| 【発明の名称】 |
ＡＳＥ光源装置 |
| 【発明者】 |
【氏名】安島 弘美
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| 【要約】 |
【課題】ＡＳＥ光源装置の出力一定制御の出力制御状態を監視する手段を設ける。
【解決手段】本発明はＡＳＥ光源装置からの出力信号とその目標値を比較器によって比較し、その差がある一定以上のときにはＡＳＥ光源装置の出力一定制御の出力制御状態が異常であるとみなす信号を出力するようにしたので、出力状態が不安定のまま運用を続けてしまう危険性を防止できる。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】光増幅用光ファイバーに励起光供給手段より励起光を供給して自然放出光（ＡＳＥ光）を出力するＡＳＥ光源装置において、前記ＡＳＥ光源装置の出力信号光をモニターする出力光モニターで検出される出力信号光を制御する為の目標値を設けその目標値と検出された出力信号光とを比較するための比較手段と、この比較手段によって比較される出力信号光と前記目標値との差を小さくするように前記励起光供給手段からの励起光を制御するための制御回路とから構成され、前記出力信号光と前記目標値との差がある値より大きい場合に異常信号が出力されることを特徴する自然放出光を出力するＡＳＥ光源装置。
【請求項２】光増幅用光ファイバーに励起光供給手段より励起光を供給し、自然放出光（ＡＳＥ光）を出力するＡＳＥ光源装置において、前記励起光供給手段からの励起光をモニターする励起光モニターで検出される励起光を制御するための目標値を設けその目標値と検出された励起光とを比較するための比較手段と、この比較手段によって比較される励起光と前記目標値との差を小さくするように前記励起光供給手段からの励起光を制御するための制御回路とから構成され、前記励起光と前記目標値との差がある値より大きい場合に異常信号が出力されることを特徴する自然放出光を出力するＡＳＥ光源装置 |
【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光増幅用光ファイバーを利用して自然放出光（ＡＳＥ光）を出力する光源装置の出力制御状態を監視するＡＳＥ光源装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来のＡＳＥ光源装置の一例である。駆動回路３６によって駆動される励起用半導体レーザー３５によって発生する励起光が励起用光ファイバー（ＥＤＦ）３１に注入され、励起光の光パワーに応じてＡＳＥ光となって出力される。温度変化や経年変化による励起用半導体レーザーの励起光の変化などからＡＳＥ光源装置の出力は変動してしまうが、その出力を一定にする制御（出力一定制御）が必要である。出力一定制御をするために、出力信号光モニターの信号と固定値である目標値を比較しその誤差信号で励起用半導体レーザー３５を駆動することで実現されている。通常このＡＳＥ光の波長は１５３０〜１５６０ｎｍの広がりを持つスペクトラムを有していて、光源として用いることができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の出力一定制御は、常に出力信号光レベルを一定に保つように励起用半導体レーザを制御する方式である。しかし励起用半導体レーザーの出力パワーには限界があり、出力信号光の目標値を大きくしようとすると出力信号レベルを一定にできるほど出力信号光が出ない制御不能状態が起こりえる。このような制御不能状態に陥ったかどうか知ることは運用上とても大切なことであるが従来技術にはこのような機能はなく、制御不能状態になっても運用を続け出力信号光レベルに影響を与えてしまい、出力信号レベルが安定しないまま運用を続けてしまう危険性があった。本発明は前記問題点を解決する為に、制御不能状態に陥ったかどうか知る手段を設けその状態を通知する機能を持たせることを課題とする。
【０００４】
【問題を解決するための手段】本発明はこれらの課題を解決するためのものであり、光増幅用光ファイバーに励起光供給手段より励起光を供給して自然放出光（ＡＳＥ光）を出力するＡＳＥ光源装置において、前記ＡＳＥ光源装置の出力信号光をモニターする出力光モニターで検出される出力信号光を制御する為の目標値を設けその目標値と検出された出力信号光とを比較するための比較手段と、この比較手段によって比較される出力信号光と前記目標値との差を小さくするように前記励起光供給手段からの励起光を制御するための制御回路とから構成され、前記出力信号光と前記目標値との差がある値より大きい場合に異常信号が出力されるＡＳＥ光源装置を提供する。
