| 【発明の名称】 |
Ｘ線断層撮影方法及びＸ線断層撮影装置 |
| 【発明者】 |
【氏名】堀内 哲也
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| 【要約】 |
【課題】各スライス間でイメージデータの画素値の範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能なＸ線断層撮影方法及びＸ線断層撮影装置を実現する。
【解決手段】被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源２と、照射されたＸ線の被検体透過情報を検出するＸ線検出器３と、Ｘ線の照射及び検出を制御する制御手段１５とを備え、前記制御手段は、被検体の断層撮影前に相互に異なる２つの角度位置に前記Ｘ線源の角度位置を定めて該当被検体のスカウト撮影をそれぞれ実行してそれぞれのスカウト像を生成するよう制御し、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差，イメージデータの所望の標準偏差，及び前記Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比を参照してスキャン条件を求め、該スキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行するよう制御する。 |
【特許請求の範囲】
【請求項１】 Ｘ線源から出射されたＸ線を測定空間に載置された被検体に照射し、透過したＸ線をＸ線検出素子列で検出するＸ線断層撮影方法であって、被検体の断層撮影前に相互に異なる２つの角度位置に前記Ｘ線源の角度位置を定めて該当被検体のスカウト撮影をそれぞれ実行してそれぞれのスカウト像を生成し、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差，イメージデータの所望の標準偏差，及び前記Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比を参照してスキャン条件を求め、該スキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行するＸ線断層撮影方法。
【請求項２】 被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源と、照射されたＸ線の被検体透過情報を検出するＸ線検出器と、Ｘ線の照射及び検出を制御する制御手段と、を備え、前記制御手段は、被検体の断層撮影前に相互に異なる２つの角度位置に前記Ｘ線源の角度位置を定めて該当被検体のスカウト撮影をそれぞれ実行してそれぞれのスカウト像を生成するよう制御し、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差，イメージデータの所望の標準偏差，及び前記Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比を参照してスキャン条件を求め、該スキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行するよう制御する、ことを特徴とするＸ線断層撮影装置。
【請求項３】 前記制御手段は、そのときのＸ線源の角度位置で得られるスカウト像の画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられるそれぞれの角度位置にＸ線源を定めることを特徴とする請求項２記載のＸ線断層撮影装置。
【請求項４】 スカウト像の画素値の最大値が極大値を与えるＸ線源の角度位置を矢状面と平行な方向に選び、スカウト像の画素値の最大値が極小値を与えるＸ線源の角度位置を前額面と平行な方向に選ぶことを特徴とする請求項３記載のＸ線断層撮影装置。
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【発明の詳細な説明】【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＸ線断層撮影方法及びＸ線断層撮影装置に関し、特に、各スライス間でイメージデータの画素値の範囲を同一の好ましい範囲内に収めることに配慮したＸ線断層撮影方法及びＸ線断層撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線断層撮影装置においては、Ｘ線源から扇状のＸ線ビーム（beam）を被検体に照射し、その透過Ｘ線を扇状Ｘ線ビームの広がりに合わせて配列された複数個の検出素子からなる１次元アレイ（array ）のＸ線検出素子列で測定する。
【０００３】そして、透過Ｘ線の測定は、Ｘ線源とＸ線検出素子列を被検体の周囲を回転させながら複数のビュー（view）方向で行う。このような透過Ｘ線の測定はスキャン（scan）と呼ばれている。そして、スキャンによって得られた複数ビューの測定データに基づいて、被検体の断層像を再構成している。
【０００４】このようにして被検体の断層像のイメージデータを生成してＣＲＴディスプレイ等の画像表示装置に表示する場合、イメージデータの画素値（Ｘ線断層撮影装置の場合にはＣＴ値）はＸ線の透過率によって定められ、一般的には空気を−１０００，水を０となるように定めている。
【０００５】そして、このようなイメージデータの画素値を２５６階調程度の表示用データに変換して画像表示を行っている。この場合の表示用データの階調数は、画像表示回路やＣＲＴディスプレイの回路構成によって異なるが、一般的には、濃度データを８ビットで処理する２５６階調程度のものが一般的であり、イメージデータの画素値の−１０００〜＋２０００のような広い範囲の階調を用意して表示することは現実的ではない。
