部分を区別する２値化回路と、上記２値化画像を記憶する静止画像メモリと、検査する被覆電線とキャップについて、電線外径Ｅ、キャップ基端αからキャップの基端側測定部までの距離ｇ0、キャップ先端βからキャップの先端側測定部までの距離ｈ0、上記２値化画像におけるキャップ先端βの被覆電線先端方向への位置ずれ限界ラインＦを設定する設定部と、【００１７】上記２値化画像において、電線と直交する方向の影の長さＬを、電線のクランパ側から電線端方向に向かって逐時測定し、Ｌが電線外径Ｅ＋Δ（誤差を吸収する固定値）より小さい値からこれを超える値に変化する位置をキャップ基端αとして検出し、Ｌが電線外径Ｅ＋Δより大きい値からこれより小さい値に変化する位置をキャップ先端βとして検出するキャップ端検出手段と、【００１８】上記測定を位置ずれ限界ラインＦまで行なっても、キャップ基端αとキャップ先端βが共に検出されないとき、キャップなし又はキャップ位置不良として出力するキャップ装着不良の検出手段と、【００１９】上記キャップ基端αから電線端方向に上記距離ｇ0だけ離れた位置Ｇ1から、さらに同方向に所定距離ｇ1だけ離れた位置Ｇ2までの間で、電線と直交する方向の影の長さＬを算出し、その平均長さＧを求める基端側測定部の測長手段と、【００２０】上記キャップ先端βから電線のクランプ位置方向に上記距離ｈ0だけ離れた位置Ｈ1から、さらに同方向に所定距離ｈ1だけ離れた位置Ｈ2までの間で、電線と直交する方向の影の長さＬを算出し、その平均長さＨを算出する先端側測定部の測長手段と、【００２１】上記平均長さの比Ｇ／Ｈを基準値と比較し、基準値を満足しないときキャップ向き不良の出力を発生するキャップ向き不良の検出手段とを具備したことを特徴とする。
【００２２】(2) 上記キャップの取付不良の検査装置は、同時に皮剥き不良の検出を行なうようにすることができる。これは、上記キャップの取付不良の検査機能に加えて、以下の構成手段を付加することによって行う。
【００２３】すなわち、上記２値化画像において、電線端近傍で電線と直交するＣラインを設定する設定部と、キャップ先端βとＣラインの間で、計測位置を電線の延び方向に沿って変化させながら、電線と直交する方向の影の長さＬを計測し、その長さの変化率が所定値を超えかつ最大となる位置を、被覆の剥き取り境界Ａ′として検出し、この境界Ａ′が見つからないときストリップ不良信号を出力する剥き取り境界検出手段と、【００２４】上記ストリップ境界Ａ′に対して、電線端方向に微小距離だけ離れた位置をＢライン、クランプ位置方向に微小距離だけ離れた位置をＡラインとして設定し、Ｂラインの影の長さＬBに対するＡラインの影の長さＬAの比ＬB／ＬAが設定範囲内にないとき、皮剥き不良又は剥き過ぎ不良として出力する皮剥き不良判定手段を付加することにより、先に述べた(a) 被覆残り、(b) 剥き過ぎ、(d) 芯線をも切断する切り落としを検出する。
【００２５】(3) 上記(2) の皮剥き不良検出の基本構成には、次の手段を付加することができる。
【００２６】■キャップ先端βとＣラインの間で、計測位置を電線の延び方向に沿って変化させながら、電線と直交する方向の影の長さＬを計測し、各計測ラインの影の中に存在する光を通過させる穴を２値化データのドット数でカウントし、１ラインの計測時に、このカウント数が所定数以上発生したとき(e) の芯線の広がり不良信号を出力する広がり不良検出手段【００２７】■上記２値化画像において、電線端近傍で電線から離隔して電線の延び方向と直交するＤラインを設定部で設定し、Ｄライン中に、影となっている部分が、２値化データのドット数で所定数以上あるとき、(f) のひげ発生不良信号を出力するひげ発生不良検出手段【００２８】■Ｃラインの影の長さＬCとＢラインの影の長さＬBの比が所定範囲にないとき、(e) の芯線の広がり不良、又は(c) の芯線の一部切断不良として出力する芯線端部不良の検出手段【００２９】
【実施例】図１は、この発明のキャップ付き被覆電線の検査装置１０の全体構成を示すブロック図である。
