| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−５２００６ | 半導体装置の絶縁膜のリーク電流測定装置 |
| 特開平１１−５２００７ | ＤＣ特性測定器 |
| 特開平１１−５２００８ | 半導体装置の入力遅延時間の測定回路及びその測定方法 |
| 特開平１１−５２００９ | バーンインシステム |
| 特開平１１−５２０１０ | バーンインボードおよびそれを備えたバーンイン装置 |
| 特開平１１−５２０１１ | 検査装置 |
| 特開平１１−５２０１２ | ＩＣ挿入抜取装置 |
| 特開平１１−５２０１３ | 移動トレー内のＩＣの残留確認方法 |
| 特開平１１−５２０１４ | トレー段積み昇降装置 |
| 特開平１１−５２０１５ | 高速半導体集積回路装置のテスト回路 |
| 特開平１１−５２０１６ | ＩＣ試験装置、及びＩＣ試験装置における並列測定方法 |
| 特開平１１−５２０１７ | 半導体装置 |
| 特開平１１−５２０１８ | インサーキットテスタ用プローブピン清掃装置 |
| 特開平１１−５２０１９ | 半導体集積回路 |
| 特開平１１−５２０２０ | 半導体集積回路装置 |
| 特開平１１−５２０２１ | 半導体集積回路装置の試験方法及び半導体集積回路装置 |
| 特開平１１−５２０２２ | テストヘッド冷却装置 |
| 特開平１１−５２０２３ | ＬＳＩの故障箇所推定方法及びＬＳＩの故障箇所推定プログラムを記録した記録媒体 |
| 特開平１１−５２０２４ | 半導体集積回路の検査容易化設計方法、及びその方法を用いて設計される半導体集積回路 |
| 特開平１１−５２０２５ | メモリーモジュール接続試験用モジュール |
| 特開平１１−５２０２６ | 半導体装置 |
| 特開平１１−５２０２７ | 回路基板装置 |
| 特開平１１−５２０２８ | データ入出力数の削減回路及び削減方法並びに半導体装置 |
| 特開平１１−５２０２９ | タイミング発生装置 |
| 特開平１１−５２０３０ | 論理回路用テストパターン作成方法及び装置、並びに、論理回路用試験方法及び装置 |
| 特開平１１−５２０３１ | 半導体集積回路 |
| 特開平１１−５２０３２ | ５相モータの異常検出装置 |
| 特開平１１−５２０３３ | バッテリの劣化判定装置 |
| 特開平１１−５２０３４ | 電池寿命監視方法及び電池寿命監視装置並びに自動通報装置 |
| 特開平１１−５２０３５ | 蓄積エネルギーの変動傾向インジケータおよび電子機器ならびに電子時計 |
| 特開平１１−５２０３６ | 磁界検出素子の感度校正方法およびその感度校正方法を用いる磁界検出素子の感度校正装置 |
| 特開平１１−５２０３７ | 到来角遅延時間測定装置 |
| 特開平１１−５２０３８ | 信号検出方式 |
| 特開平１１−５２０３９ | 人工衛星捜索位置発信装置 |
| 特開平１１−５２０４０ | ナビゲータ |
| 特開平１１−５２０４１ | ＧＰＳ位置通報システム |
| 特開平１１−５２０４２ | 可動型レーダー装置 |
| 特開平１１−５２０４３ | 散乱断面積測定装置 |
| 特開平１１−５２０４４ | レーダ反射断面積測定装置 |
| 特開平１１−５２０４５ | 車両用光レーダ装置 |
| 特開平１１−５２０４６ | 目標信号検出方法及び装置 |
| 特開平１１−５２０４７ | 超音波式物体検出装置 |
| 特開平１１−５２０４８ | 水中探知装置 |
| 特開平１１−５２０４９ | 炉内の湯面レベル計測装置 |
| 特開平１１−５２０５０ | 符号変調方式レーダ測距装置及びそれを用いた追突防止装置 |
| 特開平１１−５２０５１ | 極近距離目標を検知する電波センサー |
| 特開平１１−５２０５２ | ＦＭ−ＣＷレーダ装置 |
| 特開平１１−５２０５３ | 極近距離目標を捕捉・追尾する電波センサー |
| 特開平１１−５２０５４ | 前方測距装置の異常検出方法 |
| 特開平１１−５２０５５ | 超音波近接センサの制御方式 |