【０００６】例えば、注目すべき被検体の臓器の画素値がＣＴ値で−１５０〜＋１５０の間に分布しているような場合には、ウィンドウ幅なる概念を導入し、このウィンドウ幅の範囲内を２５６階調で表示できるように表示用データを変換して濃淡で画像表示を行うと共に、上限値を超える部分を白または黒で表示し、下限値に満たない部分を黒または白で表示する。このようにすることで、注目したい部分のイメージデータを階調による表示可能範囲に収めることができ、コントラストの変化として表示できるようになる。
【０００７】ところで、断層撮影を開始する前に、好ましい断層撮影位置を決定するためのスカウトスキャンを行うことがある。このスカウトスキャンでは、Ｘ線管とＸ線検出器とを固定しておき、被検体を載置する寝台天板を移動させつつＸ線を曝射してＸ線透視像を得る。
【０００８】そして、このスカウトスキャンの際の透過Ｘ線の検出値の平均値よりＸ線減弱を推定して、スキャン条件としてのＸ線量を決定することが、特開平１−２９３８４４号公報に記載されている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、被検体の体形は個々に異なっており、ひとつのＸ線源の角度位置によるスカウトスキャンの検出値から、最適なスキャン条件を求めることは困難である。
【００１０】すなわち、被検体の断面形状が各スライス毎に異なっていることにより、イメージデータが取得される画素値の範囲にばらつきが生じるようになる。つまり、各スライス毎に得られるイメージデータの画素値における範囲がが異なるという問題が発生する。
【００１１】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は、各スライス間でイメージデータの画素値の範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能なＸ線断層撮影方法及びＸ線断層撮影装置を実現することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】すなわち、課題を解決する手段としての本発明は以下に説明するようなものである。
【００１３】（１）請求項１記載の発明は、Ｘ線源から出射されたＸ線を測定空間に載置された被検体に照射し、透過したＸ線をＸ線検出素子列で検出するＸ線断層撮影方法であって、被検体の断層撮影前に相互に異なる２つの角度位置に前記Ｘ線源の角度位置を定めて該当被検体のスカウト撮影をそれぞれ実行してそれぞれのスカウト像を生成し、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差，イメージデータの所望の標準偏差，及び前記Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比を参照してスキャン条件を求め、該スキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行するＸ線断層撮影方法である。
【００１４】この請求項１の発明では、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと、Ｘ線源の２つの角度位置それぞれにおいて得られた画素値の減弱比とから、デフォルトとして設定しているスキャン条件default＿ｍＡｓにおけるイメージデータの標準偏差σ′が求まる。そして、この標準偏差σ′と所望の標準偏差σtargetとから、所望の標準偏差を得るために必要なスキャン条件Scan・ｍＡｓが求まる。このようにして求められたスキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行する。
【００１５】この結果、イメージデータの標準偏差がσtargetになるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００１６】（２）請求項２記載の発明は、被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源と、照射されたＸ線の被検体透過情報を検出するＸ線検出器と、Ｘ線の照射及び検出を制御する制御手段と、を備え、前記制御手段は、被検体の断層撮影前に相互に異なる２つの角度位置に前記Ｘ線源の角度位置を定めて該当被検体のスカウト撮影をそれぞれ実行してそれぞれのスカウト像を生成するよう制御し、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差，イメージデータの所望の標準偏差，及び前記Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比を参照してスキャン条件を求め、該スキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行するよう制御する、ことを特徴とするＸ線断層撮影装置である。
【００１７】この請求項２の発明では、制御手段の働きにより、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと、Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比とから、デフォルトとして設定しているスキャン条件default＿ｍＡｓにおけるイメージデータの標準偏差σ′が求まる。そして、この標準偏差σ′と所望の標準偏差σtargetとから、所望の標準偏差を得るために必要なスキャン条件scan＿ｍＡｓが求まる。このようにして求められたスキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行する。