【００３０】１１は、図１１に示すように、キャップ２を嵌められ端部被覆をストリップされた状態で、クランパ３によって高速移動中の被覆電線１の端部の通過位置に設置されるセンサ部で、同期検出センサ１２、電線端部の画像を撮影する２次元ＣＣＤセンサ１４、２次元ＣＣＤセンサの出力を２値化する２値化回路１５を有する。この２次元ＣＣＤセンサ１４は、同期検出センサ１２が電線を検出したとき瞬時に開く電子シャッタ１３を備える。
【００３１】同期検出センサ１２は、透過型の光電スイッチが使用され、その投光器１２ａと受光器１２ｂは、図２に示すコ字型のセンサ部ケース１６の検出用凹部１７の両側の面に対向して取付けられる。また、受光の有無により被覆電線１の有無を判別する受光回路１２Ｃは、応答時間が、例えば２０μsec程度の高速動作するものが使用される。
【００３２】２次元ＣＣＤセンサ１４が有する電子シャッタ１３は、例えば６４μsec程度の高速動作可能な電子シャッタ１３を用い、図３(a) に示すように、検出用凹部１７の一方の面の内側に取付けられる。
【００３３】２次元ＣＣＤセンサ１４は、例えばフォトダイオードを２次元配列し、各フォトダイオードが受光量に応じて出力する電圧を、個別に順次取出せるようにしたものである。検出用凹部１７において、この２次元ＣＣＤセンサ１４が取付けられた面と反対側の面の内部には、発光ダイオード等を光源１８ａとし、レンズ系１８ｂにより平行光を得る平行光の照射部１８が組込まれる。この平行光の通過空間が図(b) に示す検知エリアとなる。
【００３４】また、図３(c) に示すように、多数の光源１８ａ′と拡散板２５を用いたバックライト照明１８′により、被覆電線１とキャップをレンズ２６で結像させる光学系においても同等な効果が得られる。この場合、結像レンズ２６と被覆電線１の距離が変動すると、像がぼけて不鮮明になったり、倍率が変動して真の電線径が判定できなくなる。
【００３５】しかし、本装置は被覆電線１と２次元ＣＣＤセンサ１４が機械的に位置決めされているため（被覆電線１はクランパ２で把持され、光軸方向に対し定位置を通過する）、像がぼけ、検出が困難になることはない。
【００３６】２値化回路１５の２値化レベルは、周囲の明るさ等に応じて最適値となるように調整可能である。
【００３７】図１に戻って、１９は上記２値化回路１５から出力される２値化データ（例えば図４，図５，図６に示すような明暗のビットイメージデータ）を記憶する静止画像メモリ、２０は記憶された２値化データに対し、後述するデータ処理を行なって良否判定を行う判定部である。
【００３８】２１は上記センサ部１１の取付位置の調整等を行うモニターテレビで、記憶された静止画像を、現在処理中の段差の検出位置および測長する２直線とともに表示する。２２は制御部で、装置全体のデータの受け渡し、動作・処理のタイミングを管理する。２３は操作パネルで、線種に応じた判定値の設定・選択機能、及び各種データの表示機能を有する。２４は設定部で、操作パネル２３の操作によって、検査するキャップと被覆電線に応じた各種設定値を設定する。
【００３９】上記判定部２０は、２値化画像の影の長さＬの測定部２５を持ち、この測定データを用いて各種処理を行う。この判定部２０は、キャップの取り付け不良の検査に関して、キャップ端検出手段２６、キャップ装着不良検出手段２７、基端側測定部の測長手段２８、先端側測定部の測長手段２９、キャップ向き不良の検出手段３０を備える。
【００４０】また、この判定部２０は、被覆の剥き取り不良の検査に関して、剥き取り境界検出手段３１、皮剥き不良検出手段３２、穴開きドット数のカウンタ３３、広がり不良検出手段３４、ひげ発生不良検出手段３５、芯線先端部不良の検出手段３６を備える。
【００４１】これら判定部２０内の各処理手段は、マイクロコンピュータのプログラムによって構成され、この動作フローチャートを図７（キャップの装着不良検査）及び図８（剥き取り不良検査）に示す。
【００４２】上記本発明装置の動作を説明する。動作の準備として、検査に用いる基準データを入力する。このデータは、検査する被覆電線とキャップに対応して、図４，図５、図６に示すように２値化画像上の影の位置と大きさが異なるので、検査対象を変える毎に行う。
【００４３】この設定内容は、キャップの検査に関して、電線の被覆を含めた外径Ｅ、検査するキャップによって決まるキャップ基端αから基部側測定部までの距離ｇ0、キャップ先端βから先端側測定部までの距離ｈ0、キャップ先端の位置ずれ限界ラインＦである。また、皮剥き不良の検査に関して、上記２値化画像において、電線端近傍で電線と直交するＣラインと、電線端近傍で電線から離隔して電線の延び方向と直交するＤラインである。
