| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１７４０９４ | 交流電源装置の負荷検出回路 |
| 特開平１１−１７４０９５ | 周波数特性のズーミング方法及び装置 |
| 特開平１１−１７４０９６ | データ表示装置 |
| 特開平１１−１７４０９７ | 電気抵抗測定装置 |
| 特開平１１−１７４０９８ | 強誘電体材料の分極特性測定方法 |
| 特開平１１−１７４０９９ | 電子部品検査装置 |
| 特開平１１−１７４１００ | 高調波計測装置 |
| 特開平１１−１７４１０１ | 電磁界の均一性測定装置及び測定方法 |
| 特開平１１−１７４１０２ | Ｙ型ＴＥＭセル |
| 特開平１１−１７４１０３ | 表示パネル検査用ソケット |
| 特開平１１−１７４１０４ | 受動素子試験装置 |
| 特開平１１−１７４１０５ | 交流フィルタ回路の異常検出装置 |
| 特開平１１−１７４１０６ | 液晶駆動基板の検査装置及びその検査方法 |
| 特開平１１−１７４１０７ | 自動化取り付け具検査機 |
| 特開平１１−１７４１０８ | 電極配線の検査装置 |
| 特開平１１−１７４１０９ | 送電線用故障点標定装置 |
| 特開平１１−１７４１１０ | 可搬式コロナ放電検出装置 |
| 特開平１１−１７４１１１ | 交流電動機の絶縁劣化検出装置 |
| 特開平１１−１７４１１２ | 自走式碍子検査装置 |
| 特開平１１−１７４１１３ | ＩＣテスタの電圧印加電流測定回路 |
| 特開平１１−１７４１１４ | 半導体装置の測定方法及び測定装置 |
| 特開平１１−１７４１１５ | 半導体集積回路装置 |
| 特開平１１−１７４１１６ | バーンインボードへのデバイス実装方法 |
| 特開平１１−１７４１１７ | 半導体装置のソケット挿入機構及びソケット挿入方法 |
| 特開平１１−１７４１１８ | 集積回路チップ検査用プロブカード |
| 特開平１１−１７４１１９ | 半導体素子検査機の素子間隙調節装置 |
| 特開平１１−１７４１２０ | 集積回路 |
| 特開平１１−１７４１２１ | ロジック混載メモリ及びそのテスト方法 |
| 特開平１１−１７４１２２ | バウンダリスキャンテスト方法 |
| 特開平１１−１７４１２３ | 論理回路及びその試験方法 |
| 特開平１１−１７４１２４ | 電気特性評価装置 |
| 特開平１１−１７４１２５ | 半導体テスト回路 |
| 特開平１１−１７４１２６ | 論理回路の組込み自己検査パターン発生装置およびパタ ーン選定方法 |
| 特開平１１−１７４１２７ | 電子デバイスへの負荷電流出力回路およびＩＣテスタ |
| 特開平１１−１７４１２８ | 電子デバイスへの負荷電流出力回路およびＩＣテスタ |
| 特開平１１−１７４１２９ | 電子回路の検査方法 |
| 特開平１１−１７４１３０ | 電子装置の診断装置 |
| 特開平１１−１７４１３１ | 半導体試験装置 |
| 特開平１１−１７４１３２ | テストモードの検出装置及び検出方法 |
| 特開平１１−１７４１３３ | 電気量の測定装置 |
| 特開平１１−１７４１３４ | 電池蓄電量検出装置 |
| 特開平１１−１７４１３５ | 電池残存容量測定装置 |
| 特開平１１−１７４１３６ | バッテリーパックの劣化判定方法およびバッテリーパックの劣化判定装置 |
| 特開平１１−１７４１３７ | 磁気インピーダンス素子を具える磁気センサのバイアス磁界印加方法 |
| 特開平１１−１７４１３９ | 界面活性剤を含む混合物の定量方法 |
| 特開平１１−１７４１４０ | 電波方位の測定方法及びその測定装置 |
| 特開平１１−１７４１４１ | 航法支援システムとこの航法支援システムで用いられる電離層情報作成装置および電離層情報作成方法 |
| 特開平１１−１７４１４２ | ワイヤレス端末装置 |
| 特開平１１−１７４１４３ | ダイナミックレンジの制御方法及びその制御回路 |
| 特開平１１−１７４１４４ | 電波探知装置 |