| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１８３１２３ | 変位測定装置 |
| 特開平１１−１８３１２４ | 画像検査・測定装置 |
| 特開平１１−１８３１２５ | 非接触式立体形状計測装置 |
| 特開平１１−１８３１２６ | 偽像防止光検出装置 |
| 特開平１１−１８３１２７ | 眼位置検出装置 |
| 特開平１１−１８３１２８ | 画像処理装置 |
| 特開平１１−１８３１２９ | 電子部品認識装置 |
| 特開平１１−１８３１３０ | レーザ干渉測長方法および装置、およびそれを用いたステージ装置、およびそれを用いた露光装置 |
| 特開平１１−１８３１３１ | 膜厚測定方法および装置 |
| 特開平１１−１８３１３２ | 微粒子測定装置の光学系 |
| 特開平１１−１８３１３３ | 線材の寸法測定方法 |
| 特開平１１−１８３１３４ | 対向している部品間の隙間とずれ量を測定する方式 |
| 特開平１１−１８３１３５ | 分布型歪計測装置 |
| 特開平１１−１８３１３６ | 断面及び３次元形状測定装置 |
| 特開平１１−１８３１３７ | パターン位置測定装置 |
| 特開平１１−１８３１３８ | パターンの寸法測定方法および装置 |
| 特開平１１−１８３１３９ | 断面及び３次元形状測定装置 |
| 特開平１１−１８３１４０ | 部品形状計測方法および装置 |
| 特開平１１−１８３１４１ | 成形品の検査装置 |
| 特開平１１−１８３１４２ | 三次元画像撮像方法及び三次元画像撮像装置 |
| 特開平１１−１８３１４３ | 動的形状計測装置 |
| 特開平１１−１８３１４４ | 円の検出方法および検出装置 |
| 特開平１１−１８３１４５ | ３次元観察装置 |
| 特開平１１−１８３１４６ | ティーチングデータ作成方法及び測定装置 |
| 特開平１１−１８３１４７ | 光学測定装置および光学測定方法 |
| 特開平１１−１８３１４８ | 光学部品の角度測定方法とその装置 |
| 特開平１１−１８３１４９ | ３次元測定装置 |
| 特開平１１−１８３１５０ | リード測定装置及び測定方法 |
| 特開平１１−１８３１５１ | 透明シート検査装置 |
| 特開平１１−１８３１５２ | 透明体の内部検査方法および内部検査装置 |
| 特開平１１−１８３１５３ | ねじ加工検査方法 |
| 特開平１１−１８３１５４ | 電子線式検査または測定装置およびその方法並びに光学的高さ検出装置 |
| 特開平１１−１８３１５５ | 測定精度を向上させたシート厚さ測定方法および装置 |
| 特開平１１−１８３１５６ | 測定精度を向上させたシート厚さ測定方法および装置 |
| 特開平１１−１８３１５７ | 円周測定による被測定物直径計測装置並びに加工物の寸法管理方法 |
| 特開平１１−１８３１５８ | Ｔダイ・リップ間隙の測定および調整方法並びに装置 |
| 特開平１１−１８３１５９ | 画像処理装置及びその方法 |
| 特開平１１−１８３１６０ | 形状計測装置および形状計測方法 |
| 特開平１１−１８３１６１ | 太陽センサ |
| 特開平１１−１８３１６２ | 撮像装置及び測距装置 |
| 特開平１１−１８３１６３ | 測距装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
| 特開平１１−１８３１６４ | 電子レベル用標尺及び電子レベル |
| 特開平１１−１８３１６５ | 変位測定装置およびこの装置の光走査制御方法 |
| 特開平１１−１８３１６６ | 垂直水平検出器 |
| 特開平１１−１８３１６７ | 水準器 |
| 特開平１１−１８３１６８ | 水準器における測定用気泡管の取付角の微調整構造 |
| 特開平１１−１８３１６９ | 水準器 |
| 特開平１１−１８３１７０ | 水準器における磁石取付構造 |
| 特開平１１−１８３１７１ | 曲げ管の切断位置設定方法 |
| 特開平１１−１８３１７２ | 写真測量支援システム |