| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−２４８７５３ | 信号測定システムにおける自動測定の同時呼び出しのためのシステム及び方法 |
| 特開平１１−２４８７５４ | 直流電流センサおよびこれを用いたソーラーインバータ |
| 特開平１１−２４８７５５ | 積層電圧計測装置 |
| 特開平１１−２４８７５６ | フライング・キャパシタ回路 |
| 特開平１１−２４８７５７ | フライング・キャパシタ回路 |
| 特開平１１−２４８７５８ | ノーマルモードノイズ除去回路 |
| 特開平１１−２４８７５９ | 検出系回路 |
| 特開平１１−２４８７６０ | レンジゲイン調整機能付き測定器 |
| 特開平１１−２４８７６１ | 電圧比較回路 |
| 特開平１１−２４８７６２ | 電線保護協調確認試験装置 |
| 特開平１１−２４８７６３ | 省エネ行動監視装置 |
| 特開平１１−２４８７６４ | 測定装置、特にスペクトルアナライザーの伝達関数決定ならびに補償法 |
| 特開平１１−２４８７６５ | 位相測定装置 |
| 特開平１１−２４８７６６ | 抵抗値測定装置 |
| 特開平１１−２４８７６７ | 接地抵抗測定装置及びこれを用いた接地抵抗測定方法 |
| 特開平１１−２４８７６８ | ジッタ分布表示装置 |
| 特開平１１−２４８７６９ | 放射電磁波検知端末 |
| 特開平１１−２４８７７０ | 電磁波測定方法及び装置 |
| 特開平１１−２４８７７１ | 交差率分布測定装置 |
| 特開平１１−２４８７７２ | マイクロ波通信機器用試験装置 |
| 特開平１１−２４８７７３ | ガス絶縁電気機器の寿命診断方法 |
| 特開平１１−２４８７７４ | 増幅器の総合特性測定方法 |
| 特開平１１−２４８７７５ | ノイズフィルタ特性測定装置及び測定方法、並びにそれを使用したノイズフィルタ選択装置及び選択方法 |
| 特開平１１−２４８７７６ | 基板検査装置 |
| 特開平１１−２４８７７７ | 基板検査装置 |
| 特開平１１−２４８７７８ | プリント基板の検査方法及び検査装置 |
| 特開平１１−２４８７７９ | 太陽電池モジュールの接地状態測定方法および装置 |
| 特開平１１−２４８７８０ | 集積回路の端子浮き検査方法および回路基板検査装置 |
| 特開平１１−２４８７８１ | 集積回路の端子浮き検査方法および回路基板検査装置 |
| 特開平１１−２４８７８２ | 配線チェック装置 |
| 特開平１１−２４８７８３ | 部分放電検出装置 |
| 特開平１１−２４８７８４ | 半導体装置の特性測定回路 |
| 特開平１１−２４８７８５ | デバイス試験装置 |
| 特開平１１−２４８７８６ | バーンイン試験システム |
| 特開平１１−２４８７８７ | ＩＣ試験装置 |
| 特開平１１−２４８７８８ | 半導体デバイスのテストハンドラ |
| 特開平１１−２４８７８９ | 半導体装置のモニタ装置 |
| 特開平１１−２４８７９０ | ＴＡＢ用オートハンドラに接続されるテストステーションのメンテナンス構造 |
| 特開平１１−２４８７９１ | 半導体素子検査装置の安定度分析方法 |
| 特開平１１−２４８７９２ | 試験システム |
| 特開平１１−２４８７９３ | ディレイテスト向け診断回路の構成方法 |
| 特開平１１−２４８７９４ | クロック供給装置およびクロック供給方法 |
| 特開平１１−２４８７９５ | ＩＣ試験装置、及びＩＣ試験方法 |
| 特開平１１−２４８７９６ | 半導体デバイス試験装置及び半導体デバイス試験方法 |
| 特開平１１−２４８７９７ | 半導体集積回路装置 |
| 特開平１１−２４８７９８ | 半導体装置の試験回路および試験方法 |
| 特開平１１−２４８７９９ | ＩＣテスタ用の波形コントローラ |
| 特開平１１−２４８８００ | プロービング装置および方法 |
| 特開平１１−２４８８０１ | 半導体集積回路の検証回路 |
| 特開平１１−２４８８０２ | 半導体装置 |