【００１８】この結果、イメージデータの標準偏差がσtargetになるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００１９】（３）請求項３記載の発明は、上記（２）のＸ線断層撮影装置において、前記制御手段は、そのときのＸ線源の角度位置で得られるスカウト像の画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられるそれぞれの角度位置にＸ線源を定めることを特徴とする。
【００２０】この請求項３の発明では、スキャン条件を求める際に使用する２方向のスカウト像に関しては、該スカウト像における画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられるスカウト撮影の方向をそれぞれのＸ線源の照射方向として選んでいるため、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと前記減弱比とを利用して、実際の被検体におけるイメージデータの標準偏差σ′を正確に求められる。
【００２１】この結果、イメージデータの標準偏差が所望の値になるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００２２】（４）請求項４記載の発明は、上記（３）のＸ線断層撮影装置において、スカウト像の画素値の最大値が極大値を与えるＸ線源の角度位置を矢状面と平行な方向に選び、スカウト像の画素値の最大値が極小値を与えるＸ線源の角度位置を前額面と平行な方向に選ぶことを特徴とする。
【００２３】この請求項４の発明では、スキャン条件を求める際に使用する２方向のスカウト像に関しては、該スカウト像における画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられる矢状面方向と前額面方向にスカウト撮影の２方向を選んでいるため、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと前記減弱比とを利用して、実際の被検体におけるイメージデータの標準偏差σ′を正確に求められる。
【００２４】この結果、イメージデータの標準偏差が所望の値になるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００２５】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実施の形態例を詳細に説明する。図１は本発明の原理的なＸ線断層撮影方法の処理手順を示すフローチャート、図２は本発明のＸ線断層撮影方法を実現するＸ線断層撮影装置の一例としてＸ線ＣＴスキャナを用いた場合の全体構成を示す構成図である。
【００２６】＜Ｘ線断層撮影装置の構成＞まず、図２を用いてＸ線ＣＴスキャナを用いた場合のＸ線断層撮影装置の全体構成を説明する。
【００２７】ガントリ１はＸ線ＣＴの機構部分であり、Ｘ線管２と検出器３とで被検体の周囲で各種のスキャン方式に応じた動作を機械的若しくは電気的に行わせるものである。
【００２８】テーブル４は被検体５が載置された状態でガントリ１の内部に送り込まれるものである。この際、ガントリ１のティルト(tilt)並びにテーブル４の移動等はテーブル・ガントリ制御装置６によって制御される。
【００２９】また、Ｘ線管２はＸ線管駆動発生制御装置７の制御により回転／停止及びＸ線の発生／休止を行うよう制御される。従って、テーブル・ガントリ制御装置６及び後述するシステム制御装置が、駆動制御手段を構成している。
【００３０】検出器３は検出器駆動装置８の制御により被検体５の周囲をＸ線管２と一体になって回転するものである。Ｘ線管２の照射により被検体５を透過したＸ線は検出器３で検出され、データ収集装置（ＤＡＳ）９でデータが収集される。収集されたデータはスカウト像生成部１１と画像再構成装置１１に転送される。
【００３１】スカウト像生成部１０はスカウト撮影により得られた被検体透過投影データからスカウト像を生成するものである。このスカウト像はスキャン位置の決定やスキャン条件の決定に用いられる。
【００３２】画像再構成装置１１は入力されたデータを画像再構成してイメージデータを生成し、このイメージデータを表示装置２０に表示し、同時にデータ格納装置１２に格納する。
【００３３】データ格納装置１２に格納されたイメージデータは読み出されて画像処理装置１３において以下に説明する投影イメージが形成され、その投影イメージは表示装置２０に表示される。
【００３４】操作部１４は各種指示が入力される入力手段であり、この操作部１４からの各種指示及び予め定められた動作プログラム，スキャン計画に従ってシステム制御装置１５が装置全体を制御する。
【００３５】＜Ｘ線断層撮影方法＞次に上述のＸ線断層撮影装置の行うＸ線断層撮影方法を図１のフローチャートを参照して説明する。
【００３６】［スカウト像生成］まず、被検体５の断層撮影を実行する前に、該当被検体のスカウト撮影を複数の方向から実行する。
【００３７】最初に、第１のスカウト撮影により第１のスカウト像を生成する（図１Ｓ１）。この場合、図３に示すように、スカウト撮影の方向を直交する２方向に定める。例えば、図３の０°位置（被検体の真上）にＸ線管２を配置し、１８０°位置（被検体の真下）に検出器３を配置する。そして、このようにガントリ回転部を固定した状態でテーブル４を体軸方向（図３の紙面垂直方向）に移動させつつ、Ｘ線の照射を行って被検体透過投影データを検出し、スカウト像生成部１１が第１のスカウト像を生成する。
【００３８】次に、第２のスカウト撮影により第２のスカウト像を生成する（図１Ｓ２）。すなわち、図３の９０°位置（被検体の真横）にＸ線管２を配置し、２７０°位置（Ｘ線管と反対側の被検体の真横）に検出器３を配置する。そして、このようにガントリ回転部を固定した状態で状態でテーブル４を体軸方向（図３の紙面垂直方向）に移動させつつ、Ｘ線の照射を行って被検体透過投影データを検出し、スカウト像生成部１１が第２のスカウト像を生成する。
