| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１８３５２３ | 遠隔ディスプレイ付きオシロスコープ |
| 特開平１１−１８３５２４ | サンプリング信号発生回路 |
| 特開平１１−１８３５２５ | 測定装置 |
| 特開平１１−１８３５２６ | 電圧センサ |
| 特開平１１−１８３５２７ | 電圧センサ |
| 特開平１１−１８３５２８ | 光学式電圧・電界センサー |
| 特開平１１−１８３５２９ | 微小電流測定方法および微小電流測定装置 |
| 特開平１１−１８３５３０ | 高電圧レベルの検出回路とその方法 |
| 特開平１１−１８３５３１ | インバータ装置の出力電流極性検出方法 |
| 特開平１１−１８３５３２ | 電源電圧監視装置及び方法並びに電源電圧監視処理プログラムを記録した記録媒体 |
| 特開平１１−１８３５３３ | 省エネルギー意識喚起装置 |
| 特開平１１−１８３５３４ | 電源周波数の検出方法 |
| 特開平１１−１８３５３５ | ４ポートテストセット |
| 特開平１１−１８３５３６ | 磁気測定装置 |
| 特開平１１−１８３５３７ | 電流波形の測定方法及び測定装置 |
| 特開平１１−１８３５３８ | ＥＭＩ評価方法及びシステム |
| 特開平１１−１８３５３９ | 光変調装置および光電界センサ |
| 特開平１１−１８３５４０ | センサヘッドおよび光電界センサ |
| 特開平１１−１８３５４１ | 擬似空中線システム |
| 特開平１１−１８３５４２ | 表面電位測定方法及び装置 |
| 特開平１１−１８３５４３ | 薄膜形圧電体の圧電定数測定方法 |
| 特開平１１−１８３５４４ | 電波環境シミュレータ |
| 特開平１１−１８３５４５ | 電子装置 |
| 特開平１１−１８３５４６ | 制御装置の回路異常検出装置 |
| 特開平１１−１８３５４７ | 均一電界発生方法及び装置 |
| 特開平１１−１８３５４８ | ＩＣ接続試験方法 |
| 特開平１１−１８３５４９ | 回路基板の検査方法および検査装置 |
| 特開平１１−１８３５５０ | アレイ基板用の検査装置および該検査装置を用いたアレイ基板の検査方法 |
| 特開平１１−１８３５５１ | プリント回路基板の検査装置 |
| 特開平１１−１８３５５２ | 並列配線式サーモモジュールの断線検出装置 |
| 特開平１１−１８３５５３ | 送電線サージ標定システムおよび方法 |
| 特開平１１−１８３５５４ | 事故点標定装置 |
| 特開平１１−１８３５５５ | 電力ケーブル線路の絶縁破壊区域標定方法 |
| 特開平１１−１８３５５６ | ディジタル形故障点標定装置 |
| 特開平１１−１８３５５７ | 電力ケーブルの絶縁劣化診断方法 |
| 特開平１１−１８３５５８ | 耐張碍子連用検査装置 |
| 特開平１１−１８３５５９ | 陰極線管の測定方法およびその装置 |
| 特開平１１−１８３５６０ | ベアチップバーンインキャリヤおよびそれを用いた半導体装置の製造方法 |
| 特開平１１−１８３５６１ | バーンイン試験システム |
| 特開平１１−１８３５６２ | 半導体装置特性試験装置およびその試験方法 |
| 特開平１１−１８３５６３ | 端子接続構造、該構造を用いた電子デバイス測定治具、及び電子デバイス測定装置 |
| 特開平１１−１８３５６４ | テスト・フィクスチャ及びこれを用いる半導体試験装置 |
| 特開平１１−１８３５６５ | 電子デバイスの端子押圧装置及び該装置を用いた電子 デバイスの電気特性の測定方法 |
| 特開平１１−１８３５６６ | 高周波半導体素子のテスト用ソケット |
| 特開平１１−１８３５６７ | キャリア搬送機構 |
| 特開平１１−１８３５６８ | 半導体試験装置及びその測定方法 |
| 特開平１１−１８３５６９ | ＩＣ試験装置 |
| 特開平１１−１８３５７０ | 半導体装置及び該半導体装置のテスト方法 |
| 特開平１１−１８３５７１ | 半導体集積回路及びその試験方法 |
| 特開平１１−１８３５７２ | 布線検査装置の検査方法及び方式 |