| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１７３７９３ | 威嚇装置 |
| 特開平１１−１７３７９４ | 射撃訓練装置 |
| 特開平１１−１７３７９５ | 射撃訓練装置 |
| 特開平１１−１７３７９６ | 航空機用高温ブルーミングフレア装置 |
| 特開平１１−１７３７９７ | 欺まん管制支援装置 |
| 特開平１１−１７３７９８ | 目標追尾装置 |
| 特開平１１−１７３７９９ | 棒状装薬による爆破工事の施工に必要な要素の数値関連設定方式 |
| 特開平１１−１７３８００ | 発破方法および発破用管体 |
| 特開平１１−１７３８０１ | 斜線制限の許容範囲表現方法とその表示用品 |
| 特開平１１−１７３８０２ | 不定形物体測定器 |
| 特開平１１−１７３８０３ | 歪 計 |
| 特開平１１−１７３８０４ | 静電容量計を用いたトラバース型測定装置および測定方法 |
| 特開平１１−１７３８０５ | 三次元スキャナーにおけるスキャン方法 |
| 特開平１１−１７３８０６ | 三次元スキャナー |
| 特開平１１−１７３８０７ | 回動角検出装置 |
| 特開平１１−１７３８０８ | フリンジスキャン干渉計測の解析式の決定方法及びフリンジスキャン干渉計 |
| 特開平１１−１７３８０９ | レーザー利用測定装置 |
| 特開平１１−１７３８１０ | コイル位置検出装置 |
| 特開平１１−１７３８１１ | 偏心測定方法及び偏心測定装置 |
| 特開平１１−１７３８１２ | 偏心測定方法及び偏心測定装置 |
| 特開平１１−１７３８１３ | 基板上の光スポットの位置決め方法および膜厚測定方法 |
| 特開平１１−１７３８１４ | ワーク識別装置 |
| 特開平１１−１７３８１５ | 果菜類の計測装置 |
| 特開平１１−１７３８１６ | 鋳出しマーク認識方法およびその装置 |
| 特開平１１−１７３８１７ | 寸法測定方法及びその実施に使用する装置 |
| 特開平１１−１７３８１８ | 回転体の光学式すきまセンサ |
| 特開平１１−１７３８１９ | 構造物の変形量測定装置 |
| 特開平１１−１７３８２０ | 歪センサ、その製造方法及びその歪センサを利用した計測システム |
| 特開平１１−１７３８２１ | 光学式検査装置 |
| 特開平１１−１７３８２２ | 電子部品外観撮像装置 |
| 特開平１１−１７３８２３ | 光学式検査装置 |
| 特開平１１−１７３８２４ | コイル位置検出装置 |
| 特開平１１−１７３８２５ | プリズムの直角度測定方法 |
| 特開平１１−１７３８２６ | 画像処理方法、画像処理システム、グラビア版彫刻方法、及びグラビア版彫刻システム |
| 特開平１１−１７３８２７ | 物体の欠陥検査装置および方法、記録媒体 |
| 特開平１１−１７３８２８ | シリンダブロックのボア巣検査方法 |
| 特開平１１−１７３８２９ | 加工孔の検査装置 |
| 特開平１１−１７３８３０ | 計測装置 |
| 特開平１１−１７３８３１ | ボビン巻終端検出方法および装置 |
| 特開平１１−１７３８３２ | 分子素子作製用の位置測定（位置決め）装置 |
| 特開平１１−１７３８３３ | 部品の自動認識装置およびこれを用いた電子機器 |
| 特開平１１−１７３８３４ | 半導体装置の製造装置 |
| 特開平１１−１７３８３５ | 形状測定装置及びその方法 |
| 特開平１１−１７３８３６ | 形状測定方法および形状測定装置 |
| 特開平１１−１７３８３７ | ３次元形状出力装置 |
| 特開平１１−１７３８３８ | 長尺体の凹凸を連続的に測定する装置 |
| 特開平１１−１７３８３９ | 構築物等の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコ ーダ及びデータアナライザ |
| 特開平１１−１７３８４０ | 測距装置及び測距方法 |
| 特開平１１−１７３８４１ | 液圧式沈下測定装置 |
| 特開平１１−１７３８４２ | 沈下測定方法 |