【０００５】
【発明の実施形態】以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。図１は本発明の第１の実施例であるＡＳＥ光源装置のブロック図であり、図２は本発明の第２の実施例であるＡＳＥ光源装置のブロック図であり、図３は本発明のＡＳＥ光源装置で用いられる制御状態検出回路の詳細ブロック図である。図１のＡＳＥ光源装置において、ＡＳＥ光源装置、出力信号光をモニターする出力光モニター７を有し、出力信号光の目標値１０を比較器１１に入力し、前記出力光モニター７で検出される出力信号光レベルと比較しその誤差信号で励起用半導体レーザー２の励起光を制御する事で、出力一定制御を実現している。さらに比較器１１の出力である誤差信号を制御状態検出回路９に入力して制御状態をモニターできるように構成している。制御状態検出回路９の出力はハイレベルかロウレベルかの２値で論理であり、制御状態が正常の場合に制御状態検出回路１１の出力である制御状態信号はハイレベルの出力となり、異常の場合はロウレベルの出力となる。
【０００６】次に、図３を用いて信号レベル検出回路の動作を説明する。出力光モニター７からの出力である出力光モニター信号と目標値１０は比較器１１で比較されその出力はレーザー駆動回路３に接続されている。なおＣ１は出力一定制御ループの位相補償用コンデンサである。比較器１１の出力は制御状態検出回路９に接続されコンパレータＩＣ３で抵抗Ｒ５、Ｒ６でＶｃｃを分割した電圧Ｖ２と比較される。制御状態が正常に動作している場合ＩＣ１の正相と負相の入力端子電圧はほぼ等しくなり、その電圧はＶ１となる。ただしＶ１は励起用半導体レーザー２を流れる電流Ｉとすれば、ほぼＩ・Ｒ２に等しい。電流Ｉは励起用半導体レーザー２の最大許容電流Ｉmax 以下であってＩｍａｘ以上にならないように電流制限抵抗Ｒ１をつけている。
【０００７】ＡＳＥ光源装置の出力が目標値１０で設定したときの値より低下すると出力光モニター信号は目標値の設定電圧より高い電圧になるように構成されているため、比較器１１の出力電圧も高くなる。比較器１１の出力電圧がＩmax ・Ｒ２以上になった場合には制御状態が異常であり、この状態を制御状態検出回路９で検出するよう構成している。
【０００８】比較器１１の出力は制御状態検出回路９のコンパレータＩＣ３に接続されて電圧Ｖ２比較される。Ｖ２＝Ｉmax ・Ｒ２になるように設定されているため、比較器１１の出力電圧がＶ２より大きい制御状態異常の場合に、コンパレータＩＣ３の出力である制御状態信号はロウレベルとなる。次に、図２を用いて本発明の第２の実施例について説明する。実施例１における出力光モニターを励起光モニターに置き換えた構成である。励起用半導体レーザー２の励起光をモニターする励起光モニター７を有し、励起光の目標値１０と前記励起光モニター７で検出される励起光とを比較器１１で比較しその誤差信号で励起用半導体レーザー２の励起光を制御することで出力一定制御を実現している。さらに比較器１１の出力である誤差信号を制御状態検出回路９に入力して制御状態をモニターできるように構成している。制御状態検出回路９は実施例１で述べたものと同じ構成である。
【０００９】
【発明の効果】以上のとおり、本発明はＡＳＥ光源装置からの出力信号とその目標値を比較器によって比較し、その差がある一定以上のときにはＡＳＥ光源装置の出力一定制御の出力制御状態が異常であるとみなす信号を出力するようにしたので、出力状態が不安定のまま運用を続けてしまう危険性を防止できる。
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| 【出願人】 |
【識別番号】０００００６６３３
【氏名又は名称】京セラ株式会社
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| 【出願日】 |
平成９年（１９９７）１１月２７日 |
| 【代理人】 |
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| 【公開番号】 |
特開平１１−１６２２２１ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）６月１８日 |
| 【出願番号】 |
特願平９−３２６７８７ |
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