| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−９４８５３ | 走査型プローブ顕微鏡およびそれによる品質管理方法 |
| 特開平１１−９４８５４ | 走査型プローブ顕微鏡 |
| 特開平１１−９４８５５ | 走査型トンネル顕微鏡を用いたサンプル表面の電子スピンの観測・測定方法 |
| 特開平１１−９４８５６ | スピン偏極走査型顕微鏡及びその傾斜角調整方法 |
| 特開平１１−９４８５７ | 走査型トンネル顕微鏡を用いたサンプル表面の電子スピン状態の制御方法及びそのビット読み出し方法 |
| 特開平１１−９４８５８ | スピン・キャパシター |
| 特開平１１−９４８５９ | 光共振器を利用した走査型近接場光学顕微鏡 |
| 特開平１１−９４８６０ | スキャナシステム |
| 特開平１１−９４８６１ | 走査型プローブ顕微鏡 |
| 特開平１１−９４８６２ | 探針形状適合判定及び表面形状の測定方法 |
| 特開平１１−９４８６３ | カンチレバー及びその製造方法 |
| 特開平１１−９４８６４ | カンチレバーユニット装着具 |
| 特開平１１−９４８６５ | 圧電素子微動機構 |
| 特開平１１−９４８６６ | 車体速度検出装置 |
| 特開平１１−９４８６７ | 回転速度低下検出装置 |
| 特開平１１−９４８６８ | 風特性測定装置 |
| 特開平１１−９４８６９ | 球式流体検視器 |
| 特開平１１−９４８７０ | 球状重錘体を有するセンサ |
| 特開平１１−９４８７１ | 加速度センサ |
| 特開平１１−９４８７２ | 加速度センサ |
| 特開平１１−９４８７３ | 加速度センサ及びその製造方法 |
| 特開平１１−９４８７４ | ヨーレートセンサの較正方法 |
| 特開平１１−９４８７５ | プローブ及びそれを用いたプローブカード |
| 特開平１１−９４８７６ | コンタクトプローブの製造方法 |
| 特開平１１−９４８７７ | 回転指示計器 |
| 特開平１１−９４８７８ | 波形観測装置 |
| 特開平１１−９４８７９ | 波形観測装置およびプログラムを記録した記録媒体 |
| 特開平１１−９４８８０ | 光センサ |
| 特開平１１−９４８８１ | 交流電流検出装置 |
| 特開平１１−９４８８２ | 信号測定解析装置 |
| 特開平１１−９４８８３ | 高電圧精密測定方法 |
| 特開平１１−９４８８４ | 高電圧精密測定方法 |
| 特開平１１−９４８８５ | バックアップ電圧検査装置 |
| 特開平１１−９４８８６ | 波形観測装置 |
| 特開平１１−９４８８７ | リアルタイム高調波解析装置 |
| 特開平１１−９４８８８ | 放射ノイズの評価に適した半導体集積回路及びこれを用いた放射ノイズの評価方法 |
| 特開平１１−９４８８９ | 多層基板からの放射電磁波解析装置 |
| 特開平１１−９４８９０ | アンテナ系の監視装置 |
| 特開平１１−９４８９１ | コンデンサ絶縁劣化診断装置 |
| 特開平１１−９４８９２ | コンデンサの良否判別方法 |
| 特開平１１−９４８９３ | 導通試験器 |
| 特開平１１−９４８９４ | 半導体試験装置用布線インターフェイス検査装置 |
| 特開平１１−９４８９５ | ＰＣＩバスショートチェッカーおよびチェック方法 |
| 特開平１１−９４８９６ | 半導体試験装置用布線インターフェイス検査装置 |
| 特開平１１−９４８９７ | 部分放電計測方法及び装置 |
| 特開平１１−９４８９８ | 銅張積層板の絶縁信頼性試験方法 |
| 特開平１１−９４８９９ | 半導体素子の並列検査方法 |
| 特開平１１−９４９００ | バーンインボード |
| 特開平１１−９４９０１ | デバイス試験装置 |
| 特開平１１−９４９０２ | ＩＣ試験装置 |