【００４４】検査は次のように行われる。キャップ２を嵌められ、皮剥きされた被覆電線１の先端がクランパ３で把持されて、センサ部ケース１６の検出用凹部１７を通過しようとすると、同期検出用センサ１２がその遮光状態を高速検出し、電子シャッタ１３を所定時間開く。これによって被覆電線１及びキャップ２を影とする静止画像が取り込まれ、２値化回路１５により２値化されて静止画像メモリ１９に記憶される。この画像データは図４、図５、図６に示すような明暗の画像としてモニターテレビ２１に映し出される。
【００４５】この２値化画像が静止画像メモリ１９に記憶されると、制御部２２は判定部２０に、図７、図８に示すような処理を実行させる。
【００４６】この２値化画像は、明暗のビットイメージデータで、以下の説明で、電線と直交する方向を横方向に表わし、電線の延び方向を縦方向（上側を端部方向とする）に表わし、横方向の１ビットデータの連なりを１ラインと呼ぶことにする。この１ラインは、例えばＣＣＤセンサの１走査ラインに対応させる。
【００４７】初めにキャップ端検出手段２６により、キャップ基端αとキャップ先端βを検出する。
【００４８】これは、例えば図４の２値化画像に対して、ノイズの影響を排除するため、図中下側の１０ラインをマスクし、そこから１ラインづつ上に測定位置を変化させながら、各ラインの影の長さＬを測定して行く。
【００４９】この長さＬが電線外径Ｅ＋Δ（誤差を吸収する固定値）より小さい値からこれを超える値に変化する位置をキャップ基端αとして検出する。
【００５０】キャップ基端αが検出されると、長さＬが電線外径Ｅ＋Δより大きい値からこれより小さい値に変化する位置をキャップ先端βとして検出する。
【００５１】上記キャップ端検出を、キャップずれ限界ラインＦに達するまで行なっても、キャップ基端αとキャップ先端βの両者が検出されないときは、キャップが嵌められていないと判断でき、キャップ基端αのみが検出されたときはキャップがＦ点にまで被さっている状態と判断できる。この場合は、キャップ装着不良の検出手段２７がキャップなし不良〔図１２(b)〕又は取付位置不良〔図１２(a)〕として出力する。
【００５２】キャップ基端αとキャップ先端βが検出されると、基端側測定部の測長手段２８と、先端側測定部の測長手段２９によって、キャップ両端の外径Ｇ，Ｈを測定する。
【００５３】基端側測定部の測長手段２８は、上記キャップ基端αから電線端方向に上記距離ｇ0だけ離れた位置Ｇ1から、さらに同方向に所定距離ｇ1だけ離れた位置Ｇ2までの間で、電線と直交する方向の影の長さＬを算出し、その平均長さＧを求める。
【００５４】先端側測定部の測長手段２９は、上記キャップ先端βから電線のクランプ位置方向に上記距離ｈ0 だけ離れた位置Ｈ1から、さらに同方向に所定距離ｈ1だけ離れた位置Ｈ2 までの間で、電線と直交する方向の影の長さＬを算出し、その平均長さＨを求める。
【００５５】なお、上記距離ｇ0，ｈ0は外径が急変化するキャップ端の測定を行なわないようにキャップの形状に応じて設定部２４で設定された値である。また、上記ｇ1，ｈ1 は、各種キャップについて略一定の外径寸法が測定できるように定めた定数である。
【００５６】さらに、キャップ向き不良の検出手段３０は、上記平均長さの比Ｇ／Ｈを基準値と比較し、基準値を満足しないときキャップ向き不良の出力を発生する。
【００５７】この基準値は、キャップの先端と基端に外径の差があることを利用してキャップの向きを判定するもので、例えば１．０を超えるとき正常と決められる。
【００５８】上記キャップの取付け不良の検査が終わると、図８に示す皮剥き不良の検査を行なう。
【００５９】初めに、剥き取り境界検出手段３１によって、電線被覆の剥き取り境界Ａ′を検出する。
【００６０】これは、上記キャップ先端βから、ノイズによる誤動作を防止するため所定ライン（例えば４ライン）だけ上に進んだ位置（測定開始ラインβ′）から、Ｃラインに向けて計測位置を１ラインづつ変化させながら、電線１と直交する方向の影の長さＬを計測して行く。
