| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１１８４１４ | 歪みゲージ |
| 特開平１１−１１８４１５ | 指紋読取り装置及びその方法 |
| 特開平１１−１１８４１６ | ＶＲ形角度検出器 |
| 特開平１１−１１８４１７ | 回転角度センサ |
| 特開平１１−１１８４１８ | 測距装置 |
| 特開平１１−１１８４１９ | 変位計及び三次元形状測定器 |
| 特開平１１−１１８４２０ | 位置検出センサ用ビーム拡大光学系 |
| 特開平１１−１１８４２１ | レーザ光を用いたスケール及び測長方法 |
| 特開平１１−１１８４２２ | モアレ縞を用いた寸法測定装置 |
| 特開平１１−１１８４２３ | ボンディングワイヤの高さ検査装置及び高さ検査方法 |
| 特開平１１−１１８４２４ | 重機等の位置検出方法 |
| 特開平１１−１１８４２５ | キャリブレーション方法及び装置、並びにキャリブレーション用データ生成方法 |
| 特開平１１−１１８４２６ | 教示位置確認方法及び電子部品実装装置 |
| 特開平１１−１１８４２７ | 空間パターン検出装置 |
| 特開平１１−１１８４２８ | 制御棒クラスタの摩耗測定方法 |
| 特開平１１−１１８４２９ | 非接触高さ計測装置 |
| 特開平１１−１１８４３０ | 非接触型コンクリート長さ試験機およびそれに使用するモルタル供試体受台 |
| 特開平１１−１１８４３１ | ＦＴ−ＩＲを用いた膜厚測定方法及び装置 |
| 特開平１１−１１８４３２ | ＦＴ−ＩＲを用いた膜厚測定装置 |
| 特開平１１−１１８４３３ | 厚さ測定装置及び厚さ測定方法 |
| 特開平１１−１１８４３４ | 層厚さおよび層重量測定方法 |
| 特開平１１−１１８４３５ | 車輪測定装置 |
| 特開平１１−１１８４３６ | 歪み検知システム |
| 特開平１１−１１８４３７ | 検査装置および検査方法 |
| 特開平１１−１１８４３８ | ３次元形状測定方法および装置 |
| 特開平１１−１１８４３９ | 実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法 |
| 特開平１１−１１８４４０ | リードフレームの検査装置 |
| 特開平１１−１１８４４１ | はんだ外観検査装置 |
| 特開平１１−１１８４４２ | ３次元データの取得方法 |
| 特開平１１−１１８４４３ | 形状計測装置 |
| 特開平１１−１１８４４４ | 非接触画像計測システム |
| 特開平１１−１１８４４５ | 二次元模様認識センサ |
| 特開平１１−１１８４４６ | ２次元配列型共焦点光学装置 |
| 特開平１１−１１８４４７ | スリット位置検出装置 |
| 特開平１１−１１８４４８ | 画線率測定装置 |
| 特開平１１−１１８４４９ | 表面形状欠陥検査方法及びそれを用いた表面欠陥検査装置 |
| 特開平１１−１１８４５０ | 液晶基板の突起欠陥検出装置 |
| 特開平１１−１１８４５１ | 回転放物面反射鏡を備えた表面検査装置 |
| 特開平１１−１１８４５２ | 干渉計および干渉計測定方法 |
| 特開平１１−１１８４５３ | 電波による配管内面の膜厚センサ |
| 特開平１１−１１８４５４ | 超音波距離計 |
| 特開平１１−１１８４５５ | 車載用車高計測装置 |
| 特開平１１−１１８４５６ | 重なり板検出装置 |
| 特開平１１−１１８４５７ | アレイ型超音波被膜厚測定装置及び超音波探傷装置 |
| 特開平１１−１１８４５８ | ＸＹ座標軸のずれ検出方法 |
| 特開平１１−１１８４５９ | 位置検出装置 |
| 特開平１１−１１８４６０ | 二次元形状検出装置 |
| 特開平１１−１１８４６１ | ボードの寸法計測装置 |
| 特開平１１−１１８４６２ | 成形枠の寸法測定方法 |
| 特開平１１−１１８４６３ | 部品の製造方法及び寸法検査装置 |