【００３９】以上のような要領で多数の方向のスカウト像を生成することを想定した場合、各スカウト像における画素値の最大値が極大となると考えられるひとつのスカウト像を一方のスカウト像とし、各スカウト像における画素値の最大値が極小となると考えられる別のひとつのスカウト像を他方のスカウト像とするように、第１のスカウト像と第２のスカウト像とを選定することが望ましい。
【００４０】すなわち、図３のような断面が偏平な被検体の場合には、０°方向と９０°方向（または２７０°方向）というような直交する２方向が望ましい。このようなスカウト撮影により、後述する減弱比による標準偏差の補正が可能になる。
【００４１】［初期設定］ここで、Ｘ線断層撮影に関する管電圧，スライス厚，再構成関数の選択といった初期設定を操作者が行う（図１Ｓ３）。すなわち、この初期設定では、Ｘ線断層撮影に関して必要な各種のパラメータが操作者によって操作部１４から設定される。また、スカウト像生成部１１により生成されたスカウト像を参照して、システム制御装置１５がＸ線断層撮影でのスキャン位置（スライス位置）決定（図１Ｓ４）を行う。
【００４２】［標準偏差によるスキャン条件決定］
■画像ＳＤの算出（図１Ｓ５）
イメージデータの標準偏差（以下、画像ＳＤと呼ぶ）σについては、被検体（人体または人体透過物質）をデフォルトの撮影条件で撮影したときの投影表示データの面積（projection area）と画像ＳＤσpixelとの関係式は以下のようになっている。
【００４３】σpixel＝ｆ（projection area）
なお、ここで投影表示データの面積はスカウト像から概略値として求めることが可能であり、ｆは所定の関数である。また、この画像ＳＤについては、被検体を円形の断面であると仮定して求めている。また、表示画像として算出されたデータである投影表示データのかわりに、前処理直後の段階のデータである透過投影データの面積を用いてもかまわない。
【００４４】そして、このような画像ＳＤσpixelについて予めいくつかの値で求めたものから関数あるいはテーブルとして備えておき、スカウト像から得られる投影表示データの面積に応じて各スライス毎に画像ＳＤを求めるようにする。
【００４５】■画像ＳＤの補正（図１Ｓ６）
次に、上記■で求めた各スライス毎の画像ＳＤを、スカウト像の直交２方向の減弱比に応じて補正する。すなわち、被検体の実際の断面形状に応じた画像ＳＤσ′を各スライス毎に求めるようにする。
【００４６】この場合の画像ＳＤはσ′pixelとして、以下の式でσと減弱比とから求めることが可能である。
σ′pixel＝σpixel×ｇ（projectionMax＿90°／projectionMax＿0°）
ただし、projectionMax＿90°＞projectionMax＿0°の場合，σ′pixel＝σpixel×ｇ（projectionMax＿0°／projectionMax＿90°）
ただし、projectionMax＿0°＞projectionMax＿90°の場合，ここで、０°のスカウト撮影で得られた画素値の最大値をprojectionMax＿0°とし、９０°のスカウト撮影で得られた画素値の最大値を、projectionMax＿90°とする。すなわち、これらの比が減弱比になる。
【００４７】また、ｇは１次または２〜３次程度の関数であり、円形断面でのσと被検体のスカウト撮影での減弱比とから、被検体の断面形状に即した画像ＳＤであるσ′を求めることができる。また、画素値のかわりに、透過投影データの値を用いてもかまわない。
【００４８】■スキャン条件の決定一般に、画像ＳＤと撮影条件（管電流と照射時間との積：ｍＡｓ）との間には、以下の式が成立することが知られている。
【００４９】σtarget／σ′pixel＝√（default＿ｍＡｓ／scan＿ｍＡｓ）
従って、所望の画像ＳＤの値をσtargetとして与える（図１Ｓ７）ことで、前述したσ′pixelとデフォルトの撮影条件default＿ｍＡｓとから、各スライス毎にσtargetを満たす撮影条件scan＿ｍＡｓを求めることができる（図１Ｓ８）。
【００５０】そして、このように求めた撮影条件scan＿ｍＡｓをシステム制御装置１５が表示装置２０等に表示して、適正な値になっているかを操作者が確認（図１Ｓ９）し、承認した時点でスキャン計画が完了し、スキャン実行待ち状態になる。
【００５１】［スキャン実行］以上のような設定や演算により設定された各種パラメータに基づいてＸ線断層撮影についてのスキャンが実行される（図１Ｓ１０）。すなわち、ガントリ回転部の回転開始と共にＸ線照射がオンされ、Ｘ線管２からＸ線の照射が行われる。
【００５２】このＸ線の照射については、上述したように求められた撮影条件scan＿ｍＡｓに基づいて各スライス毎に、画像ＳＤについてσtargetを満たすようなＸ線の照射を行う。
【００５３】そして、スキャンによるデータ収集が検出器３により行われる。このようにして収集されたデータに基づいて、画像再構成装置１１は画像再構成を実行してイメージデータを生成し、このイメージデータを表示装置２０に表示し、同時にデータ格納装置１２に格納する。
【００５４】＜本実施の形態例により得られる効果＞■投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと、Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比とから、デフォルトとして設定しているスキャン条件default＿ｍＡｓにおけるイメージデータの標準偏差σ′が求まり、この標準偏差σ′と所望の標準偏差σtargetとから、所望の標準偏差を得るために必要なスキャン条件Scan・ｍＡｓが求まる。
