| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１３２７０９ | 回転角度センサ |
| 特開平１１−１３２７１０ | 位置測定装置 |
| 特開平１１−１３２７１１ | 光学式変位検出装置 |
| 特開平１１−１３２７１２ | 干渉計測装置、干渉計測プローブ及び干渉計測制御システム |
| 特開平１１−１３２７１３ | 測距装置および自動焦点制御撮影装置および凹凸検出装置 |
| 特開平１１−１３２７１４ | ゴルフボールの飛距離計測装置 |
| 特開平１１−１３２７１５ | ダイ型表面上の少なくとも１つのリードフレームの予め定められた配置を検出する方法および装置 |
| 特開平１１−１３２７１６ | フォトリソグラフィ工程における重ね合わせ精度測定方法、及びフォトリソグラフィ工程における重ね合わせ精度測定マーク |
| 特開平１１−１３２７１７ | 光ファイバフェルールの芯ずれ方向測定装置とこれを用いた光ファイバフェルールの芯ずれ方向測定方法 |
| 特開平１１−１３２７１８ | 干渉計測装置及び干渉計測装置用プローブ |
| 特開平１１−１３２７１９ | 円柱状物体の位置検出方法及びプログラムを記録した媒体 |
| 特開平１１−１３２７２０ | 点欠陥検出装置及び方法 |
| 特開平１１−１３２７２１ | 画像読取装置 |
| 特開平１１−１３２７２２ | 測距装置の調整装置 |
| 特開平１１−１３２７２３ | パターン検査装置 |
| 特開平１１−１３２７２４ | ３次元形状データ処理装置 |
| 特開平１１−１３２７２５ | 物品長さ検出方法 |
| 特開平１１−１３２７２６ | 膜厚測定方法 |
| 特開平１１−１３２７２７ | 膜厚測定方法及び膜厚測定装置 |
| 特開平１１−１３２７２８ | 光学的サンプルの厚み測定方法および装置 |
| 特開平１１−１３２７２９ | 寸法測定装置 |
| 特開平１１−１３２７３０ | 寸法測定装置 |
| 特開平１１−１３２７３１ | ビデオ式非接触伸び計 |
| 特開平１１−１３２７３２ | 内空断面測定装置 |
| 特開平１１−１３２７３３ | パレットの検査装置 |
| 特開平１１−１３２７３４ | 形状測定装置 |
| 特開平１１−１３２７３５ | ＩＣリード浮き検査装置及び検査方法 |
| 特開平１１−１３２７３６ | 共焦点光学装置及びその位置合わせ方法 |
| 特開平１１−１３２７３７ | 画像処理方法 |
| 特開平１１−１３２７３８ | ドット文字検査方法 |
| 特開平１１−１３２７３９ | 選別用の撮像装置 |
| 特開平１１−１３２７４０ | 画像計測装置 |
| 特開平１１−１３２７４１ | 管体の形状識別方法及びその装置 |
| 特開平１１−１３２７４２ | 画像処理による異物検出方法 |
| 特開平１１−１３２７４３ | 画像信号処理による欠陥検査装置 |
| 特開平１１−１３２７４４ | 空間パターン検出回路 |
| 特開平１１−１３２７４５ | リード曲がり検査装置 |
| 特開平１１−１３２７４６ | 光学式偏角測定装置及び地中掘進機の位置計測装置 |
| 特開平１１−１３２７４７ | 欠陥・異物検査装置 |
| 特開平１１−１３２７４８ | 多焦点同時検出装置および立体形状検出装置および外観検査装置、並びにその方法 |
| 特開平１１−１３２７４９ | 表面形状認識センサ |
| 特開平１１−１３２７５０ | 点欠陥検出装置及び方法 |
| 特開平１１−１３２７５１ | 走査式シート検査装置 |
| 特開平１１−１３２７５２ | ３次元形状測定装置 |
| 特開平１１−１３２７５３ | 空気マイクロメータの供給空気遮断装置 |
| 特開平１１−１３２７５４ | Ｘ線すきま測定方法及び装置 |
| 特開平１１−１３２７５５ | 半導体装置の測長方法 |
| 特開平１１−１３２７５６ | 超音波式電線挿入位置検知装置 |
| 特開平１１−１３２７５７ | 測定機用スタイラス交換治具とスタイラス支持治具 |
| 特開平１１−１３２７５８ | 電子部品の外観検査装置 |