【００６１】このとき測定値Ｌの変化率が所定値を超え、かつ最大となる位置を、被覆の剥き取り境界Ａ′として検出する。Ｃラインまで測定しても、この境界Ａ′が見つからないときは、図１３(a) の被覆残りであるので、剥き取り不良信号を出力して、検査を終了する。
【００６２】剥き取り境界Ａ′が見つかると、皮剥き不良検出手段３２によって、皮剥き不良又は剥き過ぎ不良を検出する。
【００６３】これは、上記ストリップ境界Ａ′に対して、電線端方向に微小距離だけ離れた位置をＡライン、クランプ位置方向に微小距離だけ離れた位置をＢラインとして設定し、Ａラインの影の長さＬAに対するＢラインの影の長さＬBの比ＬA／ＬBが設定範囲内にないとき、図１３(b) の剥き過ぎ不良として出力する。
【００６４】この設定範囲は、検査する被覆電線の外径に対する芯線径の比に応じて、上限値と下限値が設定されるものである。また、上記微小距離は、剥き取り境界Ａ′に対して、２値化画像上で、確実に芯線部分と被覆部分を区別して捉えられる長さに決められている。
【００６５】さらに、広がり不良検出手段３３によって、図１３(e) に示すような広がり不良を検出する。
【００６６】これは、キャップ先端βとＣラインの間で、計測位置を電線端方向に変化させながら、電線と直交する方向の影の長さＬを計測し、各計測ラインの影の中に存在する光を通過させる穴を、穴開きドット数のカウンタ３４によって２値化データのドット数でカウントさせる。
【００６７】広がり不良検出手段３３は、１ラインの計測時に、このカウント数が所定数以上発生したとき芯線の広がり不良信号を出力する。
【００６８】さらに、ひげ発生不良検出手段３５によって、図１３(f) に示すように芯線の先端から、ひげが出ていないか判定する。これは、Ｄライン中に、影となっている部分が、２値化データのドット数で所定数以上あるとき、ひげ発生不良信号を出力するものである。
【００６９】さらに、芯線端部不良の検出手段３６によって、芯線の径の変化がないかを調べる。これは、Ｃラインの影の長さＬCとＢラインの影の長さＬBを測定し、この比ＬC／ＬBが所定範囲にないとき、芯線の広がり不良又は芯線の一部切断不良として出力する。すなわち、図１２(e) の芯線の広がり不良のときは、許容範囲の上限値より大きくなり、同図(c) の芯線の先端剥き過ぎ不良のときは、許容範囲の下限値より小さいなる。
【００７０】上記検査において、キャップの取付け不良又は被覆の剥き取り不良が検出された場合は、最後まで検査を行なわないで、直ちに不良の電線を加工ラインから排出させることができる。
【００７１】また、上記説明は、キャップの取付け不良の検出と、被覆の剥き取り不良の検出を同時に行うものを説明したが、一方の検出だけを行う装置として利用又は製作することが可能である。
【００７２】
【発明の効果】この発明のキャップ付き被覆電線の検査装置は、２次元ＣＣＤセンサで高速撮影することにより、振動しているキャップ付き被覆電線を２値化静止画像として取り込み、プログラム解析により、複数の検査項目を同時に実行できるから、信頼性の高い検査を高速に行なえ、キャップ付き被覆電線の端部加工が効率よく行なえるようになる。
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| 【出願人】 |
【識別番号】０００１８３４０６
【氏名又は名称】住友電装株式会社
【識別番号】０００２４２６００
【氏名又は名称】北陽電機株式会社
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| 【出願日】 |
平成９年（１９９７）７月１日 |
| 【代理人】 |
【弁理士】
【氏名又は名称】江原 省吾 （外３名）
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| 【公開番号】 |
特開平１１−２３２２６ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）１月２９日 |
| 【出願番号】 |
特願平９−１７６０２２ |
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