【００５５】この結果、イメージデータの標準偏差がσtargetになるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００５６】■スキャン条件を求める際に使用する２方向のスカウト像に関しては、該スカウト像における画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられるスカウト撮影の方向を上記２方向としているため、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと前記減弱比とを利用して、実際の被検体におけるイメージデータの標準偏差σ′を正確に求められる。
【００５７】この結果、イメージデータの標準偏差が所望の値になるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００５８】■スキャン条件を求める際に使用する２方向のスカウト像に関しては、該スカウト像における画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられる矢状面方向（サジタル方向）と前額面方向（コロナル方向）にスカウト撮影の２方向を選んでいるため、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと前記減弱比とを利用して、実際の被検体におけるイメージデータの標準偏差σ′を正確に求められる。
【００５９】この結果、イメージデータの標準偏差が所望の値になるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００６０】
【発明の効果】以上実施の形態例と共に詳細に説明したように、この明細書記載の各発明によれば以下のような効果が得られる。
【００６１】（１）請求項１記載のＸ線断層撮影方法の発明では、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと、Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比とから、デフォルトとして設定しているスキャン条件default＿ｍＡｓにおけるイメージデータの標準偏差σ′が求まる。そして、この標準偏差σ′と所望の標準偏差σtargetとから、所望の標準偏差を得るために必要なスキャン条件Scan・ｍＡｓが求まる。このようにして求められたスキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行する。
【００６２】この結果、イメージデータの標準偏差がσtargetになるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００６３】（２）請求項２記載のＸ線断層撮影装置の発明では、制御手段の働きにより、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと、Ｘ線源の２つの角度位置において得られたスカウト像における画素値の減弱比とから、デフォルトとして設定しているスキャン条件default＿ｍＡｓにおけるイメージデータの標準偏差σ′が求まる。そして、この標準偏差σ′と所望の標準偏差σtargetとから、所望の標準偏差を得るために必要なスキャン条件scan＿ｍＡｓが求まる。このようにして求められたスキャン条件に従って被検体の断層撮影を実行する。
【００６４】この結果、イメージデータの標準偏差がσtargetになるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００６５】（３）請求項３記載のＸ線断層撮影装置の発明では、スキャン条件を求める際に使用する２方向のスカウト像に関しては、該スカウト像における画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられるスカウト撮影の方向をそれぞれのＸ線源の照射方向として選んでいるため、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと前記減弱比とを利用して、実際の被検体におけるイメージデータの標準偏差σ′を正確に求められる。
【００６６】この結果、イメージデータの標準偏差が所望の値になるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
【００６７】（４）請求項４記載のＸ線断層撮影装置の発明では、スキャン条件を求める際に使用する２方向のスカウト像に関しては、該スカウト像における画素値の最大値が極大値及び極小値を与えると考えられる矢状面方向と前額面方向にスカウト撮影の２方向を選んでいるため、投影表示データ面積によるイメージデータの標準偏差σと前記減弱比とを利用して、実際の被検体におけるイメージデータの標準偏差σ′を正確に求められる。
【００６８】この結果、イメージデータの標準偏差が所望の値になるように各スライスのスキャン条件を制御することができ、各スライス間で画素値のばらつきの範囲を同一の好ましい範囲内に収めることが可能になる。
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| 【出願人】 |
【識別番号】０００１２１９３６
【氏名又は名称】ジーイー横河メディカルシステム株式会社
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| 【出願日】 |
平成９年（１９９７）９月３０日 |
| 【代理人】 |
【弁理士】
【氏名又は名称】井島 藤治 （外１名）
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| 【公開番号】 |
特開平１１−１０４１２１ |
| 【公開日】 |
平成１１年（１９９９）４月２０日 |
| 【出願番号】 |
特願平９−２６６２２０ |
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